Патенты с меткой «толщины»
Способ бесконтактного контроля толщины пленочных покрытий изделий и устройство для его осуществления
Номер патента: 1793196
Опубликовано: 07.02.1993
Авторы: Пудовкин, Чернышов, Чернышова
МПК: G01B 7/06
Метки: бесконтактного, пленочных, покрытий, толщины
...о температуре Т(Вн) с термоприемника 3 заносится в блок 11 памяти. Затем по сигналу с микропроцессора механизм перемещения термоприемника изменяет расстояние между источником 2 энергии и термоприемником 3 на расстояние ЛВ 1, равное 0,5-.1 мм. Далее по команде с микропроцессора открывается ключ 4, и информация о температуре Т(Вн+ ЬВ 1) с термоприемника 3 заносится в блок 10 памяти. По сигналу микропроцессора 9 открываются ключи 7 и 8, и на блок 12 вычитания подаются сигналы с блоков 10 и 11, Разностный сигнал ЬТ 1(В) = Т(Вн) - Т(Вн + ЬВ 1) усиливается усилителем 13 и через коммутатор 14 подается на реверсивный двигатель 16, который через блок 21 в соответствии с зависимостью АВ = К ЬТ 1(В) переместит термоприемник 3 относительно источника...
Способ определения толщины граничных смазочных пленок при испытаниях материалов зубчатых передач
Номер патента: 1793197
Опубликовано: 07.02.1993
Автор: Гузенко
МПК: G01B 7/06
Метки: граничных, зубчатых, испытаниях, передач, пленок, смазочных, толщины
...скольжения зубча тых передач пропорционально толщине обтых и редач, полученные последовательно разования граничных смазочных пленок в нач льный момент подачи парафиновых при смазке образцов бензолом (кривая 1), углев дородов в зону контакта вращающих- толуолом (кривая 2), о-ксилолом (кривая 3), ся об азцов (кривая 1) и через 50 - 60 мин триметилбензолом(кривая 4),дифенилметапосле подачи в зону их контакта н-гесана 15 ном(кривая 5) идикумилметаном(кривая 6). при т мпературе смазки 233 К (кривая 2), Способ определения толщины граничн-окт на при температуре смазки 243 К ных смазочных пленок при испытаниях ма(крив я 3), н-декана при температуре смаз- териалов зубчатых передач осуществляют ки 29 К (кривая 4), н-додекана при темпе- ....
Способ определения толщины информативного слоя материала при магнитошумовом контроле изделий
Номер патента: 1793355
Опубликовано: 07.02.1993
МПК: G01N 27/83
Метки: информативного, контроле, магнитошумовом, слоя, толщины
...в образце толщиной б создают в упругой области последовательно одноосным растяжением ичетырехточечным изгибом, производят измерения ЭДС МШ Ер и Еи соответственнопосле каждого нагружения, нагружение осуществляют до одинаковых значений напряжений на поверхности образца, а толщинуинформативного слоя Л определяют из соотношенияЕдЕр - Еогде Ео- ЭДС МШ в ненагруженном образце,.а также осуществляют каждое нагружение до получения одинаковых значений ЭДС МШ, определяют величины соответствующих напряжений сто и (ъи на поверхности образца, а толщину информативного слоя Ь определяют из соотношения(3) Ер - Ео бчто следует из геометрических построений фиг. 1,При нагружении до одинаковых величин ЭДС МШ площади эпюр напряжений при растяжении Яр...
