Патенты с меткой «однородности»

Номер патента: 5151

Опубликовано: 30.04.1928

Автор: Роман

МПК: G01N 19/10, G01N 33/10

Метки: влажности, зерна, однородности, отношении, партии, прибор, степени, твердости, установления

...на нижнейчто при закрытом приборе острие доске В, на которой также укре- ее приходится по середине специальплены: упор Е, предохраняющийного углубления для зерна в ложе иглу от порчи, и ложе О для зерна, О. Нижний конец трубочки 0 сковерхняя доска А медленноопускаетсяшен по направлению к игле, чтобы на нижнюю В. В верхней, снабжен-на показания прибора не влияли ной грузом М, доске А неподвижнобы различные неровности поверх- укреплена игла Р с надетой на неености испытуемого зерна.подвижной трубочкой д, к верхним Шкалы прибора К для измерекраям которой прикреплены два ния малых длин для каждой куль- столбика )и и т, свободно прохо-туры в отдельности определялись дящие через толщу верхней доски опытным путем следующим обра- А и...

Номер патента: 15857

Опубликовано: 30.06.1930

Автор: Квашин

МПК: G01N 27/72, G01N 27/82, G01R 33/12 ...

Метки: испытания, однородности, парамагнитных, способом, электромагнитным

...для сохранения одинакового расстояния между полюсами и изделием, Устройство размещено на прикрепленной к столу 14 раме Хб, при чем выключатель 4 состоит из рычага 10 с крючком Г, опирающегося на опору 17.На крючке 7 повешен электромагнит 6, обмотка которого одним своим концом приключена к зажиму 12, соединенному с одним полюсом источника тока, а вторым к рычагу 10, который прижимается пружинкой 16 к контакту 11, соединенному со вторым полюсом источника тока. Внерабочем положении электромагнит 6 висит на крючке 7 и своею тяжестью отжимает рычаг 10 от контакта 11 и тем самым размыкает цепь. Для установления полюсных наконечников на испытуемом изделии, уложенном с этой целью на столе 14, электромагнит 6 снимается с крючка 7, пружина 16...

Номер патента: 31663

Опубликовано: 31.08.1933

Автор: Гольдман

МПК: B61K 9/10, G01N 27/83

Метки: металла, однородности, прибор, рельсах

...чтобы вался переблагодаря бмоток 7, 7) чмежду двумя контактными пластинами ослабленного места равновесие обмоток трансформатора нарушаешься, вследствие чего приводится в действие сигнальное или отмечающее приспособление, например, реле, управляющее прибором, выпускающим в месте повреждения краску. Предлагаемое изобретение касается устройства такого прибора и состоит в том, что, с целью уравновешивания влияния упомянутых выше диференциальных обмоток, в приборе применентрансформатор, снабженныи регулируемым магнитным шунтом, предназначенным по желанию шунтировать любую из двух частей магнитной цепи, в которой расположены диференциальные обмотки.На чертеже изображена схема привиде-.10;., ремя, вода ы 9" няючной ифе 1 ."противоположны по...

Номер патента: 55518

Опубликовано: 01.01.1939

Автор: Аршинов

МПК: G01B 9/00

Метки: двупреломляющих, однородности, пленок

...лучей.Целофановые и другие двупреломляющие пленки, при одном и том же способе их изготовления и одном и том же составе, должны иметь в направлении, перпендикулярном к пло. скости пленки, одинаковые оптические свойства, в частности и одинаковую силу двупреломления.Для контроля по интерференционному цвету пленки ее однородности можно рекомендовать следующий способ. Пленку, получаемую с последнего сушильного вала, передвигают между двумя стеклянными пластинками шириной в 2 - 3 сл и длиной, равной длине вала (около 1,5 м). К стеклянным пластинкам прикрепляются поляроидные пленки. Вместо стеклянных пластинок с прикре. пленными или приклеенными к ним поляроидными пленками, или стеклянных же пластинок с защемленными между ними поляроидными...

