Способ обнаружения дефектов изделий
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
(51)4 С 01 М 27/2 ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ТОРСКОМ ИДЕТЕЛЬС йствуют эле трическим страцию п з изво этом того лученсвечения на диэлепленку из готовя жащей, 30, Ре осталь ком- нило содср 40-1 п1) 3 оливи9 Н,;(1 л,на по вода й по ое до Затем стек к верхо обго заземленно ва,.Рогач т стеклянную пл ая должна быть и сверху накла торый подают пе При замыкании ц и ываю еменпи вскро- новели -54) СП ЗДЕЛИЙ 57) Из ефекто Б ОБНАРУл(ЕНИЯ ЕКТОВ утке возникаю т а сопри области тение относитс чинает я ее обу и обугле опии и позволяе ст высить но ся оп ленным за счет повынпя. На изде:Ь ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ(71) Институт прикладной физикиАН БССР и Научно-исследовательскиинститут физико-химических проблемБелорусского государственного университета им. В.И;Ленина(56) Авторское свидетельство СССР832522, кл. С 03 В 41/00, 1979. эффективность процесс шения точности обнару лие возд дом и пр ного при ке. Для позиции, вый спирт 20-200 и ность металличес разца накладываю с пленкой, котор щена к образцу, электрод, на ко ное напряжение. разрядном промеж вые каналы. В ме ния с пленкой на вание, при этом слоя располагают разом. 1 ил. 2 т1350587 Т а б л и ц а 1 Композиция 30 Г 40 80 130 ПВС З Ге(010,) х х НО Вода 40 Таблица 2 Пример Показатели 3 по известному способу Диаметр раковины точечной корро 0,05-0,08 0,020-0,05 0,04 0,03-0,07 зии, мм Ширина раскрытияпротяженного дефекта, мм 0,0 1 0,015 0,03 0,02 Размер следа нарегистрирующемматериале, мм 6-7 5-10 5 0,2 - 0,6 Изобретение относится к способам обнаружения дефектов с помощью магнитных полей и может быть использовано в различных областях техники.Целью изобретения является повышение эффективности гроцесса за счет повышения точности обнаружения.На чертеже представлены конфигурации магнитных полей разрядных каналов, возникающих в разрядном промежутке.П р и м е р ы 1-3. Приготовление пленки в качестве диэлектрика для обнаружения дефектов осуществляют по следующей технологии. Сначала готовят раствор поливинилового спирта (ПВС) путем растворения сухого ПВС в горячей воде (раствор О) и раствор хлорнокислого железа (11) путем растворения в воде при комнатной температуре (раствор б ) . Затем растворы а и Б смешивают и доводят до определенного объема.Полученный таким образом раствор (составы приведены в табл, 1) наносят на стеклянную подложку и высушивают при комнатной температуре, Для лучшего сцепления слоя с подложкой последнюю предварительно подслаивают путем окунания в 1%-ный водный раствор ПВС с последующим задубливанием при 150 С в течение 3 ч.После приготовления пленки-диэлектрика производят обнаружение дефектов изделия путем воздействия на него электрическим разрядом и регистрации следов разрядных каналов, развивающихся из дефектных мест поверхности на диэлектрике. Регистрацию магнитных полей осуществляют по следующей схеме: на поверхность металлического заземленного 5образца с зазором или без него накладывают стеклянную пластинку с нанесенным слоем, причем он должен бытьобращен к образцу, сверху накладываютэлектрод, на который подают переменное напряжение от генератора. В ходеэксперимента напряжение изменяют впределах 3-5 кВ при частоте 24 кГц.Образец и электрод представляют собойплоские пластинки (2 х 3 см), изготовленные из нержавеющей стали. Призамыкании цепи в разрядном промежуткевозникают искровые каналы. В местахих соприкосновения с пленкой начинается ее обугливание, охватывающеезначительные площади, при этом поддействием возникших магнитных полейчастички обугленного слоя располагаются определенным образом, формируяизображение.25 Результаты дефектоскопии с помощьюсоставов. Состав композиции, г/л,по примеру 20 150 200 До 1 л До 1 л До 1 лПри дефектоскопии с помощью преплагаемой композиции достигается существенное увеличение регистрации следа разрядного канала, так как регистрируется не его слабое свечение, а связанное с ним магнитное поле. Использование предлагаемого способа обнаружения дефектов позволяет выявлять более мелкие дефекты за счетполучения увеличенных во много раз следов этих дефектов на регистрирующем материале. Тем самым повышается точность контроля мелких дефектов, ческим разрядом и регистрации полученного при этом свечения на диэлектрике, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения эффективности процесса за счет повышения точности обнаружения, в качестве диэлектрика используют пленку, выполненную из состава, г/л:Поливиниловый спиртРе(С 10,) 9 К-,ОВода 40 - 130 20-200 Остальное - до 1 л. формулаизобретенияСпособ обнаружения дефектов изделий путем воздействия на них электри
СмотретьЗаявка
4012875, 18.10.1985
ИНСТИТУТ ПРИКЛАДНОЙ ФИЗИКИ АН БССР, НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ФИЗИКО-ХИМИЧЕСКИХ ПРОБЛЕМ БЕЛОРУССКОГО ГОСУДАРСТВЕННОГО УНИВЕРСИТЕТА ИМ. В. И. ЛЕНИНА
ЗАЦЕПИН НИКОЛАЙ НИКОЛАЕВИЧ, ДЕЖКУНОВА СВЕТЛАНА ВАСИЛЬЕВНА, СВИРИДОВ ВАДИМ ВАСИЛЬЕВИЧ, СЫРЕЦ ОЛЬГА ФЕДОРОВНА, РОГАЧ ЛЕОНИД ПЕТРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 27/24
Метки: дефектов, обнаружения
Опубликовано: 07.11.1987
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1350587-sposob-obnaruzheniya-defektov-izdelijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ обнаружения дефектов изделий</a>
Предыдущий патент: Измеритель частотных характеристик эмульсии
Следующий патент: Электрохимический способ определения содержания молекулярного водорода в жидких и газообразных средах
Случайный патент: Устройство для чистовой и упрочняющей обработки