Устройство для регулирования толщины полосы на прокатном стане
Номер патента: 1794518
Опубликовано: 15.02.1993
Авторы: Акименко, Дралюк, Калошин, Конторович, Мишин, Рязанцев, Трофимов
МПК: B21B 37/02
Метки: полосы, прокатном, стане, толщины
...сумматора, второй вход которого соединен с задэтчиком натяжения, выход сумматора 5 10 15 20 25 30 35 40 45 Величина корректирующей добавки нэ выходе интегратора, получаемая в процессе поиска максимума взаимной корреляционной функции, соответствует присутствующей в зто время скорости полосы на входе стана Ч 1, а следовательно, и г,. При изменении скорости прокатки изменится 1, а следовательно, потребуется поиск новой величины корректирующей добавки,Для исключения повторных поисков максимума при изменении скорости прокатки применен умножитель 20, в котором корректирующая добавка на выходе интегратора умножается на входную скоро- СТЬ ПОЛОСЫ,Для облегчения поиска максимума величина Лхдолжна быть такой, чтобы корреляционные моменты К о и К о...
Способ определения оптимальной толщины слоя при уплотнении крупнообломочных грунтов укаткой
Номер патента: 1794991
Опубликовано: 15.02.1993
Авторы: Могильников, Петров
МПК: E02D 3/026
Метки: грунтов, крупнообломочных, оптимальной, слоя, толщины, укаткой, уплотнении
...этой функции будет равно для данного грунта максимально возможному значению плотности, Соответствующее этому значению рвах толщина слоя и будет являться той оптимальной которая позволяет при имеющемся. уплотняющем механизме уплотнить данный грунт до максимальной степени.П р и м е р, Горная масса средневзвешенной крупности б = 0,1 м уплотняется катком на пневмошинах с удельным давлением гт= 150 т/м и эквивалентным радиусом площади нагружения Яо = 0,3 м.В результате лабораторных исследований сжимаемости получена зависимость г 7- а со следующими коэффициентами:о=гп+п( - )я - 5053 +ю Рт+ 6,586 ( - )10Р Т/МТакже прямыми лабораторными испытаниями получено значение ро = 1,51 т/м и зависимость тангенса угла распространения напряжения от...
Способ измерения толщины покрытия на поверхности пленочного материала
Номер патента: 1795267
Опубликовано: 15.02.1993
Авторы: Власов, Кухаренко, Пупышев
МПК: G01B 7/06
Метки: пленочного, поверхности, покрытия, толщины
...определяют по отношению его веса к произведению площади образца на удельный вес материала покрытия. 1 ил. ляют фторопластовое покрытие от полиимидной пленки путем растворения последней в растворителе, взвешивают отделенное покрытие и рассчитывают его толщину по отношению веса отделенного покрытия к произведению площади образца нэ удельный вес материала покрытия,На чертеже показана схема устройства для реализации способа.Устройство содержит рулон 1 с полиимидной пленкой 2, ванну 3 с фторопластовой суспензией, вал 4, термокамеру 5, рулон пленки с покрытием 6, датчик толщины покрытия 7.Способ реализуют следующим образом, На полиимидную пленку 2 методом окунания в ванну 3 с водной суспензией фторопласта наносят слой суспенэии. В термокамере...
Способ определения толщины структурно-нарушенного слоя монокристалла
Номер патента: 1795358
Опубликовано: 15.02.1993
Авторы: Непийвода, Новиков, Швидкий
МПК: G01N 23/20
Метки: монокристалла, слоя, структурно-нарушенного, толщины
...Реально подобная ситуация складывается лишь при использовании20/14 7/5 Обработка алмазной пастой зернистости 8,2- 3 82- 12 9,0- 2 56,8+ 10 12 4. 30+ 735,1+ 4 45+18 Толщина нарушенного слоя, измеренная аз шаю им способом, мкм Толщина нарушенного слоя, полученная 42,4. 5заявляемым способом, мкм Составитель Т. ВладимироваРедактор В.Трубченко Техред М.Моргентал Корректор С.Патр, шева Заказ 426 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул,Гагарина, 101. сравнительно малых толщин нарушенных слоев. В случае кремния на медном излучении при отражении от плоскости (1 И)линейность от Ь зависимости...