Номер патента: 78120

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Попков

МПК: G01N 23/18

Метки: вращения, имеющих, например, однородности, тел, форму

...Я 0)1 рсделспия ОДНООДПОСТИ ИЗДЕГП НаПРИМЕР И)1 С 10 Ц ИХ фОРХ) ТЕ;1 В 1)дИЦСНИ 51 - В ПО- перечном разрезе; на фиг, 2 - схема соединения иопизацион)ых камер илп фотоэлементов.;1 учи от источника излучения 1 (фиг. 1) проходят через исследус.,1 ое изделие 2 и попадаОт в приемн) к д. Приемник состоит из четырех ино)шзационных камер или фотоэлементов 4, 5, 6 и 7 (фиг. 2), ЭлекГ 1)оды пак 1)сст лсжаи 1 их ионизационных ка.сер для С 1)отоэлементОВ 4 - 6 и 6 - 7 соединены между сооой пар)1,гСГьпо. ОбразуОцПсся две пары инс низациопнь)х камер или фотоэлементов 4 - 6 и 6 - 7 включены диффс 1)енциально на вход усилителя 8,При однородном изделии интенсивность рентгеновских лучей, па- Дд 1 ЮЦИХ На НаКРССТ ЛЕЖаЩИС ПаРЫ ИОНИЗсдЦИОННЫХ КВМЕР ИЛИ...

Номер патента: 87453

Опубликовано: 01.01.1950

Автор: Почепа

МПК: G01M 1/12, G01N 9/02

Метки: механических, однородности, проверки, смесей

Номер патента: 106702

Опубликовано: 01.01.1957

Автор: Шелюбский

МПК: G01N 21/59

Метки: однородности, стекла, степени

...1, освещающего с помощгяо зеркал 2, объективов 3 и диафрагм 4 две кюветы б, помещенные в термостат б. заполненный жидкостью, для перемешивания которой имеется мешалка 7.Одна из кювет запо.чнена мелкими крупинками 8 взятыми из различных участков исследуемого куска стекла или."1 ътдвого изделия, и иммерсионной жидкостью.Вторая кювета заполнена только иммерсионной жидкостью.Прошедший через обе кюветы свет (фиг. 1) или рассеянный кюветами свет (фиг. 2), попадает на два фотоэлемента или фотосопротивления, включенных соответственно в дифференциальную или мостовую схемы, выход которых подается на самопишущий прибор 10.Температура в термостате равномерно возрастает с небольшой скоростью, что обеспечивается терморегулятором 11.Иммерсионная...

Номер патента: 126293

Опубликовано: 01.01.1960

Авторы: Рудяк, Сысоев

МПК: G01N 21/17

Метки: газов, жидкостей, однородности, оптической

...освещается световым или иным видом излучения от источников 5 1 например, т- лучами, ультразвуковыми и т, п.), создающими равномерное освещение (облучение) исследуемого потока в тонком слое, причем оптические включения в жидкости или газе дают рассеяния (отражения), принимаемые объективом б.Объектив б фокусирует изображение поперечного сечения потока в зоне освещения на отверстии диафрагмы 7. Диафрагма 7 устанавливается с большой точностью (по диаметру и осевому смещению) таким образом, что она задерживает лишь отражения стенок трубки 3 и почти не перекрывает изображение сечения потока. Это обусловливает возможность просмотра практически всей плошади сечения потока, а, следовательно, всего объема протекающего через датчик потока...

Номер патента: 126653

Опубликовано: 01.01.1960

Авторы: Ланге, Римский-Корсаков

МПК: G01N 29/16

Метки: качества, однородности, склейки

...никаких нагрузок, кроме 1)вакцин, создаваемой инерционнымсопротивлением насадки б. Эта реакция при низких частотах и незиачи.тельной массе весьма мала и ею практически можно пренебречь, Поскольку конец щупа не нагружен, пьезоэлемент 2 не деформируется и напряжение на нем близко к нулю. При прижатии щупа к изделгно возникаетр акии, ,нцемацин Иьсзоэлсмснта 2 и появлсьчс ца цсм элсктричсскцо иаиржсци. Это цаиряжсцис оудст тем большим, чем боли( мсхаиисскии имисдацс издслия В ТОко его соприкосцОВсция сО щупом,аким бразом сигнал на выходе Усилителя 5 оказывается связанным с механическим импсдаисом контролируемого изделия в данной то кс,В случае качественной склейки механический импсдацс изделия состороны его поверхности оказывается высоким...

