Патенты с меткой «параметров»
Устройство для ограничения параметров движения самолета
Номер патента: 601892
Опубликовано: 30.01.1994
Авторы: Живетин, Островский, Солдаткин, Ференец
МПК: B64C 13/18
Метки: движения, ограничения, параметров, самолета
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОГРАНИЧЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ДВИЖЕНИЯ САМОЛЕТА, содержащее датчики углов атаки, расположенные в каждом крыле самолета, задатчик критического угла атаки, блок формирования команд, включающий вычитающий элемент и последовательно соединенные схему сравнения и усилительно-преобразующее устройство, причем выходы датчиков углов атаки подключены к входам схемы сравнения и входам вычитающего элемента, и выход задатчика критического угла атаки соединен с входом схемы сравнения, отличающееся тем, что, с целью увеличения маневренности самолета с одновременным предотвращением входа самолета в штопор, в него введен датчик угла скольжения, и блок формирования команд содержит сумматор и логическое устройство, включенное между схемой сравнения и...
Устройство для измерения параметров подвижного объекта
Номер патента: 735075
Опубликовано: 15.02.1994
Авторы: Бельфор, Ганеев, Иванчук, Попов, Солдаткин, Ференец
МПК: G01C 21/12
Метки: объекта, параметров, подвижного
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ПОДВИЖНОГО ОБЪЕКТА, содержащее источник излучения, приемник излучения, выполненный в виде кодовой маски, дешифратора, блока согласования, и индикатор, отличающееся тем, что, с целью измерения составляющих угла положения вектора скорости подвижного объекта, в нем источник излучения выполнен в виде преобразователя физико-химических свойств частиц окружающей подвижный объект среды, преимущественно генератора ионов, а кодовая маска размещена на обшивке подвижного объекта.
Способ контроля забойных параметров в процессе бурения скважин
Номер патента: 1373029
Опубликовано: 15.02.1994
Автор: Савиных
МПК: E21B 45/00, E21B 47/12
Метки: бурения, забойных, параметров, процессе, скважин
...частота;С - скорость звука в среде;- площадь щели резонансного эвукопоглотителя (резонатора Гельмгольца);Ч - объем резонансного поглотителя;и - толщина стенки щели.Результаты расчета зависимости резонансной частоты поглощения от геометрических параметров резонансного30 эвукопоглотителя приведены в таблице,Анализ вычисленных значений показывает, что при высоте резонансного звукопоглотителя Н - 50 см и плон(ади отверстияЕ - 20 см полоса поглощаемой частоты сог35 ставляет 1 - 1236 Гц (1529-356),Такая полоса пропускания частот позволяет увеличить разрешающую способностьдатчика.На фиг,З приведена номограмма, на ко 40 торой видно перемещение по спектрограмме частоты поглощения звуковой энергии взависимости от осевой нагрузки на...
Способ градуировки резонансного датчика параметров полупроводниковых материалов
Номер патента: 1699251
Опубликовано: 15.02.1994
Авторы: Лапидус, Малышев, Скворцов, Тэгай
МПК: G01N 22/00
Метки: градуировки, датчика, параметров, полупроводниковых, резонансного
СПОСОБ ГРАДУИРОВКИ РЕЗОНАНСНОГО ДАТЧИКА ПАРАМЕТРОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ МАТЕРИАЛОВ, заключающийся в расположении образцов, аттестованных по удельному сопротивлению на измерительное отверстие резонансного датчика, и снятии зависимости выходного сигнала резонансного датчика от электрофизического параметра образцов, отличающийся тем, что, с целью повышения точности при измерении эпитаксиальных слоев на проводящих изотипных подложках, в качестве образцов, аттестованных по удельному сопротивлению, используют полупроводниковые образцы толщиной, не превышающей максимальную толщину измеряемых эпитаксиальных слоев, на тыльную поверхность которых нанесен металлический слой, измеряют толщину полупроводникового образца, а в качестве электрофизического...
