Устройство для обнаружения дефектов

Номер патента: 1778711

Опубликовано: 30.11.1992

Авторы: Пчелкин, Скуридин

МПК: G01P 3/36

Метки: измеритель, объекта, скорости, фотоэлектрический

...на штативах с возможностью независимого регулирования и фиксации их положения в пространстве.Фотоэлектрический измеритель скорости объекта работает следующим образом. Перед началом измерения скорости объекта положение в пространстве каждого фотоэлектрического блока 1 и 2 фиксируют следующим образом. На расстоянии 5 - 10 м от фотоэлектрических блоков 1 и 2 в направлении, перпендикулярном направлению друг от друга и взаимно параллельных. Такими ориентирами могут служить специально нанесенные на какую-либо видимую поверхность две параллельные линии длиной не менее 1-1,5 м, отвесы, углы построеки прочее.Каждый фотоэлектрический блок 1 и 2уСтанавливают соответственно на отдельном штативе так, чтобы расстояние между ними было равно...

Номер патента: 659592

Опубликовано: 30.04.1979

Авторы: Наумчик, Саржевский

МПК: G09B 23/22

Метки: демонстрации, отражении, поляризации, прибор, света, учебный

...объектив 7, попадает ца экран (на чертежах не показан). Прц этом поляризатор сориентирован относительно зеркала так, чтобы свет был поляризовац в плоскости его падения ца анализатор 4, а анализатор расположен под углом Брюстера к направлению потока света для стекла (этот угол составляет около 57),Двулучепреломляющцй объект расположен в плоскости, сопряженной с плоскостью экрана относительно объектива 7, Поскольку свет на анализаторе 4 отражается как от диэлектрической его поверхности, так ц от электропроводящей, то изображение объекта ца экране будет неоднородным (см. фцг. 3), Часть 9 изображения, которая обусловлена отражеьп 1 ем от диэлектрика 5, ярко расцвечена цзохромцымц полосами, Прп цзмснсццц орцсцтаццц поляризатора 2 окраска...

Номер патента: 735935

Опубликовано: 25.05.1980

Авторы: Абрамовский, Альтман, Ионов, Назаров, Патракеев, Чирков

МПК: G01J 3/42

Метки: абсорбции, анализа, атомной, газовой, отраженного, путем, света, смеси

...5935м%+ функция, характеризующаяослабление в результате мнегократных отражений. Очевидно; что при временнойзвдерж 5 ки Т в кювете существуетсвет, испытавший и "- сотражений, Положим, чтоЧ(п 1 =коэффиц иент,диффузного оражения,и - среднее число отражений,вызывающее эквивалентныйэффект ослабления света.При коэффициенте диффузионного рассеяния р = 0,95 ослабление света в10 и 10 происходит в случае 100и 230 рвз отражений от стенок, соответственно. Если принять, что порог чувствительности светового потока совре менных умножителей 10 Люмен диаметр сферы 1 м, диаметр окна фотокатода умножителя 2,8 см (угол обзора-42умножит епя и = 10 стерадиан), мощность источника света Эо = 100 ватт,прй длительйости световых импульсов10 сек, то можно...

Номер патента: 883726

Опубликовано: 23.11.1981

Авторы: Герасимов, Корнеев

МПК: G01N 23/207

Метки: внешнего, дифракционного, зеркала, излучения, исследования, объектов, отражения, полного, пучке, рентгеновского, установки

...ось пучка. При этом блок зеркала 3 полного внешнего отражения ус фтанавливают таким образом, что зеркало 10 располагается на уровне, выше предполагаемого пучка ретгеновскогоизлучения. Одновременно с помощьюсредств 15 наклона двух задних опор6 платформы 5 ось пучка рентгеновского излучения устанавливают параллельно продольной оси отражающей поверхности зеркала 10, и, следовательно, .перпендикулярно линии, на которой26расположены. точки контакта задних опор 6, имеющих одну степень свободы. С помощью средств 15 устанавливают плоскость зеркала 10 так, что ее образующая, параллельная попереч- н ной оси, располагается в горизонтальной плоскости, т.е, перпендикулярно плоскости фокусировки рентгеновского пучка зеркалом 3 полного внешнего...

Номер патента: 1062519

Опубликовано: 23.12.1983

Авторы: Араев, Воронина, Галиулин, Горлов, Горшков, Гузман, Загуляев, Кряхтунов, Кузнецов, Лозбенев, Пушечников, Фомин

МПК: G01B 21/02

Метки: интерферометр, оптических, поверхности, формы, фотоэлектрический

...Формы поверхнос.-, ти оптических деталей..Интерферометр содержит лазерный источник 1 света, телескопическуюсистему 2, светоделитель З,.выполненный в видеплоскопараллельнойпластины, объектив 4, светодели -тель 5,выполненный в виде куб-призмы, узел сдвига, выполненный в виде двух сФерических зеркал б и 7, 5проекционный объектив 8, светоделитель 9, выполненный в виде куб-приз:мы, фотоприемники 10 и 11, выполненные в виде двух идентичных фотодиодных матриц, и электронную систему, 0состоящую из модулятора, выполненного в вИде двух идентичных пьезокерамических элементов 12 и 13, генера- .тора 14 опорного напряжения, амплитудного ограничителя 15, блока 16опроса и блока 17 обработки сигналов.Интерферометр ориентируется так,что центр...