Патенты с меткой «некомпенсированных»
Способ определения фотоэлектрических параметров примесных некомпенсированных полупроводников
Номер патента: 1545866
Опубликовано: 27.08.1995
Авторы: Петров, Соколов, Степанов, Трофимов
МПК: H01L 21/66
Метки: некомпенсированных, параметров, полупроводников, примесных, фотоэлектрических
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ПРИМЕСНЫХ НЕКОМПЕНСИРОВАННЫХ ПОЛУПРОВОДНИКОВ, заключающийся в освещении образца опорным и сигнальным модулированным по фазе пучками света, формирующими интерференционную картину на образце, регистрации зависимости амплитуды тока I g на частоте модуляции от пространственной частоты К, отличающийся тем, что, с целью одновременного определения средних диффузионных длин фотоиндуцированных электронов и дырок L1D, L2D и отношения