Патенты с меткой «тонких»
Установка для сборки и сварки тонких лент
Номер патента: 1590302
Опубликовано: 07.09.1990
Авторы: Акимов, Банов, Герасимов, Столбов, Усов, Шамраев
МПК: B23K 37/04
Метки: лент, сборки, сварки, тонких
...производится настройка основного зажимного устройства в виде трэверс 5 и 6 под определенную толщину ленты. При этом при помощи регуляторов 26 и 29 и сменных элементов 31 сварочной подкладки, устанавливаются зазоры для обеспечения необходимой нахлестки. Одновременно регулируется зазор между кромкой балки-упора 7 и осью сварочной головки для обеспечения качественной сварки по нахлестке данных толщин. Задний конец уходящей ленты останавливается с таким расчетом, чтобы он не доходил до линии реза ножниц и находился между двумя центрирующими устройствами (ножницы и одно центрирующее устройство не показаны). Перед резкой заднего конца ленты она жестко центрируется включением приводов 12 и обрезается. Привод 12 отключается и уходящая лента...
Способ смазки при холодной прокатке тонких полос
Номер патента: 1593717
Опубликовано: 23.09.1990
Авторы: Барбаев, Васильев, Дергунов, Ежов, Пятецкий, Сосковец, Трайно, Юсупов
МПК: B21B 27/06, B21B 45/02
Метки: полос, прокатке, смазки, тонких, холодной
...слоя валков, следовательно, и их стойкость. По мере эксплуатации валков степень азотирования из поверхностных слоев возрастает. Повышение стойкости валков обеспечивает улучшение качества полосы, а частичное азотирование поверхности полос способствует их коррозионной стойкости.В процессе приготовления и эксплуатации технологической смазки последняя неизбежно насыщается кислородом из воздуха, Концентрация кислорода в технологической смазке достигает 0,015 г/м, Наличие кислорода способствует интенсивному протеканию процессов окисления и бактериального разрушения технологической смазки, ухудшению ее смазочной эффективности, повышению износа валков и снижению качества полосы, При обработке технологической смазки азотом, вследствие эффекта...
Способ измерения физических характеристик тонких плоских образцов
Номер патента: 1272867
Опубликовано: 07.10.1990
МПК: G01N 21/37
Метки: образцов, плоских, тонких, физических, характеристик
...с двух сторае 1 образца соединить, то вклада н сигнал эя счет прогиба также в этаи случае не Возникчет, так кяк периодическое уменьшение ацнога из объемов комсснсир;ется уве.илчециеи второго ОбъемаНа чертеже представлена схема устройства, реализующего данный способ.Устройство содержит источник 1 излучее 111 я., иод. лятор 2, Оптика-акустическую к:-меру 3 с образцам -, микрофоны 5, пару с) светодиод-фатодиад, предусилители 7 суимируюппи)й усилитРь 8шР 11 эакапалосыи усцлитель 9 чястатакер 10, синхронный ус.илительИстОчникОм излучения 1 сэту 7(илао,Гямпа 1 якялинания мощностью 100 ВтИзлучение фокусировали чя дискс прорезями механического модулятора 2 и повторно Фс)кусиравяги ня обряэе 1 4 в Оптико-акустической камере 3.1 амеру соединяли с...
Пресс для непрерывного изготовления тонких стружечных и волокнистых плит
Номер патента: 1605918
Опубликовано: 07.11.1990
МПК: B27N 3/24
Метки: волокнистых, непрерывного, плит, пресс, стружечных, тонких
...3 прессующего барабана 2 и зазора 11 между элементами станины 1 выполнено в виде приводного рычага 19,40 который расположен параллельно одному из гидроцилинднов 20. Приводной рычаг 19 и гидроцилиндр 20 смонтированы над осью 15 прессующего барабана и связаны шарнирно одним концом с 45 корпусами дополнительных подшипников 16, а другим - с консолью 17.При формовании тонких стружечных и волокнистых плит толщиной 1,5 мм устанавливается соответствующий 50 зазор между прижимными валками 3-5 и прессующим барабаном 2, при этом должна учитываться и толщина стальной ленты .7, которая равна 1,8 мм, При работе пресса, чтобы избежать расплющивания стальной ленты 7 при прокатке, прессующий барабан 2 приподнимается с помощью гидроцилиндров 18,...
