Интерферометр сдвига
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1474453
Авторы: Кузнецов, Петровский, Спорник, Яничкин
Текст
)4 С О 1 В 9/02 ПИСАНИЕ ИЭОБРЕТЕНИАВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ я носи- Ж ГОСУДАРСТ 8 ЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР(57) Изобретение относится к измерительной технике и предназначено дляизучения статических и динамическихфазовых объектов интерферометрическими методами. Цель иэобретенияувеличение производительности путемполучения нескольких интерферограммс различным направлением и ширинойполос за одну экспозицию. Объект 7исследования помещается в параллельный пучок света, сформированный коллиматором 2 от источника 1. Объектив3 направляет пучок на светоделитель.ный элемент 4, выполненный в виде ипар дифракционных решеток с различным периодом решеток в паре и угломпересечения решеток в каждой паре.Диафрагма 5 отфильтровывает первыепорядки дифракции от решеток, которые формируют в плоскости регистрации 6 и интерференционных картин,расположенных по окружности оттельно оси прибора. 2 ил.1474453 Изобретение относится к измерительной. технике и предназначено дляизучения статических и динамическихфазовых объектов интерферометрическими методами.Цель изобретения - увеличениепроизводительности путем получениянескольких интерферограмм с различным направлениеми;шириной полос заодну экспозицию,На фиг.1 изображена схема формирования интерференционного поля парой дифракцианных решеток с периодами д, и й и углом пересечения штрихов решетки; на фиг.2 - оптическая схема интерферометра сдвига,Интерферометр сдвига содержит,(Фиг.2) последовательно установленные осветительную систему, включающую источник 1 излучения и коллиматор 2, и приемную систему, содержащую объектив 3, светоделительныйэлемент 4, выполненный в виде и пардифракционных решеток, имеющих разный период в паре и установленныхтак, что штрихи решеток в каждой паре пересекаются под разными углами,диафрагму 5, имеющую и радиальныхщелей, и плоскости б регистрации, 30Интерферометр работает следующимобразом,Коллиматор 2 формирует от источника 1 параллельный пучок, в которыйпомещается объект 7. Объектив 3 направляет пучок на светоделительныйэлемент 4, размещенный перед Фокальной плоскостью объектива 3. На каждойиз решеток, записанных нелинейно дляповышения дифракционной эффективности, возникает большое число дифракционных максимумов различных порядков, Диафрагма 5 отфильтровываетпервые порядки дифракции от решеток 1где 3 - длина волны света;1 - величина суммарного сдвига 15 в фокальной плоскости объектива 3;Ь - расстояние от фокуса объек-тива 3 до плоскости регистрации.Суммарный сдвиг 1 выражается через поворотный сдвиг 1,(фиг,1). 25 и через сдвиг за счет разных периодов 1 (фиг.2): гдеР 0 Р гд РОР е, Ъив Обознаполучаютриода пол я п дующе(/2) о б ения м содержащииленные освелиНаклон полос на интерферограммаопределяется по формуле Интерферометр сдвиоследовательно устан которые Формируют в плоскости Ь регистрации п интерференционных картин, расположенных по окружности относительно оси прибора.Период интерференционных полос Л сдвиговой интерферограммы определяется формулой тительную систему, включающую источник излучения и коллиматор, и приемную систему, содержащую объектив исветоделительный элемент, о тРедак 1881/37Государственног113035 Тираж 683 омитета по иэоб осква, Ж, Ра одписное Зака ВНИИ тениям и открытиям при ГКНТ Сская наб., д. 4/5 роизводственно- издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина, 1 ч а ю щ и й с я тем, что, с цельюувеличения производительности путемполучения нескольких интерферограммс различным направлением и ширинойполос в результате одной экспозиции,интерферометр снабжен диафрагмой си радиальными щелями, установленной в фокальной плоскости объектива, асветоделительный элемент выполнен ввиде п пар дифракционных решеток, 5 ,имеющих разный период в паре и установленных так, что штрихи решетокв каждой паре пересекаются под раз"ными углами.
СмотретьЗаявка
4283989, 08.06.1987
ГРОДНЕНСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ
КУЗНЕЦОВ ГЕОРГИЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ, ПЕТРОВСКИЙ ЕВГЕНИЙ ЛЕОНИДОВИЧ, СПОРНИК НИКОЛАЙ МАКСИМОВИЧ, ЯНИЧКИН ВАЛЕНТИН ВИКТОРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, сдвига
Опубликовано: 23.04.1989
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1474453-interferometr-sdviga.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Интерферометр сдвига</a>
Предыдущий патент: Способ контроля поверхности электропроводящих изделий и устройство для его осуществления
Следующий патент: Способ створных измерений перемещения объектов
Случайный патент: Способ получения биомассы