G01N 21/40 — G01N 21/40

Номер патента: 461338

Опубликовано: 25.02.1975

Авторы: Брагин, Волынщиков, Соловьев, Туревский

МПК: G01N 21/40

Метки: анализатор, магнитооптический

...2из анализатора 22 и фотоприемника 23, преобразует поворот плоскости поляризации светового потока в изменения фототока, который усиливается селективным 24 и фазочувстви тельным 25 усилителями, Реверсивный двигатель 26, соединенный с фазочувствительным усилителем, воздействует на измерительную схему 27, выходное напряжение которой подается на компенсационную ячейку.10 Анализатор работает следующим образом.Излучение источника 1, пройдя поляризатор 2, преобразуется в линейно поляризованное и поступает на измерительную 3, компенсационную 4 и эталонную 5 магнитооптиче ские ячейки. В измерительной 3 и эталонной5 магнитооптических ячейках происходит поворот плоскости поляризации в разные стороны. В случае неравенства постоянных Верде веществ,...

Номер патента: 469077

Опубликовано: 30.04.1975

Авторы: Лотменцев, Лукьянова, Малахов

МПК: G01N 21/40

Метки: набухания, полимеров, степени

...расши фровку полученных данных.Автоматическая установка может быть использована и для изучения закономерностей набухания изотропных полимеров, не обладающих двойным лучепреломлением. В этом 25 случае прибор работает в режиме нефелометра, измеряя изменение оптической плотности дисперсии полимера в пластификаторе.Использование данного способа позволяетизучить взаимодействие полимеров с пласти фикаторами при постоянной заданнои температуре с целью определения скорости процесса набухания и его завершенности; взаимодействие полимеров с пластификаторами при нагревании дисперсии полимера с определенной скоростью с целью определения температуры гелеобразования; влияние состава, свойств пластификатора и полимера и режимов их совмещения...

Номер патента: 478232

Опубликовано: 25.07.1975

Авторы: Брагин, Волынщиков, Соловьев, Халаман

МПК: G01N 21/40

Метки: анализатор, магнитооптический

...помещенные в аксиальные магнитные поля соленоидов 6, 7 и 8 и частично заключенные в ферромагнитные экраны 9- 14, которые ограничивают магнитные поля вне соленоидов.Рабочая 3 и сравнительная 5 кюветы имеют штуцеры 15-18, предназначенные для подвода и отвода анализируемой и сравнительной жидкостей, причем внутри кювет 3 и 5 свободно размещены эталонные ве-. щества 19 и 20 (например, стеклянные стержни), способные перемешаться в аксиальном направлении.Приемное устройство а178232 оставительЛ,БабинТех ед Л.Камышникова РР Л. БрахнинаКорректор лактор Т.Фадее д. И Д Поди ис аказ, Щ Тираж 9 а Совета Ми открытий кая наб., 4 тров осква, Г, Бережковская наб., 2 Предприятие Пате емника 22 и измерительной схемы 23,сигнал с которЬй регулирует...

Номер патента: 482660

Опубликовано: 30.08.1975

Авторы: Вейн, Глыбин, Кеймах

МПК: G01N 21/40

Метки: поляриметр, фотоэлектрический

...с кулачком.При больших же пределах измерения, а в приборах общепромышленного назначения пределы измерения составляют 30 - 40, применение кулачкового механизма позволяет лишь существенно снизить требования к точности изготовления шкал, но изменять цену деления шкалы изменяя длину рычага, как в предыдущем случае, недопустимо, так как подъем кулачка существенно нелинейно связан с углом его поворота.Цель изобретения - повышение точности измерения угла вращения плоскости поляризации оптически активным веществом при использовании в нем спектрального источника излучения и обеспечение возможности использования в качестве источника излучения лампы накаливания.Для достижения поставленной цели в кинематическую цепь, связывающую анализатор с...

Номер патента: 550563

Опубликовано: 15.03.1977

Авторы: Куренев, Ларченко, Рухлядева, Тарчевский, Филиппов

МПК: G01N 21/40

Метки: осахаривающей, способности, ферментов

...вращения плоскости поляризации в неферментированном растворе и разность вращения в ферментированном и неферментированном растворах 3. 3 Для реализации известного способа необходимо использование двух приборов, что существенно усложняет автоматизацию процесса определения осахаривающей способности ферментов, а в некоторых случаях (в условиях опытных установок) делает автоматизациюю экономически не эффективной,С целью получения возможности автоматизации определения по предлагаемому способу измеряют сумму и разность углов поворота плоскости поляризации ферментпрованным и неферментированным растворами.Оптическая активность ферментирова нного (р) и неферментированного (сра) р а- створов находится из решения системы линейных уравнений550563...

