Хулап

Номер патента: 1264116

Опубликовано: 15.10.1986

Авторы: Битков, Выборов, Филиппов, Хулап

МПК: G01R 31/28

Метки: аппаратуры, прогнозирования, работоспособности, радиоэлектронной

...операций с заданной частотой.Перепрограммируемый запоминающий блок 23 служит для хранения кодов команд, реализуемых блоком 1 О управления,Регистр 24 команд предназначен для хранения кода команды в течение времени ее выполнения, а дешифратор 25 команд - для выдачи управляющих сигналов на соответствующие блоки устройства, обеспечивающие выполнение заданного алгоритма.Коды всех команд хранятся в блоке 23, Выбор требуемой команды определяется ее адресом, который образуется числом, содержащимся в счетчике 20 команды. Каждая следующая команда содержится в ячейке памяти блока 23, адрес которой на единицу больше адреса хранения предьдущей команды. Адрес следующей команды образуется прибавлением единицы к содержимому счетчика 20 команды и...

Номер патента: 1071397

Опубликовано: 07.02.1984

Авторы: Изюмец, Остафьев, Хулап, Шевченко

МПК: B23Q 15/00

Метки: адаптивного, процессом, резания

...подключенный через усилитель 7 к преобразователю 8. Выход первого задающего устройства 9 соединен с первым входом первого устройства 10 сравнения, к второму входу которого подключен преобразователь 8. Устройство 10 сравнения через блок 11 управления режимами резания соединено с исполнительным механизмом 12. Датчик 5 10 15 20 25 13 ЭДС и задающее устройство 14 соединены со вторым устройством 15 сравнения,где . - расстояние между режущими инструментом и баревой линзой, мм;5 - минутная подача, мм/мин,ИК-излучение с только что обработанной поверхности фокусируется баревой линзой 4 в плоскости расположения блока 6 фотоприемников. Установленный перед блоком 6 фотоприемников модулятор 5 осуществляет модуляцию ИК-излучения. В блоке 6...

Номер патента: 699410

Опубликовано: 25.11.1979

Авторы: Карпельсон, Кеткович, Попов, Строков, Хулап

МПК: G01N 25/72

Метки: дефектов, многослойных, обнаружения, объектах

...расположенным на заданной глубине.На Фиг.1 схематически изображенпроцесс контроля трехслойного объек .та; на Фиг.2 и 3 представлены выходные сигналы с двух радиометров вдольлинии сканированияНа фиг.1 цифрами обозначено: 1контролируемый объект, 2 - источник5тепловой энергии, 3 и 4 - радиометры, 5-7 - слои объекта, 8 и 9 - деФекты, 10 - направление движенияизделия относительно источника и 10радиометров,установлено, что расстояние задержкимежду радиометром и источником, обеспечивающим наилучшую выявляемость отслоений, зависит от глуби-,5ны залегания этих отслоений и можетбыть при известной глубине предварительно определено,Радиометр 3 располагается от источника 2 на расстоянииЬ,(,обеспечивающем наилучшую выявляемость отслоений на...

Номер патента: 602842

Опубликовано: 15.04.1978

Авторы: Колодочкин, Попов, Соловьев, Хулап

МПК: G01N 25/72

Метки: дефектоскопии, тепловой

...изменения коэффццц ига цзлучеция повепхцости, исключая изменение толщины изделия.Па фиг. 1 изображен процесс выявления дефекта в изделии, имеющем области случайцого цзмецения толщины; на фиг.2-4- графики, поясняющие предлагаемый способ,1 а фиг. 1 приняты следующие обозначения: 1 - контролируемое изделие; 2 - ис- щ точник тепловой энергии; 3 - тепловой рри.емцик, 4 - датчик толщины изделия, 5 - область дефекта, например, с повышенной топлопроводностью материала 6, 7 - области с изменением толщины изделия,8 - на б правление перемещения изделия.На фиг. 2 и 3 представлены выходные сигналы соответственно теплового приемника и датчика толщины вдоль линии сканирования; на фиг, 4 представлен результи- р рующий сигнал теплового приемника и...

Номер патента: 565239

Опубликовано: 15.07.1977

Авторы: Карпельсон, Кеткович, Красюк, Попов, Строков, Хулап

МПК: G01N 25/72

Метки: дефектов, локальных, обнаружения

...2причину возникновения температурного перепада и отличить область отслоения от области изменения толщины изделия.Для повышения точности и эффективности 5 определения типа дефектов по предлагаемому способу после начального нагрева изделия и регистрации температурного распределения повторно нагревают изделие с противоположной,стороны и регистрируют, распределение 10 температуры нагретой поверхности, а затемпо результатам сравнения двух полученных температурных рельефоэ судят о наличии нли дефекта типа нарушения сплошности, или локального изменения толщины изделия.15 В качестве примера реализации на фиг. 1и 2 показаны схемы реализации предлагаемого способа и температурные поля, полученные последовательно при нагреве изделия 1 с...