Способ измерения дифракционной эффективности тонких голограмм
Номер патента: 1613996
Опубликовано: 15.12.1990
Авторы: Васильев, Демирчян, Лощилов, Поляков, Танетова, Татаренков
МПК: G03H 1/00
Метки: голограмм, дифракционной, тонких, эффективности
...интенсивности соответствуют попаданию на апертуру фотоприемника излучения первого и более высоких порядков дифракции. Высота скачка равна удвоенной интенсивности излучения соответствующегопорядка дифракции, Дифракционная эффективность для первого и эффективность для более высоких порядков дифракции определяют по формуле, 1 им 1 о+ 1 к 1-к фгде о1 - интенсивность нулевого25порядка дифракции; п=1,2, в , порядок дифракции;1 п - интенсивность падающего наголограмму лазерного излучения;1 зч - измеренная интенсивность30 иъм ,1 -прошедшего через голограмму излучения, соответствующая и му н му ПОрядку дифр акции;- интенсивность излученияв 1-м порядке и -К-м порядке дифракции,Применение изобретения позволяет существенно упростить процесс...
Отсадочная машина для обогащения тонких классов угля
Номер патента: 1616705
Опубликовано: 30.12.1990
Авторы: Князев, Котовников, Курочка, Селин
МПК: B03B 5/24
Метки: классов, обогащения, отсадочная, тонких, угля
...9, которое позволяетзначительно увеличить производительность машин. Использование в машинеразгрузочного приспособления 9 позволяет осуществлять выгрузку отходовв режиме саморегулирования из тонкого слоя (до 50 мм). Несовмещенноерасположение разгрузочных приспособлений для концентрата и отходов способствует повышению качества продуктов.Загрузочное приспособление дляразгрузки концентрата и отходов,разгрузочное приспособление для концентрата .размещено на боковой, стенке,для отходов - на торцовой стенке камеры, а загрузочное приспособлениерасположено в углу камеры, образованной стенками беэ разгрузочных приспособлений, при этом разгрузочноеприспособление для концентрата выполнено в виде сливного порога с высотой, уменьшающейся от...
Способ разработки наклонных тонких и маломощных рудных залежей
Номер патента: 1617143
Опубликовано: 30.12.1990
Авторы: Борщ-Компониец, Кондратьев, Тарасенко, Хан
МПК: E21C 41/16
Метки: залежей, маломощных, наклонных, разработки, рудных, тонких
...Выемку руды осуществляют блоками, на флангах которых образуют ленточные целики, Линии забоев в пересечении образуют угол, вершина которого располагается в рудном теле в направлении рудного массива. В сочетании с отступающим перемещением фронта очистных работ этим исключается присутствие горнорабочих в выработанном пространстве,Отбойка руды производится буровзрывными работами встречно-направленным варыванием с доставкой отбиваемой горной массы по выработанному пространству силой взрыва и ее укладкой в образованную в почве доставочной выработки траншею, При отбойке в таких условиях уменьшается разлет кусков руды и улучшается качество дробления руды от соударения. Отбитую руду отгружают.В процессе доставки отбитой горной массы в контурах...
Участок для сборки и сварки тонких листов в полотнище
Номер патента: 1620257
Опубликовано: 15.01.1991
МПК: B23K 37/04
Метки: листов, полотнище, сборки, сварки, тонких, участок
...передачи 18 с магнитопроводящими пластинами 19, соединенной через составной вал 20, электромагнитные муфты 21 и редуктор 22 с электродвигателем 23. Одна из ветвей цепной передачи 18 подвижного магнитопривода 17 расположена между опорной поверхностью 2 листов 24 и электромагнитом 16,Участок для сборки и сварки тонких листов в полотнище работает следующим образом.При помощи транспортного устройства 9 электромагнитной траверсой 10 на опорную базовую поверхность 2 стенда 1 подается лист 24. Поперечными прижимными устройствами 3 лист 24 подается до подъемного упора 5. поднятого приводом 14 в верхнее положение. После того, как первый лист 24 выравнен в поперечном направлении производится выравнивание листа 24 в продольном направлении по...
