Патенты с меткой «сверхгладких»

Номер патента: 987381

Опубликовано: 07.01.1983

Авторы: Обрадович, Попов, Солодухо

МПК: G01B 11/30

Метки: параметров, поверхностей, рефлектометр, сверхгладких, шероховатости

...под углом 8, отличным от угла В зеркального отражения, и под углом 9, отличным от углов 8 и 8, нейтральные светофильтры 13- 15, электронно-измерительный блок обработки сигналов, включающий селективный нановольтметр 16, переключатель 17, блок 18 интерфейсных плат и микропроцессор 19, зеркало 20.Рефлектометр работает следующим образом.ЗОПучок монохроматического излучения,выходящий иэ лазера 1, модулируетсямодулятором, представляющим собойжидкокристаллическую .ячейку 2 с поляризатором 3, и оптической системой 5 З 5направляется под острым углом 91 наизмеряемую поверхность, Отраженное втрех направлениях излучение, пройдя через нейтральные светофильтры 13-15,попадает на приемники 7-9 излучения 40с диафрагмами 10-12, расположеннымив...

Номер патента: 1262280

Опубликовано: 07.10.1986

Авторы: Обрадович, Попов, Солодухо

МПК: G01B 11/30

Метки: параметров, поверхностей, сверхгладких, шероховатости

...а также ловушку 13 зеркально отраженного от изделия излучения.Способ измерения осуществляется следующим образом. Монохроматический параллельный пучок от источника 1 излучения, пройдя через модулятор 2, поляризатор 3, ослабители 4 интенсивности, диафрагму 5 и бленду 8, падает на поверхность измеряемого изделия 6, установленного на вращающемся столике 7. Поворотом столика 7 устанавливается угол ф падения излучения. Приемник 10 излучения имеет возможность поворачиваться в плоскости падения так, чтобы измерять отраженный поток излучения 1(0) под различными углами отражения Й, отличными от зеркального, так как при этом имеется возможность измерять индикатрису рассеяния в плоскости падения.При отражении от шероховатой поверхности изделия 6,...