Патенты с меткой «параметров»

Номер патента: 1575920

Опубликовано: 20.07.1999

Авторы: Киселев, Лишин, Сорокина

МПК: H05H 1/00

Метки: магнитоактивной, параметров, плазмы

Способ измерения параметров магнитоактивной плазмы, включающий воздействие на плазму электромагнитной волны частота f, измерение напряженности электрического поля в плазме и определение плазменной частоты электронов fo, отличающийся тем, что, с целью расширения диапазона измерений за счет обеспечения измерения гирочастоты электронов fн в плазменных цилиндрических объемах, поперечные размеры которых много меньше длины волны воздействующей электромагнитной волны, электромагнитную волну направляют таким образом, чтобы вектор ее электрического поля был перпендикулярен оси плазменного цилиндра, измеряют...

Номер патента: 1409004

Опубликовано: 20.07.1999

Авторы: Бусыгин, Григорьев

МПК: G01R 31/26

Метки: мдптранзисторах, параметров, поверхностных, состояний

Устройство для изменения параметров поверхностных состояний в МДП-транзисторах, содержащее клеммы для подключения затвора, стока, истока и подложки испытуемого прибора, криостат с датчиком температуры, импульсный генератор, источник напряжения и блок регистрации и обработки данных, один из входов которого подключен к выходу датчика температуры, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, оно снабжено вторым источником постоянного напряжения, преобразователем ток - напряжение и операционным усилителем, причем выход операционного усилителя подключен к первому входу блока регистрации и обработки данных и к клемме для подключения затвора испытуемого транзистора, первый источник...

Номер патента: 1334879

Опубликовано: 27.08.1999

Авторы: Болотов, Ловягин, Морозов, Терехин

МПК: G01B 7/00

Метки: возмущениях, движения, параметров, поверхности, ударных

Устройство для контроля параметров движения поверхности при ударных возмущениях, содержащее разрушаемый резистивный датчик, выполненный в виде высокоомного протяженного проволочного элемента и установленного коаксиально с ним трубчатого токосъемника, и подключенный к нему измерительно-регистрирующий блок с многозначной характеристикой преобразования, имеющей линейные и нелинейные участки, отличающееся тем, что, с целью повышения точности, высокоомный проволочный элемент выполнен из нескольких протяженных частей и установленных между их торцами высокоомных вкладышей, части проволочного элемента и вкладыши расположены вдоль одной линии и соединены между собой последовательно, длина частей...

Номер патента: 1614712

Опубликовано: 10.11.1999

Авторы: Бобылев, Марчишин, Овсюк, Орлов, Усик

МПК: G01R 31/26, H01L 21/66

Метки: мдп-структур, параметров

Устройство для измерения параметров МДП-структур, содержащее генератор, блок управления, первый выход которого соединен с первым входом блока смещения, второй вход которого соединен с первым выходом формирователя временных интервалов и первым входом формирователя строб-импульсов, второй вход которого соединен с выходом первого нуль-компаратора, вход которого подключен к выходу первого синхронного детектора, первый вход которого подключен к выходу первого селективного усилителя, вход которого соединен с первой клеммой для подключения полупроводника, входами усилителя тока и с выходом блока переключаемых конденсатов, вход которого соединен с вторым входом первого синхронного детектора и...

Номер патента: 753313

Опубликовано: 10.11.1999

Авторы: Коваленко, Марончук

МПК: H01L 21/66

Метки: варизонных, параметров, структур

1. Способ определения параметров варизонных структур, основанный на измерении зависимости интенсивности фотолюминесценции от энергии квантов в полосе, соответствующей краю фундаментального поглощения, отличающийся тем, что, с целью обеспечения экспрессности контроля параметров по площади варизонных структур с шириной запрещенной зоны, возрастающей от поверхности к указанной подложке, измеряют зависимость интенсивности фотолюминесценции в полосе, соответствующей краю фундаментального поглощения подложки и дифференциальных изменений интенсивности фотолюминесценции при модуляции длины волны возбуждающего излучения, от энергии возбуждающих квантов.2. Способ по п.1, отличающийся тем, что,...