Номер патента: 551546

Опубликовано: 25.03.1977

Авторы: Галанов, Костюк, Лейкин

МПК: G01N 21/40

Метки: градуировки, дихрографов, круговых

...пластинувозможностью поворота, и угломерное устройство состоящее из подвижной и неподвижной частей, подвижная часть угломерного устройства связана с поляризатором, а неподвижная ориентирована относительно биссектрисы угла между осями пластины Я/4.На чертеже изображен дихрограф, на который установлено устройство для его градуировки.10Дихрограф содержит источник излучения 1, монохроматор 2, объектив 3, линейный поляризатор 4, диафрагму 5, переключатель 6 формы круговой поляризации, пластинуЛ/1 7, линейный поляризатор 8, фотоприемник 9, 15 электронную схему 10 и угломерное устройство 11, Пластина 7, линейный поляризатор 8 и угломерное устройство 11 составляют устройство для градуировки кругового дихрографа, 20Излучение от источника...

Номер патента: 437462

Опубликовано: 25.06.1977

Авторы: Анисимов, Кудрявцева, Опенкин, Шумилова

МПК: G01N 21/40

Метки: адсорбционных, границы, исследований, ней, протекании, процессов, раздела, фаз, электрохимических, эллипсометрических, ячейка

...1 изображена оптическая 5 разрез в горизонтальной плоскости;2 - оптическая ячейка для олноврэллипсометрических и электрохимичеследований, общий вид.В корпус оптической ячейки, изготовлено ный из тефлона, запрессованы тефлоновыевкладыши, внутренняя поверхность которых представляет собой сферу. Во вкладыш вставлен тефлоновый держатель оптических окошек 1, наружная поверхность которого 15 сфера того же радиуса, что и сферическая поверхность вкладыша.Сферические поверхности держателя ивкладыша притерты друг к другу, что обеспечивает герметичность. Держатель закрепляет.20 ся во вкладышах с помощью кольца 2 из пержавеющей стали и четырех винтов 3. Конструкция головки винтов позволяет устанавливать кольцо с любым наклоном, что требуется при...

Номер патента: 569992

Опубликовано: 25.08.1977

Авторы: Лашкарев, Сизов

МПК: G01N 21/40

Метки: величины, вращения, излучения, плоскости, поляризации, угла, электромагнитного

...к умеиьаеив чуасгвитвль- ииост уст ройс гвае,Ивль изобретения - иовыаеиие чувствительности и надежности ус гройс тваеЭто досъягаваа твм, что модулятор 5имеет два окна, сдвинутые относительнодруг друга, а ноярзатор состоит яз двухчастей, направления ноярзаии которых находятся иод углом, ив равным, О, по дтиоаеив друг к другу и составляют одиимовыеруглы с направлением волризаи аазатора, а в качестве системы мфокроматоровисамваова один миваровеатор.Иа фг. 1 изображена принципиальная оптическая схема предлагаемого устройства, Ниа фг. 2 окоаки модулятора, сдвинутыеетноентеюиз друг другаУстрвйстав сосгот из источника заученЕ 1; модулятора 2 с окоакам Э и 4,сдвинутыми относительно друг друга Эв(яме фиге 2 )монохрома Гора 5...

Номер патента: 587375

Опубликовано: 05.01.1978

Авторы: Войтович, Сильванович, Шкадаревич

МПК: G01N 21/40

Метки: коэффициента, линий, спектральных, спосб, сред, усиления, ширины

...усиления (поглошеез исследуемую среду дольное магнитное поледом 3, и затем реги 4, позволяющим измерить углы поворота плоскости поляризации,При наложении на. исследуемую среду продольного магнитного поля происходит поворот плоскости поляризации зондирующего излучения вследствие эффекта Фарадея, причемзависимость угла фарадеевского поворота отвеличины напряженности продольного магнитного полн имеет максимум при определенномзначении напряженности магнитного поля,Величина коэффициента усиления (погло 1 цения) исследуемой среды определеннымобразом связана с величиной максимальногоугла сАмдкЬфарадеевского поворота плоскости поляризации, а ширина спектральнойлинии определенным образом связана с величиной напряженности магнитного поля,...