Номер патента: 133672

Опубликовано: 01.01.1960

Авторы: Видро, Мироненко, Хорольский

МПК: G01N 21/41

Метки: однородности, стекла, степени

...заключается в том, что измеряют ширину или полуширину спектральной полосы пропускания пропитанного иммерсионной жидкостью стеклянного порошка при постоянной температуре, Такая среда при падении на нее белого света вырезает узкую область спектра, т. е. является дисперсионным светофильтром, Максимум пропускания светофильтра соответствует той длине волны, для которой показатели преломления стекла и жидкости совпадаютЕсли стеклянный порошок неоднороден, то условие равенства показателей преломления стекла и жидкости будет выполняться для ряда длин волн, т. е. кривая пропускания светофильтра будет расширяться, Таким образом, ширина (или полуширина) кривой пропускания светофильтра является мерой его однородности.Установка для осуществления...

Номер патента: 176715

Опубликовано: 01.01.1965

МПК: B01J 8/24, G01N 7/00

Метки: однородности, псевдоожижения

...величины, преобразователь 2 преобразует их в соответствую 1 цие электрические импульсы, которые усиливаются усилителем 5, колебани электрического тока от преобразователя подаются также на усреднитсль 4 и затем попадают усилитель 5. Таким образом, па входе усилителя 3 получаются электрические колеоапия, соответствующие колебаниям регистрируемой характеристической величины (перепада давлени 51, дд лени В псеВдоожиженпом слое, локальной плотности слоя и др,), а па выходе усилителя 5 - усредненное значение указаиой величины. Электрические колебашя с усилителей 3 и 5 попадают на записывающий прибор (осциллограф) и преобразуютс,1 в осциллограмму, на которой изображены одноврееннь;е 1 змепеппя мгновенного 5 и среднего значенпй измеряемого...

Номер патента: 220314

Опубликовано: 01.01.1968

Автор: Ершое

МПК: G11C 11/14, G11C 29/00

Метки: однородности, пленок, тонких, ферролагнитных, цилиндрических

...индукция насыщения, Н - поле анизотроппи, а второй горизонтален и находится на оси Х на 20 расстоянии, равном В,. Воздействие синусоидального переменного поля с амплитудой Н, на материал с такой магнитной характеристикой приводит к появлению во вторичной э д.с.третьей гармоники, зависимость амплитуды 25 которой Е,от амплитуды Н, выражаетсяследующей формулойгде Е, - амплитуда третьей гармоники, О, - амплитуда переменного поля, д и Н - толщина н поле анизотропии контролируемого участка пленки, А - коэффициент, зависящий от числа витков вторичной обмотки Л, радиуса подложки Я, частоты переменного поля 1 и индукции насыщения В, материалов пленки (которую предполагаем равной индукции насыщения массивного материала):А= (16 л ЯРВ,) зВсе...

Номер патента: 249725

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Янышев

МПК: G01N 29/12

Метки: объемной, однородности, поверхностной

...заключающиеся в возбуждении образца и замере частот собственных колебаний в двух взаимно перпендикулярных направлениях, недостаточно точны.Цель изобретенияповышение разрешающей способности и точности определения однородности материалов.Для определения однородности материалов берут брусок, пластину, поковку или любой образец, предназначенный для испытания и имеющий материал н режимы обработки,одинаковые с деталью, возбуждают любым способом колебания в нем и замеряют частоту собственных колебаний. Затем уменьшаюттолщину образца, например, путем двусторонней сихптетричнотт шлифовки, и несколько раз повторяют описанные операции, после чего строят график зависимости частоты собственных колебаний от изменения толщины образца и по...

