413373

Номер патента: 1057257

Опубликовано: 30.11.1983

Авторы: Горшков, Гузман, Лозбенев, Савельев, Фомин

МПК: B24B 37/00

Метки: детали, инструмента, корректирующей, оптической, поверхности, рабочей

...полосе. На фиг. 1 показана интерферограмма сферического зеркала из стекла марки К 8, диаметром 500 мм, имеющего радиус сферы 1000 мм; на фиг. 2 - конфигурация рабочей поверхности инструмента, соответствующая интерферограмме на фиг. 1 (рабочая часть поверхности заштрихована); на фиг.3 - интерферограмма, полученная после 5 10 15 20 25 ЗО 35 40 45 50 обработки детали инструментом, конфигурация рабочей поверхности которого приведена на фиг. 2.Предлагаемый способ предусматривает поэтапйую обработку детали с контролем ее поверхности после каждого этапа обработки и последующую доработку поверхности инструмента. Так как рабочая поверхность инструмента состоит из полировочной смолы, та ее доработка может производиться одним из известных...

Номер патента: 1428972

Опубликовано: 07.10.1988

Авторы: Петрушко, Рожков, Тимашова, Щербаков

МПК: G01M 11/02

Метки: изображения, качества, оптической, системы

...Измеряя КПМ при трех различных значениях частоты модуляции ца оптической оси и при одном из цих ца расстояшшот оптической осц, имеют систему из четырех линейных уравнений с четырьмя неизвестными Су, Сор, Ср и и:3Се Х 1 + СсуХ - 3 и = -у. агс сов шСрХ + СсуХ -= - агс сов ш;2Се Х + СсуХ -3 ю = - , - агс сов ш;Суе Х+ Ср Х+ Ср Х- д4(10) решая которую определяюткоэффициенты волновых аберраций.При большой апертуре репродукционная система может вносить сферические аберрации высших порядков - пятого порядка Усею = СсоХ седьмого порядбИ 1 фкаРв = СрХ 1 и т.д. Соответствующие коэффициенты сферических аберраций могут быть найдены, измеряя КПМ при дополнительных частотах модуляции 1 и 9 и т.д. и решая соответствующую систему...

Номер патента: 1156167

Опубликовано: 15.05.1985

Авторы: Любинецкая, Педан

МПК: H01J 9/42

Метки: качества, систем, электронно-оптических

...системой 4 электроннолучевой трубки 5.Для определения места положения точки фокусировки электронного пучка 3, формируемого электронно-оптическои системой 4 электроннолучевой трубки 5, катушку электромагнитного стигма- тора размещают на горловине электроннолучевой трубки в пространстве дрейфа электронного пучка. На катушку электромагнитного стигматора от источника питания 2 подают переменное напряжение, например промышленной частоты, При расположении средней плоскости стигматора вне места фокусировки пучка на экране электроннолучевой трубки наблюдается характерная для работы стигматора крестообразная фигура, формирующаяся в результате фокусирующего действия квадрупольного поля стигматора. При перемещении стигматора вдоль оси пучка в...

Номер патента: 380946

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Елисеев, Клочкова, Кожевников, Контиевский, Пережогин

МПК: G01B 9/02

Метки: детали, интерферометр, качества, оптической, плоской, поверхности

...ширина границ раздела полосы на участки с взаимно повернутыми изображениями практически равна нулю, плоскость изображения полос проходит через границы раздела, и параллакс между изображениями полосы на различных участках отсутствует, что повышает точность контроля.На фиг, 1 из птпредлагаемого ра15 20 25 30 35 разрез по А - А на фиг. 1; на фиг. 3 - вид поля зрения интерферометра.Интерферометр содержит осветительную систему, включающую источник 1 монохроматического излучения, конденсор 2, диафрагму 3, положительные линзы 4 и 5, объектив б, эталон 7, светоделительную пластину 8, разделительное оптическое устройство, состоящее из светоделительного кубика 9, пента- призмы 10, призмы 11, клина 12, зеркальных покрытий 13 в виде...

Номер патента: 529362

Опубликовано: 25.09.1976

Авторы: Астахова, Духопел, Федина

МПК: G01B 11/24, G01B 11/30, G01B 9/02, G01N 21/45

Метки: аберраций, интеферометр, исследования, качества, крупногабаритных, неоднород, ностей, оптических, поверхностей, прозрачных, элементов

...в в-.оо,л 1 г, апионпой схеме сов. 1 стн с исслецус п зеркалом 7 н устанавливается, в .;а: и:сстот контролируемого объекта,;,.цоо; цг",та.-.кривизны сферического зеркала, либо в фо -кусе исследуемого объектива,Работает интерферометр слецуюшим образом.25Параллельный световой пучок монохроматического света направляется на объектив 1, фокус которого совмещен с отражающей поверхностью зеркала 5. После выхода из объектива пучок света светопелителем 2 део ЭО лится на два пучка - рабочии и опорныи. Рабочий пучок, пройдя светопелитель 2, с помощью зеркала 3 и светоделителя 4 направляется на исследуемое сферическое зеркало 7. Опорный пучок после отражения от светоделителя 2 попадает на линзу 6, а,затемЗВ зеркалом 5 направляется на зеркало...