Номер патента: 553869

Опубликовано: 05.01.1978

Авторы: Рокос, Рокосова

МПК: G01N 21/40

Метки: активности, оптической

...11, узкополосный усилитель 12, схему 13 обратной связи и регистрирующее устройство 14.Устройство работает следующим обра зом. Луч лазера проходит через модулятор 2, в качестве которого применен электрооптический кристалл, ось кото п рого повернута на 45 относительно направления колебаний электрического вектора линейно-поляризованного луча лазера, и становится эллиптнчески поляризованньаи с модулированной эллип тичностью. Верхняя полупрозрачная плоскость светоделительной призмы 5 делит луч на два луча одинаковой интенсивностиО и Ог,которые с помощью глухих зеркал 3 и 4 направляются сквозь исследуемый объем 15 навстречу друг другУ.Фазовые пластинки Л/47 н 8 преобразуют эллиптически поляризованные лучи с модулированной...

Номер патента: 595664

Опубликовано: 28.02.1978

Автор: Лебедев

МПК: G01N 21/40

Метки: двулучепреломления, идентификации, измерении, наибольшей, оси, параметров, скорости

...хода.Совцддсццс результатов измерений (при сквозном просв(чцвашгц и с цомотцью рдссеяццого света) озцачаст, что цзмсрсцная прц сквозном цросьсчцваниц дробная разность595664 Сог)1)витсль в. Ьаев Тсхрсд И, йихалова Коррскторьц О, Данишева и Т. Добровольская Редактор Н, Коляда Заказ 180/8 Изд, .6 30 1 нос)к 1122 НПО Государе)всиого когиип га Совета М)и);стров СССР ио делам )зоб)рс)с)нш и открьтий 13035, Моск)к), 5 К.35, Ра)и)ска иао., д. 4,5Подписное Тииогрл(1)ия, ир. Сан) нова, 2 хода яВляется истиннОЙ, т. е. Идентифпкацп 51 оси наибольшей скорости при компенсации была произведена правил.цо. Несовпадспс результатов Напри)ер, дробная разность хода при сквозном просвечивании меньше половицы порядка, а дробная разность фаз, измеренная с...

Номер патента: 608085

Опубликовано: 25.05.1978

Авторы: Аксенов, Глыбин, Кеймах

МПК: G01N 21/40

Метки: автоматический, поляриметр

...преобразователя,Автоматический поляриметр работает следую. щим образом.Световой поток от спектрзльного источника1 излучения конденсатором 2 направляется параллельным пучком через интерференциониый свето.фильтр 3 на поляризатор модулятор 4. Полярим.ванный и модулироващгый по азимуту поляриза.ции относительно его среднего положения свето. вой поток проходит далее через блок 5 и поступает на анализатор 6. После анализатора световой лоток ВыхОдит промодулированным по интенсиВ 5 ности. Переменная составляющая интенсивностимодулированного светового потока содержит в общем случае слагающие изменяющиеся как счастотой модуляции, так и с удвоенной частотой, При а = 90 частота перемещгой составляющей ЗО светового потока равна удвоенной частоте...

Номер патента: 636516

Опубликовано: 05.12.1978

Авторы: Соломко, Сукач, Черненко, Шпоть

МПК: G01N 21/40

Метки: бумажного, веса, квадратного, метра, параметров, полотна, технологических, частности

...цепь достигается тев устройстве для контроля технолких параметоов бумажного .полотнлизатор выполнен в виде системыционных решеток с металлическимхами, установленных по обе сторомвжного полотна, причем у смеждифракционных решеток металличесштрихи взаимно перпендикулярны,шеток, расположенных одна под дрпараллельны,На черте636516 частично деполяризуется, При этом внемпоявляются две составляющие, плоскостьполяризации одной иэ них параллельнаплоскости поляризации падающего луча,а плоскость поляризации другой перпен- удикупярна ей.При падении такого луча на нижнююдифрркционную решетку 3 составляющаяколебания электрического вектора в которой перпендикулярны металлическим 36штрихам решетки, беспрепятственно пройдет сквозь нее (и может быть...

