Устройство для измерения ширины и глубины поверхностных дефектов

Номер патента: 1375936

Авторы: Иванов, Лямин, Самойлов, Федоров, Шульженко

ZIP архив

Текст

элеме циона Ь СУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТ А ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕПЬСТ(56) Иванов Л.Д. и др. "стводля измерения малых ра междуточками изображений или нтамиконструкции. - Листок ра лизатора, 1981, 9 153, с. 4.(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ШИРИНЫИ ГЛУБИНЫ ПОВЕРХНОСТНЫХ ДЕФЕКТОВ(57) Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретенияповышение точности измерения. Цельдостигается тем, что основание 1 выполнено в виде стакана с верньернымузлом и поворотной крьшжой 2, в зкс 1 центричном окне 3 которой установлена подпружиненная к его стенке каретка 8 со шкалой. Измерительные элементы выполнены в виде губок 4 и 9,подпружиненных к объекту измерения.Губка 4 шарнирно закреплена на основании 1 и установлена на одной линиис одной из сторон дефекта и нулевыми делениями шкалы каретки 8 и нониуса верньерного узла. Губка 9 шарнирно закреплена на каретке 8. Поворотым крышки 2 губка 9 отводится досовмещения с другой стороной дефекта. По показаниям шкалы и нониуса определяют ширину дефекта. На основании1 закреплен окуляр 16 слинзой 17 ишкалой 18, Вращением окуляра 16 допоявления резкого изображения изменяют показания шкалы 18, по которойопределяют глубину дефекта. 2 ил.Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для измерения ширины и глубины поверхностных дефектов изделий.5Цель изобретения - повышение точности измерения за счет воэможности подведения измерительных элементов непосредственно к измеряемым дефектам. 10На фиг. 1 изображено предлагаемое устройство, общий вид; на фиг. 2 то же, вид сверху.Устройство содержит основание 1 в виде стакана с поворотной крышкой 2, в которой выполнено эксцентричное окно 3, губку 4, установленную шарнирно внутри основания 1 посредством оси 5 и подпружиненную к поверхности измеряемого изделия пружиной 6, направляющие 7 основания 1, каретку 8 с шарнирно установленной на ней второй губкой 9, перемещающуюся возвратно-поступательно на направляющих 7. Каретка 8 содержит нанесенную 25 на ней шкалу 10 и центральное окно 11 для визуальных наблюдений, Каретка 8 подпружинена к стенке окна 3 пружиной 12. На основании 1 установлены верньерный узел 13 с нониусом 14 с 30 возможностью возвраТно-поступательного перемещения вдоль шкалы 10 каретки 8 и кронштейн 15 с окуляром 16, линзой 17 и микрометрической шкалой 18 для измерения глубины дефектов. На основании 1 выполнены. ножки 19 для установки его на объект измерения. Устройство работает следующим образом.Для измерения ширины дефекта устройство устанавливают на объект измерения так, чтобы при наблюдении дефекта через линзу 17, одна иэ его сторон совпадала с торцом губки 4. Вращением крышки 2 совмещают торцы губок 4 и 9. С помощью верньерного устройства 13 устанавливают нулевое деление шкалы нониуса 14 с нулевым делением шкалы 10 каретки 8. Вращением окуляра 16 добиваются резкого иэображения поверхности дефекта. Затем, вращая крышку 2, отводят каретку 8 с,губкой 9 до тех пор, пока торец губки 9 не касается другой стороны дефекта. По показаниям шкалы 10 и шкалы нониуса 14 определяют ширину дефекта.Для измерения глубины дефекта вращают окуляр 16 до появления резкого изображения дна дефекта и по разности показаний шкалы 18 определяют искомую величину.Формула изобретенияУстройство для измерения ширины и глубины поверхностных дефектов, содержащее основание, измерительные элементы и отсчетный узел, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повьшения точности измерения, осно-. вание выполнено в виде стакана с поворотной крышкой, в которой выполнены эксцентричное окно и окуляр с линзой и со шкалой, установленной на стакане, отсчетный узел выполнен .в виде каретки с окном и шкалой, установленной на основании с возможностью возвратно-поступательного перемещения и подпружиненной к стенке окна крышки и верньерного узла с нониусом, установленного на основании с возможностью возвратно-поступательного перемещения вдоль шкалы каретки, а измерительные элементы выполнены в виде губок, шарнирно установленных с возможностью схождения, одна - на основании, а другая - на каретке.137593 б Составитель В. ЗотоГорная Техред Л.Олийнык едакт Подписого комитета СССРий и открытий к д. 4/ ушск Производственно-полиграфическое пр ят 8/40 Тираж 68 ВНИИПИ Государстве по делам изобрет 113035, Москва, Ж

Смотреть

Заявка

4057643, 18.04.1986

ВОЕННЫЙ ИНЖЕНЕРНЫЙ КРАСНОЗНАМЕННЫЙ ИНСТИТУТ ИМ. А. Ф. МОЖАЙСКОГО

ФЕДОРОВ АНАТОЛИЙ ИВАНОВИЧ, САМОЙЛОВ НИКОЛАЙ СЕМЕНОВИЧ, ШУЛЬЖЕНКО ГЕОРГИЙ ВИКТОРОВИЧ, ЛЯМИН АЛЕКСАНДР ЕВСТАФЬЕВИЧ, ИВАНОВ ЛЕОНИД ДЕМЬЯНОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 3/00

Метки: глубины, дефектов, поверхностных, ширины

Опубликовано: 23.02.1988

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1375936-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-shiriny-i-glubiny-poverkhnostnykh-defektov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения ширины и глубины поверхностных дефектов</a>

Похожие патенты