Гелографическое устройство для измерения геометрических параметров зеркальных оптических элементов
Номер патента: 1354967
Опубликовано: 30.03.1994
Авторы: Голиков, Гурари, Прытков
МПК: G02B 5/32
Метки: гелографическое, геометрических, зеркальных, оптических, параметров, элементов
ГЕЛОГРАФИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ГЕОМЕТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ЗЕРКАЛЬНЫХ ОПТИЧЕСКИХ ЭЛЕМЕНТОВ , содеpжащее источник когеpентного излучения, светоделитель, опоpный канал и пpедметный канал, включающий отpажатель с возможностью сдвига и pассеиватель, и pегистpатоp, пpи этом оптические оси пpедметного и опоpного каналов пеpесекаются в плоскости pегистpатоpа, отличающееся тем, что, с целью pасшиpения диапазона диаметpов измеpяемых зеpкальных оптических элементов, pассеиватель выполнен в виде линзового pастpа, пpи этом угловая pасходимость линз D/F удовлетвоpяет соотношениюD / F > A / Z,где D - световой диаметр линзы;F - фокусное расстояние линзы;A - диаметр исследуемого элемента;Z - расстояние от...
Способ определения электрофизических параметров двухнагрузочного мгд-генератора
Номер патента: 1338752
Опубликовано: 30.04.1994
Авторы: Исэров, Калнини, Орлов, Шарапов
МПК: H02K 44/08
Метки: двухнагрузочного, мгд-генератора, параметров, электрофизических
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ДВУХНАГРУЗОЧНОГО МГД-ГЕНЕРАТОРА, заключающийся в том, что измеряют значения тока и напряжения каждого подключенного к МГД-генератору инверторного моста и вычисляют матрицу внутренних сопротивлений, величины ЭДС, токов короткого замыкания, коэффициенты нагрузки частей МГД-генератора, отличающийся тем, что, с целью упрощения в процессе стационарной работы МГД-генератора, непрерывно измеряют мгновенные значения тока и напряжений каждого инверторного моста, определяют средние значения тока и напряжений, а также амплитуды и фазы токов и напряжений по крайней мере одной из гармоник каждого инверторного моста, например несущей.
Способ модификации параметров ионосферной плазмы
Номер патента: 1702856
Опубликовано: 30.04.1994
Авторы: Агафонов, Владимиров, Курина, Марков
МПК: H05H 1/00
Метки: ионосферной, модификации, параметров, плазмы
1. СПОСОБ МОДИФИКАЦИИ ПАРАМЕТРОВ ИОНОСФЕРНОЙ ПЛАЗМЫ, включающий формирование искусственного плазменного образования высокочастотным разрядом в поле бортового высокочастотного источника, отличающийся тем, что, с целью увеличения размеров области модификации, глубины и скорости модуляции параметров плазмы за счет увеличения энерговклада в искусственное плазменное образование, одновременно с высокочастотным разрядом формируют расходящиеся акустические ударные волны путем создания в области высокочастотного разряда серии взрывов при выполнении условий:Ri > Rвзр > dо, (1)II
Способ определения электрических параметров канала многонагрузочного магнитогидродинамического генератора
Номер патента: 1660559
Опубликовано: 30.05.1994
МПК: H02K 44/08
Метки: генератора, канала, магнитогидродинамического, многонагрузочного, параметров, электрических
...на участ- от предыдущих значений и от нуля значеках канала, нагруженных инверторами, 40 ния указанной пульсациониой составляю- подключенными к соответствующим токо- щей токов и напряжений, одновременно с съемным зонам канала, определение про измерениями значений пульсационных содольных и поперечных внутренних сопро ставляющих измеряют значения постоянтивлений и ЭДС участков канала иэ ной составляющей токов ииверторов и науравиений Кирхгофа с учетом измеренных 45 пряжений между соседними токосъемными значений, отличающийся тем, что, с целью зонами, с учетом измеренных значений упрощения и повышения быстродействия пульсационной и постоянной составляю- выделяют основную гармонику пульсаци- щих токов и напряжений определяют проонной...
