Спектрометр

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз СоветскихСоциалистическихРеспублик Н АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(22) Заявлено 06.11,80 (2) 3001376/18-25 (11 Н.К 3 З с присоединеннем заявкн Йо 0 01 В 9/02 С 01 4 3/2 б Государственный комитет СССР по дедам изобретений н открытий.3(088,8) Дата опубликования описания 15.02.83( 54 ) СПЕКТРОИЕТР Изобретение относится к оптикоинтерференционным устройствам и пред-,назначено для спектроскопии источников света с высокой разрешающей спо"5собностью,Известныспектрометры с использованием преобразованйя Адамара, содер - жащие коднрующие маски, осуществляющие кодирование выходного сигнанаВ виде матриц Адамара 13.Недостатком таких спектрометровявляется то, что дпя получения необходимого набора числовых данных вэтих. устройствах маска последовательно смещается с помощью механическогошагового устройства.Наиболее близким к предложенномупо достигаемому результату и технической сущности является спектрометр, содержащий источник исследуемого излучения, модулятор, щель,объектив, кодирующую маску, крьааеобраэное зеркало н фотоприемйик Г 2 3.Недостатком известного устройстваявляются низкие разрешение, светосила и быстродействие, обусловленные. дифракционной решеткой, шириной зонмаски, а также ограниченной точностьюи быстродействием устройства, смещающего маску.30 Цель изобретения - увеличение разрешения, светосилы и быстродействия спектрометра.Поставленная цель достигается тем, что в спектрометре, содержащем источник.иселедуемого излучения, модулятор, щель, объектив, дифракционную решетку, коднрующую маску, крьхвеобраэное зеркало и фотоприемник, кодирующая маска выполнена в виде много- лучевого клинового интерферометра из злектрооптического материала с толщиной где- длина дифракционной решет- кнт 0 - угловая дисперсия дифракциоййой решеткиу- длина волны исследуемогоизлучения. На чертеже представлена функцио-, нальная схема спектрометра.Спектрометр содержит источник исследуемого излучения 1, модулятор 2, щель 3, зеркало коллиматорного объектива 4, дифракционную решетку 5, 3 996858клиновой интерферомвтр б, крышеобраэное зеркало 7, Фотоприемник 8.Спектрометр работает следующим образом.Излучение от источника 1 проходит через модулятор 2, щель 3 и с по мощью зеркала коллиматорного объек-. тива 4 направляется на дифракционную решетку 5. Дифракционная решетка разлагает излучение в спектр с разрешением В, затем излучение попадает на 10 многолучевой клиновой интерферометр б, который при толщине(15 где- длина дифракционной решетки;О - угловая дисперсия дифракЧционной решетки;20ина волны иссле емогодл дуизлучения,повышает разрешающую способностьустройства и она становится равнойй, 25 где М - коэффициент тонкости многолучевого клинового интерферометра.Интерференционные полосы равной 30 толщины, образованные на поверхности клина, играют роль маски спектрометра Адамара. Перемещение интерференционных полос при изменении оптической толщины клина (при приложении 35 электрического поля) играет роль устройства, смещающего маску спектромет-, ра Адамара, при этом быстродействие электрооптических материалов составляет единицы миллисекунд. Затем излучение проходит черезшвль 3 на Фото- приемник 8 и сигнал с него обрабаты-ается с помощью матриц Адамара. Многолучевой клиновой интерферометр повышает светосилу спектрометра Адамара по сравнению со сгектрометром Адамара того же разрешения в й раз.. Предложенный спектрометр позволяет увеличить светосилу, разрешение, быстродействие с преобразованием Адамара и исключить использование трудоемких в изготовлении специальных масок и инерционных устройств, нх перемещающих.формула изобретенияСпектрометр, содержащий оптически " связанные источник исследуемого излучения, модулятор, щель, объектив, дифракционную решетку, кодирующую маску, крышеобразное зеркало и Фото- приемник, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью увеличения разрешения, светосилы и быстродействия, кодирующая маска выполнена в виде многопучевого клинового интерферометра из электрооптического материала с толщиной.О Лм где- длина дифракционной решеткиО - угловая дисперсия дифракци-.онной решетки;- длина волны исследуемогоизлучения.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Зайдель А. И. и др. Техникаи практика спектроскопии, М "Наука", 1976, с. 2232. Толмачев Ю. А. Новые спектральные приборы, Ленинград, ЛГУ, 1976,с, 83 (прототип).996858 Составитель А. МедведеРедактор Л, Веселовская Техред С.Мигунова орректор В. Прохненко Подписно 5 илиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул, Проектная, 4 Заказ 917/58 ВНИИПИ по д 113035, Тираж 600осударственного комитета ССам изобретений и открытий.сква, Ж, Рауюская наб