Патенты с меткой «тонких»

Номер патента: 311189

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Конев, Минский, Проектно, Скобова

МПК: G01N 22/04

Метки: влагомер, нитевидных, тонких

...едмст цзоорстенця Влагомслов, содер.пый резонвсрстцямцэлектричессодержащетем, что, спений, онсоединеннтипа Ноодповреме Изобретение относится к влагомет 1жет быть применено на предприятия.водящих или использующих влагопошце материалы.Известныс влагомеры для тонких, нитевидшях и сыпучих материалов, содержащие СВЧгенератор, прямоугольный резонатор с плунжерохт, волноводы с отверстиями в точках высокой напряженности электрического поля дляпродвижения влагосодержащего материала,узел коррекции и блок индикациц с сумматором, не обеспечивают удовлетворительнойточности измерений влажности малоувлажнснного нитевидного материала вследствие низкойчувствительности и зависимости показаний оттолгципны нити.Цель изобретения - расширение диапазона...

Номер патента: 312193

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Ершов, Лифшиц

МПК: G01N 27/72

Метки: магнитных, однородности, пленок, тонких, цилиндрических

...же частоты, но разной амплитуды, измеряют амплитуды третьих гармоник вторичной э.д.с., составляют из них отношение, позволяющее определить величину поля анизотропии, по которому судят об однородности пленок, причем амплитуда намагничивающего поля должна быть заведомо больше поля анизотропии.Это позволяет повьсить точность контроля, так,как подавляется влияние колебаний потока насыщения через контролируемый участок пленки.Сущность способа заключается в следующем.Тонкую магнитную пленку намагничивают переменным полем определенной амплитуды и частоты, определяют амплитуду третьей гармоники Е з вторичной э.д.с., затем определяют амплитуду третьей гармоники Е з,п при другом значении амплитуды намагничивающего поля той же частоты, причем...

Номер патента: 316046

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Литвинчук, Саланский

МПК: G01R 33/12

Метки: дисперсии, магнитных, намагниченности, нленок, тонких, угловой

...диап измеряемых значений.На чертеже приведенройства для проведенияваемому способу. 20Колебания высокой частоты с генератора 1 поступают в контур 2, настроенный в резонанс на частоту подводимого напряжения. В катушке индуктивности контура 2 создается высокочастотное поле накачки Нп. Постоян ное магнитное поле Н, создается в катушках Гельмгольца 3, подключенных к источнику постоянного тока 4. Поля Нр и Н, направлены перпендикулярно оси легкого намагничивания тонкой магнитной пленки б и прило жены в ее плоскости, Величины полей соответствуют значениям, при которых в контуре б возникают параметрические колебания, наблюдаемые на осциллографе 7. Пленку вращают внутри системы катушек и отсчитывают углы, при которых исчезают параметрические...

Номер патента: 319440

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Кваша, Николаев, Саф, Турков, Четвертый

МПК: B23Q 7/10

Метки: выдачи, конфигурации, поштучной, сложной, тонких

...пластинок, а внутренний, поворачивающийся вокруг оси, снабжен штырями, раздвигающими или вдвигающими отсекающие пластинки из пазов на. ружного стержня, причем отсекающие пластинии выполнены поддерживающими деталь одновременно с разных сторон. Это обеспечивает отсекание из стопы деталей, имеющих зазор по внутреннему диаметру, и предохраняег их от деформации.На фиг. 1 изображена схема предлагаемого устройства; на фиг. 2 - узел отсекания нижней детали, вид снизу. 1 поворачивается на абочего,положения, и уложенных защитных тся на него снизу, посащается в рабочее поба лежит на опорной дает собранный шаризин шайб (стержень 1). хода толкателя сопорочается электромагнит, внутренний стержень 2на некоторый угол, тем самым его штыри, находясь в...