Способ определения толщины льда на водоеме и устройство для его осуществления
Номер патента: 1796842
Опубликовано: 23.02.1993
Авторы: Бекиров, Брун, Денисов, Конкин, Мухамедов, Очинский
МПК: F25C 1/12
...устройство дляопределения толщины льда, общий вид; на 35фиг. 2, 3 - то же, в период льдообраэования,нэ фиг. 4 - тарировочный график. Устройство для измерения толщины льда включает полую, герметичную, цилин дрическую оболочку 1, полость которой соединена с манометром 2. Оболочка 1 снабжена крышкой в виде поплавка 3, балластом на днище 4 и запорным клапаном 5 для заполнения полости оболочки рабочей 45 средой; давление которой в исходном состоянии р 1 выше атмосферного ро. Крышка 3 выполнена из малотеплопроводного материала, например, пенопласта. что обеспечивает изоляцию полости. оболочки от 50 колебаний температуры наружного воздуха.Поверхность крышки 3, соприкасающаяся сводой (льдом), покрыта слоем 6, выполненным из материала,...
Способ бесконтактного неразрушающего контроля толщины защитных покрытий изделий и устройство для его осуществления
Номер патента: 1796884
Опубликовано: 23.02.1993
МПК: G01B 7/06
Метки: бесконтактного, защитных, неразрушающего, покрытий, толщины
...к. первому входу центрального процессора 9, второй вход которого через устройство ввода-вывода 10 .5 соединен с клавишным пультом управления11. Один из выходов клавишного пульта управления 11 подключен к управляющему входу третьего электронного ключа 12; информационный вход которого соединен с 10 реохордом. потенциометра 13, а выход - спервым входом компаратора 14, второй вход которого подключен к выходу. блока задания опорных напряжейий уставок) 15.Вход блока уставок 15 соединен с пультом 15 управления 11 Выход компаратора 14 подключен к управляющему входу первого .электронного ключа и входу инвертора 16, выход которого соединен с управляющим входом второго электронного ключа 5. Рео хорд потенциаметра 13 подключен кинформационному...
Мера толщины пленок
Номер патента: 1796886
Опубликовано: 23.02.1993
Автор: Лаанеотс
МПК: G01B 7/06
...с окружающейсредой, совпадает с цилиндрической поверхностью покрытия 2, соприкасающейся с окружающей средой, Кроме того, на внутренней поверхности покрытия 3 выполнен второй кольцевой паз, однородный с основным, дно 6 которого удалено от цилиндрической поверхности покрытия 3, соприкасающейся с окружающей средой, на величину п 2, равную требуемой толщине пленки или покрытия 7 меры. Пленка 7 заполняет второй паз так, что ее поверхность, соприкасающаяся с окружающей средой, совпадает с цилиндрической поверхностью покрытия 3, соприкасающейся с окружающей средой. Прочие линейные размеры меры толщины пленок определяются исходя из размеров и характеристик датчиков поверяемых толщиномеров, а также исходя из кривизны поверхностей...
Способ контроля толщины фторопластового покрытия
Номер патента: 1796887
Опубликовано: 23.02.1993
Авторы: Власов, Кухаренко, Пупышев
МПК: G01B 7/08
Метки: покрытия, толщины, фторопластового
...пленкой 2, ванну с воднойфторопластовой суспензией 3. Пленка 2 охватывает вращающийся вал.4, окунаемый во 20фторопластовую суспензию в ванне 3. Пленка 2 проходит через термокамеру 5 и и ринимается на рулон б. Между ванной 3 итермокамерой 5 установлен емкостный измерительный преобразователь 7.Емкостный измерительный преобразователь 7 (фиг, 2, 3) представляет собой П-об-,разный корпус 8, в котором закрепленыэлектроды 9 (обкладки конденсатора). Емкостный измерительный преобразователь 7 30электрически соединен с блоком измерения10, в котором имеется элемент регулирования 11 (переменный резистор). В плоскостисимметрии емкостного измерительногопреобразователя 7 помещается пленка с нанесенным покрытием, либо кювета 12 с водной суспензией...
