Устройство для определения неплоскостности холоднокатаной полосы

. ГОС ДАРСТВЕПОДЕЛАМ еиоскоимовноет ноям ин 4 е" рассто г ополнит яние о исслед ьного растра;источника свемоя поверхноти тров доости;скостномой пов с т х 3 ННЫЙ НОМИТЕТ ССОР ОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЬПИЙ НИЕ ИЗОБР 1 У СВЩЕТЕЛЬСТВУ(56) 1, Шнейдеровиц Р,И Левин О,А,Измерение полей пластических деформаций методом муара. И "Иаеиностроениефф 1972, с. 4-5.2. Авторское свидетельство СССРВ 544862, кл. С 01 В УО 8, 17 А 2,75(54)(57) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯНЕПЛОСКОСТНОСТИ ХОЛОДНОКАТАНОЙ ПОЛО"СЫ, .содержащее линейный растр, располагаемый .над исследуемой поверхностью холоднокатаной полосы, и источ"ник света, отличающеесятем, что, с целью повышения .точности,и производительности определения,оно снабжено дополнительным линымрастром, расположенным в плсти основного, растра смежно си имеющим шаг, меньший вага осго растра, а источник света имепрямоугольную эрму, расположебольшей стороной параллельно лрастров и имеет размеры, опредемые зависимостями- расстояние от раследуемой поверх - длина волны нелло - кривизна исследуности.1101Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, используемой в металлургической промышленности 1 и может быть использовано, вчастности, для определения неплос".костности поверхности, например, хо"лоднокатаной полосы,Известно устройство для опреде".ления неплоскостности поверхности,основанное на методе муара и содержащее осветитель, растр, конденсатори систему зеркал для раздвоениярастра на исследуемую поверхностьпод разными углами1Недостатками устройства являются недостаточно высокие точность ипроизводительность определения,Наиболее близким к изобретениюпо технической сущности является уст-.ройство для определения неплоско"стности холоднокатаной.полосы, содержащее линейный растр, расюолагаемый над исследуемой поверхностьюхолоднокатаной полосы, и источниксвета, Иуаровые полосы, по которымсудят о форме поверхности, .возникают в результате механической интерференции растра и его теневогоизображения на исследуемой поверхности 2 ьНедостатками известного устройства являются большая трудоемкостьопределения неплоскостности и ограниченная точность 1 обусловленныетем, что при большом количествемуаровых полос, по которому судято величине неплоскостности, затруд"нителен подсчет .их числа.Целью изобретения является повышение точности и производительностиопределения неплоскостности,Поставленная цель достигаетсятем, что устройство для определения неплоскостности холоднокатанойполосы, содержащее линейный растр,располагаемый над исследуемой поверхностью холоднокатаной полосы, иисточник света, .снабжено дополнительным линейным растром, расположеннымв плоскости основного растра смежно с ним и имеющим шаг,. меньший шагаосновного растра, а источник светаимеет прямоугольную Форму, расположен большей стороной параллельнолиниям растров и имеет размеры, оп.ределяемые зависимостями 9238длина 1, ) 8 Ъ+й)Р где а - шаг дополнительного растра;Ь - расстояние от источника .света до исследуемой поверхности1 - расстояни е от растров до исследуемой поверхности;В - длина волны неплоскостности;10Й - кривизна исследуемой поверхнооти.На Фиг, 1 изображена оптическаясхема устройства для определениянеплоскостности холоднокатаной полосы; на Фиг. 2 - схема, поясня"ющая условие, ограничивающее ширину источника света; на фиг. 3 схема, поясняющая связь между длиной источника света и размером участка полосы с высокой поверхностной яркостью; на фиг. 4 - схема квыводу условия, ограничивающегоминимальную длину источника света.Устройство для определения неплоскостности холоднокатаной полосысостоит из линейного. растра 1 фиг.1)расположенного над исследуемой поверхностью 2, В плоскости основноголинейного растра смежно с ним распо" 30 лагается дбполнительный линейныйрастр 3 с шагом, меньшим шага основного линейного растра 1. Источник1 света имеет прямоугольную форму ирасположен большей стороной параллельно линиям растра 3, кроме того,размеры источника 1 света определя,ются следующими зависимостямиЬ -см и4 Ддлина6 1+ Р)ргде а - шаг дополнительного растра,и " расстояние от источника света до исследуемой поверхности11 " расстояние от растров до исследуемой поверхности;В " кривизна исследуемой поверхности;В - длина волны неплоскостности,Определение неплоскостности спомощью предлагаемого устройствапроизводят следующим образом.