Способ определения прочности тонких листов в пакете
Номер патента: 1627885
Опубликовано: 15.02.1991
Авторы: Борсенко, Мюллер, Хренов
МПК: G01N 3/00
Метки: листов, пакете, прочности, тонких
...листов из резины с поверхностью, которая повторяет форму поверхности, образца, а толщину листа и марки резины выбирают так, чтобы они поддерживали постоянное остаточное давление, выбранное по указанной зависимости. После этого размещают на упругих элементах 3 и 4 нажимные плиты 5 и 6, рабочая поверхность которых повторяет форму поверхности образцов. Стягивают плиты 5 и 6 на прессе и фиксируют их шпиль ками 7 с гайками 8, обеспечивая заданное сжатие пакета 2 заданным остаточным давлением. Величину остаточного давления можно фиксировать по датчикам 9, установленным на шпильках 7, что и повышает достоверность, Затем устанавливают нажимные плиты 5 и 6 в один из захватов 10 испытательной машины и через второй захват 11 прикладывают внешнюю...
Диодная электронная пушка для формирования тонких ленточных электронных потоков
Номер патента: 486600
Опубликовано: 15.02.1991
Авторы: Бородкин, Кириченко, Книженко, Левин, Лысенко, Чурилова
МПК: H01J 29/56
Метки: диодная, ленточных, потоков, пушка, тонких, формирования, электронная, электронных
...поля на катоде оказываетсязначительно меньше поля диода, а распределение поля в поперечном сеченииэмиттирующей поверхности становитсянеоднородньм. Это обуславливает уменьшение плотности тока и неоднородноераспределение его по сечению пучка.Кроме того, в случае толстого фокусирующего электрода, в режиме ограниче"ния эмиссии с катода пространственнымзарядом, виртуальный катод, как показывают оценки, находится в областиэкранирования электрического поля,Ь,Так как положение виртуального катодазависит от температуры катода, длясмещения его в область. меньшего экранирования электрического поля прихо-сдится увеличивать температуру катода.486600 едакт орректор М.Кучеряв енина Техред Л.Сердюков Заказ 769 Тираж 314 ПодписноеВНИИПИ Государственного...
Машина непрерывного литья тонких слябов
Номер патента: 1639882
Опубликовано: 07.04.1991
Авторы: Васильев, Голосинский, Есаулов, Коржилов, Миршаков, Моисеев, Николаев, Пилюшенко, Поляков, Сопочкин
МПК: B22D 11/06
Метки: литья, непрерывного, слябов, тонких
...с валками 3 кристаллизатора, равном 1,3 - 1,6 межцентрового расстояния валков, при этом продольные огнеупорные плиты 4 выполнены профильными, например, с переходом в своей нижней части с вертикальной плоскости в нормаль к валкам 3 кристаллизатора на участке равном 0,1 - 0,2 диаметра валка.Машина работает следующим образом,Перед разливкой в кристаллизатор вводят затравку, а металлоприемник разогревают газовыми горелками до 1100 - 1200 С. Металл заливают при 1530 - 1545 ОС из стопорного ковша, оснащенного погружным стаканом с внутренним диаметром 50 мм. Жидкий металл заполняет на 2/3 полость, образованную торцовыми плитами металлоприемника и валками кристаллизатора,закрытую снизу затравкой, установленной на уровне осей кристаллиэатора....