Номер патента: 1565261

Опубликовано: 10.12.1999

Авторы: Гусев, Михайлов

МПК: G05B 13/02

Метки: адаптивная, идентификации, объекта, параметров

Адаптивная система идентификации параметров объекта, содержащая блок задания начальных условий и блок моделирования возмущенных переменных состояния объекта, последовательно соединенные блок управления, модель объекта, модель блока датчиков состояния объекта, первый блок сравнения, блок вычисления критерия, пороговый блок, коммутатор, управляющий таймер и блок реализации алгоритма идентификации, выход которого является выходом системы и соединен со вторым информационным входом коммутатора, третий и четвертый информационные входы которого подключены соответственно к первому и второму выходам блока задания начальных условий, второй выход коммутатора соединен со вторым информационным входом...

Номер патента: 1329435

Опубликовано: 10.12.1999

Автор: Михайлов

МПК: G05B 13/02

Метки: идентификации, объекта, параметров

Система идентификации параметров объекта, содержащая блок реализации алгоритма идентификации, блок задания начальных условий, последовательно соединенные блок управления, модель объекта, модель блока датчиков состояния объекта, последовательно соединенные корректор, блок сравнения, блок вычисления критерия, пороговый блок и коммутатор, второй и третий входы которого соединены соответственно с первым и вторым выходами блока задания начальных условий, первый выход блока реализации алгоритмов идентификации через коммутатор соединен с вторым входом модели объекта, а первый, второй и третий входы соответственно - с выходом блока управления, выходом модели объекта и выходом блока сравнения, вход...

Номер патента: 1499637

Опубликовано: 27.12.1999

Авторы: Антоненко, Ждан, Сульженко, Сумарока

МПК: H01L 21/66

Метки: границе, мдп-структур, параметров, пограничных, полупроводник-диэлектрик, состояний

Способ определения параметров пограничных состояний на границе полупроводник - диэлектрик МДП-структур, включающий последовательную подачу на исследуемую структуру, находящуюся при температуре Tо, напряжения, обеспечивающего предельное заполнение пограничных состояний полупроводника основными носителями заряда, и обедняющего напряжения, нагрев структуры по окончании релаксации тока с постоянной скоростью при поддержании постоянства высокочастотной емкости структуры и снятие температурной зависимости вытекающего неравновесного тока jн(Т), отличающийся тем, что, с целью повышения точности определения...

Номер патента: 1627011

Опубликовано: 27.12.1999

Авторы: Бочкарев, Колпин

МПК: H01L 21/68, H05K 13/02

Метки: бескорпусных, микросборок, параметров, преимущественно, тара-спутник, транспортирования, установках, электрических

Тара-спутник для бескорпусных микросборок преимущественно в установках для транспортирования и контроля электрических параметров, содержащая диэлектрическое основание с гнездом для микросборки и контактными элементами, фиксирующими рамку, сменный вкладыш и крышку, отличающаяся тем, что, с целью расширения эксплуатационных возможностей, она снабжена нагревателем и датчиком температуры, в гнезде для микросборки выполнено окно, на противоположной поверхности основания напротив гнезда выполнен паз, ширина которого равна или больше ширины гнезда, а ширина окна меньше ширины гнезда, сменный вкладыш установлен в пазу основания и его поверхность расположена в одной плоскости с поверхностью донной...

Номер патента: 1572347

Опубликовано: 27.12.1999

Авторы: Абросимов, Горохова, Колпин

МПК: H01L 21/68, H05K 13/02

Метки: бескорпусных, микросборок, параметров, преимущественно, тара-спутник, транспортирования, установках, электрических

1. Тара-спутник преимущественно для бескорпусных микросборок в установках для транспортирования и контроля электрических параметров, содержащая диэлектрическое основание с гнездом для микросборки и контактными элементами и крышку, отличающаяся тем, что, с целью улучшения эксплуатационных возможностей, она снабжена съемной фиксирующей рамкой, закрепленной на основании, а крышка соединена с рамкой с возможностью поворота в плоскости рамки.2. Тара-спутник по п.1, отличающаяся тем, что крышка соединена с рамкой посредством оси, перпендикулярной поверхности рамки.

