Устройство для обнаружения дефектов

Номер патента: 945762

Опубликовано: 23.07.1982

Авторы: Бородин, Матюшкин, Никифоров, Редчиц

МПК: G01N 27/20

Метки: внутренних, дефектов, обнаружения, сварных, соединений

...в зоне твердофаэных соединений структурными дефектами,представляющими собой микрополости,которые в условиях теплового воздействия служат очагами зарождения иразвития кориатости в широком диапазоне температур, К другим наиболеераспространенным дефектам следует отнести такие, которые образуются, например,в результате загрязненияучастка свариваемой поверхности металла плохо смачиваемыми неметаллическими включениями. Такие дефектыхарактеризуются отсутствием металлической связи и носят развитый характер в плоскости соединения. Они имеютплоскую форму с параллельными стенками, которые сходятся в процессесварки на оцень близкое рассторние,и обнаружить такие дефекты, именуемые"слипанием", известными методами проникающего излучения не...

Номер патента: 590649

Опубликовано: 30.01.1978

Автор: Терехов

МПК: G01N 21/88

Метки: дефектов, металлических, обнаружения, поверхностных

...поверхностных дефектов металлических изделий, заключающийся в то:с, что поверхность изделия осматривают, например, с помощью оптических средств, о тл и ч а ю щ ц й с я тем, что, с целью повышения эффективности обнаружения, поверхность изделия предварительно обрабатывают дуговым разрядом, используя контролируемое изделие в качестве одного из электродов. 20 Изобретение относится к области дефектоскопии и может быть использовано для обнаружения поверхностных дефектов, напримерволосовин, закатов, трещин, на металлических изделиях, например на проволоке, трубах,прутках.Известен метод выявления поверхностныхдефектов на поверхности металлических изделий путем осмотра контролируемой поверхности, например, с помощью оптическихсредств...

Номер патента: 927036

Опубликовано: 15.02.1984

Авторы: Андрющенко, Гурьев, Денисов, Осипов, Панова, Стадник

МПК: G01N 27/22

Метки: дефектов, диэлектриках, обнаружения, радиационных

...на Фиг. 5 и б - результаты испытаний.Сущность предлагаемого способа заключается в следующем, Облученяый диэлектрический образец 1 (см.фиг. 1) с нанесенными электродами 2 и 3 помещают в нагревательную камеру, закрепляют между двумя металлическими пластинами 4 и 5, изолированными от образца слоями б и 7 диэлектрика. Затем осуществляют нагрев образца по линейному или гиперболическому законам ( см. Фиг. 2) со"скоростьюи таким образом, чтобы в процессе всего нагрева разность температур ЬТ между пластинами 4 и 5 была постоянной. Наличие разности температур между этими пластинами в процессе нагрева приводит к возникновению градиента температуры, который в свою очередь определяет постоянный тепловой поток в образце. Малая величина...

Номер патента: 1245978

Опубликовано: 23.07.1986

Авторы: Турышев, Турышева

МПК: G01N 27/20

Метки: дефектов, локальных, обнаружения, пленках, полимерных

...резкое возрастание тока,отмечают место дефекта. Использование в качестве жидкости воды или водных растворов солей, как показываютэкспериментальные данные, ограничивают производительность способа,обусловленную большим временем затеканияжидкости в дефектное место.Это время зависит от соотношения Физикохимических параметров материала плен-ки и смачивающей ее жидкости и,напри-,мер,для пленки из поливинилиценфтори,да (ПВДФ),контактирующей с водой,составляет более 10 с. Это ограничивает скорость протягивания пленки0,1 мм/с.Кроме того, ряд полимерных пленокспециального назначения набухаетпри контакте с водой и водными растворами электролитов, что увеличивает время затекания жидкости. Такимобразом, исключается воэможностьанализа...

Номер патента: 1347050

Опубликовано: 23.10.1987

Авторы: Андрущенко, Карпов, Леонтьев, Макаров

МПК: G01R 31/303

Метки: дефектов, интегральных, линейных, обнаружения, скрытых, схемах

...на фиг.2 -схема соединения многокаскадных испытуемых усилителей для инвертирующего усилителя; на фиг.З - то же,для неинвертирующего усилителя.Устройство контроля многокаскадногоусилителя по импульсным шумам содержитиспытуемый усилитель 1, источник 2тока, усилитель 3, измеритель 4 напряжения питания, регистратор 5 импульсных шумов.Выводы питания испытуемого усилителя 1 соединены с выходом источника 2 тока, измерителем 4 напряженияпитания и входом усилителя 3 напряжения импульсных шумов, выход которого соединен с входом регистратора 5импульсных шумов,Схема соединения многокаскадныхиспытуемых усилителей для инвертирующего усилителя включает испытуемыйусилитель 1, источник 2 тока, соединенный с клеммами питания испытуемого усилителя...