Устройство для измерения константы магнитострикции тонких магнитных пленок
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
(51) ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ ин, В.Ф.Дроботько, Н.Н.Усовлов4 (088,8)С.Я,Кгайт, М.Н.Кгубег. 1 ЕЕЕи, МА 6-18. 1982, М 6, р. 1295 ТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ КОНГНИТОСТРИКЦИИ ТОНКИХ ПЛЕНОКние предназначено для контров тонких магнитных пленок. Изобретение относится к области микроэлектронной техники и может быть использовано для контроля тонких магнитных пленок при их производстве.Целью изобретения является повышение точности измерений температурной зависимости константы магнитострикции тонких магнитных пленок.Поставленная цель достигается тем, что в устройстве для измерения константы магнитострикции тонких магнитных пленок, содержащем корпус и две опоры, мсжду которыми в качестве мембраны установлена исследуемая пленка, одна из опор выполнена в виде вогнутого сегмента сферической поверхности, содержащей сквозные отверстия в вакуумируемый объем, обеспечивающие плотное прилегание пленки по всей ее . поверхности, Причем, сферическая опора выполнена из материала, обладающего большой теплоп роводностью. о устроиство для изгнитострикции тоно При откаобьема иссле гибаться,что ческих напркоторых рас пленки. Рост происходит д нется крышки(56) Х, ЮапцТгдпз оп Мд 91297,(57) Изобретероля парамет юл. %24физико-технический институт 659930 А 1 Цель изобретения - повышение точности измерений температурной зависимости константы магнитострикции тонких магнитных пленок, Устройство содержит корпус 1, опору 2, датчик 3, тонкую магнитную Пленку 4, крышку корпуса 5, являющуюся второй опорой, внутренняя поверхность которой, расположенная внутри вакуумируемого обьема, имеет форму сегмента сферической поверхности со сквозными отверстиями 6. При снижении давления тонкая магнитная пленка прогибается и прилегает к сферической поверхности, обеспечивая плотный термический контакт, исключающий градиент температур по поверхности пленки.1 ил. На чертеже показанмерения константы маких магнитных пленок,Устройство содержит корпус 1, кольцевую опору 2, крышку 3 корпуса, перфорированную отверстиями 4, исследуемую пленку 5 и датчик 6, При измерении константы магнитострикции индуктивно-частотным способом в качестве датчика использовалась выносная индуктивность колебательного контура автодина,Устройство работает следующим обраке газа из вакуумированн дуемая пленка начинает и риводит к появлению меха жений в пленке, величина ет с увеличением прогиба механических напряжений тех пор, пока пленка не коспредставляющей собой сег1659930 Формула изобретения рарЮаку ниспсу Составитель Н.Романоволяда Техред М.Моргентал Корректор И,Муска Редакто аказ 1843 Тираж 330 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 мент сферической поверхности, При дальнейшей откачке газа величина прогибапленки остается неизменной, что тождественно постоянному механическому нагружению пленки, В этом случае поверхность 5пленки находится в постоянном тепловомконтакте со сферической поверхностью.Крышка корпуса изготовлена из материалас хорошей теплопровсьдностыо например,из латуни). Это позволяет устранить градиеНт температуры по асей поверхности пленки и легко изменять температуру вдиапазоне от 10 до 500 К,Устройство позволяет также проводитьизмерения на промышленных пластинах 15любоЮ диаметра, например в диапазоне 30- 102 мм. Устройство для измерения константы магнитострикции тонких магнитных пленок, содержащее корпус, крышку корпуса и опору, при атом корпус разделен на две полости, одна из которых через крышку корпуса связана с вакуумным насосом, а в другой расположен датчик, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности измерения, поверхность крышки корпуса, расположенная со стороны вакуумного насоса, снабжена сквозными отверстиями и выполнена в форме вогнутого сегмента сферической поверхности, своей вогнутой частью обращенного в сторону вакуумного насоса,
СмотретьЗаявка
4689610, 10.05.1989
ДОНЕЦКИЙ ФИЗИКО-ТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ АН УССР
ГРИШИН АЛЕКСАНДР МИХАЙЛОВИЧ, ДРОБОТЬКО ВАЛЕРИЙ ФЕДОРОВИЧ, УСОВ НИКОЛАЙ НИКОЛАЕВИЧ, ШАПОВАЛОВ ВЛАДИМИР АНТОНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01R 33/05
Метки: константы, магнитных, магнитострикции, пленок, тонких
Опубликовано: 30.06.1991
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1659930-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-konstanty-magnitostrikcii-tonkikh-magnitnykh-plenok.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения константы магнитострикции тонких магнитных пленок</a>
Способ контроля степени аморфности поверхности металлических магнитных лент и пленок
Номер патента: 1502988
Опубликовано: 23.08.1989
Авторы: Миронова, Никитин, Тулинов
МПК: G01N 21/55
Метки: аморфности, лент, магнитных, металлических, пленок, поверхности, степени
...величин о", , с( рЗ и д . Любое изменение зависимости Е от Я , связанное с кристаллизацией, приводит к изменению величины отношений в , - ф и - . 11 о хаГфд рактеру и величне этих изменений, сравнивая получаемые величины с их эталонными значениями, можно судить о степени аморфности поверхности магнитных металлических лент и пленок.Устройство для осуществления пред лагаемого способа (фиг.1) содержит источник 1 света, поляризатор 2, линзу 3, исследуемый образец 4, электромагнит 5, источник 6 питания электромагнита, светоделительные пластины 7, зеркала 8, фильтры 9, линзы 10, фотоприемники 11, гальванометры 12, усилители 13, вычислительный комплекс 14. Свет от источникапроходит через поляризатор 2, затем с помощью линзы 3 фокусируется на...