Самовсасывающий вертикальный насос для сбора тонких слоев жидкости
Номер патента: 1649118
Опубликовано: 15.05.1991
Авторы: Антонов, Ларионов, Скурихин, Смородинов
МПК: F04D 9/02
Метки: вертикальный, жидкости, насос, самовсасывающий, сбора, слоев, тонких
...для сбора тонких слоев жидкости содержит электродвигатель 1, на валу 2 которого установлены воздуходувка 3 и центробежное рабочее колесо 4, обечайку 5, установленную соосно валу 2, всасывающий и отводящий патрубки 6 и 7. Насос снабжен коническими перегородками 8, воздухо дувка 3 установлена выше центробеж ного колеса 4, входная кромка всасывающего патрубка 6 выполнена пилообразной, а конические перегородки 8 установлены внутри обечайки 5 между воздуходувкой 3 и центробежным колесом 4 соосно валу 2 и с зазором относительно обечайки 5 и вала 2.Насос работает следующим образом.Насос устанавливают на поверхность с тонким слоем откачиваемой . 40 жидкости на патрубок 6. При работе насоса пленка жидкости диспергируется на торце патрубка 6...
Способ получения электронограмм типа косых текстур тонких пластинчатых кристаллов
Номер патента: 1649397
Опубликовано: 15.05.1991
Авторы: Жухлистов, Звягин, Кязумов, Фоминенков
МПК: G01N 23/20
Метки: косых, кристаллов, пластинчатых, текстур, типа, тонких, электронограмм
...образца вокруг нормали к плоскости препаратодержателя (крнсталла) на угол в пределах до 360 .При этом для получения. отдельных составляющих полной дифракционной картины моно- кристальную пластинку перед ее нак-,. лоном устанавливают таким образом, чтобы радиусы того или иного рефлекса оказались параллельными оси наклона препаратодержателя, и экспозицию производят при вращении кристалла на такие углы (60-180 в. зависимости от геометрии злектронограммы в перпендикулярном положении), чтобы узловые ряды от разных рефлексов одинакового радиуса не перекрывались вдоль элпипса. При неблагоприятных для дифракции условиях съемку электронограмм можно производить при вращении в меньших угловых интервалах,,и требующаяся дифракционная информа,ция...
Способ послойного анализа тонких пленок
Номер патента: 1651174
Опубликовано: 23.05.1991
Авторы: Будинавичюс, Пранявичюс, Тамулевичюс
МПК: G01N 23/227
Метки: анализа, пленок, послойного, тонких
...следующим образом.Послойный Оже-анализ двухслойной структуры А 9-Я производят в вакуумной камере при давлении остаточных газов 10 Па.-8 Облучение исследуемого образца пучком ионов, пучком электронов и регистрацию Оже-электронов осуществляют при помощи серийного Оже-анализатора, Облучение электронами производят с энергией 11 кэВ, Одновременно с регистрацией Оже-электронов производят регистрацию характеристического рентгеновского излучения с помощью пропорционального счетчика и1651174 Формула изоб ретения Составитель К,КононоТехред М.Моргентал Корректор О,Ципле едактор О.Голо каз 1603 Тираж 411 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СС113035, Москва, Ж, Раушская наб 4/5-издательский комбинат...
Способ увеличения адгезии тонких металлических пленок к подложкам
Номер патента: 1019965
Опубликовано: 30.05.1991
МПК: H01L 21/263
Метки: адгезии, металлических, пленок, подложкам, тонких, увеличения
...золота толщиной 40 нм напыляют на кремний (материал наиболее широко применяеьвй втвердотельной электронике) маркиКЭФ 0,3, а затем различные ее участ-ки размером 200 х 200 мкмжд облучаотсяпучком электронов с энергией .25 кэВдо различных доз в диапазоне от10 до ОК/см . Диаметр элект 20 ронного пучка равен 2 мкм. Облучениеучастков размером 200 х 200 мкм ведется в режиме строчного сканирования, Ток пучка равен 210 А. Разогрев кремниевой подложки в месте25 падения пучка по расчету не превышает 1 К. Изменение адгезии, связанноес электронным облучением, измеряется широко известным методом царапания иглой. В измерениях применяетсяЗО стальная игла с радиусом острия30 мкм.Результаты измерений показывают,что резкое повышение адгезиив- 800 раз...