Номер патента: 642635

Опубликовано: 15.01.1979

Авторы: Миркин, Татарский, Толкачев

МПК: G01N 21/40

Метки: исследования, структуры, тел, шлифах

...зависящих от наличия в шлифе неконтрастных элементов струк- Ь туры, изменяют разность хода световых потоков, регистрируют изотропные зоны по цвету прошедшего через указанные зоны, света. 30Способ реализуется следующим образом.Исследуемый шлиф пористого тела помещают на вращающийся предметный столик (типа Федоровского), который также)5 может менять угол наклона относительно оси поляризационного микроскопа (типа Полами) . Столик расположен между двумя четвертьволновыми пластинками, размещенными межцу анализатором и поляризатором, Пластинки20 ориентированы под углом в 90 относительно друг друга .и под углом в 45 О по отношению к поляризатору и анализатору. Просвечивают шлиф лучемп 8 поляризованного по кругу света, такой свет...

Номер патента: 661310

Опубликовано: 05.05.1979

Авторы: Гречушников, Чудаков

МПК: G01N 21/40

Метки: дефектов, кристаллах, малоконтрастных, наблюдения, фотоэлектрический

...луча наблюдается приРЕусловии Яс 6= - При этомпаЕ РОЯамана2 пеиоУгол 1 обычно незначителен, ввиду то- ГочтО Ре - и с 1пОэтОму мОжнО считать, чтогЧОкс(3)2 пепРаздваивание лучей на выходе из пластинки на обыкновенный и необыкновенный обуславливает раздваивание действительного иэображенияобъекта. Одно иэображение, формируемое обыкновенными лучами,-проецируется в то место, где оно было бы при условии, если бы пластинка 3 была изотропной, например стеклянной, Другое изображение, построенное необыкновенными лучами, сместится на величину 3 или 1 Мо в направлении наклона оптической оси двупреломляющей пластинки, Смещение необыкновенного иэображения на величину 1 достигается при установке пластинки Между объективом и полевой...

Номер патента: 672549

Опубликовано: 05.07.1979

Авторы: Вологин, Калдыбаев, Перекалина

МПК: G01N 21/40

Метки: величины, дихроизма, кристаллах, циркулярного

...оси,В этом выражении в отличие от выражения, полученного для аналогичнойсистемы, в которой вместо кристаллапомещено иэотропное вещество (например, раствор), имеется два члена,один из которыхъЬь соъ 2-2 К ьл 215(сЬд"-соьдЦ соьд(М -хаюактериэует изменение линейных эффектов, а другой2 ЬМд+ Киль) апой),где г(КМд "+ К "Мм)-2 аЫ"/Лсвязанй с четными гармониками модуляции, а циркулярность - с нечетными, Для того чтобы отделитьциркулярные эффекты от линейных, вращают образец вокруг оси светового луча. ВНИИРИ Заказ 3881 44филиал Прр Патент ,формула изобретения 45 50 55 60 Ти аж 10 89 По пи свое г. Ужгород, ул. Проектная, от право- до левоцир кул ярной, Такое изменение поляризации является практически синусоидальным, т,е, падающий на образец...

Номер патента: 682800

Опубликовано: 30.08.1979

Авторы: Дричко, Лейкин

МПК: G01N 21/40

Метки: одностронний, поляриметр

...показано на фиг. 2 двойной стрелкой). В каждом ком 5 оД о 2.) 3 О .Э И) 1) бо 55 бО 65 поненте плоскопараллельная пластина и клинья изготавливаются из энантиоморфных модификаций кристалла, поэтому результирующий угол поворота плоскости поляризации определяется разностью толщины пластины и клиньев (эффективная толщина компонента). Оба подвижных клина связаны с общим механизмом перемещения 15,Поляриметр работает следующим образом,Свет от источника 1 проходит через поляризатор 2, плоскость пропускания которого перпендикулярна плоскости падения и плоскости пропускания анализатора 6. Отразившись от полупрозрачного зеркала 3, свет проходит вращатель 4 и затем оптически чувствительное покрытие 8. После отражения от задней поверхности покрытия,...