Номер патента: 1321257

Опубликовано: 10.01.2000

Авторы: Капустин, Крындушкин, Чуканов

МПК: G01V 1/16

Метки: грунта, движения, мягкого, параметров

1. Способ измерения параметров движения мягкого грунта в ближней зоне взрыва, включающий размещение устройства измерения кинематических параметров в месте регистрации параметров движения грунта, его ориентацию, подключение к усилительно-регистрирующей аппаратуре и проведение измерений, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, исключают проскальзывание грунта относительно корпуса устройства измерения кинематических параметров с помощью базового опорного элемента, причем эффективную площадь базового опорного элемента рассчитывают по соотношениюm = lS,где m - масса устройства измерения...

Номер патента: 1725649

Опубликовано: 10.01.2000

Авторы: Бобровник, Воронин, Ковальчук, Терешкин

МПК: G01T 1/29

Метки: заряженных, параметров, применения, пучка, частиц

1. Устройство для определения параметров пучка заряженных частиц, состоящее из двух зондов, размещенных внутри мишенного блока нейтронного генератора в непосредственной близости от мишени, содержащей активный слой в виде насыщенного тритием плоского кольца, и соединенных с входом электронного осциллографа, отличающееся тем, что, с целью повышения точности определения диаметра пучка и центра его тяжести, один зонд расположен горизонтально по диаметру мишени, а другой - по хорде под углом к первому зонду, причем толщина первого зонда на участке от точки вывода с него сигнала до центра мишени не менее чем в два раза больше...

Номер патента: 1521063

Опубликовано: 10.01.2000

Авторы: Петухов, Хвостов

МПК: G01R 33/035

Метки: магнитного, параметров, поля

Способ измерения параметров магнитного поля, включающий одновременное измерение приращений компонент вектора магнитной индукции и компонент тензора градиента магнитной индукции при помощи сверхпроводниковых магнитометра и градиентометра, установленных на подвижном основании, отличающийся тем, что, с целью расширения функциональных возможностей путем измерения полных значений компонент и модуля вектора магнитной индукции, полных значений компонент тензора градиента магнитной индукции, дополнительно измеряют приращения пяти компонент тензора градиента магнитной индукции и приращения трех компонент вектора магнитной индукции при различных положениях подвижного основания относительно вектора...

Номер патента: 1259713

Опубликовано: 20.01.2000

Авторы: Буртолик, Вильчицкий, Забурдяев, Носков, Рафалович, Рудаков, Сергеев

МПК: E21F 5/00, E21F 7/00

Метки: воздействия, гидроимпульсного, исследования, массив, параметров, стенд

1. Стенд для исследования параметров гидроимпульсного воздействия на массив через скважину, включающий генератор импульсов, приспособление для имитации скважин в виде трубы с заглушкой, переходник для сообщения трубы с генератором импульсов и датчики давления жидкости, отличающийся тем, что, с целью обеспечения возможности изучения распределения давления и расхода жидкости в скважине в процессе трещинообразования в массиве при гидроимпульсном воздействии, он снабжен приспособлениями для имитации процесса трещинообразования, состоящими из заключенного в корпус подпружиненного клапана и втулки с калиброванным отверстием, при этом имитирующая скважину труба выполнена с рассредоточенными по ее...

Номер патента: 1501780

Опубликовано: 27.01.2000

Авторы: Гришуткин, Жуков, Николаенко, Новиков, Пуцков

МПК: G06F 11/25

Метки: параметров

1. Устройство для контроля параметров, содержащее с первого по десятый элементы И, первый и второй счетчики импульсов, первый и второй триггеры, генератор импульсов, элемент И-НЕ, с первого по третий элементы ИЛИ, группу элементов И, первый и второй элементы НЕ, первый блок сравнения, выход генератора импульсов соединен с первым входом четвертого элемента И, второй вход которого подключен к выходу второго триггера, а выход - к счетному входу второго счетчика импульсов, выходы которого соединены с первыми входами группы элементов И, выход второго элемента ИЛИ соединен с входом сброса второго триггера, выходы пятого и шестого элементов И подключены соответственно к первому и второму входам...

