Саботюк

Номер патента: 1518670

Опубликовано: 30.10.1989

Авторы: Лазаренко, Мельник, Михеенко, Саботюк

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...к приборам, предназначенным для исследования и контроля шероховатости поверхности по методу темного поля.Цель изобретения - улучшение габаритон устройства за счет исключения иэ конструкции светонода большой длины и диафрагм (зоц нечувствительности).На фиг, показана принципиальная схема устройства; на фиг.2 и 3 - ход лучей в покрытии при выделении рассеянной составляющей отраженного от контролируемой поверасности потока излучения,Устройство состоит цз монохроматического точечного источника 1 излучения, установленного н отверстии чувствительной площадки фотоприемника 2, подключенного к регистратору 3. Иа чувствительную площадку нанесено интерференционное покрытие 4 переменной толщины, определяемой по формуле Если в точке, уддлеццой...