Номер патента: 324594

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Гончаров, Пискл, Полул, Раздовский, Харьковский

МПК: G01R 33/18

Метки: магнитных, магнитострикционных, пленок, свойств, тонких, цилиндрических

...магнитных 5 пленок заключается в следующем. Испытуемый участок пленки включают в контур 1.С-генератора последовательно с индуктивностью цлц емкостью контура. Ток контура 1.С-генератора, протекая по подложке 10 пленки, создает пробное высокочастотное поле, направленное вдоль осц легкого намагг;1- чцвянця илекц, т. с. По ок 1 ужностг 001)азц.Включенный таким образом участок пленки будет являться шгдуктцвностью, представляю щей часть индуктцвности контура генератора.Величина цндуктивности исследуемого участка образца пленки пропорциональна дцффсре 1- циальной магнитной восприимчивости пленки.При измерении подмагничивающего поля 20 вдоль осц трудного намагничивания пл икц будет изменяться величина дифферецциальцой восприимчивости...

Номер патента: 329483

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Гессен, Морозов, Эпшгеми

МПК: G01R 27/26

Метки: диэлектрических, параметров, пленок, тонких

...с 1 с)д:гн11) 1 Д Н Н Н ). одло КЛ 2 Д Од -г Ко ОаяГЕРОН брет с лмст гройст ЛНЭЛС 1 )11 СС )ь, сод ой мс гогг.;. сс ости й РОЗ лнснд д,1 Хэлскжен.неча ОЧ 1 1 ОГ лип.1)Ы 1 Изоорстсние относится к радиоэлектротехнике и может быть использовано в олях промышленности, выпускающихпользующих диэлектрические пленки.Известные устройства для измерения параметро 3 тонких диэлектрических пленок, например диэлектрической проницаемости итднгснсд угла потерь, содержащие лвд элсктн),1 а с )дсполо)ксннОЙ хсжду нп.н измср 510 мой нлсшсой, имеют невысокую точность измсрсння.Целью нзооретения является устранениеэтого недостатка.Посгавленная цель достигается тем, что рабочая поверхность одного из электродов покрыта слоем токопроволящей резины, а...

Номер патента: 330948

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Бойков, Иванов, Шаульский

МПК: B24B 47/04

Метки: механизм, неремещений, тонких

...13 и двумя перпендикулярными ему элементами 14 и 15, образующими так называемый крестовый подвес на редуцирующем рычаге закреплен винтовой упор 1 б, взаимодействующий с толкателем 17, который, в свою очередь, взаимодействует с граненым кулачком 18 валика 19, несущего храповик 20. В корпусе 1 имеется цилиндр, ограниченный крышками 21 и 22. В цилиндре расположен плунжер 23, удерживаемый в среднем положении пружинами 24 и 25. В плунжере смонтированы на осях подпружиненные собачки 2 б и 27, взаимодействующие с отсекателем 28 и храповиком 20. Полости между крышками 21 и 22 и концами плунжера связаны с резьбовыми отверстиями 29 и 30 для присоединения к системе управления. Фиксатор 31, взаимодействующий с пазом плунжера 23, предотвращает...

Номер патента: 335110

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Бутузов, Гусев, Киселев, Сластин

МПК: B28D 5/04

Метки: абразивной, инструмент, пластин, резки, тонких

...тем, что набор ,полотенконсольно закреплен в рамке, а режущиекромки полотен выполнены выступающими зарамку и расположены ближе к стяжным винтам, причем прокладки проложены по всейдлине полотен,На фит. 1 изображе инструмент, продольный разр то же,поперечный разрез наРежущий инструмен т собойжесткую рамку 1, в к лен нав, В. А. Киселев и А. А. Гус бор стальных полотен 2позволяет полнее испопластину с заданным д прокладками 8.5 Для фиксации набора в рамке имеютсястяжные винты 4.По мере износа режущие полотна могут,подаваться на любую величину, что значительно увеличивает долговечность инструмента.10 Установка, в которой применяется описываемый инструмент состоит из поворотного стола, на котором неподвижно крепится кремниевая пластина,...