Номер патента: 1281011

Опубликовано: 27.01.2000

Авторы: Вайсбурд, Семин, Серобян

МПК: G01T 1/10

Метки: излучения, импульса, ионизирующего, параметров

Способ измерения параметров импульса ионизирующего излучения, включающий преобразование его рабочим веществом в световое излучение и его регистрацию, отличающийся тем, что, с целью увеличения временного разрешения измерений и интервала амплитуд измеряемых импульсов, в качестве рабочего вещества используют диэлектрик, нагревают его выше температуры тушения всех температурозависимых свечений, например, примесной и экситонной люминесценции, и регистрируют импульс внутризонной высокоэнергетической люминесценции диэлектрика под действием ионизирующего излучения, измеряют зависимость амплитуды импульса внутризонной высокоэнергетической люминесценции от амплитуды импульса ионизирующего излучения,...

Номер патента: 1480606

Опубликовано: 27.01.2000

Авторы: Бобр, Гришуткин, Каплан, Новиков

МПК: G06F 11/25

Метки: параметров

1. Устройство для контроля параметров, содержащее блок управления, клавиатуру, первый блок измерителей, источник питания, первый генератор стимулирующих сигналов, блок печати, блок обработки прерываний, блок допускового контроля сопротивления, блок счетчиков импульсов, первый блок памяти, блок непрерывного контроля состояния цепей объекта контроля, блок контроля отсутствия потенциала на корпусе и на шинах узлов объекта контроля, блок обмена, кроссирующий блок, блок ввода информации с перфоленты, первые информационные входы-выходы блока управления соединены с информационными входами-выходами клавиатуры, блока печати, блока ввода информации с перфоленты, блока обмена, блока контроля...

Номер патента: 1267899

Опубликовано: 27.02.2000

Автор: Кусов

МПК: G01N 33/22

Метки: взрыва, действия, исследования, моделирования, параметров, помощью, среде

Способ исследования параметров действия взрыва в среде с помощью моделирования, заключающийся в применении скоростной съемки для изучения динамического нагруженного состояния моделей, изготовленных из прозрачных материалов, включающий нанесение меток на модели, их фиксацию и расчет параметров взрывной нагрузки по данным смещения меток, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности моделирования действия взрыва в среде, метки размещают внутри объема модели.

Номер патента: 1378608

Опубликовано: 10.04.2000

Авторы: Ватолин, Рубан, Черняков

МПК: G01V 1/00

Метки: волнах, нарушений, параметров, пластов, проходящих, разрывных, угольных

Способ определения параметров разрывных нарушений угольных пластов на проходящих волнах, включающий установку, состоящую из системы наблюдений источников колебаний в одной и профилей сейсмоприемников в другой горной выработке, оконтуривающих участок наблюдений, возбуждение и прием колебаний, выбор используемого типа каналовой волны, прием волн выбранного типа приемниками ориентации Х или Y соответственно, определение преобладающей длины волны, определение сейсмических лучей, прошедших через нарушение и граничных сейсмических лучей, отличающийся тем, что, с целью повышения точности определения длины линии скрещения и амплитуды перемещения крыльев разрывного нарушения, после определения...

Номер патента: 513563

Опубликовано: 10.04.2000

Авторы: Кукарин, Николаев

МПК: G01T 3/00

Метки: излучения, нейтронного, параметров

Способ измерения параметров нейтронного излучения, основанный на замедлении нейтронов с последующей их регистрацией детекторами тепловых нейтронов, отличающийся тем, что, с целью одновременного измерения потока, дозы и спектра прямого пучка нейтронов с помощью цилиндрического замедлителя и серии детекторов тепловых нейтронов, расположенных на различной глубине вдоль его оси, измеряют распределение замедлившихся нейтронов по глубине замедления при одностороннем облучении замедлителя вначале моноэнергетическими нейтронами различных энергий в диапазоне от тепловых до 14 - 18 Мэв, а затем нейтронным пучком, параметры которого подлежат определению, и далее по совокупности полученных...