Устройство для кулонометрического измерения толщины металлопокрытий
Номер патента: 1797685
Опубликовано: 23.02.1993
Авторы: Кордит, Туманов, Хамин, Шлеенков
МПК: G01B 7/06
Метки: кулонометрического, металлопокрытий, толщины
...злементом 9, Йток подпружи- уменьшить площадь разрушения покрытия, нен относительиокрышки 10 с заправочным расширить технологические возможности, отверстием 11. Крышка установлена на вхопоскольку уменьшение диаметра отверстия де в зайравочную полость ячейки. На выход- "О насадки ячейки, приводящее к уменьшению ном отверстии 11 ячейки установлена. пятна контакта, позволит йроводить изме- насадка 1 З иэ эластичного материала; на-. рение толщины покрытия на криволиней: пример резины, с калиброванным отверсти- ных участках малого радиуса, Для ем.: предотвращения вытекания электролитазаУстройство работает следующим абра-. 15 насадку прй повышении давления в свободзом. . ном от электролита объеме рабочей 3 полоЭлектролит 4...
Устройство для контроля толщины волокнистого материала
Номер патента: 1798611
Опубликовано: 28.02.1993
Авторы: Зотов, Семен-Оглу, Таран, Трищун
МПК: G01B 5/06, G01N 33/36
Метки: волокнистого, толщины
...55 - возможность поворота датчика в поперечном направлении относительно движенияматериала.Работает устройство следующим образом. Подлежащий контролю материал 1, находящийся на подложке 2, приводится в движение в сторону расположения датчика 5, Тележке 2 сообщается возвратно-поступательное движение, Находящийся в контакте с материалом сферический сегмент 4 вместе с осью, на которой он смонтирован, и кареткой 7 совершает колебательное движение, обусловленное силой сопротивления материала в зависимости от наличия локальных уплотнений или рыхлостей. Вместе с тем сегмент 4 совершает вращательное движение вокруг оси штанги 6 за счет момента, вызванного силой трения между материалом и поверхностью сегмента 4 и наличием плеча Э, равного...
Способ измерения толщины немагнитного покрытия на ферромагнитном основании
Номер патента: 1798617
Опубликовано: 28.02.1993
Авторы: Демин, Миронов, Устинов, Фетисов
МПК: G01B 7/06
Метки: немагнитного, основании, покрытия, толщины, ферромагнитном
...сверху магнитной пленки. На магнитной пленке создается домен цилиндрической формы, которь 1 й наблюдают в поляризованном свете через блок визуализации 5. Измеряют диаметр домена, кОторый 2(57) Изобретение относится к средствам контроля толщины покрытий и может быть использовано в неразрушающем контроле ферромагнитных материалов для измерения толщины упрочненного слоя, Цель изобретения - повышение точности измерений. Поставленная цель достигается тем, что магнитная пленка с управляемой доменной структурой, размещенная на контролируемой поверхности, снабжена кольцеобразным магнитом, расположенным параллельно плоскости магнитной пленки. В поляризованном свете наблюдают изменение диаметра цилиндрического домена и , измеряют его, при...
Способ определения оптической толщины осадков
Номер патента: 1306344
Опубликовано: 07.03.1993
МПК: G01W 1/00
Метки: оптической, осадков, толщины
...способа.Оно содержит лазерные источникиизлучения 1 и 2, плоские зеркала 3к 4, делители 5 и 6 пучка, точечныедиафрагмы 1 и 8, Фильтры 9 и 10,приемники 11 и 12, блокОбработки 13,Способ реализуется следующим образом,Оптическое излучение ат лаэернато источника излучения 1 длиной волны Л, и лазерного источника излучения 2 длиной волныс помощью зеркала 3 и делителя 5 посылают в атмосферу вдоль исследуемой трассы. Прк этои излучение каждого пучка Формируют расходящимся. После прохождения исследуемой трассы излучение с помощью делителя 6 разделяется на два пучка и проходит через точечные диафрагмы 7 и 8 к Фкльтры 9 к 10 на приемники 11 и 12, Фильтрык 10 настроены на длины БОБИ 1 в к 1 в соответственное ПРи емнкками 11 и 2 регистрируются...