Номер патента: 337740

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Август, Харьковский

МПК: G01R 33/05

Метки: магнитных, пленок, тонких, характеристик

...полярности импульсов через первый и второй д 3 Скрикннаторэ. Ширна пряхтоугольного импульса являегся мерой измеряемой вели нны и преобрдзовывдется одним из известных способов в цифровую или аналоговую форму,1 д фнг, 1 показдна струкгурдая схема устройствд; на фнг. 2 - временная, диаграмма напряжений в рдзлн 1 н,х точках схемы.Схехд содержит генерагор низкочастотного смещаощего поля 1, генератор аксиальныхРедак Е, Гоича а299 2 Изд о 81 Тираж 448 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Ж.35, Раушская наб., д, 4/5 ипография, пр. Сапунова, 2 псрсмагиичивдОпих изптльсов 2, цилиид)зичсскую тонкую магнитную пленку 3, импульсный усилитель 4, схему запоминания максимальной амплитуды...

Номер патента: 339763

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Гарасимюк, Гевло

МПК: G01B 7/06

Метки: датчик, микроконтактный, пленок, покрытий, толщины, тонких

...с полусферическим торцом, а микроэлектроды выполнены в виде четырех изолированных секторов, напыленных на полусферический торец,Г 1 рименение предлагаемого датчика позволяет значительно уменьшить расстояние между потенциальными и измерительными контактами и соответственно уменьшить диапазон контролируемых толщин металла,На чертеже изображен предлагаемый датчик. Датчик состоит из капролонового стержня1, который свободно передвигается вдоль оси в капролоновой головке 2, Взаимно перпендикулярные канавки 3 образуют четыре омед ненные контактные площадки 4. Пружина 5обеспечивает равномерное прижатие контактной головки к контролируемой поверхности металла. Провода б служат для подачи измеренного сигнала от электродов на схему 10...

Номер патента: 342420

Опубликовано: 01.01.1972

Автор: Дюжиков

МПК: B24B 37/04

Метки: двусторонней, доводки, пластин, тонких

...кассетувдвое меньше эксцентриситета эксцентрика, приводящего в движение верхний притир.На чертеже изображено описываемое устройство;в разрезе.Основными частями устройства являются неподвижный нижний кольцевой притир 1, кассета 2, радиально растянутая в кассетодержателе 3 и верхний кольцевой притир 4.Кассета имеет отверстия 5, в которые закладываются обрабатываемые пластины б, Кассетодержатель и верхний притир приводятся 5 в движение эксцентриками 7 и 8 шпинделя 9.Эксцентриситет эксцентрика 8 вдвое превышает эксцентриситет эксцентрика 7. Эксцентрик 7 связан с кассетодержателем 3 через шариковый подшипник 10. Эксцентрик 8 10 связан с верхиим кольцевым притиром 4 через шариковый подшипник 11 и обойму 12.Кассетодержатель опирается на...

Номер патента: 343220

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Буланже, Гамрецка, Лебедева, Синтетических, Украинский, Шавлюк

МПК: G01N 33/36

Метки: абразив, испытания, истирание, пиллинг, текстильны, тонких

...относится к области испытаний текстильных материалов на истирание и пиллинг.Известно, что устойчивость текстильных материалов к истиранию и пиллингу определяют с помощью твердых абразивов, капроновых щеток, кожи и шинельного сукна,Однако твердые абразивы на бумажной или тканевой основе непригодны для испытаний на износ тонких текстильных материалов, так как они лишь истирают материал, практически не давая ворса, а капроновые щетки, кожа и шинельное сукно не обеспечивают на этих материалах образования ворса идентичного, приобретаемому изделием в процессе эксплуатации.Цель изобретения - быстрое и эффективное получение ворса, идентичного приобретаемому изделием в процессе эксплуатации на тонких текстильных материалах, что достигается...

Номер патента: 343478

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Германска, Иностранец, Иностранное, Феб

МПК: G11C 11/02

Метки: запоминающее, лагнитныхпленках, тонких

...другой оси, что приводит к изменению магнитного потока в магнитном слое 1 и индуцированию напряжения между проводниками 3, 4.Так как между проводниками 3, 4 через электропроводящий магнитный слой 1 возникает 5 контакт, то проходящий ток в свою очередь,снова создает компонент магнитной напряженности поля Н в направлении вектора намагничивания М запоминающего слоя 2, который действует как управляющее магнитное 0 поле На при исчезновении импульса щита уп343478 Предмет изобретения Составитель А. МерманТехред А. Камышникова Корректор Т. Миронова Редактор Т. Морозова Заказ 21 Я/14 Изд.896 Тираж 406 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Ж, Раушская паб д. 4/5 Типография, пр. Сапунова, 2...