Способ получения тонких пленок металлов хромового ряда и их окислов
Номер патента: 688009
Опубликовано: 07.06.1991
Авторы: Грибов, Попов, Родионов, Тихонов
МПК: C23C 14/14
Метки: металлов, окислов, пленок, ряда, тонких, хромового
...для легколетучих и ском нагревании испарителя давление в ка труднолетучих веществ); Такая ее скоростьпрактически не изменяется, что охлаждениявыдерживаетсявконцепроцеской . указывает на отсутствие перегретых участ.- са получения пленок. При более высоко ков и слаб ю десорбцию реактивных газов, скорости выхода на режим увеличивается Посколь степень дегазации технологиче- концентрация испаряемого вещества и ре-.ской оснастки зависит от интенсивности ее 20 активных газов, в результате чего образует- прогревания,предложенныйспособисклю- ся рыхлая крупнозернистая структура чает возможность образования перегретых пленки, которая трудно залечивается после- участков, Иэ результатов измерения темпе- дующими слоями. Таким образом,...
Способ дуговой точечной сварки тонких листовых деталей из алюминиевых сплавов
Номер патента: 1655699
Опубликовано: 15.06.1991
Авторы: Бирюлев, Капустин, Старцев, Тулин
МПК: B23K 9/007, B23K 9/173
Метки: алюминиевых, дуговой, листовых, сварки, сплавов, тонких, точечной
...оси стыка в тали на величину, раврам электрода. Способ качественные сварные сле в тех случаях, когда ние нижнего листа над дом тонких листовь вых сплавов, Цель и ние качества стыко устранения прожог вертикальной плоск ном расположении тов ось электрода с сторону верхней де ную 1,5 - 2,0 диамет позволяет получать соединения, в том чи имеет место выступа верхним,натекает на нижний лист, который также оплавляется и в результате действия дуги, и в результате тепла, переданного от расплавленной ванны, При смещении электрода на величину мен ьшую, чем 1,5 диаметра электрода, наблюдаются случаи переброса дуги на кромку выступающего нижнего листа (если это имеет место), в результате чего соединения не происходит, При смещении на величину,...
Способ определения физико-механических характеристик тонких пленок
Номер патента: 1657954
Опубликовано: 23.06.1991
Авторы: Джураев, Резник, Хакимов
МПК: G01B 17/02
Метки: пленок, тонких, физико-механических, характеристик
...образец 5 между двумя ультразвуковыми преобразователями 2 и 3 таким образом, чтобы рабочие поверхности преобразователей 2 и 3 и образца 5 были па ралл ел ьн ы между собой.Изменяя частоту колебаний ультразвука с помощью генератора 1, добиваются условия резонанса, при котором в данной акустической системе с образцом возникает стояние волны, и частотомером,9 по входу б измеряют первую резонансную частоту 12, для которой из условия резонанса следует Затем возбуждают в акустической системе импульсы ультразвуковых колебаний и, изменяя частоту ВЧ-заполнения УЗ импульсов, добиваются условия прозрачности образца 5 и частотомером 9 измеряют соответствующую этому условию частоту 13. Так как при условии прозрачности образца по толщине...
Устройство для измерения константы магнитострикции тонких магнитных пленок
Номер патента: 1659930
Опубликовано: 30.06.1991
Авторы: Гришин, Дроботько, Усов, Шаповалов
МПК: G01R 33/05
Метки: константы, магнитных, магнитострикции, пленок, тонких
...обьема, имеет форму сегмента сферической поверхности со сквозными отверстиями 6. При снижении давления тонкая магнитная пленка прогибается и прилегает к сферической поверхности, обеспечивая плотный термический контакт, исключающий градиент температур по поверхности пленки.1 ил. На чертеже показанмерения константы маких магнитных пленок,Устройство содержит корпус 1, кольцевую опору 2, крышку 3 корпуса, перфорированную отверстиями 4, исследуемую пленку 5 и датчик 6, При измерении константы магнитострикции индуктивно-частотным способом в качестве датчика использовалась выносная индуктивность колебательного контура автодина,Устройство работает следующим обраке газа из вакуумированн дуемая пленка начинает и риводит к появлению меха жений в...
