Автоматический сигнализатор дефектов к ультразвуковому дефектоскопу

Номер патента: 1174848

Авторы: Бронников, Леванов, Самохина

ZIP архив

Текст

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИН 9) Я 17484 4 601 И 29(0 О И ОБ Т Е ЛЬСТ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ ССС ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫ К АВТОРСКОМУ СВИ(71) Челябинский ордена Ленина трубопрокатный завод(54) (57) АВТОМАТИЧЕСКИЙ СИГНАЛИЗАТОР ДЕФЕКТОВ К УЛЬТРАЗВУКОВОМУ ДЕФЕКТОСКОПУ, содержащий последовательно соединенные амплитудно- временной селектор, предназначенный для подключения к выходу ультразвукового дефектоскопа, бистабильный триггер, генератор тактовых импульсов заполнения,первый счетчик импульсов, логический элемент И, разрешающим входом подключенный к второму выходу бистабильного триггера, и исполнительное устройство, а также дифференцирующее звено, предназначенное для подключения к выходу формирователя стробимпульса зоны автоматического контроля ультразвукового дефектоскопа, а выходом - к второму входу бистабильного триггера, отличающийся тем, что, с целью повышения помехоустойчивости и расширения диапазона измерения, он снабжен последовательно соединенными триггером, вторым выходом подключенным к второму входу первого счетчика импульсов и вторым счетчиком импульсов, вторым входом подключенным к выходу генератора Я тактовых импульсов заполнения, а выходом - к второму входу логического элемента И.1174848 Составитель Л. Иванов Техред И. Верес Корректор Л, Пилипенко Тираж 89 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5 Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4Редактор Е. Лушникова Заказ 5 79/46 Изобретение относится к исследованиям материалов и изделий с помощью ультразвуковых колебаний и может быть использовано, например, при разработке и создании систем ультразвукового контроля качества металлопроката с высокой помехозащищенностью,Целью изобретения - повышение помехоустойчивости и расширение диапазона измерений.На чертеже приведена блок-схема автоматического сигнализатора дефектов к ультразвуковому дефектоскопу.Автоматический сигнализатор дефектов к ультразвуковому дефектоскопу содержит последовательно соединенные амплитудно- временной селектор 1, предназначенный для подключения к выходу ультразвукового дефектоскопа, бистабильный триггер 2, генератор 3 тактовых импульсов заполнения, первый счетчик 4 импульсов, логический элемент И 5, разрешающим входом подключенный к второму выходу бистабильного триггера 2 и исполнительное устройство 6, дифференцирующее звено 7, предназначенное для подключения к выходу формирователя стробимпульса зоны автоматического контроля ультразвукового дефектоскопа, а выходом к второму входу бистабильного триггера 2, последовательно соединенные триггер 8, вторым выходом подключенный к второму входу первого счетчика 4 импульсов и вторым счетчиком 9 импульсов, вторым входом подключенным к выходу генератора 3 тактовых импульсов заполнения, а выходом - к второму входу логического элемента И 5.Устройство управляется общим синхронизатором дефектоскопа и работает следующим образом.Триггер 8 с началом каждого нового цикла контроля поочередно очищает и открывает для записи один из счетчиков 4 или 9. После прихода на вход бистабильного триггера 2 импульса с дифференцирую щего звена 7 он, переключаясь передним фронтом импульса, запускает генератор 3 тактовых импульсов, с выхода которого импульсы заполнения поступают на счетчики 4 и 9 и записываются в том из них, который подготовлен к этому триггером 8. Работа тактового генератора 3 и счет импульсов заполнения продолжается до появления 5 10 15 20 25 30 35 40 45 на втором входе бистабильного триггера 2 импульса, выделенного амплитудно- временным селектором 1 дефектоскопа в процессе цикла контроля, либо до конца цикла. После этого бистабильный триггер 2, переключаясь, прекращает работу тактового генератора 3. Одновременно с второго выхода бистабильного триггера 2 на разрешающий вход логического элемента И 5 поступает положительный импульс. При этом логический элемент И 5 производит сравнение количества импульсов заполнения, записанных одним из счетчиков в данном цикле контроля и другим из них - в предыдущем цикле. При условии, что выделенный амплитудно-временным селектором 1 импульс является сигналом дефекта, временное положение его в двух соседних циклах контроля совпадает, при этом количество импульсов заполнения, зарегистрированных счетчиками 4 и 9 в этих циклах, также совпадает. В этом случае логический элемент И 5 выделяет на своем выходе сигнал на срабатывание исполнительного устройства 6, фиксирующего обнаружение дефекта при контроле При временном несоответствии импульсов с амплитудно-временного селектора 1 сигнал на выходе логического элемента И 5 отсутствует из-за различия информации в счетчиках 4 и 9. При отсутствии импульсов с амплитудно-временного селектора 1 в двух последовательных тактах сигнал на выходе логического элемента И также отсутствует, так как в момент сравнения один из счетчиков 4 или 9 очищен от информации и подготовлен к записи триггером 8.Автоматический сигнализатор дефектов имеет высокую помехозащищенность, так как точность регистрации временного положения импульсов, выделяемых в двух последовательных циклах контроля амплитудно-временным селектором 1, обеспечиваемая частотой импульсов заполнения с тактового генератора 3, может быть сколь угодно высокой в необходимых для реальных условий контроля пределах,Устройство обладает также высокой универсальностью, так как его перенастройка сводится лишь к изменению временного положения переднего фронта импульса с дифференцирующего звена

Смотреть

Заявка

3683971, 30.12.1983

ЧЕЛЯБИНСКИЙ ОРДЕНА ЛЕНИНА ТРУБОПРОКАТНЫЙ ЗАВОД

БРОННИКОВ ВИКТОР КУЗЬМИЧ, ЛЕВАНОВ ВЯЧЕСЛАВ ИВАНОВИЧ, САМОХИНА ГАЛИНА ИВАНОВНА

МПК / Метки

МПК: G01N 29/04

Метки: автоматический, дефектов, дефектоскопу, сигнализатор, ультразвуковому

Опубликовано: 23.08.1985

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1174848-avtomaticheskijj-signalizator-defektov-k-ultrazvukovomu-defektoskopu.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Автоматический сигнализатор дефектов к ультразвуковому дефектоскопу</a>

Похожие патенты