G01N 21/60 — G01N 21/60

Номер патента: 515976

Опубликовано: 30.05.1976

Авторы: Каблов, Кирюхин, Огрель

МПК: G01N 21/60

Метки: выявления, надмолекулярной, резины, структуры

...другом растворителе йода.П р и м е р 1. Выявление структуры вулканизаторов на основе буталпенового каучука (СКД) .Для выявления структуры готовят раствор йода в бензоле с концентрацией 0,25%, На поверхность образца из вулканизованного каучука наносят каплю раствора йода и проводят обработку в течение 1 - 5 мин. до полного высыхания капли. Наибольшая интенсивность окрашивания достигается по границам раздела неупорядоченных и упорядоченных обла515976 Режим обработки Результат Способ выявленияВыявление структуры Размеры,Концентра- оь Вещество Время,Эластомер мин мкм 20 - 40 Структура Бензол Известшяй СКЛ 0,25 10 - 20 Структура выявляется Раствор йода в бензолеСКД 0,25 То же 10 - 20 30 - 50 30 - 50 0,25 То же НКф НК 0,25 Структура...

Номер патента: 543856

Опубликовано: 25.01.1977

Авторы: Дашковский, Максимкин, Маскалец, Скоров, Хижный

МПК: G01N 21/60

Метки: монокристаллов, ориентации

...следующим образом,Приготовляют образец с двумя взаимноперпендикулярными полированными гранями,На поверхности образца вблизи ребра, образованного пересечением взаимно перпендикуляр ных поверхностей инициируют двойник одним)из известных методов,Затем измеряют углы с( и с( (фиг.1)образованные ребром АВ со следами плоскости скольжения на полированных гранях 25образца, и записывают уравнение плоскости К в системе координат м у 2. Далееизмеряют высоту ступенек и и Ь, образованных двойниковой прослойкой на шлифованных поверхностях образца, например, З 0с помощью интерферометрического микроскопа и определяют направляющие косинус:,углов проекции ц направления сдвига 74на плоскость ЕуВ системе координат (уЕ записываютуравнение прямой, являющейся...

Номер патента: 574666

Опубликовано: 30.09.1977

Авторы: Барский, Виноградова, Иоффе, Папаян

МПК: G01N 21/60

Метки: микрофлуориметр

...другая - между опак-иллюминатором и фотоприемником.На фцг. 1 представлена принципиальная оптическая схема предлагаемого микрофлуориметра; на фиг, 2 - вид по стрелке А на фцг. 1.Лцкрофлуорцмстр содержит осветитель систо ником 1 света и коллектором 2; возбуждающие светофильтры 3, установленные на диске 4; цнтерференционную светоделительную пластинку опак-пллюмцнатора 5; объектив б микроскопа; объект 7; тубусные линзы 8 микроскопа; зеркало 9 микроскопа; фото3метрическую диафрагму 10; систему 11 визуального наблюдения в микроскопе; запирающие светофильтры 12, установленные на диске 4; фотоумножитель 13; систему освещения в микроскопе в проходящем свете, состоящую из лампы 14 накаливания, коллектора 15, светофильтра 1 б, зеркала 17 и...

Номер патента: 681357

Опубликовано: 25.08.1979

Авторы: Бабад-Захряпин, Махинько

МПК: G01N 21/60

Метки: декорирования, дефектов, поверхностных

...коллоидный раствор, вязкость которогозначительно больше вязкости воды, то водородне удаляется из зоны реакции, а вязнет в слоеколлоидного раствора. В местах, где взаимо.действие воды с иттрием проходит наиболее интенсивно, там плотность пузырьков водородабольше.В результате в слое коллоидного растворавозникает неравномерная плотность распределе.ния пузырьков водорода, которая отражает интенсивность взаимодействия воды с поверхностью изделия. Картина распределения пузырьков может быть зарегистрирована,Учитывая, что на поверхности рассматривае.мых металлов может присутствовать окиснаяпленка, предлагаемый способ позволяет установить степень окисления различных участков поверхности, а также выявить локальные наруше.фния поверхностного...