Способ вихретокового контроля тонких поверхностных слоев
Номер патента: 1663525
Опубликовано: 15.07.1991
Авторы: Грабский, Калинин, Учанин
МПК: G01N 27/90
Метки: вихретокового, поверхностных, слоев, тонких
...у зуется следующим образом, Автогенератор обеспечивает достаточно хорошую чувствительность к газонасыщенному слою при настройке его в режим срыва, что подтверждают экспериментальные зависимости для автогенераторной схемы, работа-- а ющей на частоте 390 МГц при напряжении питания О, = 10,5 с помощью образцов из титанового сплава ВТ 6 С (фиг.1). Толщину газонасыщенного слоя на образцах определяют путем измерения микротвердости шлифов по стандартной методике, 8 качестве управляющего напряжения автогенера 1663525тора рекомендуется использовать напряжение, подаваемое на варикап опорного контура и изменяющее его рабочую частоту.Как видно из фиг.1, амплитуда генерации зависит от напряжения на варикапе при задан ном напряжении питания...
Способ обработки тонких пологих и наклонных пластов
Номер патента: 1666723
Опубликовано: 30.07.1991
Авторы: Горбачев, Гридин, Золотарев, Раевский, Солод
МПК: E21C 41/18
Метки: наклонных, пластов, пологих, тонких
...какие породы (кровли или почвы) имеют меньшую сопротивляемость разрушению,Монтажную камеру для очистного механизированного комплекса проходят с присечкой породы, причем присечку ведут по породам, характеризующимся меньшей прочностью. Мощность присекаемого породного слоя принимают, исходя из условия обеспечения размеров призабойного про- . странства. достаточных для эффективной эксплуатации и технического обслуживания механизированного комплекса. ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯПРИ ГКНТ СССР ОПИСАНИ АВТОРСКОМУ СВ 1666723 А 11666723 Составитель В,ЧеркашениновТехред М.Моргентал - Корректор Э,Лончакова Редактор М.Товтин Заказ 2507 Тираж 307 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при...
Способ холодной прокатки тонких полос
Номер патента: 1667956
Опубликовано: 07.08.1991
Авторы: Бильдин, Васильев, Голкин, Дементиенко, Иванцов, Ниденс, Потаповский, Сизов, Якубовский
МПК: B21B 1/28
Метки: полос, прокатки, тонких, холодной
...разброса данного параметра перед станом холодной прокатки. В соответствии с ГОСТом величина неплоскостности консервной жести не должна превышать 5 мм, а поверхностные дефекты - отсутствовать,В результате статистической обработки результатов исследований на стане 1400 было получено уравнение(1), устанавливающее зависимость оптимального обжатия в последней клети стана от исходной и конечной толщины прокатываемых полос, а также предела текучести подката,Для определения работоспособности зависимости (1) были проведены дополнительные исследования на стане 1400, в ходе которых обжатие в последней клети для разных вариантов сочетания Ьисх, Ьп и а, устанавливали по зависимости (1) (режимы 2, 5, 8, 11, 14, 17, 20, 23, 26, 29, 32, 35,...
Способ измерения толщины тонких пленок
Номер патента: 1668858
Опубликовано: 07.08.1991
Авторы: Батище, Кузьмук, Мостовников, Татур
МПК: G01B 11/06
Метки: пленок, толщины, тонких
...толщину пленки контролируемого объекта. 2 ил,ботающего в непрерывном режиме, например, Не-Ме лазер с длиной волны 632,8 нм, Отраженное излучение измерительного пучка с помощью линзы 1:регистрируется детектором Д, выходной сигнал которого пропорционален интенсивности отраженного излучения (фиг.2). Под действием импульсного излучения зондирующего пучка слой пленки проплавляется на некоторую глубину. При охлаждении расплавленный слой рекристаллизуется. По структуре рекристаллиэованный слой аналогичен слою до воздействия излучения зондирующего пучка за счет быстрого эпитаксиального роста от непроплавленного слоя пленки. По мере увеличения энергии зондирующего пучка глубина проплавления пленки всэрастает, и при некотором значении энергии,...