Устройство автоматического контроля толщины слоя и уровня пульпы в камере флотационной машины
Номер патента: 1801583
Опубликовано: 15.03.1993
Автор: Таюпов
МПК: B03B 13/00
Метки: камере, пульпы, слоя, толщины, уровня, флотационной
...22 регистрацииуровня пульпы, на выходе последнего устанавливается напряжение, пропорциональное уровню пульпы. Одновременно в .40 момент верхнего реверса двигателя запускается блок 15 управления двигателемобесточивающий последний через 1-2 сдвижения щупа вниз, на время паузы, длительность которой задается исходя из45 свойств объекта, По истечении заданной паузы второй блок 15 управления восстанавливает напряжение питания на двигателе 4,способствуя восстановлению движения щупа вниз. Одновременно запускается блок50 задержки 25, длительность выдержки которого задается по времени перемещения поплавка от уровня верхнего реверса УВР надкамерой флотомашины до уровня разгрузки(черпвния) пены Ур (см.фиг.2), Время выдер 55 жки - величина...
Способ определения оптической толщины дисперсной среды по ее голограмме
Номер патента: 1362294
Опубликовано: 15.03.1993
Авторы: Боровой, Вагин, Демин, Донченко, Ивонин
МПК: G01W 1/00
Метки: голограмме, дисперсной, оптической, среды, толщины
...этойчасти пучка излучения Е в отсутствиеголограмиы.По измеренным величинам рассчитывают С = Е/Е, С = Е/Е 2 н,зуя описанный ранее алгоритм, определяютисследуемой среды.(2) где рв - почерпение, определяемое вуальюфотоматериала и определяемое так же, как и у иэ характеристической кривой данного фотоматериала. Исключая из системы уравнений (1), и (2) ро, получаеи трансцендентное уравнение для определенияЛ/2 рк р 4 Л р- рьдЕ + ".-А е - -О 551 яе у 1 еили в более общей формеГм(с)3 + кЬ) о-М 1 1362294зобретение относится к атмосферной оптике и может быть исполь- лсэовано в метеорологии, в исследова"тельских работах по изучению структу- рары дождей и модельных сред для опе-изративного определения оптической тол- мещи дисперсных сред. леЦель...
Способ определения толщины пленочных слоев
Номер патента: 1803733
Опубликовано: 23.03.1993
Автор: Рыбалко
МПК: G01B 15/02
Метки: пленочных, слоев, толщины
...слоя. тронов до насыщения интенсивности выбранной линии спектра и по величине интенсивности насыщения указанной линии определяют толщину пленочного слоя,Способ поясняется примером конкрет- . О ного выполнения на процедуре определе- СЙ ния толщины тонкопленочного покрытия, Ц представля 1 ощего собой твердью растр, яв- (,А) ляющийя исходной структурой для форми- ( Ъ рования тонкопленочных слоев ниобата лития в производстве изделий функциональной электроники. Пленочный слой сформирован на арсенид-галлиевой подложке. Образец облучают потоком электронов с энергией 10 кэВ. Снимая спектр характеристического излучения, регистрируют пики соответствующие Сак 1(3,65 кэВ) и Акд (1,486 кэВ). Исходные значения интенсивности соответственно: 490 и 710....
Способ контроля толщины электропроводного покрытия на диэлектрической пленке
Номер патента: 1805281
Опубликовано: 30.03.1993
Авторы: Власов, Кухаренко, Пупышев
МПК: G01B 7/08
Метки: диэлектрической, пленке, покрытия, толщины, электропроводного
...конденсатор содержит,. генератор синусоидального напряжения 9; трансформатор 10, плоско-параллельный конденсатор 11, через который проходит покрытая водной фторопластовой суспензией пленка 12. Плоско-параллельный конденсатор сОдержит электроды 13, одна пара которых электрически подключена к вторичной обмотке трансформатора 10, а другая пара - к измерителю емкости 14. Картина распределения силовых линий электрического поля между электродами 13 изображена на фиг. 3.Способ контроля осуществляют следующим образом.Предварительно определяют преимущественное направление утолщений и утонений в слое покрытия пленки. Поскольку направление утолщений и утонений, как правило, определяется направлением движения полосы пленки 2 из ванны 3 (в данном...