Номер патента: 258731

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Айнштейн, Гельперин, Кофман, Московский

МПК: G01N 11/08

Метки: однородности, псевдоожижения

...Известны способы определения однородности,псевдсожижения фиксацией мгновенных и средних значений характеристической величины, например, по перепаду давления в псевдоожиженном слое. Однако эти способы трудоемки, так как связаны с записью осциллограмм и с их последующей обработкой.Предлагаемый способ заключается в том, что,проводят фиксацию разности мгновенного по абсолютной величине и среднего значения данной характеристики и усредняют эту разность. Это упрощает определение.На фиг. 1 и 2 изображены блок-схемы, по которым осуществляют способ; на фцг. 3 - схема измеряющего устройства по блок-схеме 2. В устройстве (см. фиг. 1) датчик 1 воспринимает изменения регистрируемой величины, преобразователь 2 преобразует их в...

Номер патента: 299465

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Борисов, Института, Саратовский, Тимошенко

МПК: C03B 5/24

Метки: однородности, стекломассы

...еделения однородности щее два охлаждаемых еся тем, что, с целью зации и непрерывности ктрод выполнен с платермопарой и через,пес потенциометром. Изобретение относится к рывного,контроля техноло стекловарения для контр стекломаосы в стокловаре Известны устройства дл держащие два охлаждаех Цель предложенного и печение автоматизации и цесса. Это достигается те род выполнен с платино-п мопарой, а провода от эл ры связаны через переклю метром.,Предлагаемое устрой изображено на чертеже. Оно содержит платинов терованпые огнеупорным тино.платинородиевую тер охлаждается холодильник ловку 3, изолирующую п также трубочки б и б для по дагента. Головка 3 имеет ша 7, выполненного из опустройствам непрегичсского процесса оля однородности нных...

Номер патента: 311239

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Бахти, Винникова, Лисов, Овчаренко, Полуэктова, Черепашенец

МПК: G01B 11/30

Метки: зернистой, исследования, металлов, однородности, структуры

...имеет металлопрафический микроскоп 1 (МИМ), трансфокатор 2, призму 3, мальтийский механизм 4, фотоэлектронный умножитель (ФЭУ) 5, вторичный црибор 6 (вольтметр эффективных значений В) вт электродвигатель 7. Световой поток, отражясь от поверхности ЗО микрошлцфа металла (шлцф установлен на предметном столовке металлографическо;о микроскопа 1), создает на выходе мсцкроскопа увеличенное изображение шлифа. Это изображение попадает на трансфокатор 2, с помощью которого изменяют масштаб цзображенсия и обеспечивают поступление сзетового сигнала от малого (точечного) участка поверхности микрошлцфа. С помощью, призмы 3, прцьодимой в движение электродвигателе.7 и вращающейся в подшипнике скольжения, осуществляют вр ащение...

Номер патента: 312193

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Ершов, Лифшиц

МПК: G01N 27/72

Метки: магнитных, однородности, пленок, тонких, цилиндрических

...же частоты, но разной амплитуды, измеряют амплитуды третьих гармоник вторичной э.д.с., составляют из них отношение, позволяющее определить величину поля анизотропии, по которому судят об однородности пленок, причем амплитуда намагничивающего поля должна быть заведомо больше поля анизотропии.Это позволяет повьсить точность контроля, так,как подавляется влияние колебаний потока насыщения через контролируемый участок пленки.Сущность способа заключается в следующем.Тонкую магнитную пленку намагничивают переменным полем определенной амплитуды и частоты, определяют амплитуду третьей гармоники Е з вторичной э.д.с., затем определяют амплитуду третьей гармоники Е з,п при другом значении амплитуды намагничивающего поля той же частоты, причем...