Способ прессования тонких изделий из металлических порошков
Номер патента: 1669634
Опубликовано: 15.08.1991
Авторы: Дорофеев, Егоров, Синельщиков, Шульга
МПК: B22F 3/02
Метки: металлических, порошков, прессования, тонких
...о стенки матрицы, измеряют величину упругого после- действия прессовки в матрице, а допрессовку проводят на удвоенную величину измеренного упруого последействия,На чертеже представлена пресс-форма для реализации способа.Пресс-форма состоит из матрицы с прорезями 1, соединенной с прокладкой 2, верхнего пуансона 3, нижнего пуансона 4, имеющего в своейнижней части резьбовое соединение с прокладкой 2, стержня 5, подложки 6, корпуса 7, механизма 8 измерения упругого последействия изделия. установленного на верхней плоскости корпуса 7 и связанного с верхним пуансоном 3, винтового механизма 9 перемещения верхнего пуансона 3, установленного на верхней плоскости корпуса 7 и механизма 10 инициирования свободных колебаний в матрице...
Способ измерения толщины тонких пленок, нанесенных на подложку
Номер патента: 1670385
Опубликовано: 15.08.1991
Авторы: Рыков, Харионовский
МПК: G01B 11/06
Метки: нанесенных, пленок, подложку, толщины, тонких
...значенияющих соседнимэксционной картины втре,Из формулы (1) следует, что в спектрах прозрачности при длинах волнЯох = , пч = 2, 4, 6 (2) наблюдаются максимумы, а при длинах волн4 п 1 л =4 пб%=1,3,5гпнаблюдаются минимумы.Если показатель преломления пЯ) зависит от длины волны, то из интерференционных полос нельзя определить толщину пленки, однако, часто можно считать пЯ ) = сопзс, тогда на основании длин волн Ат, и А - 1, соответствующих соседним экстремумам в спектре прозрачности, может быть определено произведение пб из равенства 4 пб в Ьл = (гп - 1 Яг - 1, откуда Способ осуществляют следующим образом. На тонкую стеклянную подложку размерами 10"0,5"0,2 мм с одной стороны в качестве непрочного слоя наносят тонкую алюминиевую...
Способ разработки тонких угольных пластов
Номер патента: 1680988
Опубликовано: 30.09.1991
Авторы: Лукин, Лурий, Михеев, Фрянов
МПК: E21C 41/18
Метки: пластов, разработки, тонких, угольных
...на компрессорной станции 19. Разделение пульпы на воду и твердое минеральное полезное ископаемое осуществляют в обезвоживающей установке 20. Устанавливают резервуар 21 для накопления технической воды. Транспорт добытого и выделенного газа потребителю производят по трубопроводу 22, Транспорт твердого полезного ископаемого потребителю от обезвоживающей установки осуществляют по транспортной магистрали 23.Добычу полезных ископаемых осуществляют следующим образом,Проходят вскрывающие выработки, Из выработки 1 бурят выдающую скважину 2 с наклоном = 0,01 в сторону выработки, Иэ выработки 3 бурят подающую скважину 4 с наклоном 1 = 0,07 в сторону выработки, Наклон скважинам придают для обеспечения самотечного гидротранспорта воды к...