Способ регулирования параметров газа в электродуговом подогревателе
Номер патента: 1757428
Опубликовано: 30.05.1994
Авторы: Жилин, Симанженков, Шамшурин
МПК: H05B 7/18
Метки: газа, параметров, подогревателе, электродуговом
СПОСОБ РЕГУЛИРОВАНИЯ ПАРАМЕТРОВ ГАЗА В ЭЛЕКТРОДУГОВОМ ПОДОГРЕВАТЕЛЕ, при котором поджигают дугу, измеряют давление и температуру газа, сравнивают с заданными, определяют рассогласования и изменяют ток, расход газа и длину дуги, отличающийся тем, что, с целью повышения эффективности работы подогревателя и точности регулирования, регулирование осуществляют циклически, причем в каждом цикле сначала определяют рассогласование по температуре и уменьшают его, изменяя длину дуги, затем определяют рассогласование по давлению и уменьшают его, изменяя расход газа, в течение всего цикла измеряют ток дуги, сравнивают с заданным для измеренных значений давления и температуры, определяют рассогласование и уменьшают его, изменяя параметры источника...
Способ определения электрических параметров секционированного мгд-генератора
Номер патента: 1609407
Опубликовано: 30.05.1994
МПК: H02K 44/08
Метки: мгд-генератора, параметров, секционированного, электрических
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ СЕКЦИОНИРОВАННОГО МГД-ГЕНЕРАТОРА, включающий измерения токов и напряжений в каждой нагрузке системы нагружения генератора, подключенной к соответствующей токосъемной зоне, с определением продольных и поперечных внутренних сопротивлений, а также ЭДС между зонами МГД-генератора, отличающийся тем, что, с целью упрощения способа, в каждой нагрузке изменяют поочередно ток, поддерживая при этом неизменными токи в остальных нагрузках, определяют разности токов в токосъемной зоне между первым и вторым измерениями, а также разности напряжений между токосъемными зонами, в которых изменялся ток, и соседними с ними токосъемными зонами, после чего определяют внутренние продольные и поперечные сопротивления.
Измеритель аэрометрических параметров летательного аппарата
Номер патента: 1559894
Опубликовано: 30.05.1994
Авторы: Кудрявцев, Никольский, Олин, Порунов, Солдаткин
МПК: G01P 5/00
Метки: аппарата, аэрометрических, измеритель, летательного, параметров
ИЗМЕРИТЕЛЬ АЭРОМЕТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ЛЕТАТЕЛЬНОГО АППАРАТА, содержащий приемники дросселированного давления, связанные с источником условно-статического давления через пневматические каналы, в которых установлены струйные анемочувствительные элементы, усилитель, преобразователь напряжения, блок измерения и блок формирования информативных сигналов по скорости и углу скольжения, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, расширения информативности и диапазона измерений в сторону низких скоростей, в него введены источник опорного пневматического сигнала, первый и второй фильтры низкой частоты, дифференциатор, струйные инверторы, трубки полного давления, каждая из которых установлена в проточном канале каждого из приемников...
Датчик электрофизических параметров полупроводниковых материалов
Номер патента: 1212156
Опубликовано: 15.06.1994
Авторы: Ахманаев, Данилов, Медведев, Петров
МПК: G01N 22/00
Метки: датчик, параметров, полупроводниковых, электрофизических
ДАТЧИК ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ МАТЕРИАЛОВ, содержащий цилиндрический СВЧ-резонатор квазистатического типа, на одной из торцевых стенок которого закреплен один конец индуктивного штыря, другой конец которого размещен в соосном с ним отверстии, выполненном в другой торцевой стенке, а также элементы связи цилиндрического резонатора с источником СВЧ-энергии и индикатором и механизм осевого перемещения индуктивного штыря, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и производительности измерений, торцевая стенка, на которой закреплен индуктивный штырь, выполнена в виде концентрически гофрированной металлической диафрагмы, а механизм осевого перемещения индуктивного штыря - в виде катушки индуктивности с соосно...
Устройство для определения угловых зависимостей параметров ионного распыления
Номер патента: 1258301
Опубликовано: 30.06.1994
Авторы: Горелик, Трофимов, Чутко
МПК: H05H 1/00
Метки: зависимостей, ионного, параметров, распыления, угловых
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ УГЛОВЫХ ЗАВИСИМОСТЕЙ ПАРАМЕТРОВ ИОННОГО РАСПЫЛЕНИЯ, содержащее источник потока ионов и мишень, отличающееся тем, что, с целью повышения точности и скорости измерений, мишень выполнена в виде многогранника, одна грань которого расположена перпендикулярно потоку ионов, а другие грани, имеющие по крайней мере одну общую точку с упомянутой гранью, расположены по отношению к ней так, что внешние нормали к ним образуют с внешней нормалью к упомянутой грани углы в диапазоне 0 - 90o.
