Способ измерения распределения примесей в тонких пленках

Номер патента: 346663

ZIP архив

Текст

О П И С А Н И Е 346663ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Сока Соеетскик Социалистических РеспубликЗаявлено 16.Ч 111969 ( 1356772/26-25) с присоединением заявкиПриоритет Комитет по делам изобретениЯ н открытиЯ пои Совете Министров СССРОпубликовано 28,Ч 11,1972. Бюллетень23 Дата опубликования описания 15,Ч 111.1972 УДК 537.311.33:539. ,219.3(088.8), ф -Юлил,уттйббауь,- збщ,ц Авторыизобретения А. Е, Гершинский и Э, Г. Косцов Заявитель Институт математики Сибирского отделения АН СССР СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ПРИМЕСЕЙ В ТОНКИХ ПЛЕНКАХИзобретение относится к области технической физики, в частности, к измерению концентрации примеси в твердом теле,Известен способ измерения распределения примесей в тонких пленках, заключающийся в активировации нейтронами материала образца поэтапным травлением и измерением активности полученного раствора по отношению к активности образца сравнения,Недостаток известного способа - ограниченное число материалов исследования вследствие трудности контроля травления.Предлагаемый способ дает возможность определить распределение примесей в достаточно тонких пленках 50 А, расширить класс исследуемых материалов и может быть применен при экспериментальном изучении распределения примеси в тонких пленках и многослойных тонкопленочных системах.Процесс измерения заключается в том, что исследуемую тонкую пленку с распределенной в ней примесью помещают в электролитцческую ванну, к емам которой подают напряжение, и измеряя разницу в количестве электричества, необходимого для анодного растворения (цлц катодного восстановления) 5 соответствующих интервалов толщиц пленокисследуемого образца, и образуя сравнения, определяют распределение примесей. Предмет изобретения10Способ измерения распределения примесейв тонких пленках, отлцчаюц 1 ицся тем, что, с целью расширения диапазона исследуемых веществ, исследуемую тонкую пленку с рас пределенной в ней примесью помещают вэлектролитическую ванну, измеряют разницу в количестве электричества, необходимого для анодцого растворения (или катодного восстановления) соответствующих интервалов 20 толщины пленок исследуемого образца и образца сравнения ц электрохцмическим путем определяют распределение примесей,

Смотреть

Заявка

1356772

МПК / Метки

МПК: G01N 31/02

Метки: пленках, примесей, распределения, тонких

Опубликовано: 01.01.1972

Код ссылки

<a href="https://patents.su/1-346663-sposob-izmereniya-raspredeleniya-primesejj-v-tonkikh-plenkakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения распределения примесей в тонких пленках</a>

Похожие патенты