Способ разработки весьма тонких пологих угольных пластов
Номер патента: 1680990
Опубликовано: 30.09.1991
Авторы: Ершов, Заблудин, Калинин, Миронюк
МПК: E21C 41/18
Метки: весьма, пластов, пологих, разработки, тонких, угольных
...(Ь+Ь),где 1 з - время заряжания скважины;Ь - продолжительность нарастаниядавления в скважине до величины, при которой для данного НРВ в данных породахопределяется линия наименьшего сопротивления (ЛНС);(А+31 ЧЧ,- средняя скоростьЬ 15подвигания очистного забоя;А - ширина очистного забоя от грудизабоя до задней линии крепи,Ч - скорость поднятия в лаве над скважиной пород почвы при разбухании НРВ в 20скважине;Ь - предельно допустимая величинавспучивания (поднятия) почвы в пределахочистного забоя3 = (1 - Ь )- ширина зоны действия 252 г О,5отжима (положения забоя);1 - линия наименьшего сопротивления(ЛНС) данного НРВ в данных породах;Ь - глубина заложения скважины нижеуровня поверхности почвы. 30При этом по мере активации НРВ вскважине...
Способ холодной прокатки тонких и тончайших полос
Номер патента: 1685562
Опубликовано: 23.10.1991
Авторы: Бильдин, Васильев, Дементиенко, Иванцов, Ниденс, Потаповский, Сизов
МПК: B21B 1/22
Метки: полос, прокатки, тонких, тончайших, холодной
...соотношении входного и выходного удельных натяжений в пределах 1,5 - 4,0, Способ позволяет увеличить долю выпуска жести в общем обьеме производства на 1,7-2,0;. 1 табл,дефекта(поперечный изгиб) и пробуксовку полосы показано в таблице.Толщину подката изменяют в пределах 0,17 - 0,28 мм, толщина готовой полосы 0,15 - 0,20 мм, соотношение входного и выходного удельных натяжений изменяют в диапазоне 0,5 - 6,0, При проведении экспериментов контролируют величину неплоскостности готовой полосы, появление,.ефекта (поперечный лзгиб полосы), а также фиксируют случаи пробуксовки полосы в валках. Анализ экспериментальных данных показывает, что при соотношении входного и выходного удельных натяжений на уровне 1,5 - 4,0 поперечного изгиба полосы не...
Способ отработки тонких и весьма тонких крутых пластов угля и устройство для его осуществления
Номер патента: 1689616
Опубликовано: 07.11.1991
Авторы: Балычевцев, Белов
МПК: E21C 27/02, E21C 41/18
Метки: весьма, крутых, отработки, пластов, тонких, угля
...очистнье работы ведут в диагональной лаве с нависсающим забоем с закладкой выработанного пространства породой, получаемой от присечки почвы пласта. Закладочный массиь формируют по линии естественного откоса пород. Отбойку угля и породы производят выемочной машиной одновременно и селективно, Причем породу той же машиной подают в вьработанное пространство. Уголь, отбитый от забоя, под действием собственного веса поступает в тсанспортную выработку по гибкому транспортерному желобу, перекрывающему закладочный массив, Устройство для одновременной и селективной отбойки угля и породы выполнено в виде узкозахватной выемочной ма ины, сна"- женной отбойными уголь:ымг породныь; шнеками, а также нагнетате ьн-;м пород ным шнеко, расположенным на...
Способ получения тонких монокристаллических пленок
Номер патента: 1691432
Опубликовано: 15.11.1991
Авторы: Лавров, Попель, Спиридонов
МПК: C30B 13/24
Метки: монокристаллических, пленок, тонких
...падения луча на поверхность формируется высокосовершенный монокристалл куприта, рассеиваясь на котором, электроны формируют дифракционную картину, состоящую из непрерывных узких полос, свидетельствующих о наличии пакета плоскостей оксида, толщиной до 2,0 нм.На фиг. 1 представлена электронограмма на отражение от поликристаллической поверхности меди; а нафиг.2 - то же, от полученной пленки Сц 20; на фиг. 3 - электронограмма.П р и м е р 2. По методике примера 1 получен монокристалл германия на поверхности германия. Высокое качество кристалла подтверждается не только наличием тонких полос на электронограмме, но и Ки,ИГКРГг гС изводственно-издательский комбинат Патент", г, Ужгород, ул,Гагарина, 101 кучи-линиями, указывающими на ориентацию...