Способ определения качества поверхности

Номер патента: 349887

Автор: Грум

ZIP архив

Текст

Союз Советских Социалистических РеспубликЗависимое от авт. свидетельстваЗаявлено 07.Х.1969 ( 1371770:25-28с присоединением заявкиМ. Кл. С 011) 1 ио итет Комитет по делаю изобретений и открытий прн Совете Министров СССР.2(088,8 уоликова Дата опубликования описания 18.1 Х.197 Я ЗВ 4 Гай%".4,ваюаав ). Грум-Гржимайло сударствеииый научно-исследовательский институт строительнойкерамики вител ОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТ СОДЕР- й стоо для акецо устроиство, БСи федоровскбыть использова агаемого способа. соб осуществлтцот На чертеже,изоор жащее микроскоп М лик, которое может осуществления предл Предлагаемый спо ющим образом. Федоровский стол бы его ось 2 це совпК, ЧТО-осью к 1 располагают та адала с оптическо Изобретение относится к технике определеция качества поверхности глазуроваццых изделий, применяемой в керамической промышлеццости.Известен способ определения качества поверхцости изделий с применением оптического микроскопа, заключающийся в том, что направляют ца изделие наклонный пучок свега и ведут наблюдение за качеством поверхцосги по микроскопу, оптическая ось которого перпецдикулярца плоскости изделия.Однако известный способ це позволяет производить контроль качества глазуроваццых изделий.Для возможцости опреде.пеция качества поверхцости глазурованных изделий по предлагаемому способу определения качества поверхности устанавливают изделие цаклоццо к оптической оси микроскопа так, чтобы обеспечивалось равецство углов падеция света ца изделие и отракецие от него. 3 микроскопа. Эксцецтриситет может имеь лобое значение в интервале от 1 до 2 с,5. Направление смсщсция также может быть любым. Лимб 4 столика цаходится слева, если 5 смотреть ца хИкр)скоп спереди. Ось 5 Вцутреццего .Ольца т до:жца лежать В плоскости, пара.пле.)ЬИО Плос.Ости сизхсрци микроскопа, Осветитель 7 устанавливают в плоскости симметрии микроскопа. ОкулярцуО насадку 10 8 располагают так, чтобы окуляры 9 Оыли ца.правлецы в сторону штапва 10. Исс;едуемый образец 11 приклеивают кусочком пластилица к круглому стеклу, От 01)ое ВкладьВяОт ВО внутреннее кольцо 6 столика. Наб.пюдецие ве дут через Окуляр. В случае цеобходимости фотографирОВЯИИ 5 Иа Окуляр цадеВяОт Ч)ОтогратриескуО цасядку. ПрилеиВ Образец к стеклу, вводят обьсктив, цаколцяют образец с по.мощью столика (и: 20") ц произ)Одят грубуо 20 паводку ца резкость. В поле зрения при этомдолжна быть видна блестящая повсрхцость образца и яркий световой зайчик в серсдице.Далее включают объектив, дающий большое увеличецие, наводят ца резкость и производяг 25 наблюдение или фотографирование. При количсствеццых подсчетах используют сетку, имеющуюс 5 В кО 1 плскте 1 БС. Сетку п 1)иклецвают к образцу кусочком пластилина. Использовацие сетки избавляет от цеобходимости 30 вводить поправку за счет цаклсша образца,349887 П р ед м ет изобретения Составитель Лобзова1 зсдактор В. Новоселова Текред Л. Куклина Корректор А. Василье ьказ 30074 Изд.1242 Тираж 406 Подписное11 И 1 ПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Ж, Раушская наб д, 475 ипография, пр, Сапунова, 2 При необходимости просмотра соседних участков образца его либо отклеивают и передвигают, либо вращают вместе с круглым столом.Предлагаемый способ основан ца принципе приема в оптической системе зеркально отра жеццых лучей от ровных участков и диффуз. цо отраженных от неровностей. Прп зеркальцом отражении в объектив попадает почти столько же света, сколько и подается. Прп диффузном отражении в объектив попадает 10 только очень цебольшая часть света, а именцо те лучи, которые отразились по цаправлецию оптической оси микроскопа. Вследствие этого участки, отражающие свет зеркальцо, выглядят в поле зрения микроскопа светлыми, 15 а неровности темцыми, что и создает картицу, позволяющую судить о количестве церовцостей, их форме в плане, характере расположеция и размерах причем размеры могут быть определенытолько в плане. Имея данные 20 о форме, размерах ц характере расположецпя церовцоетей можйо расшифровать цх происхождец.ие,.-При -использовании предлагаемого способа можно производить быстрое сравнение по верхцости исследуемого образца с поверхцостью образца, выбранного в качестве эталона. Операция сравнения с эталоном оказывается весьма эффективной при необходимости проведения массовых исследований. Прибегая к 30 операции сравнения с эталоном, можно за короткий промежуток времени отобрать цацболее характерные образцы, проследить изменеция, происходящие ца поверхцости глазури серии образцов, получеццых в условиях раз личной газовой среды, или температуры, устацовить влияпие различных добавок в глазури и т. п. Способ определения качества поверхцости изделий с применением оптического микроскопа, заключающийся в том, что направляют ца изделие цаклоццый пучок света и ведут цаблодецце за качеством поверхцости, от гичаюгцийсл тем, что, с целью возможности опредслеция качества поверхности глазурованных изделий, устанавливают изделие цаклоццо к оцпческой осп микроскопа так, чтобы обеспечивалось равенство углов падения света ца изделие и отражения от него.

Смотреть

Заявка

1371770

Государственный научно исследовательский институт строительной

О. С. Грум Гржиманло

МПК / Метки

МПК: G01B 11/30

Метки: качества, поверхности

Опубликовано: 01.01.1972

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-349887-sposob-opredeleniya-kachestva-poverkhnosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения качества поверхности</a>

Похожие патенты