Номер патента: 344971

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Блюм, Серебр, Хмара

МПК: B24B 21/04

Метки: металлических, плоского, тонких, шлифования

...ль прижимаетс пругие прокла м осуществляю тоит в яют по местах тываюнизирорптных редмет изобре ия тонких мем прижим яют через прокладки, устранения итирки, депо плите и ах плотного ающей пострирован предложенлифования тонких мепо плирилегает адывают Известны способы плоского шлиф тонких металлических изделий, при к прижим детали к инструменту осущес через эластичные, например, резиновь кладки. Отличие предложенного способа сос том, что детали предварительно вывер плите и прокладки устанавливают в плотного прилегания детали к обраба щей поверхности, что позволяет меха вать притирку нежестких крупногаба деталей. На чертеже проиллю ный способ плоского ш таллических изделий. Деталь 1 предварительно выверяют те и в тех местах, где она плотно...

Номер патента: 344989

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Иванчиков, Местной, Ольшанецкий, Трудового, Украинска, Центральное

МПК: B27K 5/04

Метки: коротких, пиломатериалов, сушки, тонких

...дощечек в направляющие, состоящий из выталкивающей рамы 10 с подпружиненными толкателями 11 и коне шыми выключателями 12.Установка работает следующим образом, 5 Дощечки вручную загружают в загрузочный магазин 7. Толкатель 8 проталкивает дощечку от загрузочного магазина 7 по брусьям.В начальный момент выталкивание дощечкипроизводится верхней частью торцовой плос косп 1 толкателя 8; по мере проталкиваниядощечки по криволинейным направляющим брусьям 9 линия контакта дощечки и толкателя 8 понижается по его торцовой плоскости и в момент вкладывания дощечки в захваты 6 15 непрерывно движущегося двухцепного конвейера 5 линия контакта дощечки и толкателя 8 находится в нижней части торцовой плоскости последнего.По мере дальнейшего...

Номер патента: 346663

Опубликовано: 01.01.1972

МПК: G01N 31/02

Метки: пленках, примесей, распределения, тонких

...заключающийся в активировации нейтронами материала образца поэтапным травлением и измерением активности полученного раствора по отношению к активности образца сравнения,Недостаток известного способа - ограниченное число материалов исследования вследствие трудности контроля травления.Предлагаемый способ дает возможность определить распределение примесей в достаточно тонких пленках 50 А, расширить класс исследуемых материалов и может быть применен при экспериментальном изучении распределения примеси в тонких пленках и многослойных тонкопленочных системах.Процесс измерения заключается в том, что исследуемую тонкую пленку с распределенной в ней примесью помещают в электролитцческую ванну, к емам которой подают напряжение, и измеряя разницу...

Номер патента: 346692

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Гусев, Кондратьев, Масалов

МПК: G01R 33/12

Метки: магнитных, параметров, пленок, тонких

...образом.Образец-пленку помещают в измерительную катушку датчика 2, выпо,шенпую конструктивно в видс плоского соленоида. Дат шк 2 вместе с образцом-пленкой располагают в центре системы катушек Гельмгольца 8, создающих однородное поле. Величина этого поля изменяется с низкой частотой. Питание катушек осуществляется от трансформатора 10. Напряжение с высокочастотного генератора 1 поступает на катушку датчика 2. Катушка датчика без пленки настраивается на резонансную частоту, большую, чем частота генератора, После установки пленки резонансная частота датчика 2 смещается в сторону частоты генератора, В цепи катушки протекает высокочастотный ток, создающий слабое пробное поле.При перемагничивании пленки внешним низкочастотным полем,...

