Способ обнаружения дефектов клеевого соединения
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Союз Советских Социалистических РеспубликОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИ ЕТЕЛЬСТВУ рц 715985(51)М. Кл.2 с присоединением заявки йоС 01 (т 25/72 Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытийДата опубликования описания 1702.80(54) СПОСОБ ОБНАРУМЗНИЯ ДЕФЕКТОВ КЛЕЕВОГО СОЕДИНЕНИЯ Изобретение относится к приборЬ- .строению, преимущественно точному, и может быть использовано для обнаружения дефектов клеевого соединения изделий с тонкой обшивкой.Известенспособ обнаружения дефектов клеевого соединения, заключающийся в последовательном локальном вакуумировании и фиксации величины выпучивания участков поверхности 1).Недостатком способа является ограниченная чувствительность к размерам дефекта, невозможность измерения изделия с жесткой обшивкой. Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому является способ обнаружения дефектов клеевого соединения, заключающийся в последо О вательном вакуумировании иэделий при температуре, превышающей на 10-100 К, температуре стеклования полимерной основы клея или изделия, охлаждений до исходной температуры и фиксации 25 величины выпучивания участков поверхности 2).Однако при этом способе обнаружения дефектов наблюдается опадение выявленных при вакуумировании выпучи ваний диаметром более 20 мм при охлаждении иэделий и не происходитфиксации дефектов. целью изобретения является увеличение разрешащцей способности способа.Цель достигается тем, что по предлагаемому способу охлаждение изделия до исходной температуры производят под вакуумом.Таким образом, увеличивается раз" ность давлений, воздействующих на дефектное место, при этом сохраняется конфигурация дефекта.П р и м е р . Проводят вакуумирование изделий с обшивкой иэ фольгированного стеклопластика, склеенных эпоксиполиамидным клеем с температурой стеклования 333 К, в ко-торых искусственно созданы дефекты диаметром 25 мм, по следующему режиму:Остаточное давление Па 1,333Температура 373 КВремя, ч 2После охлаждения под вакуумом в течение 4 ч до исходной температуры обнаружены выпучивания вышеуказанного диаметра.,715985 Формула изобретения Составитель С ьеловодченкоРедактор И. Шубина Техред И.Асталош Корректор Ю. Макаренко Заказ 9519/40Тираж 1019 Подписное. ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4Предлагаемым способом могут бытьобнаружены дефекты на краях изделия. Способ обнаружения дефектов клее-. вого соединения, заключающййся в последовательном вакуумировании иэделия при температуре, превышающей на 10-100 К температуру стеклования поли мерной основы клея или изделия, охлаждении изделия до исходной температуры ификсации величины выпучивания участков поверхности, о т л ич а ю щ и й с я тем, что, с цельюувеличения разрешающей способностиспособа, охлаждение изделия до исходной температуры производят под вакууИсточники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Сборник Клен и технологиясклеивания, М., 1960, с. 269.2. Авторское свидетельство СССР9 562760, кл. О 01 И 25/72, 1976
СмотретьЗаявка
2572508, 24.01.1978
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-8618
БАРМИНОВ ВАДИМ АЛЕКСЕЕВИЧ, ЗОРИНА ЛАРИСА ГЛЕБОВНА
МПК / Метки
МПК: G01N 25/72
Метки: дефектов, клеевого, обнаружения, соединения
Опубликовано: 15.02.1980
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-715985-sposob-obnaruzheniya-defektov-kleevogo-soedineniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ обнаружения дефектов клеевого соединения</a>
Способ обнаружения поверхностных и подповерхностных дефектов изделий
Номер патента: 1004847
Опубликовано: 15.03.1983
Авторы: Белокур, Владыченский, Гаврилин, Луфт, Марченко, Плинингер
МПК: G01N 25/72
Метки: дефектов, обнаружения, поверхностных, подповерхностных
...чтобы уменьшить количества переданного вглубь заготовки тепла при дальнейшем нагреве, при предварительной стадии ее нагревают на большую глубину, чем глубина пре имущественного залегания дефектов.Частота тока следующей стадии нагрева заготовки, имеющей магнитную проницаемость 1 ед составляет 5-30 мГц и определяется глубиной преимущественного залегания дефектов, которая, как уже было сказано, 25 равна 0,5-3 мм. На чертеже изображена установка, с помощью которой реализуется предлагаемый способ (вариант) .Установка для обнаружения поверхностных и подповерхностных дефектов изделий включает транспортный роль- ганг 2, по. которому может перемещаться заготовка 1. Над заготовкой по 35 ходу ее перемещения расположены пирометр 3,...