Номер патента: 443335

Опубликовано: 15.09.1974

Авторы: Бугров, Дюков

МПК: G01R 27/00

Метки: однородности, параметров, среды, физических

...".тивления , , ц Ъ,располоыенные в контроли1 21. 11 и Ш поля трубчатого реактора Т, подключены одними концаци через рлировочные со;.:сотив ЛСНИя дтплК 2 и- зК ОбщЕцу ИСТОЧНИК П-Лан 1 л ЧНО-О-, фазного напряже.дя Е т а другие концы датчикоь подключены через изцерител:.ный прибор Б к нулевой фазе Фо общего источника пи".анин, Контролировать подобным устройством можно любыеизические параметры средынапример температуры, концентрации, давления и др, Датчики пр.",- меняют любые, реагйрующие на изменение упомянутых параметров среды изменением своих згектрических характеристик ( наприце ,: ец кости или сопротивления)Об одчородности необходимого параметра в йзцеряемых точках среды судят по показаниям измерительного прибора, Прибор дает...

Номер патента: 447374

Опубликовано: 25.10.1974

Автор: Лаптев

МПК: C03B 5/24

Метки: однородности, стекломассы

...стекломассы была одинаковой. В этом случае при любых изменениях температурного режима разность между уровнем стекломассы и уровнем расплава будет неизменной, а, следовательно, сохранится неизменным положение сердечника 7 относительно катушки 6, выбранное таким, что при плотности стекломассы, соответствующей заданному химическому составу, сигнал, подаваемый с катушки 6 на вторичный прибор 8, равен нулю, а разность между уровнем расплава и величиной погружения емкости-поплавка 1 будет меняться пропорционально отклонению средней температуры стекломассы в месте из15 оставптсль В. КаунинТехред О, Гуменюк Мор озо Редактор ректор Л. Котов лоака06/18 ЦНИИП Иад Л" 494 Государственного по делам из Москва, Ж, Тираж 06комитета Совета Министроретений...

Номер патента: 451028

Опубликовано: 25.11.1974

Авторы: Смирнова, Тридуб, Черпак, Шамфаров

МПК: G01R 33/02

Метки: магнитного, однородности, поля, постоянного, сверхпроводящем, соленоиде, ферромагнитным, экраном

...оборудования,специальных приспособлений для перемещения соленоидов относительно датчиков магнитного поля, расположенных в жидком гелии, внутри сосуда Дьюара, наличия ВЧили СВЧ -техники,Цель изобретения - упростить процессизмерения однородности магнитного поля,Для этого соленоид при комнатной температуре запитывают переменным током 2определенной амплитуды и частоты и измерянт распределение переменного магнитного поли с помопью, например, пробной катушки.Частота и амплиту при которы однородност нородностью ного поля пр ляются из 5 ю Ф гт тй магнитного э олшина а о оле- постоянное магнитнле наиде;- максимальное пост В тное м В э иту- поля 9 ана;астота пе еменно да переменного тока, 25 ока;.р.,2) Авторы Я. Л, ШАМФАРОВ изобретения...

Номер патента: 464815

Опубликовано: 25.03.1975

Авторы: Королюк, Рой

МПК: G01N 29/04

Метки: образцов, однородности, ультразвукового

...образца. По характеру, полученного распределения судят об однородности материала. Расстояние между контактами определяется требуемой,в каждом конкретном случае разрешающей способностью измерения.Современные методы напыления позволяют получать такие решетки с дискретностью до долей микрона. 20 Для расширения технологических возможностей контроля в казачестве раопределенного параметра используют акустоэлектрическую эд.с 1 возникающую в образце при прохождении через него ультразвуковой волны (явле,н ие а кустоэл ектр ич вского эффекта) . редмет пзоб ни инципиальная схема мето,да; на фиг. 2 - спределения акустолине образца, где а -На фиг. 1 дана,пконтроля, предлагаемогохарактерные кривые рэлектрической эд.с. по д Способ ультразвукового...