Измеритель аэрометрических параметров
Номер патента: 1568729
Опубликовано: 30.06.1994
Авторы: Олин, Порунов, Садыков, Солдаткин, Ференец
МПК: G01P 5/00
Метки: аэрометрических, измеритель, параметров
1. ИЗМЕРИТЕЛЬ АЭРОМЕТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ, содержащий приемник давления, закрепленный на штанге, установленной на карданном подвесе и имеющей аэродинамический стабилизатор, пластины которого расположены в вертикальной и горизонтальной плоскостях, блок съема сигналов, выходы по давлению которого соединены с преобразователем пневматических сигналов, выходы которого вместе с выходами по угловому положению приемника давления связаны с блоком формирования информативных сигналов, источник условно-статического давления, отличающийся тем, что, с целью повышения надежности и расширения информативности, в него введен блок управления и коммутации, три струйных преобразователя расхода, электропневмоклапан, струйный инвертор, приемник давления выполнен...
Способ определения параметров дугового разряда
Номер патента: 1635886
Опубликовано: 15.12.1994
Авторы: Варисов, Джанибекова, Нагайбеков, Хорошхин
МПК: H05H 1/00
Метки: дугового, параметров, разряда
...рабочей поверхности одноименно заряженного с ним электрода.Так, при токах разряда 2,0 кА - 6,0 кА сопротивление исследуемого электрода было от 2,1 10 Ом до 71,0 10 Ом, а в цепи одноименно заряженного с ним электрода от 1,0 10 Ом до 3,0 10 Ом. Увеличивая напряжение источника питания до 1400 В, увеличивают ток разряда до 4,5 кА, При этом начинается формирование анодного пятна и на электроде, одноименно заряженным с исследуемым электродом. Подавая сигнал с исследуемого электрода на один из каналов двухлучевого запоминающего осциллографа, регистрируют максимальное значение величины тока в цепи первого из указанных электродов, которая равнац=1,5 кА. Площадь поверхности исследуемого электрода 3=0,5 10 см . Отсюда плотность тока в анодном...
Устройство для определения параметров электрооптических кристаллов
Номер патента: 1832913
Опубликовано: 10.04.1995
Авторы: Дементьев, Калинин, Максимов
МПК: G01N 21/00
Метки: кристаллов, параметров, электрооптических
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ЭЛЕКТРООПТИЧЕСКИХ КРИСТАЛЛОВ, содержащее первый оптический канал, включающий источник света, по ходу лучей которого последовательно расположены первый объектив, поляризатор, держатель исследуемого кристалла, анализатора, второй объектив и фотоприемное устройство, два источника напряжения, отличающееся тем, что, с целью повышения производительности и информативности, между первым объективом и поляризатором введен первый фильтр, между анализатором и вторым объектом второй фильтр, а также введены оптически связанные и образующие второй оптический канал последовательно расположенные фотозатвор, первое отражающее зеркало, третий объектив, третий фильтр, второе отражающее зеркало, полупрозрачное зеркало,...
Способ контроля параметров полупроводниковых диодных структур
Номер патента: 1274558
Опубликовано: 20.04.1995
Авторы: Воробьев, Склизнев, Смирнов, Юрченко
МПК: H01L 21/66
Метки: диодных, параметров, полупроводниковых, структур
СПОСОБ КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ДИОДНЫХ СТРУКТУР, включающий пропускание тока через диодную структуру, измерение спектральной плотности низкочастотного шумового напряжения и отбраковку структур, отличающийся тем, что, с целью увеличения точности контроля уровня частотно-модулированных шумов диодных структур, измерение спектральной плотности низкочастотного шумового напряжения проводят при температуре диодных структур от 243 до 248 К, а отбраковку структур проводят при условии, что спектральная плотность низкочастотного шумового напряжения не превышает значения, вычисленного по формулегде S спектральная плотность низкочастотного шумового напряжения,...