Номер патента: 347705

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Колосницын, Лабунов

МПК: G01R 33/07

Метки: головка, измерениях, магнитная, магнитного, пленках, поля, создания, тонких, холла, эффекта

...ц холловскими контактами, при этом в процессе напыления и па время измерений сердечник и перемычка соответственно размыкаются ц замыкаются.На чертеже схематично изображено предлагаемое устройство. Ъстройство содержит распаечцые клеммы 1,ца держателе которых коммутцрлотся выводы холловских контактов (ца чертеже не показаны), откидную пружину 2, катушку электро мапшта (головки) 3, тягу 4, средний стержень5, подложку 6, маст; 7, каркас 8, пружцццыц зажим 9, холловскце контакты 10, уголок 11, Ш-образный сердечник 12, перемычку 13, изоляционную прокладку 14, дополнительные 10 уголки 15, шарнирное соединение 16 и скобу 17.В зазор между средццм стержнем 5 ц перемычкой 13 помещают подложку 6, а на цее кладут маску 7. Подложку ц маску...

Номер патента: 347795

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Васильева, Малютин, Ордена, Телемеханики

МПК: G11C 11/14

Метки: информации, магнитных, передачи, пленках, тонких

...последовательности импульсов стоп-поля,На фиг. 1 (а, 6, в, г, д) схематичсскп показаны стадии процесса движения домена обратной намагниченности в полоске тонкой 50 магнитной пленки; на фиг. 2 - временные эпюры импульсов полей, необходимых для продвижения информационного домена.Первоначально вся полоска тонкой магнитной пленки 1 намагничена в одном направлении, например, слева направо. Далее с помощью шины записи 2 в полоску записывается домен 3 обратной намагниченности (фиг. 1, тт). Затем ко всеи полоске прикладывается однородное продвигающее поле Нп (фиг. 1,6), которое вызывает рост записанного домена в обе стороны от его первоначального положения. Одновременно с включением продвигающего поля подаются импульсы тока в стоп-шины 4 ц...

Номер патента: 347799

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Александров, Баранов, Кривохатский, Тутин

МПК: G21H 5/00

Метки: веществу, нанесения, поверхность, слоев, тонких

...обеспечивает перенос вещества малыми порциямц, т. с. минимальную зернистость в напыляемом слое; оолучаемое вещество и изделие в целом остаются холодными.На четскс изображена схема Установки 10 для осуществления предлагаемого способа.Источник Осколков 1, тонкцс металлическиецлсцкц 2 ц 3, спосооцые проп 1 скать Осколки деления, находятся под одним отрицательным потенциалом ц подсоединены к батарее эле ментов 4. Диафрагма 5 толщиной в один миллиметр цз изоляционного материала разделяет металлическую пленку 3 ц распыляемое вещество 6, которое находится под положительнымВ качестве источника осколков 20 был использован С 1--, а в качестве распылясмых веществ - соедцненця Рцоз", Рц-", Аптв 4, Сгпв 44.Осколки деления от источника 1...

Номер патента: 350680

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Борецкий, Заводько, Замбровский, Мамаев

МПК: B05B 15/06

Метки: методом, нанесения, пленок, пульверизации, тонких

...15 с разъемным кольцом 16, Конец водила 15 введен во внутреннее кольцо подшипника 17, вмонтированного в эксцентрик 18. Эксцентрнк 18 закреплен на выходном валу редуктора 19. Передача движения редуктору 19 осуществляется от электродвигателя 20. Кольцо 21 с продольными канавкамп закрепляется на корпусе распылителя 3, По канавкам кольца 21 совершают перемещение подпружиненные шарики 22, вмонтированные во фланец 23 корпуса камеры 1. Для герметизации ввода распылителя 3 в камеру 1 используется диафрагма 24,Нагреватель 4 оплавления (фиг, 3) жестко закреплен на корпусе, камеры 1 и состоит из корпуса 25 и камеры 2 б нагрева с лампами 27,350680 1 Через штуцсры 28 подводится сжатый воздух для подъема и опускания камеры 26. Для предотвращения...