Номер патента: 693176

Опубликовано: 25.10.1979

Авторы: Ванюрихин, Герчановская

МПК: G01N 21/40

Метки: пластины, фазовой, эллипсометрического

...поворота анализатора до ф гашения света, по их полусумме можно получить точное значение разности Фаз (толщина), вносимой фаэовой пластиной.693176 Формула изобретения Составитель В. Иванюк а Техред Ч.фанта КорректорРедактор С ницкая Заказ 6064 Тираж 1073 ПодписноеИПИ Государственного комитета СССпо делам изобретений и открытийМосква, Ж, Раушская наб., д./5 3 илиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектн Па чертеже показана схема одного из вариантов эллипсометра - эллипсометра с четвертьволновым компенсатором Сенармона.Эллипсометр содержит источник излучения 1, поляризатор 2, исследуемую фазовую пластину 3, четвертьволновый компенсатор Сенармона 4, модулятор 5, анализатор 6, фоторегистрирующую систему 7.П р и м е р. На пути светового луча...

Номер патента: 652802

Опубликовано: 05.12.1979

Автор: Мартынов

МПК: G01N 21/40

Метки: кювета, поляризованного, пучка, светового, смещения

...а вершины 5 идентичных двухгранных углов 5 и 6 направлены в противоположные стороны при осйовании кюветы 7.Линейно-поляризованный световой пучок шириной д под фиг. 2 показаны положения вектора плоскости поляризации светового пучка 8 - 10) проходит через кювету так, что середина его находится на высоте Ъ от основания 7 кюветы. Если бы пучок был бесконечно тонким, то 5 йосле прохождения призмы 1 плоскость его поляризации повернулась бы на некоторый угол, а из-за конечной ширийы йучка на выходе призмы 1 был бы зафиксирован другой угол поворота плоскости поляризации, отличный от ожидаемого на величину 6 . При атом высота пучка станет и Ф д "и, Аналогично для призмы 2 высота Ъ - Ъ, причем ве 25 личины ЬЬ в том и другом случаях одинаковы,...

Номер патента: 731363

Опубликовано: 30.04.1980

Автор: Павлова

МПК: G01N 21/40

Метки: анализа, взвешенных, оптических, поляриметрического, свойств, частиц

...того же источника или другого (с той же длиной волны Л и той же ориентацией плоскости поляризации) поочередно образцы эталонных взвесей сфсрических и несферических частиц, определяют деполяризационное отношение Рнсф (л, Л) и отношение а, По результатам указанных измерений находят вклад в общий коэффициент рассеяния капель и кристаллов. Так, если Рнсф(л, Л) =0,5; а=1,5 и Р,(л, Л) =0,2, то вклад капель Рсф(0,63) =- =Рнсф(0,63) =0,5. Поскольку Рнсф(л,Л) иа являются относительными величинами, мощность второго пучка или чувствительность приемника не влияют на результаты определения этих величин.Проведение анализа эталонных взвесей отдельно сферических и несферических исследуемых частиц обеспечивает возможность определения вклада тех и других...

Номер патента: 737816

Опубликовано: 30.05.1980

Авторы: Аксенов, Воронкин, Полегаев, Фролов

МПК: G01N 21/40

Метки: дифференциальный, поляриметр, фотоэлектронный

...в виде пустотелой втулки с четырьмя в.;-тупами, размещенными под углом 90 О один к другому. Во втором варианте исполнения (фиг. 2) для получения опорного сигнала периодическоегашение светового потока после отклонения поворотйыми призмами осуществляется вторым поляризующим элементом 5 при обратном ходе лучей. Пол яриметр в перв ом н а риа н те работает следующим образом.Световой поток, после прохождения через поляризующие элементы 3, 5, 8 и поляриметрические трубки 4 и 7 с исследуемыми растворами, поворотными призмами 9 направляется в зону выступов приспособления 6 и далее на фотоприемник 10, С последнего электрические сигналы поступают на усилитель-формирователь 11, где в моменты гашения светового потока фор,мируются электрические...

Номер патента: 744294

Опубликовано: 30.06.1980

Авторы: Аксенов, Фролов

МПК: G01N 21/40

Метки: азимута, излучения, изменений, плоскости, поляризации, светового

...неподвижный поляризатор 3, измерительную кювету 4 с оптически актив"ным веществом, вращающийся линейныйполяризатор 5, неподвижный поляризатор б и направляют на фотоприемник7, электрические сигналы с которогопоступают в электронно-счетное устройство 8.При отсутствии в рабочей кювете 4оптически активного вещества интенсивность падающего на фотоприемник 7излучения будет меняться по закону".3 3 соз о со (00 -сАгде Э - интенсивность излученияпосле монохроматора 2;Ю - текущее значение угла междунейодвижным поляризатором 3и вращающимся поляризатором 5.Кривая 1 на фиг. 2 соответствуетотносительному иэмеиению интенсивности в зависимости от угла с,При этом временные интервалы ти с между моментами максимальногогашения излучения равны между...