Способ контроля толщины пленки, нанесенной на ферромагнитную основу
Номер патента: 1805282
Опубликовано: 30.03.1993
Авторы: Борисова, Нилов, Удалов
МПК: G01B 7/10
Метки: нанесенной, основу, пленки, толщины, ферромагнитную
...фер- Л ромагнитный элемент 3 в технологической Ы среде 4 для нанесения пленки и помещены в ОО магнитное поле с регулируемой напряженно- ,) стью Н, создаваемого, например, катушками Гельмгольца 5. Контроль магнитодвижущей силы срабатывания и отпускания можно вести по амперметру 6, включенному последовательно в цепь катушек.Замкнутое и разомкнутое состояние двух магнитоупругих подложек можно определять контактным способом, т,е. по замыканию и разрыву электрической цепи, в которую они включены. Этот контроль мож1805282 Йотп %раб По полученному значению находят толщину пленки, наносимой на магнитоупругие подложки2 дКв = --- + Ко,2+ Хо Составитель А, Нило Редактор Л, Народная Техред М. Моргентаароши рект Заказ 934 Тираж Подписное ВНИИПИ...
Способ измерения толщины смазочного слоя между цилиндрической обоймой и телами качения и устройство для его осуществления
Номер патента: 1812472
Опубликовано: 30.04.1993
Автор: Панов
МПК: G01M 13/04
Метки: качения, между, обоймой, слоя, смазочного, телами, толщины, цилиндрической
...нормальных нагрузок в контакте,С помощью датчиков 9 и блока обработ 10 ки сигналов регистрируют осредненную величину сигнала, соответствующегорадиальному положению тел качения приотсутствии смазки на поверхностях качения,после этого подают смазку, регистриру 5 ют величину осредненного сигнала,соответствующего радиальному положениютел качения при наличии смазки на дорожкекачения, и по разности этих сигналов определяю толщину смазочного слоя в контакте20 тела качения с обоймой, Таким образом особенностью данного способа является то, чтопри определении толщины смазочного слояв контакте измеряют не непосредственно.зазоры межу взаимодействующими поверхностями, а радиальные зазоры между телами качения и датчиками, закрепленнымиоколо...
Ультразвуковой способ определения толщины пленочных изделий
Номер патента: 1535139
Опубликовано: 30.04.1993
Авторы: Бражников, Здоренко, Скрипник
МПК: G01B 17/02
Метки: пленочных, толщины, ультразвуковой
...19)1Ы=- (10)г (1 с Ь) гВыразйв из выражения (10) величи 1ну рК Ь и ггодставив ее в выражение(агс 1 Д --- УР, сЧт р ю м(12)22Из выражения (12) следует, чтотолщина контролируемого изделия независит от Физико-механических харак"теристик материала изделия. Определе"ние соотношения амплитуд прошедшихконтролируемое изделие и излучаемыхакустических колебаний позволяетзначительно повысить их частоту. Так,для пленочных материалов, имеющихтолщину 200-400 мкм, согласно выражению (8) частота акустических колебаний не должна превышать 60"120 кГц(скорость распространения акустических колебаний в материале контролируемого изделия принята равной2100 м/с), что почти на два порядкдвыше максимально возможной частотчв способе-прототипе. Это...