Номер патента: 554514

Опубликовано: 15.04.1977

Авторы: Лысый, Штельмахов

МПК: G01R 33/12

Метки: магнитных, однородности, пленок, способа, тонких, цилиндрических

...измеряют амплитуду (Е,) и фазу (ф) напряжения третьей гармоники вторичной э.д.с.; из выражений (5) и (6) определяют требуемые значения Лд и ЛВ которые могут быть определены из графического построения (фиг, 1). Для этого измеряют амплитуды и фазы напряжения третьей гармоники вторичной э.д.с, в соответствии с выражениями (15) для вычисления коэффициентов.По измеренным значениям амплитуд ц фаз напряжения третьей гармоники вторичноц э,д.с. в выбранном масштабс ца график наносят точки О, В и С. Через точки О и В, О и С проводят отрезки прямых, которые являются направлениями изменения малых приращений толщин (Лд) магнитного слоя и индукции насыщения (ЛВ,) участков образцов ЦТМП; измеряют амплитуду (Ет,) и фазу (ф) напряжения третьей...

Номер патента: 578604

Опубликовано: 30.10.1977

Автор: Варицкий

МПК: G01N 27/22

Метки: жидкости, однородности, потоке

...гравитационногоразделителя 2, представляющего собой, например. спираль или достаточно длинную линию1 О трубопровода с небольшим геометрическимуклоном, измерительной камеры 3 из электроизоляционного материала.Внутри камеры 3 на кронштейнах 4 закреплен цилиндр 5 из электроизоляционного мате 15 риала с обтекаемыми оконечностями, Сечениеизмерительной камеры по потоку - не менеесечения трубопровода гравитационного разделителя.На внутренней поверхности измерительной20 камеры 3 и внешней поверхности цилиндра 5попарно закреплены пластины емкостных датчиков б, Провода от нвутренних пластин через кронштейн 4 выводятся наружу, к измерительному или исполнительному многоканаль 25 ному устройству или коммутатору 7.Работа устройства заключается в...

Номер патента: 608770

Опубликовано: 30.05.1978

Автор: Лаптев

МПК: C03B 5/24

Метки: однородности, расплава, стекла

...на режим барботирования газа через трубку 2, тем самым производится быстрый обмен исследуемого расплава в месте измерения и Изобретение относится к стекольной промышленности и предназначено для контроляфизико-механических свойств стекла,Известно устройство для определения однородности расплава стекла в виде лабораторной установки, где сравниваются плотностиэталона и отобранных проб стекломассы 1.Недостатки такого устройства заключаютсяв отсутствии непрерывности измерения, сложности конструкции.10Известно и другое устройство для опрсделения однородности расплава стекла, содержащее электроды и блок регулирования 2.Недостатками данного устройства являютсясложность конструкции и низкая надежность,Цель изобретения - повышение...

Номер патента: 627413

Опубликовано: 05.10.1978

Авторы: Нарижняк, Панченко, Тихонов

МПК: G01R 19/00

Метки: однородности, параметров, среды, физических

...подключены к нулевому выводу многофазного источника питания, датчики снабжены элементом с односторонней проводимостью, включенным последовательно с активными элементами, а многофазный источник питания выполнен в виде генератора биполярных эквивалентных импульсов.На чертеже приведена принципиаль- ная электрическая схема устройства.Устройство для контроля физических параметров среды сбдержит многофазный источник питания 1 в виде генератора биполярных эквивалентных импульсов, измерительный прибор 2 и датчики 31-3 с активными элементами 4-4 а 5 -3 а . Каждый датчик одним выводом подключен к многофазному источнику питания 1 через переменный резистор 6 -Ба и снабжен элементом с односторойней проводимостью 71 -7 эб 27413 Формула изобретения...

Номер патента: 642654

Опубликовано: 15.01.1979

Авторы: Бартанов, Волков

МПК: G01R 31/26

Метки: неразрушающий, однородности, силовых, степени, структур, тиристоров

...ППП ффйатентф, г.ужгород, ул.Проектная, 4 вследствие неравномерного тепловогонагрева проводящего элемента, но неучитывает другие факторы, приводящиек локализации максимальной нагрузки.(неоднородность удельного сопротив 1 дения кремния, неоднородность фронтадиффузии .и т,д,),Целью изобретения является обеспечение возможности учета максимальной локальной нагрузки при количественной оценке степени неоднородностиструктуры и повышение точности оценки,Цель Достигается тем, что по предлагаемому способу измеряют напряжение переключения тиристора при фиксированной скорости нарастания анодного напряжения через фиксированныйпромежуток времени после протеканияпрямоугольного импульса тока, измеряют напряжение переключения исследуемой...

