Способ контроля чистоты поверхности
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1379617
Авторы: Астромскис, Василяускас, Палявичюс, Рагульскис
Текст
(54) СПНОСТИ (57) Из рительн пользов СОБ РОЛЯ ЧИСТОТЫ ПОВЕРХбретен й техн тноситс к изметь иске и может бьбесконтактного контдиусных поверхностей,но для тоты Р ля ч УДАРСТВЕННЫИ КОМИТЕТ СССРДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИИ К А 8 ТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТ(7 1) Каунасский политехнический институт им. Антанаса Снечкуса (72) В.С.Астромскис, Р.С.Василяускас, А.П.Палявичюс и К.М.Рагульски (53) 531,7 15.27 (088.8)(56) Авторское свидетельство СССР 19 508670, кл. С 01 В 11/30, 1972.Авторское свидетельство СССР М 1040895, кл, С 01 В 11/30, 1982. преимущественно тонких проволок,диаметр которых составляет доли миллиметра. Цель изобретения - обеспечение контроля радиусных поверхностей. Направляют луч лазера 1 подуглом на исследуемую поверхностьпроволоки 3. На экране 2 получаюткольцеобразную дифракционную картинуотражения, выделяют иэ нее кольцеобразную диффузную зону и по ее ширине судят о чистоте поверхности.Из-за цилиндричности исследуемойповерхности получаемая дифракционнаякартина отражения имеет значительнуювеличину, что позволяет путем непосредственного визуального наблюденияэа шириной диффузной зоны судить очистоте исследуемой поверхности.1 ил.13796 1 г Составитель Л.Лобзова Техред Л.Олийнык Редактор О.Юрковецкая Корректор М.Шароши Заказ 970/42 Тираж 680ВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб., д.4/5 Подписное Производственно-полиграфическое предприятие, г.ужгород, ул.Проектная, 4 Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного контролячистоты радиусных поверхностей преУимущественно тонких проволок, диаметр которых составляет доли миллиметра.Цель изобретения - обеспечениеконтроля радиусных поверхностей.10На чертеже изображена принципиальная схема устройства для реализации способа контроля чистоты поверхности.Устройство содержит лазер 1 иэкран 2,Способ осуществляется следующимобразом.Направляют наклонно луч лазера 1на исследуемую поверхность проволоки 3. Экран 2 устанавливают так, чтона нем образуется кольцеобразнаядифракционная картина отражения.Дифракционная картина отражения имеетцентральный дифракционный максимум,образующийся из-эа зеркального отражения и не несущий информацию о чистоте поверхности, и диффузную зону,симметричную относительно центрального дифракционного максимума, ширина которой пропорциональна загрязненности поверхности проволоки 3. Вьщеление кольцеобразной диффузной эоныосуществляется визуально, посколькупри отражении от цилиндрической по 35верхности величина картины отраженияпропорциональна расстоянию от местаосвещения поверхности до экрана 2 иможет составлять от нескольких сантиметров до нескольких десятков сан 40тиметров, или при помощи линзы с 17 2непрозрачным экраном на ее части (непоказаны). Количественное определениечистоты поверхности осуществляютпутем преобразования интенсивностиосвещенности диффузной зоны в электрический сигнал и сравнения его величины с эталонной или при помощи любого известного метода преобразованияоптического вида в электрическийсигнал,Определение чистоты радиусныхповерхностей по ширине диффузной зоны кольцеобраэной дифракционной картины отражения позволяет просто(визуально) определять чистоту поверхности. Кольцеобразная форма получаемой картины отражения обусловлена радиусной формой проволоки 3,которая при освещении проявляетсвойство цилиндрической линзы. Способ целесообразнО применять для исследования чистоты поверхности тонких проволок диаметром 20- 100 мкм. Формула изобретения Способ контроля чистоты поверхности, заключающийся в том, что направляют наклонно луч лазера на исследуемую поверхность и наблюдают дифракционную картину отражения, по которой судят о чистоте поверхности, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью обеспечения контроля радиусных поверхностей, например проволоки, при наблюдении кольцеобразной дифракционной картины отражения выделяют из нее кольцеобразную диффузную зону, а о чистоте поверхности судят по ширине этой зоны.
СмотретьЗаявка
4123561, 25.09.1986
КАУНАССКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ ИМ. АНТАНАСА СНЕЧКУСА
АСТРОМСКИС ВАЛДАС СТАСЕВИЧ, ВАСИЛЯУСКАС РАЙМУНДАС СТАНИСЛОВОВИЧ, ПАЛЯВИЧЮС АРВИДАС ПРАНОВИЧ, РАГУЛЬСКИС КАЗИМЕРАС МИКОЛОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 11/30
Метки: поверхности, чистоты
Опубликовано: 07.03.1988
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1379617-sposob-kontrolya-chistoty-poverkhnosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля чистоты поверхности</a>
Предыдущий патент: Фотоэлектрический датчик угловых перемещений
Следующий патент: Устройство для контроля шероховатости поверхности
Случайный патент: Пульсационный газоохладитель