Патенты с меткой «отступлений»

Номер патента: 312139

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Коваленко, Кретов

МПК: G01B 11/30

Метки: глубоких, отверстий, отступлений, поверхности, прямолинейности

...прямолинейности,Предлагаемый способ отличается от известного тем, что для осуществления контроля впроцессе выполнения отверстия отражающуюсистему располагают непосредственно в инструменте, например сверле,На фиг. 1 изображено устройство, позволяющее осуществить описываемый способ; нафиг. 2 - узел 1 в увеличенном масштабе.Устройство содержит: сверло с рабочейчастью 1, хвостовиком 2 и продольным каналом 3; отражающую систему в виде блоков4 и 5; оптический квантовый генератор б, направляющий луч 7 на отражающую поверхность обрабатываемой детали 8; сферическуюшкалу 9.При падении луча, имеющего малый диаметр, например 0,01 мм, на первый отражающий блок 4 возможны два случая (фиг. 2): первый, когда геометрическая ось рабочей части сверла...

Номер патента: 348861

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Волкова, Левин, Леонтьева

МПК: G01B 11/30

Метки: оптический, отступлений, поверхности, прибор, прямолинейности

...на экране 14 смешается изображения С относительно бифиляра которое может быть измерено микро метром 15. Перемещая измерительную каретку б по поверхности плиты, можно измерить непрямолинейность этой поверхности.В тубусе 1 б (фиг. 2) измерительной каретки в плоскости чертежа устанавливается освещаемая лампой визирная марка 17, например точечная или секторная. Перемещение марки 17 регулируется винтами 18 и 19 в плоскости чертежа и перпендикулярно ей. Необходимо, чтобы ось измерительного наконечника 7, визирный штрих С и марка 17 лежали бы на одной вертикальной прямой (перпендикулярно оси афокальной системы),На плите 1 располагается штатив 20, который при помощи винтов 21, 22 и гайки 23 совершает тонкие регулировочные движения -...