Патенты с меткой «тонких»

Номер патента: 1465747

Опубликовано: 15.03.1989

Авторы: Блохин, Васильев, Овчар, Остроухов, Селезнев

МПК: G01N 19/04

Метки: образца, пластин, прочности, сцепления, тонких

...фольгу толщиной 0,06 мм. Прокладку изготавливают диаметром 20 мм иэ антиадгезионной молибденовой фольги, Отверстие в прокладке составляет 0,6 мм/а ее толшина равняется 0,05 мм. Соединение пластин осуществляют диффуозионной сваркой в вакууме при 1150 Си давлении 0,6 МПа в течение 20 мин.Прочность .сцепления пластин составляет 300 кг/см Составитель В,Свиридов Редактор И.Касарда Техред А.Кравчук Корректор Л,Патай "Заказ 937/43 Тираж 788 ПоцпнсноеВНИИПИ Государственного комитета .по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.Ужгород, ул, Гагарина, 101 3где Ь - толщина прокладки,",ср предел прочности материалапластин на срез;1 с = (1,5-2,0) - .коэффициент...

Номер патента: 1479282

Опубликовано: 15.05.1989

Авторы: Бондаренко, Дудник, Зверлин, Климкин, Кудинов, Лазарев, Тисновский, Чижская

МПК: B29B 7/82, B29C 43/46, B29C 71/02 ...

Метки: барабан, пленок, производства, тонких

...свободно падающих капель: чч=(3) коэффициент поверхностного натяжения конденсата;эффективный радиус каииллярнопористой структуры;плотность конденсата;высота подъема конденсата противдействия сил тяжести и равнаяиз (3); где о -40Кэф -(4)КфриТаким образом, высота подъема жидкости в самом неблагоприятном случае (подъем 50 против сил тяжести по вертикали) служитшагом для выбранной конструкции накопителей. Количество накопителей 5 рассчитывается по формуле 2 лК(5) 55где К - внутренний радиус стенки барабана.Как следует из выражения (4), шаг установки накопителей 5 обратно проиорцио= Я 2 дй;, где )з; изменяется от верхнего мак симального значения Ьчакс до минимальных значений Ь . В среднем высоту )з можно оценить как внутренний радиус...

Номер патента: 1482808

Опубликовано: 30.05.1989

Авторы: Алеев, Багров, Богданов, Вакорина, Ерченков, Капралов, Катуркин, Клочков, Красовский, Михайлов, Салитан, Сердюков

МПК: B29C 33/40, B29C 35/02, B29D 31/00 ...

Метки: матриц, профильных, резиновых, тонких, формования, эластичных

...способа даны применительно кизготовлению матрицы для формованиярезинотканевых мембран с гофрами.П р и м е р 1. В пресс-форму свнутренним диаметром обоймы 1-80 мми высотой выступа 3 на пуансоне 2 -4,5 мм (фиг. 1) закладывают сыруюрезиновую смесь состава 3 (табл.1).Собранную форму устанавливают в вулканизационный пресс и выдерживаютпри 160 С в течение 30 мин. Послезавершения процесса вулканиэации резиновой матрицы 6 пресс-форму раскрывают и закладывают круглую заготовкумембраны 9 из ткани толщиной 0,2 ммна основе капрона арт. 56003. Тканьпредварительно прорезинивают резиновой смесью состава 3 (табл. 2), Прессформу в сборе перемещают в пресс ипри давлении 40 кгс/см 2 и 160 С выдерживают 15 мин.1482808 130в в -530 Тв.ф. Пл.м 30 130...

Номер патента: 1490279

Опубликовано: 30.06.1989

Автор: Бурдасов

МПК: E21C 41/04

Метки: комплекс, крутых, пластов, разработки, тонких, угольных

...углу естественного откоса обрушившихся пород.В исходном положении конвейер- струг 1 находится в верхней части крепи, пневмати еские баллоны 8 ь состоянии максимального распора, гидравлические стойки 10 в ближнем положении от линии забоя, гидродомкраты 9 включены на передвижку крепи. Конвейер-струг 1, приводимый в движение приводной станцией 3 посредством двух канатов 2, снимает спой угля сверху вниз и после реверса снизу вверх,При движении струга сверху вниз снимают 2/3 суммарной ширины слоя эа цикл и уголь транспортируется по рештаку 1851490 лемехом 19, смонтированным на струге. При движении струга 1 снизу вверх лемех 19 находится в нерабочем положении. После того, как струг 1 при5 движении снизу вверх пройдет больше половины пути,...

