H01J 49/04 — устройства для введения и выведения анализируемых образцов, например вакуумные затворы; устройства для регулирования снаружи электронно- или ионно-оптических компонентов
158638
Номер патента: 158638
Опубликовано: 01.01.1963
МПК: G01T 1/36, H01J 47/04, H01J 49/04
Метки: 158638
...сопротивления изоляции б.Измерительный конденсатор 1 посредством переключателя 10 переводится из режима измерения па контроль изоляции 6 внутреннего :)лектрода 7 посредством батареи 11 и электрометрического усилителя 9.В предлагаемом спсктрометре в качестве балластного конденсатора применены электроды 12 и 13 гидроизоляторов 14, причем для зашиты изоляции 6 внутреннего электрода от загрязнения аэрозолями эти электроды выполнены в виде стаканов, образующих лабиринт,Для повышения чувствительности спектрометра ионов к плотности полярного объемного заряда и к подвижости частиц применена широкая регулировка расхода воздуха для выведения спектрометра ионог; па наиболее благоприятный режим измерения в интересующей часги спект 1)а легких,...
Устройство к проточному заряд-спектрометру
Номер патента: 202349
Опубликовано: 01.01.1967
Авторы: Алейникова, Всесоюзный, Входное, Китаев, Котл, Оборудовани
МПК: G01T 7/04, H01J 49/04
Метки: заряд-спектрометру, проточному
...объем измерительной камеры заряд-спектрометра. Для замедления испарения частиц, легко летучих веществ к полости поддува заборного устройства подсоединяется газгольдер, воздух в котором насыщен парами тех же летучих веществ.На чертеже изображена принципиальная схема входного (заборного) устройства.Входное устройство 1 с помощью разъема 2 крепится к измерительной камере 3 и содержит два одинаковых металлических острых клина 4, направленных навстречу один другому. Клинья 4 поддерживают и натягивают сменные фильтры б, состоящие из двух слоев: внутреннего из фильтрующего материала б и наружного из латунной сетки 7, обеспечивающей необходимую жесткость фильтра.Фильтры натянуты на клинья 4 так, что по обе стороны каждого клина образованы...
Устройство для установки образцов при масс спектрометрических исследованиях
Номер патента: 1051617
Опубликовано: 30.10.1983
МПК: H01J 49/04
Метки: исследованиях, масс, образцов, спектрометрических, установки
...20 гафтг.2), приваренномук оснонанию 7, вращается стопорныйсектор 11 . Опорный конец стопорногосектора 11 и основание 21 стопорногосектора с расположенной н нетл осью19 выполнены из проводящего материалаи электрически разделены изоляционнойвставкой 22, Основание 7 укрепленона трубе 23, имеющей на нтором концефланец, вакуумно-плотно соединенныйс изоляторами 24 и 25, К изолятору24 приваривается втулка 26, между,этой втулкой и Фланцем 28 приваривается на вакуум сильфон 27.На шаровую поверхность фланца28, служащего базой всегО механизма,опирается втулка 29 со сферическойповерхностью. Прижим втулки 29 к шаровой поверхности фланца осуществляется с помощью Фланца 30, шпилек 31,гаек 32 и пружины 33. На резьбовуючасть сферической втулки 29...
Контейнер для ввода в масс-спектрометр веществ, неустойчивых на воздухе
Номер патента: 1239767
Опубликовано: 23.06.1986
МПК: H01J 49/04, H01J 49/26
Метки: ввода, веществ, воздухе, контейнер, масс-спектрометр, неустойчивых
...надежности за счет уменьшения влияниявозможного перекоса цилиндрическихчастей крьппки и корпуса, а такжеза счет создания потока паров лету Очей жидкости, предотвращающего попа"дание воздуха в корпус контейнера иобеспечивающего необходимое давление для надежного сбрасывания крышкипри откачке камеры шлюза масс-спектрометра.На Фиг,1 и 2 представлен контейнер для ввода в масс-спектрометрвеществ, неустойчивых на воздухе,Контейнер содержит корпус 1 и крышОку 2, снабженную дополнительной емкостью 3. В корпус, выполненный изкварца и снабженный устройством 4для его крепления, вплавлена проволока нагревателя 5. Дополнительная емкость 3 крьппки 2 содержит инертнуюк исследуемому веществу жидкостьб, Исследуемое вещество 7 помещают вкорпусе 1...
Спектрометр энергий электронов
Номер патента: 495970
Опубликовано: 30.06.1986
Автор: Сорокин
МПК: G01T 1/36, H01J 49/04
Метки: спектрометр, электронов, энергий
...строго по изображению центральной электронной лийии, и изолированные от нее две широкие боковыезоны так, что все три они охватываютполную опертуру МКП, лежат в однойплоскости и разделены зазорами (например, величиной 0,1 мм), причем выходы центральной зоны отдельно ибоковых эон вместе включены на схему совпадений через дифференциальныеанализаторы амплитуд импульсов.На чертеже изображен меридиальный размер предлагаемого устройства.Устройство содержит исследуемыйфотокатод" 1, входную щель 2 анаО 2лизатора шириной 0,1-0,2 мм, электро статический анализатор 3 эггектронов с фокусировкой на 7 (2 радиан без выходной щели и с расстоянием между цилиндрами большим, чем удвоенная ширина электронного спектра в фокальной плоскости в...