Устройство обнаружения дефектов листового стекла

фООэ ная О П И Х-НЖ-Е ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических Республик(51)М. Кл. с присоединением заявки М С 01 Ы 21/32 С 01 В 19/60 Государственный комитет СССР по дедам изобретений и открытий(71) ЗаЯВИтЕЛЬ Владимирский политехнический институтИзобретение относится к оптикоэлектронному контролю и может использоваться, например, для выявленияпротяженных оптических дефектов впрозрачном материале, в частности в 5листовом стекле,Известно устройство для контролянепараллельности граней стекла, содержащее источник света, оптическуюсистему, измерительный и эталонный 10фотоприемники, блок коррекции, электронный блок и регистратор 1).Недостатком устройства являетсязависимость его показаний от оптических дефектов, отличных от измеряемого 15Наиболее близким техническим Решением к данному изобретению являетсяустройство, содержащее последовательно установленные источник света, светоделитель, оптическую систему, измерительный фотоприемник и анализатордефектов, и эталонный фотоприемник 2,Недостатком известного устройстваявляется низкая избирательность поотношению к мелкоразмерным дефектам, 25отличным от протяженных (например,волнистости) по физическим признакам,но аналогичным по оптическим, что ведет к ошибкам анализатора, классифицирующего дефект по виду -и размеру. 3 О Целью изобретения является повышение точности классификации дефектапо виду и размеру.Поставленная цель достигается тем,что устройство снабжено последовательно соединенными датчиком положения листа стекла, блоком управления,электронным ключом, выходом связаннымс вторым входом анализатора деФектов,вторым входом - с эталонным фотоприемником, а источник света выполнен ввиде двух импульсных источников, подключенных к двум другим выходам блока управления,На чертеже представлена блок-схемаустройстваУстройство содержит датчик 1 положения листа стекла, блок 2 управления, импульсный источник 3 света,светоделитель 4, эталонный фотоприемник 5, электронный ключ б, анализатор 7,дефектов,оптическую систему 8,измерительнйй фотоприемник 9, импульсный источник 10 света.Устройство работает следующим образом.Лист стекла движущийся по конвейе 1ру, замыкает контакты датчика 1,который подключен к блоку 2 управлейия, С блока 2 управления управляющиеЙмпульсы с частотой следования, пропорциональной скорости движения стекла, и длительностью, пропорциональной заданным границам волнистости, поступают на импульсный источник 3 света. Световые импульсы от импульсного источника 3 света с соответствующей оптической системой, входящей в него, направляются на светоделитель 4 который расщепляет их под углом 90 на эталонные и измерительные, Эталонные световые импульсы воспринимаются эталонным фотоприемником 5 и преобразуются им в электрические импульсы, пропорциональные световому потоку, усиливаются и через электронный ключ 6, подключенный к блоку 2 управления, поступают на анализатор 7 дефектов. Измерительные световые имгульсы поступают через оптическую систему 8 на поверхность с,екпа ив случае присутствия на 20 нем дефекта, диффузно отражаются от него, воспринимаются снова оптической системой 8 и направляются на измерительный Фотоприемник 9,траженные световые импульсы пре образуются в пропорциональные электричеСкис импульсы и вводятся в анализатор 7 дефектов, Световые импульсы от второго импульсного источника 10 света, управляемого блоком 12, 30 излучаю гся в интервале световых импульсов от импульсного истОчника 3света. Частота следования световыхимпульсов в несколько раз больше,а длительность в несколько раз 35 меньше чем соответствующие параметры световых импульсов от источника 3 света, их выбор зависит от величины малоразмерных дефектов, которые необходимо отличить от волнистости, Эти световые импульсы, преобразованные в электрические сигналы, аналогично импульсам источника 3 света, поступают в анализатор 7 дефектов .В анализаторе,7 дефектов вырабатывается сигнал о браке в том случае,если разность амплитуд измерительного,и эталонного низкочастотных импчльсовпревышает порог настройки. Для отличия длиннопротяженных дефектов отлокальных служат сигналы, пропорциднальные высокочастотным световым импульсам, вырабатываемым источником10 света, В случае, если в периодмежду импульсами брака в анализаторе 7 появляется установленноечисло импульсов, вырабатываемых припревышении порога настройки амплитудами измерительного и эталонного высокочастотных импульсов, это означает, что в зоне контроля находитсялокальный дефект., который не подлежитрегистрации. При этом сигнал о бракеиз айализатора 7 дефектов не выводится.По количеству импульсов брака устанавливается ширина волнистости, апо общему количеству импульсов Отдатчика 1 положения стекла устанавливается ее текущая координата.Формула изобретенияУстройство обнаружения дефектовлистового стекла, содержащее последовательно установленные источник света,светоделитель, оптическую систему,измерительный фотоприемник и анализатор дефектов, и эталонный фотоприемник, о т л и ч а ю щ е е с я тем,что, с целью повышения точности классификации дефекта по виду и размеру,оно снабжено последовательно соединенными датчиком положения листа стекла, блоком управления, электроннымключом, выходом связанным с вторым,входом анализатора дефектов, вторымвходом - с эталонным фотоприемником,а источник света выполнен в виде двухимпульсных источников, подключенныхк двум другим выходам блока управления,Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1, Авторское свидетельство СССРу 431126,кл,2 6 01 И 21/3 2, 1 972,2, Авторское свидетельство СССРр 236024,кл,2 С 01 В 11/30, 1969