Номер патента: 1492043

Опубликовано: 07.07.1989

Авторы: Агранат, Васильев, Горячий, Коденко, Кузьмин, Мельничук, Романенко, Саратикянц, Старосельский, Степанович, Ханатов, Чичкан, Юргилевич

МПК: E21C 27/02

Метки: комбайн, крутых, пластов, тонких, угольный

...при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина,101 шесисс:. идежцостц ц ремоцтоиригодцости комбайнаНа чертеже изображен комбайн, общий нид. 10Привод угольного комбайна состоит из исполнительного органа, выполненного в ниде дн х режугих барабанов 1 и 2, расположенных ца концах корпуса 3 симметрично относительно попереч ной плоскости 4 симметрии комбайна, редукторов привода, содержащего левую 5 и правую 6 кинематцческие трансмиссии, поворотных рукоятей 7 и 8; двигателей 9 и 1 О, привода 11 на соса, насоса 12, фильтра 13, переходника 14, пульта 15 управления, гидро - цилиндров 16 и 17, маслопроводон нагнетания 18 и слива 19, маслопроводов гидроцилиндрон...

Номер патента: 1493781

Опубликовано: 15.07.1989

Авторы: Глотов, Подопригора

МПК: E21C 27/32, E21C 41/06

Метки: минерала, пластов, разработки, тонких, ценного

...разрез; ца фиг.5 - тяговая цепь с режущим инструментом на приводной звезде; ца фиг,б - разрез А-А на фиг.5,25Устройство включает две самоходные тележки 1 и 2, которые располагаются ца параллельных штреках 3 и 4. На самоходной тележке 1 размещена приводная станция 5 с приводом б, на выходном валу которого находится приводная звезда 7 для передачи движения бесконечной тяговой цепи 8. Для натяжения тяговой цели 8 на самоходной тележке 2 установлено 35 натяжное устройство с холостой звездой (не показано), Кроме этого, само;- ходные тележки 1 н 2 имеют привод 9 для подачи тя гов ой цепи 8 на з а бой и передвижения самоходных тележек 1 и 40 2 по мере отработки пласта.На тяговой цепи 8 установлены режущие инструменты с центральным резцом...

Номер патента: 1497551

Опубликовано: 30.07.1989

Авторы: Корякин, Повитчанова, Тимофеева

МПК: G01N 27/26

Метки: марганцевых, подвижности, тонких, частиц, шламов, электрофоретической

...поля, В/м.Скорость оседания суспензии в гравитационном и гравитационно-электрическом полях (Ч ) определяют по формуле 5Н, (1 - Яе )Из данных таблицы следует, что при содержании твердого в,суспензии марганцевых шламов, равном 3-6%, электрофоретическая подвижность оставалась практически постоянной.При содержании твердого в суспензии тонких марганцевых шламов, меньше 3%, образуется очень размытая граница, раздела осадок - осветленная жидкость, Происходит это потому,40 что для образования пространственной структуры недостаточно твердой фазы. Из-за размытой границы раздела практически невозможно снять кинетическую кривую с достаточной степенью точности ни в гравитационном, ни в гравитационно-электрическом полях и точно измерить...

Номер патента: 1499419

Опубликовано: 07.08.1989

Авторы: Евстигнеев, Елесин, Опенов

МПК: H01L 39/00

Метки: перехода, пленок, плоских, сверхпроводящего, температуры, тонких

...тока.Сигнал с термометра 10 регистрируется графопостроителем 7 по координате Х. В результате перечисленных операций на графопостроителе 7 получаютзависимость ЭДС индукции в катушке 4индуктивности от температуры.Малость диаметра и длины катушкииндукзивности, являющейся источникоммагнитного поля, и малость расстоянияот нее до пленки приводит к тому, чтомагнитное поле, в котором находитсяисследуемая пленка, является неоднородным.Характерный масштаб неоднородности магнитного поля .в областирасположения, пленки равен расстояниюот катушки индуктивности, являющейсяисточником магнитного поля, до плен.ки. Экранирование неоднородного магнитного поля сверхпроводящвй пленкойпри Ь(Т)йюопределяется параметром1 с 1/Лф(Т), где 1 - характерный...