Телевизионная цифровая система для диагностики параметров пучков
Номер патента: 1732781
Опубликовано: 19.06.1995
Авторы: Евтихиев, Новиков, Романов, Серга, Харламов, Ходырев
МПК: G01T 1/29
Метки: диагностики, параметров, пучков, телевизионная, цифровая
ТЕЛЕВИЗИОННАЯ ЦИФРОВАЯ СИСТЕМА ДЛЯ ДИАГНОСТИКИ ПАРАМЕТРОВ ПУЧКОВ, содержащая первичный преобразователь энергии пучка в оптическое излучение, телевизионную камеру, аналого-цифровой преобразователь с буферным оперативно запоминающим устройством, блок выборки видеосигнала, синхрогенератор кадровых и строчных синхроимпульсов, причем первичный преобразователь оптически связан с оптическим входом телекамеры, вход кадровых синхроимпульсов телекамеры связан с выходом кадровых синхроимпульсов синхрогенератора кадровых и строчных синхроимпульсов, вход строчных синхроимпульсов телекамеры связан с выходом строчных синхроимпульсов синхрогенератора кадровых и строчных синхроимпульсов, выход импульсов выборки видеосигнала блока выборки видеосигнала...
Способ определения параметров высокоскоростного пучка
Номер патента: 1181455
Опубликовано: 20.07.1995
Авторы: Быстрова, Геков, Кубарев, Похунков, Черник
МПК: H01J 49/36
Метки: высокоскоростного, параметров, пучка
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ВЫСОКОСКОРОСТНОГО МОЛЕКУЛЯРНОГО ПУЧКА, содержащий операции ионизации и разделения ионного пучка путем развертки спектра масс электрическим напряжением и регистрации пиков ионного тока, по величине и положению которых на оси развертки определяют плотность и массовый состав исследуемого пучка, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и упрощения способа, на пути ионного пучка между камерой ионизации и первой сеткой создают тормозящее электрическое поле, задерживающее фоновые ионы с тепловыми скоростями, а напряжение развертки прикладывают между первой сеткой и селекционирующей системой анализатора, измеряют пик выбранного компонента, затем увеличивают потенциал тормозящего электрического поля до...
Способ получения параметров ферритовых пластин
Номер патента: 1125882
Опубликовано: 25.07.1995
Автор: Шадрин
МПК: B24B 1/00
Метки: параметров, пластин, ферритовых
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ФЕРРИТОВЫХ ПЛАСТИН путем уменьшения размеров пластин после спекания, основанный на зависимости размеров, массы и фазового сдвига, отличающийся тем, что, с целью повышения выхода годных и сокращения объема операционного контроля, определяют порядковые статистики массы каждой пластины, измеряют фазовый сдвиг на выборке пластин, порядковые статистики которых несут максимальную информацию о распределении фазового сдвига в данной партии, обрабатывают их до минимально допустимой высоты, снова измеряют их массу и фазовый сдвиг, после чего разделяют партию на подпартии по массе пластин, границы каждой из которых отличаются на величину допустимого разброса, определяемого по результатам указанного выборочного анализа и...
Способ определения фотоэлектрических параметров примесных некомпенсированных полупроводников
Номер патента: 1545866
Опубликовано: 27.08.1995
Авторы: Петров, Соколов, Степанов, Трофимов
МПК: H01L 21/66
Метки: некомпенсированных, параметров, полупроводников, примесных, фотоэлектрических
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ПРИМЕСНЫХ НЕКОМПЕНСИРОВАННЫХ ПОЛУПРОВОДНИКОВ, заключающийся в освещении образца опорным и сигнальным модулированным по фазе пучками света, формирующими интерференционную картину на образце, регистрации зависимости амплитуды тока I g на частоте модуляции от пространственной частоты К, отличающийся тем, что, с целью одновременного определения средних диффузионных длин фотоиндуцированных электронов и дырок L1D, L2D и отношения
Способ определения диэлектрических параметров материалов
Номер патента: 1817555
Опубликовано: 27.08.1995
Авторы: Астайкин, Бикмухаметов, Помазков
МПК: G01R 27/26
Метки: диэлектрических, параметров
...повышена достоверностьопределения параметров материала,Эта цель достигнута тем, что в способеопределения диэлектрических параметров20 материалов, включающем разделение электромагнитной.волны на две когерентные,одновременную передачу этих волн по двумканалам - .опорному и зондирующему с исследуемым образцом, измерение затухания25 электромагнитной волны в образце и определение диэлектрических параметров материала исследуемого образца расчетнымпутем, электромагнитную волну до разделения модулируют последовательностью ви 30 деоимпульсов с длительностью импульса иг, периодом повторения Т, преобразуют вплоскую волну, измеряют время задержкиЬ 1 видеоимпульсов зондирующего каналаотносительно видеоимпульсов опорного канала, а...