Устройство управления процессом нанесения гальванического покрытия заданной толщины
Номер патента: 1813814
Опубликовано: 07.05.1993
Авторы: Ковальков, Кульков, Ревин
МПК: C25D 21/12
Метки: гальванического, заданной, нанесения, покрытия, процессом, толщины
...помощи блоков 6 и 10 вводит площадь поверхности деталей и уставку плотности тока, а также устанавливает значение Ко коэффициента усиления нормирующего усилителя 8. Таким образом, на выходе нормирующего усилителя 8 до начала процесса формируется уставка количества электричества, которое должно пройти через электролит для достижения заданной толщины покрытия. Это напряжение поступает на один из входов схемы сравнения 5. В процессе гальванопокрытия количество электричества измеряется при помощи аналого-цифрового интегратора тока, выполненного на базе датчика тока 1, преобразователя напряжение - частота 2, счетчика 3 и цифроаналогового преобразователя 4, Измерение производится следующим образом. Известно, что количество электричества О...
Способ ультразвукового контроля толщины изделий
Номер патента: 1817020
Опубликовано: 23.05.1993
Авторы: Бузенков, Зорин, Калугин, Качанов, Мозговой
МПК: G01N 29/10
Метки: толщины, ультразвукового
...входом входного усилителя 6,Способ ультразвукового контроля толщины изделий осуществляется следующим образом.Синхронизатор 1 обеспечивает временную синхронизацию всех элементов устройства, вырабатывая последовательность синхроимпульсов с необходимыми временными параметрами. Генератор 2 зондирующих импульсов формирует пачку радиоимпульсов с заданными параметрами, которые поступают на излучающий электроакустический преобразователь 3 и излучаются в изделие, Отраженные от нижней границы импульсы, задержанные по времени на сэад относительно момента излучения, поступают на входной усилитель 6. коэффициент усиления которого изменяет,ся во времени в соответствии с выходом сигналом, поступающим с блоком 10 временной регулировки...
Способ определения толщины морского льда
Номер патента: 1818606
Опубликовано: 30.05.1993
Авторы: Даньшин, Пешков, Финкельштейн
МПК: G01S 13/95
Метки: льда, морского, толщины
...8 и 9;- амплитуды сигналов, отраженных от нижней границы льда, измеряют с помощью измерителей амплитуд импульсов 10 и 11;- измеряют временные интервалы между импульсами, отраженными от границ льда для обеих поляризаций, с помощью измерителей временных интервалов 12 и 13;- с помощью схемы сравнения 14 сравнивают значения амплитуд сигналов;- в зависимости от результата сравнения амплитуд сигналов от нижней кромки льда для различных поляризаций с помощью коммутатора 13 выбирают одно из двух измеренных значений временного интервала Ь т; соответствующее отраженному сигналу с большей амплитудой сигнала от нижней кромки льда;- пересчитывают измеренное значение временного интервалаД 1 между импульсами, отраженными от.границ льда, в...
Способ определения толщины морского льда
Номер патента: 1818607
Опубликовано: 30.05.1993
Авторы: Даньшин, Пешков, Финкельштейн
МПК: G01S 13/95
Метки: льда, морского, толщины
...импульсы в направлении льда;20 - отраженные от ледового покрова сигналы принимаются с помощью ортогонально поляризованных антенн и приемников втех же плоскостях поляризации;- производят объединение выходных25 сигналов приемников для ортогональныхполяризаций;- измеряют для объединенного сигналавременной интервал между импульсами, отраженными от границ льда;З 0 - пересчитывают измеренное значениевременного интервала т между импульсами, отраженными от границ льда, в толщинульда и по формуле1 =чйт)2,З 5 где ч - скорость распространения радиоволн во льду.Реализация предлагаемого способа приобъединении отраженных ортогонально поляризованных сигналов путем суммирова 40 ния основана на том физическом свойстве,что временной сдвиг...