Номер патента: 1400309

Опубликовано: 10.04.2000

Авторы: Вартанов, Рубан, Черняков

МПК: G01V 1/00

Метки: выявления, массиве, местоположения, нарушений, неоконтуренном, параметров, разрывных, угольном

Способ выявления и определения местоположения и параметров разрывных нарушений в неоконтуренном угольном массиве, включающий установку в различных горных выработках источников колебаний и приемников волн Лява и Рэлея, регистрацию их кинематических и динамических параметров, определение положения отражающих площадок, соответствующих линии скрещения нарушения с волнами Лява, отличающийся тем, что, с целью повышения точности определения местоположения и параметров разрывного нарушения, после определения положения отражающих площадок перемещают источники колебаний и приемники волн Рэлея последовательно или параллельно с шагом, не превышающим преобладающей длины волны, в область прослеживания...

Номер патента: 1817931

Опубликовано: 10.05.2000

Автор: Гатилов

МПК: G01N 33/22

Метки: возбуждения, детонации, параметров

Устройство для измерения параметров возбуждения детонации, содержащее измерительный контур в виде верхней и нижней токопроводящих пластин, разделенных диэлектрической прокладкой, выполненной из поляризующегося под действием ударной волны материала, причем нижняя пластина подключена к источнику электрического заряда, и расположенную с внешней стороны нижней пластины третью токопроводящую пластину, к которой примыкает генератор ударной волны, отличающееся тем, что, с целью расширения функциональных возможностей, в частности определения времени задержки и глубины возбуждения детонации, устройство дополнительно снабжено диэлектрическими прокладками для установки на них плоского образца...

Номер патента: 1223723

Опубликовано: 10.05.2000

Авторы: Исаков, Клочков

МПК: G01M 19/00

Метки: взрыва, действием, оболочки, параметров, разлета, цилиндрической

Способ определения параметров разлета цилиндрической оболочки под действием взрыва, включающий проведение серий опытов с инициированием детонации на торце заряда взрывчатого вещества, помещенного внутрь испытуемой оболочки, непрерывную во времени фоторегистрацию процесса разлета через единичную щель и вычисление параметров разлета оболочки, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений за счет уменьшения влияния приборных ошибок на результаты испытания, в каждом опыте устанавливают плоскопараллельную прозрачную пластину под углом к оси симметрии оболочки и ортогонально плоскости, проходящей через эту ось и щель фоторегистратора, и через нее производят фоторегистрацию процесса...

Номер патента: 1577627

Опубликовано: 20.05.2000

Авторы: Бобылев, Овсюк, Севастьянов, Усик

МПК: H01L 21/66

Метки: глубоких, параметров, полупроводниках, уровней

1. Способ определения параметров глубоких уровней в полупроводниках, заключающийся в том, что к образцу прикладывают постоянное напряжение смещения различной величины, формирующее область обеднения, пропускают через образец высокочастотный ток с заданной амплитудой, прикладывают к образцу низкочастотное напряжение с частотой , вызывающее амплитудную модуляцию глубины области обеднения, регистрируют высокочастотное напряжение на образце, по которому определяют глубину области обеднения, выделяют огибающую этого сигнала, определяют ее квадратурную составляющую посредством синхронного детектирования на частоте

Номер патента: 1748579

Опубликовано: 20.05.2000

Авторы: Герасименко, Мажирин

МПК: H01L 21/66

Метки: параметров, подложек, профиля, распределения

Способ определения профиля распределения параметров материала подложек, включающий изготовление химического среза подложки путем вертикального погружения ее в травитель с последующим постепенным ее подъемом из травителя и измерение значений параметра материала подложки вдоль поверхности химического среза, отличающийся тем, что, с целью повышения точности определения профиля параметров, перед изготовлением химического среза подложки теоретически или по результатам предварительных измерений рассчитывают в виде кусочно-линейной функции приближением П(х) для искомого распределения параметра по глубине х подложки, травитель выбирают обеспечивающим скорость Т травления материала подложки...