Номер патента: 350869

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Воронин, Ивашкин, Слободенюк, Титов

МПК: C23C 14/54

Метки: 5-klillbilu-si, биз, ная, ооюс, пленокби, ртс, тонких, •gt

...термическим испарением материалов с последующим конденсцрОВанцех СГО на подложке В среде 20 разреженных газов, от,чаю 1 вся тем, что, сцелью повышения качества пленок ц воспроизводимости электрофцзцческцх параметров, прц испарении мцогокомпонецтного материала Интенсивность хОлекуля 1)ного потока каж дого компонента регулируют цзменагием температурных режимов цспарцтелей. Лвторыизобретения Г. И. Слободенюк Предлагаемое изобретение относится к области получения тонких пленок и может быть использовано в микроэлектронике для получения резистивных, сверхпроводящих, диэлектрических магнитных и других пленок.Известны способы получения тонких пленок термическим испарением материалов с последующим,конденсированием его на подложке в среде...

Номер патента: 352239

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Колосницын, Лабунов, Поинтуй

МПК: G01N 31/02, G01R 33/07

Метки: пленок, тонких, характеристик, холловских

...устройства для измерения холловских характеристик металлов и пи на переменном токе как в массивном, так и в тонкопленочном состоянии.Известно устройство для измерения эффекта Холла на переменном токе, содержащее электромагнит с Ш-образным сердечником, который, имея небольшие габариты, создает достаточное для,проведения холловских измерений магнитное поле за счет малого зазора в магнитопроводе, в который помещается измеряемый образец; генераторы тока для питания катушки электромагнита и образца; смеситель для выделения сигнала с частотой холловской э,д.с.; измерительный усилитель; синхродетектор и регистрирующий прибор.Однако это устройство не позволяет проводить измерение холловских характеристик тонких металлических и п/п пленок...

Номер патента: 353595

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Забежинский, Кацнельсон, Староверой, Фурман

МПК: C23C 14/54

Метки: напыления, пленок, процессом, тонких

...который в вакуумной камере 12 напыляется с испарптелей Иизготавливаемая пленка, направляется в сред 20 ство монохроматизацпи 2, выделяющее лучистый поток с длиной волны Х, на которой производится контроль. Поток вызывает на фотоприемнике 3 сигнал, пропорциональньшпропусканию образца 11. По мере роста тол 25 щины пленки в процессе напыления сигналменяется, достигая экстремальных значенийСоставитель Техред Г исимова Редак Струве тор О. Усова во ина Заказ 1796,1 Изд,1493ЦИИИПИ Комитета по делам изобретенийМосква, М(.35, Рау Подписное Министров СССРТираж 826открытий при Совекая наб., д. 4;5 Сапунов Типография,приемника 3 поступает в дифференцирующий блок 4, с выхода которого снимается сигнал в виде импульсов, следующих с частотой оз и...

Номер патента: 360300

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Виноградов, Голобоков, Ждановский, Захаров, Клейн, Морозов

МПК: B65G 57/32

Метки: листов, сортировщик, тонких

...расположенных в горизонтальной плошости икинематически связанных между собой с помощью углового конического редуктора 25 спередаточным числом, равным единице,Механизм качания пакетирующих рычагав22 вьпполнен в виде однокоромыслового четырехзвенлика, кривошип 2 б котороло усталовлен на выходном, валу редуктора привода 27.Настройка передвижных вертикальных стоекИ производится с помощью,винтовой передачи 28 и цилиндрических направляющих, покоторым скользит ползут стойки. 40Предлагаемый сортировщик работает следующим, образом,Нераосортированный пакет листов 8 уста.навливают краном на выкатной стеллаж 2,который затем вкатывается на позицию сортировки и устанавливае 11 ся между сбрасывателем листов 1 и первой подъемной секцией...

Номер патента: 360625

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Гончаров, Пискл, Полул, Раздовский, Харьковский

МПК: G01R 33/12

Метки: магнитных, магнитоупрур№, пленок, свойств, тонких, цилиндрических

...между напряжениями генераторов возникает фазовый сдвиг, Генераторы прои зтам за счет связи между ними работают на одной частоте.В контур генератора 1 включен участок образца пленки, Ток контура генератора, протекая по этому участку, создает малое пробное поле, направленное :по оси легкого намагничивания. Поэтому участок образца пленки представляет сабой инду 1 ктивное сопротив лениевеличина которого прямо прапорциональна дифференциальной ма 1 снитной,восприимчивасти вдоль оси легкого намагничивания испытуемого, участка пленки. Изменение диф- ференциальной магнитной восприимчивости пленки,вызывает изменение индуктивного сопротввления участка пленки, включенного в контур, т. е. изменение параметра контура 1. За счет связи между...