Устройство для измерения параметров ферромагнитного резонанса ферритовых сфер
Номер патента: 1190743
Опубликовано: 27.09.1995
МПК: G01R 33/00
Метки: параметров, резонанса, сфер, ферритовых, ферромагнитного
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ФЕРРОМАГНИТНОГО РЕЗОНАНСА ФЕРРИТОВЫХ СФЕР, содержащее размещенную в корпусе полость с петлей связи и два отрезка линий передачи, соединенных с петлей связи, отличающееся тем, что, с целью увеличения диапазона частот и уменьшения погрешности измерений, петля связи выполнена в виде несимметричной полосковой линии, свернутой в цилиндрическую спираль, при этом полость имеет форму цилиндра, проводящая поверхность которого образует основание несимметричной полосковой линии, а волновое сопротивление несимметричной полосковой линии равно волновым сопротивлением подводящих линий.
Способ определения ядерно-физических параметров сборки, содержащей делящееся вещество
Номер патента: 1766196
Опубликовано: 27.09.1995
Авторы: Данилов, Катаршнов, Кушин, Недопекин, Рогов, Чувило
МПК: G21C 17/10
Метки: вещество, делящееся, параметров, сборки, содержащей, ядерно-физических
1. СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЯДЕРНО-ФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ СБОРКИ, СОДЕРЖАЩЕЙ ДЕЛЯЩЕЕСЯ ВЕЩЕСТВО, включающий импульсное облучение сборки, регистрацию частиц, образующихся в сборке в результате деления, измерение временного распределения регистрируемых частиц относительно импульса первичного излучения, определение ядерно-физических параметров сборки по форме временного распределения, отличающийся тем, что, с целью повышения точности определения параметров сборки в условиях удаленности детектора от сборки путем исключения влияния разброса времен пролета базы частицами и уменьшения отношения фон-эффект, в качестве регистрируемых частиц используют гамма-кванты, которые отделяют от нейтронов деления по времени пролета заданной базы.2. Способ по...
Способ определения параметров неосновных носителей заряда в полупроводниках
Номер патента: 1660532
Опубликовано: 27.10.1995
Автор: Варданян
МПК: H01L 21/66
Метки: заряда, неосновных, носителей, параметров, полупроводниках
...контакта, генерируются неосновные носители заряда, которые создают фототок короткого замыкания,Освещают образец монохроматическим светом длиной волны 1 мкм (при этомз -а= 5,7 10 мкм, и выполняется условие а а 1), Подаю-, напряжение обратного смещения 01= 1 В и измеряют соответствующее значение барьерной емкости С 1 фото- токакороткого замыкания при отсутствии магнитного поля. Воздействуют на образец магнитным полем. Под действием магнитного поля, вектор индукции которого параллелен поверхности образца, ННЗ диффундируют к выпрямляющему контакту под углом Холла относительно нормали к поверхности выпррмляющего контакта, Регистрируют фототок ;ь короткого замыкания при воздействии магнитного поля.Затем повторяют измерения (измеряются...
Способ определения параметров неосновных носителей заряда в полупроводниках
Номер патента: 1634060
Опубликовано: 27.10.1995
Автор: Варданян
МПК: H01L 21/66
Метки: заряда, неосновных, носителей, параметров, полупроводниках
...ь 6 = - и- --ф 1- -- -О Ч (.а,:заесты)л, позволяет, одновременно с извеП р 1 М С,). Оц рад"ЛяЮЭндпацня П:3 д-,",)г)э крелневой цпас;и;ы роводимогьн. р-типа. Дпч измерения поверхностнойфотоЭДС применяют структуру металл-оки сгл-полупроводник с полупрозрачныл металлическим слоем. Образец помещают в зазор между полюсами электромагнита и освещают мо;охроматическим светом Иэ 1 еняя длину вол, свс)д А в диапазоне от ) 8 до 1 05 мкм, измеряют интенсивность световоо )огока С, гдддерживдя пос-оян- НЬМ ЗНДЧЕНИ 6 ЦОЯЕРХ)ОСТЕЙ фОТОЛДС.Опред)гяюг значь я коэффициента гоглоце ия света цо формула5 сг =0,521367 ,14425 1О 585368 х1 ,( + 03358 и строя г эда: симость 0 =- г(гх ).1 з получечной эд)исимости огределякц д)лффузион.ю дл.у Н 1 3= 87,. Мкм к:.к...