Способ обработки рабочей поверхности многодорожечной магнитной головки
Номер патента: 871194
Опубликовано: 07.10.1981
Авторы: Бондарев, Глебов, Халецкий
МПК: G11B 5/22
Метки: головки, магнитной, многодорожечной, поверхности, рабочей
....сам аппарат маг. нитной записи и, следовательно, каждую единицу информации.Целью изобретения является снижение разброса величин амплитуд воспроизводимых с помощью многодорожечной магнитной головки сигналов с разных дорожек,87Достижение цели осуществляется за счет того, что при способе обработки рабочей поверхности многодорожечной магнитной головки, основанном на нанесении на эту поверхность титана с дальнейшим его азотированием при 500 в 7 С, азотирование ведут в пределах от 20 до 30 мин при давлении азота от 1 до 55 мм рт. ст.Пример, ферритовая заготовка предварительно профилируется по форме С-образного сердечника и потом разрезается на отдельные пластины. Эти пластины устанавливаются в пазы титанового корпуса, спаиваются с ним...
Способ формирования рабочей поверхности блока магнитных головок
Номер патента: 902064
Опубликовано: 30.01.1982
Авторы: Астахов, Зверев, Кабак, Клименко, Мелехин, Мельниченко, Радченко, Супруновский
МПК: G11B 5/42
Метки: блока, головок, магнитных, поверхности, рабочей, формирования
...1 изображеноройство; на фиг. 2 - тонения.%В у11 оставитель В Техред А. Бо Тираж 623 дарственного изобретений Ж - 35, Рау т, г. Ужго Доб йкас вольскииКорректорПодписноетета СССРкрытийнаб., д, 4/5л. Проектная, 4 Редактор Н. КовалеваЗаказ 12391/61ВНИИПпо113035, Мфилиал ППП зятк Госу елам сква, Пате коми и о шска од, Устройство содержит частицы 1 кремнезема с зернистостью 100 - 150 мкм или частицы 2 окиси алюминия с зернистостью 10 - 40 мкм, расположенные в стволе 3 между газовой смесью 4, например ацетилено-кислородной, рабочей поверхностью 5 магнитного сердечника блока 6 магнитных головок.Формирование рабочей поверхности блока магнитных головок происходит следующим образом. В рабочую поверхность 5 магнитного сердечника блока 6 магнитных...
Индуктивно-частотный способ измерения константы магнитострикции тонких магнитных пленок с цилиндрическими доменами
Номер патента: 1501158
Опубликовано: 15.08.1989
Авторы: Гришин, Дроботько, Усов, Шаповалов
МПК: G11C 11/14
Метки: доменами, индуктивно-частотный, константы, магнитных, магнитострикции, пленок, тонких, цилиндрическими
...магнитных пленок тся путем одновременного на пленку радиочастотным магнитным полем и полем магничивания, и создаавномерно распределенского напряжения, Пригде Г 1 - намагниченность насыщее 5ния;К и Ь - соответственно радиуси толщинл системы плен 1 О ка - подложка в виде диска; 15 У - коэффициент Пуассона,Формула изобретения оставитель Ю. Розент ехред Л. Олийнык Васильева Корректо Редактор М. Недолуженко Заказ 4878/50 Тираж 558 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ ССС 113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина, 10 3 1501158 этом о величине константы магнитострикции судят по смещению поля эффективной магнитной анизотропии в...
Способ определения механических и магнитных свойств поверхностных слоев магнитных материалов и тонких пленок
Номер патента: 602890
Опубликовано: 15.04.1978
Авторы: Венгринович, Рудницкий
МПК: G01R 33/02
Метки: магнитных, механических, пленок, поверхностных, свойств, слоев, тонких
...опирается стержневой постоянный магнит со сферическим концом, то где Г- усилие отрыва постоянного магнита от испытуемого .образцаО - расстояние от полюса магнита (точка 4) до поверхносити испцггуемого образцаЧмагнитный заряд, сосредоточенныйФ 20 в полюсе пстойнного магнита,1- наведенный магнитный заряд в точке 5 зеркапьного отражения исследуемого образца.Наведенный магнитный заряд с равен поверхностному интегралу намагнченности=/,и+/,ав3 82гдето,З - намагниченности материала, соот 301 Ф Хветственно в деформированной и педеформированной зонах,Ь и 5 "поверхности, ограничивающие,2соответственно, деформированную и недефор.,мированную эоны,Йамагниченность;1 определяется магнитной восприимчивостью Ф. Восприимчивость участка поверхности 2 с...
Предыдущий патент: Устройство для измерения магнитного поля
Следующий патент: Измеритель магнитной восприимчивости
Случайный патент: 188151