Номер патента: 1500147

Опубликовано: 07.08.1989

Автор: Джанкарло

МПК: B29C 47/38

Метки: выдувания, непрерывной, пластичного, пленок, тонких, экструзии

...и пульсаций. 20В направлении к концу зоны гомогенизации расположено (фиг.8) кольцо 14 разрыва потока, имеющее калиброванные отверстия 12. и 13, сделанные для того, чтобы воспрепятствовать нор мальному течению пластифицированного материала вдоль рабочего шнека 5 экструдера и сделать этот материал более пластичным без увеличения температуры. 30Это обеспечивает значительное улучшение условий переработки пластичных материалов и в особенностй жесткого поливинилхлорида, который и является очень чувствительным к увеличению температуры и способным становиться пластичнымбез особыхзатруднений при относительно низкой температуре, Ннек 5 заканчивается заостренной головкой 15 (Фиг. 9) с указан ным выше кольцом 16 разрыва потока аналогичной...

Номер патента: 1501158

Опубликовано: 15.08.1989

Авторы: Гришин, Дроботько, Усов, Шаповалов

МПК: G11C 11/14

Метки: доменами, индуктивно-частотный, константы, магнитных, магнитострикции, пленок, тонких, цилиндрическими

...магнитных пленок тся путем одновременного на пленку радиочастотным магнитным полем и полем магничивания, и создаавномерно распределенского напряжения, Пригде Г 1 - намагниченность насыщее 5ния;К и Ь - соответственно радиуси толщинл системы плен 1 О ка - подложка в виде диска; 15 У - коэффициент Пуассона,Формула изобретения оставитель Ю. Розент ехред Л. Олийнык Васильева Корректо Редактор М. Недолуженко Заказ 4878/50 Тираж 558 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ ССС 113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина, 10 3 1501158 этом о величине константы магнитострикции судят по смещению поля эффективной магнитной анизотропии в...

Номер патента: 1504353

Опубликовано: 30.08.1989

Авторы: Андреев, Диденко, Косарев, Лаптев, Сошенко

МПК: E21D 23/08, E21D 23/14

Метки: диагональным, забоем, комплекс, крутых, механизированный, пластов, тонких

...концы забойных гидропатронов встроены в вьпперасположенные секции или хвостовики, нижние оперты на ниже расположенные секции крепи и направляющие хвостовики, а концы завальных гидропатронов - наоборот.Работа комплекса осуществляется следующим образом.В исходном положении крепь передвинута, комбайн находится в нижней части лавы, производится фронтальная выдвижка базовой балки механизмами подачи с одновременным соединением со сливом или с подпорными клапанами нижних гидропатронов 12. При этом асинхронность ее движения компенсируется пробуксовкой ползунов 6 и подскладыванием упомянутых гидропатронов. Составляющая веса базовой балки удерживается механизмами подачи секций.В конце выдвижки базовой балки распираются гидропатроны 12 и...

Номер патента: 1506345

Опубликовано: 07.09.1989

Автор: Гаврилюк

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскопии, магнитных, пленок, тонких

...в токовую шину, В результате обеспечива 10 ется надежность регистрации дефектов. Кроме того, использование токовой шины позволяет осуществить многократную проверку полученных результатов.15 Визуализацию доменов можно осуществлять с помощью простых методов,не требующих высокого разрешения,например с помощью магнитооптического эффекта Керра,20 Формула изобретения Составитель И, Ре Техред М. Ходанич Редактор А. Коэориз Заказ 5422/45 Тираж 789 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 действия поля Н , образуется доменВобратной намагниченности. Длина доме"на определяется шириной шины и амплитудой поля Н,. После прекращениядействия поля Н, домен...

Номер патента: 1516772

Опубликовано: 23.10.1989

Авторы: Предко, Черных

МПК: G01B 11/06

Метки: пленок, толщины, тонких

...пленки; д - длина волны источника излучения.2 ил. Анализатор 6 размещен перед фотоприемником 7 в плоскости изображения тест-объекта 2 и выполнен в виде двух параллельных щелей, расположенных одна над другой так, что нижний конец верхней щели и верхний конец нижней щели лежатв плоскости, перпендикулярной направлению щелей, которые смещены одна относительно другой на величину, равную половине периоДа тест-объекта 2, а тест-объект 2 и анализатор 6 установлены с возможностью перемещения каждый в плоскости, перпендикулярной оптической оси, и ориентированы так, что направление их щелей совпадает.Устройство работает следующим образом.Источник 1 света равномерно освещает тест-объект 2, который расположен в фокальной плоскости объектива 4....