Номер патента: 1304532

Опубликовано: 10.06.2000

Авторы: Воробьев, Мамошин, Пермяков, Русаков, Слабкий

МПК: G01B 9/02

Метки: движения, интерферометрическое, объекта, параметров

1. Интерферометрическое устройство для измерения параметров движения объекта, содержащее точечный источник света, оптически сопряженный посредством формирователя когерентных точек с регистратором, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерения и расширения диапазона измеряемых параметров, в него введены поляроид, оптически сопряженный с формирователем когерентных точек, светоделитель, размещенный между поляроидом и формирователем когерентных точек и оптически сопряженный с ними и посредством коллимирующей линзы с точечным источником света, коммутатор, первый и второй входы которого соединены соответственно с первым и вторым генератором управляющих сигналов, блок обработки...

Номер патента: 1489389

Опубликовано: 10.06.2000

Авторы: Горохов, Панов, Садиков

МПК: G01R 31/26

Метки: параметров, полупроводниковых, приборов, силовых

1. Устройство для контроля параметров силовых полупроводниковых приборов, содержащее трансформатор, первый вывод вторичной обмотки которого соединен с первой клеммой для подключения испытуемого прибора, вторая клемма для подключения испытуемого прибора через последовательно соединенные шунт и ограничительный резистор подключена к второму выводу вторичной обмотки трансформатора, первый вывод вторичной обмотки трансформатора подключен к аноду формирующего тиристора, катод которого подключен к одному из выводов ограничительного резистора, к общей шине, и к одному из выводов первого резистора, второй вывод которого подключен к первому выводу второго резистора, второй вывод которого подключен к...

Номер патента: 1074221

Опубликовано: 27.06.2000

Авторы: Затолока, Чиркашенко, Юдинцев

МПК: G01M 9/00

Метки: параметров, потока, сверхзвукового

Способ определения параметров сверхзвукового потока, включающий помещение в поток генератора ударной волны и гребенки зондов для измерения давления, относительное перемещение генератора и гребенки зондов, измерение давлений торможения и параметров невозмущенного потока и расчет параметров по известным зависимостям, отличающийся тем, что, с целью расширения экспериментальных возможностей при измерениях в трехмерных потоках за счет определения углов наклона ударной волны, а также повышения точности, дополнительно измеряют координаты каждого из зондов при пересечении им ударной волны.

Номер патента: 888721

Опубликовано: 10.07.2000

Автор: Кирин

МПК: G05B 19/02, G05B 23/02

Метки: параметров

Устройство для контроля и регулирования параметров по авт. св. N 746436, отличающееся тем, что, с целью повышения быстродействия устройства, в него введены блок отключения каналов, четвертый элемент И, первый вход которого подключен к второму выходу синхронизатора, второй вход - к выходу блока отключения каналов, а выход - к третьему входу первого элемента ИЛИ.

Номер патента: 1500094

Опубликовано: 20.07.2000

Авторы: Кирюхин, Минин

МПК: G01R 23/16

Метки: измеритель, параметров, радиосигналов, спектральных

1. Измеритель спектральных параметров радиосигналов, содержащий N дисперсионных анализаторов спектра, входы которых подключены к входам устройства, N компараторов напряжения, первый вход каждого из которых подключен к амплитудному выходу соответствующего дисперсионного анализатора, последовательно соединенные блок выбора максимального напряжения и делитель напряжения, причем входы блока выбора максимального напряжения подключены к пиковым выходам соответствующих дисперсионных анализаторов, последовательно соединенные измеритель временных интервалов и регистрирующий блок, а также синхронизатор, соответствующие выходы которого подключены к управляющим входам дисперсионных анализаторов,...