Способ обнаружения поверхностных и подповерхностных дефектов изделий
Номер патента: 744301
Опубликовано: 30.06.1980
Авторы: Басов, Белокур, Гаврилин, Дайкер, Конаш
МПК: G01N 25/72
Метки: дефектов, обнаружения, поверхностных, подповерхностных
...плотности вихревых токов на этихучастках.В районе дефекта происходит концентрация магнитного поля, вследствие чего удельная плотность вихревых токов становится вьпае, Большей плотности вихревых токов при прочих равных условиях соответствует и большая температура в нагреваемом участке.Задача повышения чувствительности способа сводится к обеспечению максимальной неравномерности плотности вихревых токов в местах дефектов,Максимальная неравномерность плстности вихревых токов в местах дефектовдос тига ется лишь в том случае, когдатолщина прогрева равна глубине преимущественного залегания дефектов(толщина слоя, подлежащего контролю)Градиент температур на поверхности заготовки между дефектными и бездеФектными участками может достигать...
Способ обнаружения дефектов изделий
Номер патента: 1350587
Опубликовано: 07.11.1987
Авторы: Дежкунова, Зацепин, Рогач, Свиридов, Сырец
МПК: G01N 27/24
Метки: дефектов, обнаружения
...обнаружения дефектов осуществляют по следующей технологии. Сначала готовят раствор поливинилового спирта (ПВС) путем растворения сухого ПВС в горячей воде (раствор О) и раствор хлорнокислого железа (11) путем растворения в воде при комнатной температуре (раствор б ) . Затем растворы а и Б смешивают и доводят до определенного объема.Полученный таким образом раствор (составы приведены в табл, 1) наносят на стеклянную подложку и высушивают при комнатной температуре, Для лучшего сцепления слоя с подложкой последнюю предварительно подслаивают путем окунания в 1%-ный водный раствор ПВС с последующим задубливанием при 150 С в течение 3 ч.После приготовления пленки-диэлектрика производят обнаружение дефектов изделия путем воздействия на него...
Способ обнаружения дефектов изделий
Номер патента: 1656420
Опубликовано: 15.06.1991
Автор: Кожаринов
МПК: G01N 21/88
Метки: дефектов, обнаружения
...зазором. На электроды 6 подают напряжение с источника 7 высокого напряжения, достаточное для образования локального (в области дефектов 8 и 9) тлеющего разряда, который сопровождается свечением и интенсивным локальным разогревом поверхности контролируемого изделия 1, В результате газоразрядных процессов в соответствии с местоположениемдефектов 8 и 9 идет образование борногоангидрида, который при наличии дефекта 85 проникает в него и образует на поверхностиконтролируемого изделия 1 изображение,которое фиксируется визуально,П р и м е р 3. На поверхность контролируемого изделия 1 наносят тонким слоем 210 порошок аморфного бора с размером зернане более 5 10 мм. Накладывают темнуютонкую (толщиной 0,5 мм. в этом случаепонятие "тонкая"...
Способ обнаружения дефектов изделий
Номер патента: 1099259
Опубликовано: 23.06.1984
Авторы: Андриасова, Байрамашвили, Оганезов, Табуцидзе, Цагарейшвили
МПК: G01N 21/91
Метки: дефектов, обнаружения
...слойжидкости, которая под действием капиллярныхсил заполняет полость трещин, и последующее добавление жидкости проявителя образует контрастнуюкартину, контролируемую визуально 1,Недостатком этого способа является невысокая чувствительность, возможность выявления только открытыхтрещин.Наиболее близким к предложенномупо технической сущности и достигаемому результату является способ обнаружения трещин в металлических.изделиях, включающий нанесение контрастного порошка на контролируемуюповерхность, нагрев и визуальныйконтроль 225При этом одновременно подаетсяструя газа при избыточном давленийс одной иэ сторон контролируемой поверхносги.Недостатком известного способа являются возможность обнаружения толькоосквозных дефектов, а также...
Предыдущий патент: Устройство для определения температурных показателей воспламеняемости
Следующий патент: Устройство для измерения электрического сопротивления волокнистой массы
Случайный патент: Устройство прижимное к бытовому деревообрабатывающему станку