Номер патента: 1516773

Опубликовано: 23.10.1989

Авторы: Жилин, Ивочкин, Оксман

МПК: G01B 11/08

Метки: диаметра, непрозрачных, нитей, тонких

...Изобретение относится к измеритель.ной технике, а именно к способам измерения диаметров тонких нитей,Цель изобретения - повышение точности измерения эа счет формированияравномерно освещенной измерительнойэоны и уменьшения влияния дрейфа нуляфотоприемного устройстваНа чертеже приведена схема устройства для осуществления способа.Способ реализуется Следующим образом,Излучение от источника 1 попадаетв осветительный световод 2, на выходе 15которого формируется световой потокс широкой индикатрисой рассеяния.Иэ этого широкого потока с помощьюприемного световода 3 выделяетсяузкий световой пучок, в пределах которого распределение светового потока постоянно,В этот узкий лучок помещается измеряемый объект 7, которому с помощьюустройства 4...

Номер патента: 1518037

Опубликовано: 30.10.1989

Авторы: Бендер, Васильев, Дементиенко, Иванцов, Потаповский, Сизов, Скороходов, Сосковец, Чернов

МПК: B21B 1/38

Метки: непрерывных, полос, прокатки, станах, тонких, холодной

...стана) производят в валках с увеличением шероховатости от середины бочки к краям, а в остальных клетях в валках с постоянной шероховатостью - по длине бочки. Получены недокаты на четырехклетевом стане 1700, пятиклетевом 1700 и шестиклетевом 1400 путем остановки стана в мо. мент нахождения полосы во все клетях. При этом трещинообразование происходило соответственно на четырехклетевом стане во второй клети, на иятиклетевом в третьей, на шестиклетевомв четвертой.Применение большей шероховатости поверхности бочки валков на участках, соответствующих краям полосы, приводит к изменению схемы деформированного состояния от одностороннего сжатия с двусторонним растяжением к двустороннему сжатию с односторонним растяжением в данной клети, при...

Номер патента: 1518108

Опубликовано: 30.10.1989

Авторы: Акимов, Гринюк, Столбов

МПК: B23K 37/04

Метки: внахлест, заготовок, листовых, сборки, сварки, тонких

...для выравнивания края другой заготовки 14. Благодаря этому возмож но точно сориентировать электрод сварочной головки относительно нахлестки. 3 ил. илиндров.На раме 6 между прижимными балками 7 и 8 с возчожностьбю переме. щения в плоскости перемещения прижимных балок установлен дополнительный прижим 11. Дополнительный прижим 11 оснагцен опорной поверхностью 12 для изгиба края заготовки 4, торцовой поверхностью 13 для выравнивания кромки заготовки 14 и силовым цилиндром 15 для его перемещения.1518108 формула изобретения 1 О 2 Составителк 1 ХехредИ. Верее и раж 894 хрипа Корректор Т Колб Подписное Редактор Л, Рс вин:а к а ат 540,1 7Н И И Г И Гос дарственного113035, МПроизводственно-издатель омитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ...

Номер патента: 1521512

Опубликовано: 15.11.1989

Авторы: Бендер, Васильев, Горбунков, Дементиенко, Куликов, Позин, Потаповский, Чернов, Шувяков

МПК: B21B 1/28

Метки: полос, прокатки, тонких, холодной

...значению производят изменение величин относительных обжатий в тех проходах (клетях), где выОЬаполняется условие -- ) 0 001 на ве 1 Э личину невязки.П р и м е р. Необходимо прокатать полосу толщиной 0,22 мм из подката толщиной 2,2 мм на непрерывном шестиклетевом стане 1400 с диаметром рабочих валков 600 мм. Для первой клеЬо Я.ти отношение равно 0,37 10Ьот.е, -- ) 0,001, В первой клети назначают обжатие 0,33, Во второй кле 25Ьо - 2. Ьотир Э) 0,001. Во второй клети устанавливают обжатие 0,37, В третьей кле 30 ти= 0,155 1 Х, т.е. - -) 0,001. Устанавливают обжатие 0,37. В четверЬ Ьотой клети - = О 097 10 т.е, - ср ф ф р350,001, Начиная с четвертой клети величину относительного обжатия определяют по выражению (1) Обжатия в четвертой, пятой и...