Номер патента: 383983

Опубликовано: 01.01.1973

МПК: F26B 21/10

Метки: листовых, процесса, сушки, сыпучих, тонких

...влажности.Для этого поддерживают температуру сушильного агента на выходе по линейному закону в зависимости от температуры на входе при постоянных количествах подаваемого материала, агента и скорости их движения в сушилке, что позволяет с высокой точностью стабилизировать конечную влажность материала.Процессом сушки управляют путем изменения температуры входящих газов, а случайное изменение во времени начальной влажности материала играет роль возмущающего воздеиствия.В подобной схеме барабан можно представить с двумя переменными входными величинами и двумя выходными.Начальная влажность материала 1 Ги температура входящих газов г, - входы барабана, а конечная, влажность материала 1 Г, и тем- О пература выходящих газов 1, - его...

Номер патента: 386355

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Егоров, Егорова, Подпалый, Фабриков

МПК: G01R 33/12

Метки: коэрцитивной, магнитных, пленок, силы, тонких

...силы содержит осветитель 11 и регистратор 12 светового потока, в который входят датчик (фотоэлемент) И, измерительный прибор 14, источник питания 15 и реле 16, причем блок регистрации коэрцитивной силы может передви гаться вокруг пленки по направляющей 17.Работает устройство следующим образом.Магнитную пленку с полосовой доменнойструктурой, нанесенную на подложку, покрытую магнитным коллоидом и загерметизиро ванную прозрачным покрытием, помещают впостоянное магнитное поле, направленное вдоль оси Х и создаваемое катушками намагничивающе-размагничивающего устройства, где она намагничивается до насыщения. За тем значение магнитного поля уменьшают донуля и переключателем изменяют направление магнитного поля на обратное. Включают...

Номер патента: 386357

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Семенов, Тирский

МПК: G01R 33/14

Метки: магнитных, образцов, свойств, тонких, ферромагнитных

...луча выводят до полного затемнения на экране осциллографа. В момент нажатия затвора фотокамеры 7 замыкается нор3мально открытый контакт 8, запускающий генератор 9 одиночных импульсов, который подает импульс однократной подсветки яркости на вход Л осциллографа. Длительность Т, импульса несколько превышает период Т переменного магнитного поля. При отключенной цепи усилитель 10 - выпрямитель 11 - линия 12 задержки - схема 13 стробирования амплитуда импульса на электроде управления яркостью имеет плоский характер (см. фиг. 2, б). Одиночный цикл петли гистерезиса, наблюдаемый на экране, регистрируют при помощи фотокамеры 7 синхронно с запуском импульса подсветки (см. фиг. 2,в). Так как частота перемагничивания велика по сравнению с частотой...

Номер патента: 395750

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Алёхин, Алешечкин, Мазур, Маршалкин, Шоршоров

МПК: G01N 19/04

Метки: адгезии, пленок, подложке, тонких

...колебаний ультразвуковоЙ частоты ПЛенка захватывает. ся металли 1 ссюм проВодником, в результате чего проводник и пленка перемещаются относительно поверхности подложки.Величина ус 1 лия, с которым проводник с пленкой перемещаются относительно,подложки, определяется величиной амплитуды колебаний рабочего инструмента, В случае плохой адгезии тонк 011 пленки и подложке при Опре деленной вел: чине амплитуды колебаний пленка отделяется от подложки, При этом ве личина амплитуды, регистрируемая в перво,начальный момент, и В дальнейшем практически не изменяется. В случае хорошей адгезии пленки к подложке В широсом диъпазоне Величин амили туды колебаний отделение пленки от подложки не происходит. При этом в первоначальный момент (до...