Основной линейный растр 1 (фиг.1) 55 устанавливают над;исследуемой поверхностью 2. В плоскости растра 1смежно с ним располагается дополнительный линейный растр 3 с шагом,3 1019238 а ,меньшим вага основного линейного ра- муаровых картин. Если исследуемая стра 1. Растры 1 и 3 освещают ис- поверхность освещена беэ бликов, то точником 4 света, По форме и коли-. вся поверхность имеет одинаковый уроцеству муаровых полос визуально су" вень освещенности. На таком фоне мудят о неплоскостности. ихарактереаровые полосы легко преобразуются в ее распространения по исследуемой : электрический сигнал без дополни- поверхности 2, тельных погрешностей, снижается на".,Контрастность муаровой картины . грузка на зрение при визуальном конполучается высокой,если получено троле, достаточно резкое теневое изображе .Источник . света укаэанных выше разние растра 3:на исследуемой поверх- . меров может быть получен. путем освещенасти 2. Теневое иэображение. получа- ния щели заданных размеров и закрыется резким, если смещение одной - той матовым стеклом. системы теневых изображений (от точ-Повышение точности измерения до.ки А, фиг. 2) относительно другойстигается в результате применения .системы полос (от точки В, фиг. 2) дополнительного линейного растра с не превышает как максимум 1/4 шага меньшим шагом, что позволяет полу- .растра 3, Иэ этого условие и полу- цить муаровую картину с меньшей це" цается ограничение на ширину Ь (от- . ной деления муаровой полосы. Цена резок АВ) источника 4 света, а имен" деления уменьшается во столько раз., но во сколько раз уменьшается шаг дополнительного растра 3 по сравнению с основным растром 1, Снижение тру" 49 где а - шаг дополнительного растра.; доемкости измерения неплоскостности Ь - расстояние от источника све-.достигается в результате расположе 23 та до исследуемой поверхно- ния дополнительного линейного растсти . . ра 3 смежно с основным линейным ра"В 1 - расстояние от растров до ис- стром 1, При этом подсчитывается неследуемой поверхности; . общее число полос, получаемое с помо- Если источник 4 света расположен щью дополнительного растра 3, а чис". 36 параллельно линиям растров 1 и 3,ло полос, получаемое с.помощью ос" то его длина не влияет на контраст" . новного растра 1 плюс число полос ность муаровой картины, дополнительного растра 3, полуцаОднако, если длина. источника 4 емого между крайними (неполные десвета мала по сравнению с длиной : ления) муаровыми полосами, волны неппоскостйостй, то на полосе3 (фиг. 3) имеются уцастки с разнымиПреимущество предлагаемого устусловиями отражения света: более яр ройства перед известным, состоит кий .участок СД, размеры которого ., в том; что дополнение известного определяются размерами источника 4, - устройства растрам, расположенным1 а света, и менее яркая остальная часть. смежно с основным растром, позволяИз фиг. 4 следует, что длина Е (от- ет повысить производительность изме- резок АС). истоцнйка 4 света, при ко- рения неплоскостнасти при одновреторой исследуемая поверхность равно- менном снижении трудоемкости изме" мерно освещается, определяется из . рения. форма, размеры и расположесоотношения . , ние. источника света, определяемые43 ЩЭ Щ 1 : аагои и Оаспопоиейиеи допопиитепьЯ. ного растра, позволяют повысить кон. где В ". длина волны неплоскостности; трастность муаровой картины и полу- Й - .кривизна. исследуемой поверх- чить равномерную освещенность иссленос 1 и. , : Ж дуемой поверхности, При произвольнойУчастки исследуемой поверхностиформе и размерах светящегося элеменс разными условиями освещенности, та источника света не удается полупри освещении коротким источником чить контрастную муаровую картину света имеют уровни освещенности, при удалении. растра от исследуемой отличающиеся один от другого в не" ээ поверхности на 10"15 мм и шага растсколько или, даже несколько десятков ра 0,2 мм, С помощью предлагаемого раэ, что является серьезной пробле" устройства, источник света которого мой при автоматической дешифровке . имеет определенные размеры, удается% 1019238 блегко получить достаточно качествен- ние растра на расстоянии свыше 10 мм нуе муаровую картину при удалении приобретает большое значение, по- растра от исследуемой поверхности на скольку это предохраняет растр от перасстояние 15 и даже 49 мм, При оп- вреждения при биениях полосы и повыределении неплоакостности движущей- з шает условия техники безопасности ся прокатцваемой полосы расположе- при работе на стане,Б,Лобзованова Корректо СоставителТехред С,йиЮ й 4 в е. ае ейТираж 602сударственном изобретенисква, И,актор Т.Куг ва филиал ППП "Патент", г. Ужгородом ул 1 роектна" 368 б/ЗЗВНИИПИ Гпо дел11303, Ио Подлисиго комитета СССРй и открытийРауаская наб., д. 4/