Номер патента: 1536284

Опубликовано: 15.01.1990

Авторы: Аристов, Шабельников

МПК: G01N 23/20

Метки: дифрактометрии, пленок, рентгеновской, тонких

...Ы согласновыражениюЪ=Г+ЫЯ+1,/2), (1)Так как апертура коллиматора Сол 55 лера определяется его конструктивными параметрами - базой 1., и расстоянием между пластинами Ь 9=2 Ъ/1.), то для типичных условий эксперимента величина второго слагаемого в (1) непревышает (0,3-0,5)Е и ширина пучкаЪ определяется, в основном, первымслагаемым, Таким образом, уменьшениемало сказывается на величине Яци при улучшении коллимации, приводящей к повышению пиковой интенсивностилиний с сохранением уровня фона, интенсивность которого для известныхисточников определяется облучаемойплощадью 8 , достигается улучшениеотношения интенсивностей линий к фонуП р и м е р, Способ реализуют приследующих условиях. В качестве источника излучения используют трубку2,ОБСВс...

Номер патента: 1540957

Опубликовано: 07.02.1990

Авторы: Брылин, Бусыгин

МПК: B23C 3/00

Метки: заготовок, пазов, стенках, тонких, фрезерования

...7 углового перехода боковой поверхности и отстоящей от нее на расстоянии, равном половине диаметра фрезы - , и выводят последнююВф2из тела заготовки. Из точки 6 фрезу своим центром отводят по участку прямой Х 11, перпендикулярной прямой 1 Х, в точку 8, осуществляя в нем отмену заданной коррекциии. После этого из точки 8 фрезу на ускоренном ходу перемещают к противоположной боковой поверхности Х 111 стенки 111 в точку 9 (фиг. 3). С подачей 5 г фрезу подводят к угловому переходу боковой поверхности ХП 1 и стороны Х 1 Р лаза сначала по радиусу-вектору Х 1 в точку 10, осуществляя на нем ввод коррекции траектории выполняемого рабочего хода на величину износа фрезы е, затем по дуге окружности ХИ с радиусом Я в точку 11 до касания с дугой...

Номер патента: 1541306

Опубликовано: 07.02.1990

Авторы: Зелионкайте, Крылова, Яницкис

МПК: C23G 1/00

Метки: алюминиевых, подложек, селеновых, слоев, тонких, удаления

...электрографических пластин наибо лее пригодны водные растворы дихромата калия и пероксодисульфата калия концентрацией 0,03-0,05 моль/л, При их использовании не выделяется ядовитый сселеноводород, в растворе не образуется коллоидный селен, а качество регенер 1 рованных алюминиевых подложек 99- 1007 Бремя отслаивания селена в растворах дихромата калия75 мин, пероксодисучьфатакалия - 45 мин.В течение термообработки в растворе дихромата калия или пероксодйсульфата калия выкристаллизовавшийся се лвн может быть отделен от раствора и использован в производстве электрографических пластин, а раствор применен для повторного удаления слоев.Растворы перманганата калия, хро мата калия, перекиси водорода исследованных концентраций для удаления...

Номер патента: 1555377

Опубликовано: 07.04.1990

Авторы: Бармин, Бендер, Васильев, Горбунков, Губин, Дементиенко, Иванцов, Потаповский, Скороходов, Чернов

МПК: C21D 8/02

Метки: малоуглеродистой, полос, производства, стали, тонких

...- имеет размерность мм/Н.Коэффициент при Ы равен единице и имеет размерность 1/град.П р и м е р. Прокатку проводят на прокатно-дрессировочном стане 400. Толщину подката изменяют в О пределах 0,20-0,36 мм, толщину готовой полосы - 0,1-0,18 мм, при этом суммарное обжатие составляет 10-583. Предел текучести изменяют от 220 до 380 Н/мм . При проведениийисследований контролируют величину угла пружинения готовой полосы.Проверку линеализованной модели на адекватность и оценку значимости коэффициентов регрессии проводят, используя соответствующий математический аппарат дисперсионного анализа. Полученное в результате этого регрессионное уравнение (1) описывает массив экспериментальных дан ных с долей объясненной вариации 98,4 Ж.Если после...

