Патенты с меткой «шлифах»

Номер патента: 91855

Опубликовано: 01.01.1951

Авторы: Евсеев, Мельников

МПК: G01N 21/01, G01N 23/02

Метки: минеральных, направленности, расположения, частиц, шлифах

...плотность, дадут тень, уже отличную от первой )Ео своей интенсивности.При изменении длины волны рентгеновск 01 О изт) Еен;я по;Сире)10 т та 1) 10 его месс скостечтооы на ерлюоресцпру)ощем экранс при помоц)1 0 тики мееееоскопа можно бы;ео видеть просвеченные рентгс- НОВСЕЗЕМИ ЛУ 110 МИ МИЕЮЕ)аЧЬНЫС настины одной плотное 1; частник же другой плотности будут отчетливо видны при пзмснсеее:осте:ости рентгеновского излучения и дадут иную по своей питоне)евносте тень. ее)е в нерве.ч слу 1100. По разлпч)по интенсивности тенеи минера;и,иых частиц различных плотностейоире Ее,еее)от е)риентацее)о родственных посвоему характеру минеральных частиц,ПО;ьзуеесь екс бинокулярным миероскопом, можно определять нс только направивее)Ст), частиц в ееелеЕФС....

Номер патента: 322737

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Серебр, Эстерле

МПК: G01R 33/12

Метки: анализатор, магнитных, минераловв, свойств, шлифах

...укрепленный на упругом стержне 2. Второй конец последнего вставлен в трубку 3, расположенную на начале бимстаддической опирали 4, подключенной через гибкие проводники к регулируемому стаоидизировапному источнику 5 питания, Спираль заключена в кожух бприкрепленный подвижно через кремадьеру 7 к рейке 8.Рейка крепится к столику микроскопа 9 так, чтобы микромагнит оказался в центре поля зрения микроокопа.При измерении магнитной вооприимчивостн шлиф 10 устанавливают под микромагнитом, кремадьерой опускают анализатор так, чтобы мпкромагнит коснулся поверхности шдифа и затем, передвигая шлиф, совмещают центр измеряемого минерала с центром микромагнита, Включают ток и одновременно секундомер и наблюдают за микромагнитом. По секундомеру...

Номер патента: 642635

Опубликовано: 15.01.1979

Авторы: Миркин, Татарский, Толкачев

МПК: G01N 21/40

Метки: исследования, структуры, тел, шлифах

...зависящих от наличия в шлифе неконтрастных элементов струк- Ь туры, изменяют разность хода световых потоков, регистрируют изотропные зоны по цвету прошедшего через указанные зоны, света. 30Способ реализуется следующим образом.Исследуемый шлиф пористого тела помещают на вращающийся предметный столик (типа Федоровского), который также)5 может менять угол наклона относительно оси поляризационного микроскопа (типа Полами) . Столик расположен между двумя четвертьволновыми пластинками, размещенными межцу анализатором и поляризатором, Пластинки20 ориентированы под углом в 90 относительно друг друга .и под углом в 45 О по отношению к поляризатору и анализатору. Просвечивают шлиф лучемп 8 поляризованного по кругу света, такой свет...

Номер патента: 1310632

Опубликовано: 15.05.1987

Авторы: Кабанов, Плотников, Станотина, Степанов

МПК: G01B 11/30

Метки: динамики, металлических, микротрещин, наблюдения, образцов, развития, сплавов, шлифах

...шайбой 22. Штанга 14 раз 11 к исследуемому образцу 7, обечасти 3 и 5 световода выведены черезвтулку 19 крышки 18 за прелелы сосуда8 Дьюара к источнику 1 света и кмикроскопу. 4.,55й30 35 40 45 50 мещена внутри полого штока 16 и пружины 20 и жестко закреплена на крышке 18 с помощью фиксирующей шайбы 22 и реэьбового узла 21, причем подпружиненный относительно крышки 18 полый шток 16, перемещаясь вдоль оси штанги 14, постоянно упорами 17 прижимает через блок 12 фиксации призму Предлагаемое устройство работает следующим образом.В процессе сборки конструкции добиваются, чтобы контейнер 10 жестко закрепился штангой 14 к крышке 18, а ромбическая призма. 11 своей отража-. тельной гранью плотно прижалась кзеркалу шлифа образца 7,...