Устройство для измерения параметров морского волнения
Номер патента: 1240169
Опубликовано: 27.11.1995
Авторы: Гарнакерьян, Лобач, Тимонов
МПК: G01C 13/00
Метки: волнения, морского, параметров
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ МОРСКОГО ВОЛНЕНИЯ, содержащее передатчик, последовательно соединенные антенну, антенный переключатель и приемник, детектор огибающей отраженного сигнала, один из выходов которого через первый фильтр нижних частот и блок автоматической регулировки усиления соединен с управляющим входом приемника, а второй с выходом центрирующего блока, цепь из последовательно соединенных компаратора нулевого уровня, преобразователя период-напряжение, второго фильтра нижних частот, первого умножителя и первого индикатора, цепь последовательно соединенных первого квадратора, третьего фильтра нижних частот и функционального преобразователя, цепь из последовательно соединенных второго умножителя, четвертого фильтра нижних...
Адаптивное цифровое устройство для контроля параметров ударного импульса
Номер патента: 1354947
Опубликовано: 10.12.1995
Авторы: Абрамов, Капля, Слезкин
МПК: G01R 13/00
Метки: адаптивное, импульса, параметров, ударного, цифровое
АДАПТИВНОЕ ЦИФРОВОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ УДАРНОГО ИМПУЛЬСА, содержащее интегратор, соединенный через делитель напряжения с первыми входами двух нуль-органов, вторые входы которых соединены с источником опорного напряжения, радиопередатчик, радиоприемник, выход которого подключен к цифровому регистратору, отличающееся тем, что, с целью повышения надежности получения информации при расширении функциональных возможностей контроля, в него введены шина управления, блок обнуления, анализатор длительности входного сигнала, анализатор амплитуды входного сигнала, блок элементов И-НЕ, блок управления, преобразователь время-цифра, преобразователь цифра-время, коммутатор, при этом вход интегратора и N входов анализатора амплитуды...
Способ определения рекомбинационных параметров полупроводниковых материалов
Номер патента: 1356901
Опубликовано: 20.12.1995
Авторы: Амальская, Гамарц, Ганичев, Стафеев
МПК: G01R 31/26, H01L 21/66
Метки: параметров, полупроводниковых, рекомбинационных
1. СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ РЕКОМБИНАЦИОННЫХ ПАРАМЕТРОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ МАТЕРИАЛОВ, включающий облучение образца модулированным по интенсивности возбуждающим излучением с длиной волны из области межзонного поглощения исследуемого материала, облучение возбужденной области полупроводника зондирующим излучением с длиной волны из области поглощения свободными носителями заряда, измерение относительного изменения интенсивности прошедшего через образец зондирующего излучения и определение эффективного времени жизни * расчетным путем, отличающийся тем, что, с целью обеспечения возможности раздельного определения объемного времени жизни to и скорости поверхностной...
Устройство для измерения электромагнитных параметров материалов
Номер патента: 1602190
Опубликовано: 20.01.1996
МПК: G01N 27/72
Метки: параметров, электромагнитных
1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ ПАРАМЕТРОВ МАТЕРИАЛОВ, содержащее генератор, измерительный блок, трансформатор, измерительную и компенсационную катушки, первые выводы которых объединены, отличающееся тем, что, с целью повышения чувствительности, генератор выполнен в виде автогенератора, первичная обмотка трансформатора выполнена в виде двух последовательно соединенных секций, при этом выводы времязадающей цепи автогенератора соединены соответственно с первыми выводами измерительной и компенсационной катушек и общим выводом секций первичной обмотки трансформатора, свободные выводы которых связаны соответственно с вторыми выводами измерительной и компенсационной катушек, а выводы вторичной обмотки трансформатора - с входами...