Номер патента: 1555696

Опубликовано: 07.04.1990

Авторы: Нижник, Тюшкевич

МПК: G03H 1/18

Метки: голографический, пленок, сред, термопластических, тонких, характеристик

...-ИЬгде Е(УЬ) р Ь+ 20 Справедливость этого уравнения вытекает из известного выражения времени механической релаксации: сЬ Я; Ь+И;Ь 25 зЬЯ; Ьа ююъе ЯФ 2 чгде Д О - пространственные часто 9ты рельефа, на которыхпроизводится измерениевремени механическойрелаксации сглаживания;Ь - толщина тонкой пленкитермопластической сре 35ды;- вязкость термопластической среды;О 6 - коэффициент поверхност"ного натяжения. 40Устройство, с помощью которого реализуется предлагаемый голографический способ определения характеристик тонких пленок термопластичесцих сред, содержит источник когерентного излучения, который через тонкую пленку фототермопластической среды с блоком управления оптически связан с двумя фотоприемниками, электричес ки связанными с...

Номер патента: 1562803

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Алавердова, Бабенко, Дудкин, Коваль, Михайлов

МПК: G01N 23/20

Метки: анализа, пленок, рентгеноструктурного, тонких

...гониометра, а также угловую ширину пучка в антибрегговском направлении. Затем с помощью щелевой системы Формируют пучок, .имеющий прямоугольную форму сечения, при этом большая сторона прямоугольника параллельна поверхности образца и составляет угол Ы с экваториальной плоскостью,Затем устанавливают в держатель гониометра массивный эталон под углом М к экваториальной плоскости и 40 производят его юстировку, Установив угол падения пучка Ч и произведя серию съемок от эталона при различиой ширине пучка в брегговской плоскости, находят ЬЦ и уста на вли дают угловую ширину пучка в брегговской плоскости для съемок тонкопленочного образца, который затем помещают в держатель, после чего приступают к съемке.П р и м е р. Производится анализ...

Номер патента: 1564120

Опубликовано: 15.05.1990

Авторы: Коваль, Корякин, Кучер, Ревуцкий

МПК: C02F 1/46, C02F 1/469

Метки: обезвоживания, суспензий, тонких

...обрабатывают жидкимстеклом при расходе 15-75 г/т тверДой фазы. 2 табл. ультате получали осветленнуюсть без механических примесейущенный продукт с содержаниемтвердого 22,3 Е.В таол, 1 приведены результатысражентельных испытаний известногои предлагаемого способов электроосм тическдго обезвоживания тонких м ганцевых шламов Богдановской обо тельнои Фабрики,Из данных табл, 1 видно, что зультате предварительной обработ марганцевых шламов жидким стекло расходе 15,0-75 г/т твердой Фазы вышается по сравнению с известньп собом скорость электрообезвожва на 1,5-2,07, а удельная нагрузка исходному питанию - на 2,5-3,0 Х.При ооработке исходной суспен жидстеклом происходит повыше электрокинетического потенциала1564120 рохимически активных пористых...

Номер патента: 1564346

Опубликовано: 15.05.1990

Авторы: Кузьмич, Селезнев

МПК: E21C 41/28

Метки: мощности, охраны, пластов, полевого, разработке, свит, средней, тонких, угольных, штрека

...забоев, и со знаком минус,если данная точка А находится впередиствора лавы по направлению движен ияочистных забоев.Установка станции 7 в полевом штрекедля измерения уровня напряжений позволяет определить параметры зон временного истационарного опорного давлений, которыене меняются при дальнейшем увеличенииразмеров выработанных пространств пластов 1 и 2 по простиранию,Наблюдательная станция состоит из четырех замерных сечений, отстоящих друг отдруга. В каждом замерном сечении параллельно плоскости напластования бурят двашпура 12 в кровлю и почву полевого штрека. В шпурах устанавливают датчики 13давления, позволяющие определять изменения уровня нормальных к напластованиюнапряжений во вмещающем выработку массиве. Установку датчиков 13...

Номер патента: 1566024

Опубликовано: 23.05.1990

Авторы: Бурчаков, Селезнев

МПК: E21C 41/18

Метки: мощности, пластов, разработки, свиты, средней, тонких, угольных

...квершлаги 13 и 14 (фиг.4).При отработке выемочного поля 5 откаточный полевой .групповой штрек 17 проводят в пределах выемочного поля 4 с отставанием по простиранию от очистных работ на одно выемочное поле (фиг.4).На откаточном горизонте в подготавливаемом выемочном поле 6 (фиг,4) проводят участковые штреки 7-9 и сооружают вспомогательный штрек 20 путем проведения дополнительной полевой выработки 21. Участковые штреки 7-9 после отработки выемочного поля 4 (фиг.4) соединяют промквершлагом 13 со вспомогательным штреком 20, которые поддерживают на протяжении подготавливаемого выемочного 6, отрабатываемого 5 и предыдущего отработанного 4 полей и затем погашают после соединения с полевым групповымштреком 17. При значительном количестве...

