Интерферометр для контроля качества поверхностей вращения
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
, 1499108 51)4 С 01 В 9/02 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН онтроли- остигает тов. 1 ил. Изобретен тельной техн контроля кач ения, преи о рмула и б ре т ения Интерферометрповерхностей ля контроля кач ращения, содержащий стацовлеццые источ.кого излучения,о еледоватслы к моцохроматиче ОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР А ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТ(54) ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯКАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТЕЙ ВРАГЕНИЯ(57) Изобретение относится к иэмертельной технике и предназначено длконтроля качества поверхностей вращения преимущественно вогнутыхасферических, Целью изобретенияявляется упрощение конструкции и р е относится к цзмерике и предназначено дляства поверхностей вращественно вогнутых асферических.Цель изобретения - упрощение конструкции и расширение диапазона апертур контролируемых поверхностей,На чертеже приведена оптическаясхема интерферометра.Ицтерферометр содержит источник1 монохроматического излучения, составленную иэ линз 2 и 3 телескопическую систему, объектив 4, контролируемую поверхность 5 и блок 6 регистрации,Интерферометр работает следующимобразом,Лучи света, выходящие из источника 1, попадают в телескопическуюсистему из лицэ 2 и 3, котораяуменьшает расходимость пучка и расширение диапазона апертур круемых поверхностей. Это дся за счет реализации принципа разделения волнового Фронта на рабочийи эталонный по полю, Для этогообъектив расположен так, что перекрывает часть пучка излучения, формируемого телескопической системой,При этом задний фокус объектива совпадает с задним фокусом зеркальнойсистемы, образованной исследуемойповерхностью вращения и последнейпо ходу лучей поверхностью объектива,являющейся средством совмещения рабочего и эталонного волновых фронширяет его диаметр, Центральная часть пучка направляется в объектив 4, который формирует эталонный волновой фронт. Периферийная часть этого же пучка направляется на контролируемую поверхность 5, Лучй света, отразившись от поверхности 5, а затем от задней поверхности объектива 4, формируют рабочий волновой фронт,О качестве контролируемой поверхности 5 судят по результатам измерений интерференционной картины, которая возникает в результате взаимодействия рабочего и эталонного волновых фронтов в блоке 6 регистрации.1499 08 авитель Г.Самохваловед Л.Сердюкова Корректор Н,Борисов едактор А,Козориз Т Заказ 4677/36 Тираж 683 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5 и ГКНТ СССР Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул, Гагарина,10 3телескопическую систему, объектив, средство совмещения рабочего и эталонного волновых фронтов, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью упрощения конструкции и расширения диапазона апертур контролируемых поверхностей, объектив расположен так, что перекрывает центральную часть пучка излучения и его задний фокус совмещен с задним фокусом зеркальной системы, образованной исследуемой поверхностью вращения и последней по ходу лучей певерхностью объектива, являющейся средством совмещения рабочего и эталонного волновых фронтов.
СмотретьЗаявка
3972002, 05.11.1985
МВТУ ИМ. Н. Э. БАУМАНА
ПУРЯЕВ ДАНИИЛ ТРОФИМОВИЧ, КУЛАКОВА НАДЕЖДА НИКОЛАЕВНА
МПК / Метки
МПК: G01B 9/02
Метки: вращения, интерферометр, качества, поверхностей
Опубликовано: 07.08.1989
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1499108-interferometr-dlya-kontrolya-kachestva-poverkhnostejj-vrashheniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Интерферометр для контроля качества поверхностей вращения</a>
Предыдущий патент: Трансформаторный преобразователь
Следующий патент: Устройство для записи интерферограмм
Случайный патент: Литниковая чаша-прибыль