Способ осаждения конденсатных пленок заданной толщины
Номер патента: 1820304
Опубликовано: 07.06.1993
Авторы: Рыжиков, Скарлыгина, Фискинд
МПК: G01N 17/00
Метки: заданной, конденсатных, осаждения, пленок, толщины
...и емкостью.Способ реализован на установке, принципиальная схема которой приведена на чертеже,На внутреннюю сторону предварительно снятой крышки 1 с помощью микропидетки наносили рассчитанную порцию воды 2, после установки крышки на основание 3 из гидрофобного материала (фторопласт) крышку нагревали электронагревателем 4, а образец 5 охлаждали до температуры ниже соответствующей точки росы с помощью пропускаемой через него воды с заданной . температурой. Температуру испарителя и(57) Изобретение относится к осаждению конденсатных пленок заданной толщины на поверхности исследуемого обьекта, установленного в герметичной емкости с водой в атмосфере ее паров и охлаждаемого ниже температуры точки росы. С целью сокращения трудоемкости в...
Устройство для измерения толщины снимаемого слоя и скорости травления в процессе обработки деталей методом размерного химического травления
Номер патента: 1824461
Опубликовано: 30.06.1993
Авторы: Бабушкин, Гудинов, Иванов
Метки: методом, процессе, размерного, скорости, слоя, снимаемого, толщины, травления, химического
...и индикатор являются типовыми,Устройство работает следующим обраВыделяющийся в поверхности травления гаэ попадает в газособирвющий сосуд и постепенно заполняет его. При заполнении сосуда газом до определенного уровня сосуд перевОрачивается и выпускает газ, При этом магнит приближается к магнитоуправляемому контакту и замыкает его на короткое время. Поскольку магнитоуправляемый контакт подключает при этом источник питания ко входу генератора тактовых импульсов, то это является началом такта, Длительность тактового импульсв определяется времяэвдвющвй цепью, входящвй в задатчикдлительности такта, Значениадлительности тактового импульса в зависимости от твмп ературы раствора устанавливается либо вручную по шкале, нанесенной на панели...
Способ определения толщины нарушенного слоя на поверхности кристаллов
Номер патента: 1455786
Опубликовано: 07.07.1993
Авторы: Ковтун, Полторацкий, Проценко
МПК: C30B 33/00
Метки: кристаллов, нарушенного, поверхности, слоя, толщины
...слоя. В качестве активного газа исг.альзуют газ из элементан, не нходягпих н состав .кристалла и потока, В процессе травления осушествляю; контроль степени дефектности структуры поверхности по концентрации активного газа на поверхности кристалла. За талпгиФ ну нарушенного слоя принимают толщину удаленного слоя, при каторгам концентрация составляет 107. ат первоначальной. Достигают точности апре- Саделения до 1 О А,Затем н камере откачивают вакуум и проводят травление кристалла патокам ионов аргсна с энергией 0,7 кэВ и плотностью тока 10 А см, В процессе травления осуществляют массспектрометрический контроль концрнрации кислорода нг поверхности кристалла и измеряют толцину удаленнго слоя, При тотнпине удаленного слоя, равной 80 А,...
Устройство для автоматического регулирования толщины полосы на непрерывном стане холодной прокатки
Номер патента: 1827304
Опубликовано: 15.07.1993
Авторы: Дралюк, Корытин, Малков, Санников, Синайский
МПК: B21B 37/02, B21B 37/12
Метки: непрерывном, полосы, прокатки, стане, толщины, холодной
...Блок 12 дополнительно задерживает этот сигкал на время транспортирования полосы иэ валков второй клети в валки третьей кле. ти, а блок 13 - на время транспортирования из,валков третьей в валки четвертой клети.Под действием выходного сигнала блока 11 будет изменяться скорость валков первой клети, под действием выходного сигнала блока 12 - скорость валков первой и второй, а под действием выходного сигнала блока 13 - скорость валков первой, второй 5 и третьей клетей стана. Коэффициент передачи К 1 сумматоров 14, 15 и 16 по входам, предназначенным для выходных сигналов блоков 11, 12 и 13, выбран равным 13 части от величины коэффициента К 2 сумматоров 10 по входам, предназначенным для сигналовзаданий скорости валков. В результате,...