Номер патента: 1569530

Опубликовано: 07.06.1990

Авторы: Жижин, Хаммадов, Яковлев

МПК: G01B 11/06

Метки: диэлектрических, пленок, толщины, тонких

...пленка. Сущность способа заключается в том, что измеряемую пленку, нанесенную на подложку, прижимают к призме с зазором, величина которого близка к длине волны электромагнитного излучения, которое направляют на призму под различными углами, в условиях нарушенного полного внутрепнего отражения регистрируют спектр поглощения поверхностных поляритонов подложки и определяют гэлщину пленки по формуле й = 2 А Мз,гдег з Й - толщина пленки; д - ширина щели в энергетическом спектре поляритонов; Л - длина волны электромагнитного избужцений пленки и поверхностных поляритонов подложки.Сущность способа заключается в следующем.Измеряемую пленку, нанесенную на диэлектрическую подложку, прижимают к призме с зазором, величина которого близка к длине...

Номер патента: 1570808

Опубликовано: 15.06.1990

Автор: Чижиков

МПК: B21B 1/22, B21B 13/20

Метки: группа, непрерывная, полос, производства, стана, тонких

...валками первого ряда, приэтом можно проводить комбинированнуюпрокатку в клетях с разными горизон-30таж, в одной клети очаг деформацииорганизуют между рабочими валками, ав другой - между рабочим валком исмежными с ним опорными валкаьи первого ряда,Группа стана состоит из нереверсив ной клети 1 с восьмивалковым комплектом и реверсивной клети 2 с двенадцативалковым комплектом,Перед клетью 1 и эа клетью 2 установлены реверсивные моталки 3, а вмежклетьевом промежутке, а также между клетями 1 и 2 и моталками 3 смонтированы проводюфковые роликовые столы4 с обеспечением задачи полосы с моталок 3 на разные горизонты прокаткимежду рабочими валками 5 и 6 и рабочим6 и смежным с ним опорными валкаж 7первой по ходу прокатки клети 1, атакже между...

Номер патента: 1577879

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Игнатков, Колонтырский, Черненко

МПК: B07B 1/46

Метки: длинномерных, разделительное, тонких

...площадь просеивания нижней,цеки 2равной или больше полезной площади:просеивания верхней деки 1, Шаг рядовотверстий на верхней и нижней деках 45одинаков,При этом ряды щелей 5 в нижней деке 2 смещены относительно рядов отверстий в верхней деке 1 на одинаковое расстояние в обе стороны от плос- Окости, проходящей перпендикулярноповерхностям дек 1 и 2 . через центрыотверстий 4 каждого ряда верхней де"ки 1, т,е. на половину шага, Крометого, величина смещения рядов отверстий верхней и нижней дек выполненаЙН й зивеее + + е"Ь 2 2 где Ъ - толщина верхней деки,При гФедельном угле наклона обрабатываемого изделия относительноплоскости верхней деки 1 расстояниемежду осями отверстий 4 в верхней деке 1 и осями щелей 5 в нижней деке 2,т,е, величина...

Номер патента: 1581394

Опубликовано: 30.07.1990

Авторы: Баландин, Бендер, Бурлаков, Залькинд, Куликов, Мазур, Сосковец, Тимошенко, Чмелев

МПК: B21B 1/22

Метки: полос, производства, тонких

...валков, осевую сдвижку валков, шлифовочное профилирование и т.п.Коробоватость подката с а/ Л 40,005 недостаточна для выравнивания механи-. ческих свойств по ширине. При создании коробоватости с отношением а/ Ь ) ) 0,05 возникают неисправимые дефекты при смотке полос на моталках после горячей прокатки, кромки полос деформируются вследствие разброса витков в рулоне, .Лучшие результаты получаются при средних значениях рекомендуемого интервала а/ Ь =0,025. Следует отметить, что получение коробоватости с такими параметрами являетсянаиболее легкодостижимыми технически.При выборе показателя степени и,зависящего от толщины подката, следует руководствоваться следующимисоображениями. Меньшие значения,.вплоть до величины п=1,45,принимают...