Номер патента: 748203

Опубликовано: 15.07.1980

Авторы: Абдурахманов, Ганаго

МПК: G01N 21/40

Метки: асимметричных, макромолекулярных, объектов, ориентирования

...дихроизма. Наилучшие результаты получены1 при использовании концентраций геля1от 5 до 15 и соотношении акриламид:метиленбис-акриламид, равном 30:1.Для уменьшения броуновского вращенияисследуемых объектов, перед полимеризацией добавлялся глицерин.Наложение адноосного механического напряжения на гель осуществлялосьв кювете специальной конструкции.При уменьшении толщины образца,.помещенного в кювету, его ширина поддерживалась постоянной. Такое механическое напряжение эквивалентно одноосному растяжению.Кювета, обеспечивающая ориентирование асимметричных макромолекулярныхобъектов, содержит исследуемый образец 1, прозрачные пластйны 2 (оптические окна), металлические пластины 3, обеспечивающие жесткость конструкции, шпильки 4, винты 5...

Номер патента: 748204

Опубликовано: 15.07.1980

Авторы: Быковская, Градюшко, Соловьев, Старухин, Шульга

МПК: G01N 21/40

Метки: изотропных, исследования, многоатомных, молекул, спектров, средах, электронно-колебательных

...флуоресценции октаэтилпорфина, соответствующий значениям колебательных частот 1550-1625 см 1 при двух положениях анализатора. На фиг. 2 видно,что для колебания с частотой1595 см) 7 .) , т.е. степень поляризации отрицательна, и соответствующий электронно-колебательный переход поляризован перпендикулярночисто электронному, Для остальныхетрех колебаний),) х, т.е. степеньполяризации положительна, что свидетельствует о параллельной ориента-.15 ции моментов переходов данных вибронных переходов и О-О-перехода.Способ исследования спектровмногоатомных молекул в изотропныхсредах позволяет измерять векторные 29 характеристики излучения для отдельных бесфоновых линий и таким образомполучать информацию об ориентациимоментов...

Номер патента: 842508

Опубликовано: 30.06.1981

Автор: Старостенко

МПК: G01N 21/40

Метки: величины, веществ, двойноголучепреломления

...света рабочего канала, измеряется Фазометром 10.Вначале измеряют разности Фаз У .и Ч при двух фиксированных углах2наклона исследуемого вещества 11 4Ч251 Пд., (М. Б )123,-Ч 51 ПА 44 8(Ч -4 ).А-Ч й,)2 У 251 и )2 2 УМи д) И -) 4 Л 5 о, ( о лучепреломлея из формулы,св. авт фОщийсрения т веществ двух фи исследу 65 нию рас зволяет змерение еломлени Предлагаемый проводить одновр толщины и двойно исследуемых веще Формула Способ измере ного лучепреломлпособ поменное и о лучепр тв. изобрете ия величи ния вещес ы двойв по правлением распространения рабочего пучка;Ч и Ч - разности Фаз при углахнаклона с- и А 2 соответствен 1 о;Ч и Ч - разности фаз при по 3 4.овернутом на угол 90исследуемом веществеи углах наклона о( ис-)...

Номер патента: 868493

Опубликовано: 30.09.1981

Авторы: Свиташев, Хасанов

МПК: G01N 21/40

Метки: активности, оптической

...плоскости поляризации света пОсредством поворота анализатора до положения "полного гашения, способ позволяет использовать анализатор с лимбом, снабженным минутной шкалой. В этом случае угол поворота плоскости поляризации С( обусловленный оптически активным веществом, определяется по формулеся аС = -р - ед (А-А), где А-А 0 - отсчет угла на лимбеанализатора в минутах868493 Формула изобретения Составитель 3 ЛяшенкоРедактор Т. Мермелштайн Техред Т.Маточка Корректор У. ПономаренкоЗаказ,8309/58 Тираж 910 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035 Москва, ЖРаушская наб.д д. 4/5 Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 гР, г- коэффициенты френеля ри 5-компонента электрического вектора...