Способ измерения шероховатости поверхности
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
) Авторы изобретен Минский радиотехнический инстит 1) Заявитель(5 Й) СПОСОБ ИЗИЕРЕНИЯ ОЕРОХОВАТОСТ ЕРХНОСТ соба. Изобретение относится к измерительной технике и может быть исполь эовано для контроля поверхности.Известен способ измерения шероховатости поверхности, заключающийся в том, что световой лоток направляют на контролируемую поверхность и регистрируют световой поток отраженный от нее 13,Недостатком известного способЪ является невысокая точность контроля, обусловленная тем, что отраженное излучение не йаходится в прос той функциональной зависимости от размеров дефекта;Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности является способ измерения шероховатости поверхности, заключающийся в том, что направляют на контролируемую поверхность поляризованное электромагнитное излучение, регистрируют интенсивность излучения, отраженного от поверхности, и по величине интенсив" ности оценивают контролируемый параметр 23.Недостатком способа является не-возможность измерения поверхностныхдефектов вследствие того, что отраженное электромагнитное излучениеявляется функцией как ориентационных,так и линейных характеристик дефекта, а также невозможности определений асимметрии дефекта на контролируемой поверхности,Цель изобретения - измерение так" же и поверхностных дефектов.Поставленная цель достигается тем, что осуществЛяют вращение плос кости поляризации излучения, направляемого на поверхность, а величину контролируемого параметра определяют по максимальной интенсивности отра" женного от поверхности излучения.На чертеже представлена схема устройство для осуществления споформула изобретения Способ измерения шероховатости поверхности, заключающийся е том, чтонаправляют на контролируемую поверхность" поляризованное электромагнитное излучение, регистрируют интенсивность излучения, отраженного отповерхности, и по велицине интенсивности оценивают контролируемый параметр, о т л и ч а ю щ и й с я тем,что, с целью измерения также и поверхностных дефектов, осуществляютвращение плоскости поляризации излучения, направляемого на поверхность,а величину контролируемого параметраопределяют по максимальной интенсивности отраженного от поверхности излучения,Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1, Авторское свидетельство, СССРйф 508670, кл. 6 0 В 11/30, 1972.2. Патент ВеликобританииМ 1523604, кл. 6 01 В 11/30, 1978(прототип),Составитель Н. ЗахаренкоРедактор О. Юрковецкая Техред С.Мигунова Корректор Г, Решетник ПодписноСР. аказ 5313/58 ВНИИПИ Го по дела 113035,Тираж 614 ударственного ко изобретений и о сква, Ж, Раушитетакрытийкая на илиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектн 3 945652Устройство содержит источник 1 электромагнитного излучения, устройство 2 вращения плоскости поляриза" ции, диафрагму 3, два объектива 4 и , 5, диафрагму 6 и фотоприемник 7.Способ осуществляется следующим образом.Излучение от источника 1 проходит через устройство 2 вращения плоскости поляризации, которое обеспечивает управляемое вращение плоскости поляризации излучения.Затем излучение проходит диафрагму 3, которая выделяет центральную часть пучка, и объективом 4 фокусируется за контролируемую поверхность 8. Отраженное от контролируемой по-, верхности излучение объект% 5 фо-кусирует в пучок, который,проходит через диафрагму 6 и попадает 6 а фоу ;У 20топриемникПри облучен,ли контролируемой поверхности 8 излучением с вращающимся вектором поляризации, отраженный пучок излучения будет иметь экстре 25 мальные значения в случае совпадения,направления вектора поляризации с направлением асимметрии дефекта. Поэтому по зарегистрированному фото" приемником 7 экстремальному значению интенсивности можно судить о наличиизо дефекта на поверхности и произвести контроль асимметрии зарегистрированных дефектов.Предлагаемый способ позволяет по наличию и величине экстремального З 5 значения интенсивности отраженного 4линейно-поляризованного электромагнитного излучения судить о наличии дефекта на контролируемой поверхности и производить идентификацию дефектов, так как существует прямая функциональная зависимость экстремального значения отраженной интенсивности излучения от линейных размеров дефекта.
СмотретьЗаявка
2937493, 09.06.1980
МИНСКИЙ РАДИОТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ
КВАСОВ НИКОЛАЙ ТРОФИМОВИЧ, ПОЛОНИН АЛЕКСАНДР КОНСТАНТИНОВИЧ, БЕЛЯЕВ РЕМИР АЛЕКСАНДРОВИЧ, КАРПОВ ВЛАДИМИР ЕВГЕНЬЕВИЧ, НЕМЧЕНОК АЛЕКСАНДР СЕРГЕЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 11/30
Метки: поверхности, шероховатости
Опубликовано: 23.07.1982
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-945652-sposob-izmereniya-sherokhovatosti-poverkhnosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения шероховатости поверхности</a>
Предыдущий патент: Измерительный преобразователь угловых перемещений
Следующий патент: Бесконтактное пневматическое устройство для измерения линейных размеров
Случайный патент: Устройство для монтажа проводов воздушной линии электропередачи