Способ контроля отступлений поверхности глубоких отверстий от прямолинейности

Номер патента: 965677

Опубликовано: 15.10.1982

Авторы: Коваленко, Котляров

МПК: B23K 26/08

Метки: лазерным, лучом, отверстий, пробивки

...схемы установки с вариантом выполнения механизмов для изменения положения фокуса лазерного луча,Установка содержит оптический квантовый генератор 1 с блоком 2 питания, фокусирующую линзу 3, установленную с 5 возможностью перемещения вдоль оптической оси луча 4, рабочий стол 5 для закрепления обрабатываемой детали 6, выполненной в виде открытой емкости, соединенной с газовой магистралью 7, датчик 8 давления газа, подключенный к блоку 2 питания генератора 1. Установка снабжена также механизмом для изменения положения фокуса лазерного луча 4 по толщине детали 6 в процессе обработки, соединенным с газовой магистралью 7.Механизм для изменения положения фокуса луча 4 может быть выполнен в виде пневмоцилиндра 9 с подпружиненным поршнем...

Номер патента: 1021940

Опубликовано: 07.06.1983

Авторы: Гриневский, Петров

МПК: G01B 11/00

Метки: диффузно, микроперемещений, объекта, отражающего, поверхности

...и исследовать объекты с размерами,превышающими используемые оптические элементы, так как исследуемые точки поверхнос 25, ти обьекта последовательно освещают, изменяя при этом направление оси визуализации 23.Недостаками. известного способа являются трудоемкость измерений из-за невоэ . можности одновременного определения ком. понент. смещения точек поверхности объекта для всей голографируемой поверхности, так какопределяются смещения каждой точки поверхности в отдельности, и низкая достоверность расшифровки голографических интерферограммиз.за невозможности определения знака направления смещения точек объекта, так как приразличных знаках смещения поверхности,ютерференционная картина будет идентична.Таким образом, недостатки...

Номер патента: 1460598

Опубликовано: 23.02.1989

Авторы: Сойту, Трегуб

МПК: G01B 11/27, G01B 9/02

Метки: интерферометр, кривизны, отражающих, поверхностей, радиусов

...поверхности совпадал с центром кривизны высокоточной поверхности сравнения мениска 7. Отра зившись от контролируемого объекта 1 световой поток, не измеяя своего сферического волнового фронта (при качественном изготовлении контролируемого объекта), возвращается в строго обратном направлении и на высокоточной поверхности сравнения мениска 7 интерферирует с вторым световым потоком, образуя интерференционную картину, которая при помощи линз 6 и 4, светоделительной пластины 3 и окуляра 5 рассматривается в поле зрения окуляра 5.Микросмещени-. ем контролируемого объекта 11 в направлении, перпендикулярном оптической оси, добиваются наличия в цоле зрения окуляра 5 определенного (в зависимости от метода обработки интерференционной картины)...

Номер патента: 1760312

Опубликовано: 07.09.1992

Авторы: Котляр, Сойфер, Храмов

МПК: G01B 11/24

Метки: интерферометр, отражающих, плоскостности, поверхностей

...двумя исследуемыми волновыми фронтами, смещенными и наклоненными по отношению друг к другу. Поэтому малые случайные смещения и наклоны любых оптических элементов схемы приводят только к малым смещениям интерферограммы и не искажают ее, а это в свою очередь означает повышение надежности и достоверности результатов измерения отклонения поверхности от плоскости, Во-вторых, вместо двух дифракционных решеток в прототипе в поперечносдвиговом интерферометре использована только одна решетка, которая помещена после второго объектива в сходящемся пучке в области фокуса, и поэтому имеет небольшие размеры, независящие от размеров контролируемой поверхности. В-третьих, предложенная оптическая схема с одним делительным элементом позволяет при...

Номер патента: 151497

Опубликовано: 01.01.1962

Авторы: Бондарь, Эстерзон

МПК: G01B 21/30, G01M 9/06

Метки: визуального, глубокой, детали, обрабатываемой, поверхности, расточке

...для визуального контроля поверхности обрабатываемой детали при глубокой расточке с помощью телевизионной установки, снабженной трубкой с длительным послесвечением экрана, отл ич а ющееся тем, что, с целью повышения точности наблюдения путем получения на экране телевизора поочередно неподвижных изображений отдельных участков поверхчости проверяемого изделия, устройство выполнено из электрических датчиков угла поворота изделия и управляемого ими электронного коммутатора, предназначенного для подачи на трубку кратковременных отпирающцх луч импульсов, запирание которого осуществляется очередным синхронизирующим кадровым импульсом схемы. запирание луча - последующим синхронизирующим кадровым имп льсом.Таким образом, на экране...