Номер патента: 724999

Опубликовано: 30.03.1980

Авторы: Айзенберг, Румянцев, Ситников, Тунев

МПК: G01N 21/46

Метки: образца, однородности, оптической

...дополнительную децентрированную телескопическую си- стему, при этом отношение их диаметров соответствует коэффициенту увеличения этой системы, Вогнутое полупрозрачное зеркало 7 наносится на поверхность мениска 8. На выходе устройства имеется телескопическая система 9.Устройство работает следующим образом: истоЧнйк света 1 "освещает "Фочечйую диафрагму 2, от которй свет проходит в724999 4 Составитель К. Рогожинехред, А. Камышникова Корректор Е, Хмелева Редакт Заказ 357/2 Изд.220, Тираж 10,13 ПодписноеНГЩ Поиск Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 графия, пр. Сапунова, 2 3объектив коллиматора 3 и затем днфрагирует на кольцевом отверстии, образованном оправой зеркала 5 и...

Номер патента: 789583

Опубликовано: 23.12.1980

Авторы: Бургутин, Гуров, Курунов, Негинский, Рожавский, Рылов, Френкель, Хомич

МПК: C21B 7/20

Метки: более, двумя, доменной, кремния, летками, однородности, окружности, печи, содержания, чугуне, чугунными

...параметры плавки, формирующие общий уровень содержания кремния в чугуне повсем окружным секторам печи, прилегающим к соответствующим чугуннымлеткам. К ним относится большинствопараметров управления, как, например,рудная нагрузка, температура ивлажность горячего дутья, общий расход восстановительных добавок, вдуваемых в печь, и т.п а также контролируемые качественные характеристики шихты, как, например, содержаниежелеза в рудной части шихты, ее основность и т.п.Выпуск чугуна с одновременным отбором проб и их анализом на содержание кремния производят при любом чередовании леток. Например, на печи счетырьмя чугунными летками чередованиелеток таково: 1-2-3-4; 1-3-2-4,1-4-3-2 и т.п.Допустим также выпуск чугуна издвух, трех или даже...

Номер патента: 791661

Опубликовано: 30.12.1980

Авторы: Лаптев, Прохоров

МПК: C03B 5/24

Метки: однородности, стекломассы

...причем рабочие спаи термо пар смещены относительно концов измерительных электродов.На чертеже представлена схема устройства.Устройство состоит из измерительных электродов 1 и 2, электродов 3 и 4, образующих с измерительными электродами 1 и 2 термопары с рабочими спаями а и б, смещенными на 5-10 мм относительно концов электродов 1 и 2, переключатель 5 и потенциометр б.Однородность расплава стекла определяется по величине электро- движущей силы Е между измерительными электродами 1 и 2, фиксируемой потенциометром б, при этом компенсация термоэлектродвижущей силы возникающей между измерительными электродами производится по ЭДС ( Е и Е) снимаемым соответственно с;электродов 2, 3 и электродов 1,. я и фиксируемым через пеРеключатель 5 на...

Номер патента: 792126

Опубликовано: 30.12.1980

Авторы: Лисовский, Мансветова, Шаповалов

МПК: G01N 27/82

Метки: однородности, пластин, сопротивления, удельного

...что прикладывают к поверхности пластины с.зазором, обеспечивающим электрическую изоляцию, однородную магнитную пленку, выращенную на прозрачной подложке, помещаот пластину и магнитную пленку в однородное магнитное поле, освещапт магнитную пленку через подложку поляризованным светом, фиксиру:от о клонения положения и формы границы монодоменной области от эталонныхпри изменении величины однородного магнитного поля и79 12 6 Формула изобретения ИИПИ Заказ 9431/42 раж 1019 Подписное по отклон ниям судят оГ сднородности удельного сопротивления пластины.На чертеже приведена схема устройства для реализации способа.Оио содержит исследуемую пластину 1, контакты 2, источник импульсного электрического тока 3, магнитную пленку 4, устройство для...