342112

Номер патента: 448346

Опубликовано: 30.10.1974

Авторы: Мурашко, Уразаев

МПК: G01B 5/25

Метки: вращения, двух, детали, несоосности, общей, оси, относительно, поверхностей

...измеряют несоосность второй поверхности относительно общей оси при вращении детали относительно оси, проходящей через центр базирующей поверхности и перпендикулярной ее торцу.Предлагаемый способ отличается от известного тем, что измеряют в среднем сечении второй поверхности отклонение общей оси от оси вращения детали, измеряют в крайнем сечении второй поверхности отклонение ее оси от оси вращения детали и определяют величину несоосности второй поверхности относительно общей оси, как разницу величин второго измерения, взятого с постоянным коэффициентом, зависящим от геометрических пар а метров детали.Это повышает точность измерения за счет учета отклонения общей оси от оси вращения детали,Предлагаемый способ иллюстрируется чертежом.Для...

Номер патента: 408144

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Герман, Ловцов

МПК: G01B 13/22

Метки: изделия, качества, плоского, поверхностей

...от работы второго измерительного5 сопла.На чертеже представлена конструктивнаясхема устройства.В корпусе 1 размещены измерительные сопла 2 и 3, плунжер 4 и пружина 5, которая упн 10 рается во фланец 6, соединенный через резиновую мембрану 7 с корпусом.Вакуумный насос 8 сообщен каналами ссоплами 2 и 3 и вакуумметром 9. К корпусуприсоединены натекатель 10 и измеритель 11 15 давления.Взаимное положение сопл и корпуса фиксируется шпонками 12. Рабочие поверхности сопл параллельны.20 Перед измерением изделие 13 помещают вкорпус, сопло 2 жестко скрепляют с корпусом, а сопло 3 накрывают фланцем 6 и включают насос 8.Атмосферный воздух давит на фланец 6,25 выполняющий вместе с мембраной 7 рольпневматического упругого элемента, и зажимает...

Номер патента: 1551994

Опубликовано: 23.03.1990

Авторы: Буряк, Горкун, Комарова, Маслов, Остафьев

МПК: G01B 11/30

Метки: каналов, качества, поверхности, сквозных

...света,Иа чертеже изображена принципиальная схема устройства для контроля "качества поверхности сквозных каналов.Устройство содержит осветитель 1,выходную головку 2 с кольцевой диаф;рагмой 3, входную головку 4 с кольцевой диафрагмой 5, собирающую линзу6 с центральным отверстием, фотоприемники 7 и 8, причем фотоприемник 7 установлен в центральном отверстии собирающей линзы 6, а Фотоприем:ник 8 - в заднем Фокусе линзы 6. Вы,ходная головка 2 соединена с входной 4 с возможностью перемещенияотносительно друг друга. Это осуществляется при помощи резьбового соединения двух винтов 9 и гайки 10. Осветитель 1 представляет собой лампочку накаливания и рассеивающую линзу.Осветитель 1 и выходная головка2 с кольцевой диафрагмой 3 выполненыв одном...

Номер патента: 1569533

Опубликовано: 07.06.1990

Автор: Коржук

МПК: G01B 11/30

Метки: качества, плоских, поверхности

...ограниченный с одной стороны четкой линейной границей, ориентированной перпендикулярно плоскости измерения так, что граница перехода между освещенным и затененньщучастками поверхности находится в центре поля зрения приемного оптического узла 3, расположенного в корпусе 1 с противсположной осветителю 2 стороны в плоскости измерения под углом 90 к нему. Наоходящаяся в поле зрения приемного оптического узла 3 граница перехода между освещенным и затененным участками поверхности проектируется им на рабочую поверхность укрепленного на нем линейного фотодиодного преобра-. зователя 4 излучения, что вызывает засветку и срабатывание части его фотодиодных ячеек. Подключенная к выходу линейного фотодиодного преобразователя 4 излучения...

Номер патента: 1744455

Опубликовано: 30.06.1992

Авторы: Дорожкина, Рогов

МПК: G01B 11/30

Метки: качества, отверстий, поверхности, цилиндрических

...в исследуемом отверстии, и следовательно нельзя контролировать отверстия диаметром от 0,3 мм,Целью изобретения является обеспечение возможности контроля качества поверхности цилиндрических отверстий диаметром 0,3 мм и более,Цель достигается тем, что в способе контроля качества поверхности цилиндрических отверстий, заключающемся в том, что освещают контролируемую поверхность световым потоком, формируют с помощью оптической системы изображения контролируемой поверхности на фотоприемнике и по току с фотоприемника судят о качестве поверхности, освещение контролируемой поверхности производят расходящимся световым потоком от точного источника света, расположенного перед контролируемым отверстием, подвергают пространственной фильтрации свет,...