Патенты с меткой «толщины»
Рентгеновский измеритель толщины
Номер патента: 1206611
Опубликовано: 23.01.1986
МПК: G01B 15/02
Метки: измеритель, рентгеновский, толщины
...нуля, соединенныйвходом и выходом с усилителем 15напряжения рассогласования, реохорд10 первого клина механически соединен с первым клином 2 и механизмом3 перемещения первого клина и электрически с блоком 11 опорного напряжения, вход второго усилителя 13напряжения соединен с входом усилителя 15 напряжения рассогласования. Кроме того, устройство снабжено последовательно включенными нормирующим усилителем 19 напряжения,вход которого подключен к входуусилителя 12 напряжения следящей 5 1 О 5 20 25 30 35 40 45 50 55 системы, и сумматором 20, выход которого подключен к входу усилителя 15 напряжения рассогласования, а второй вход - к выходу блока 14 выделения сигнала рассоглсования напряжения.Устройство работает следующим образом.Остаточные...
Устройство для измерения толщины магнитных поверхностных слоев
Номер патента: 1206677
Опубликовано: 23.01.1986
Авторы: Лухвич, Рудницкий, Шукевич
МПК: G01N 27/72
Метки: магнитных, поверхностных, слоев, толщины
...4 2 О может служить хром, нанесенный гальваническим путем. Ее толщина выбирается из следующих условий;25 0 усом 2 мм лщину ни Постоянный магни ать ет контролиро покрытий с в е 2-300 мк позвол келевь очностьюолщине с 0,05(сЕПетсисим зон00 в диапсвышение от тклонети силы на акс)ф ( инеиности за ия - толщина а показания шарового сегмента радиу мм- толщи- намаг посто тяж яжения в а оболочки, мм;иченность материаланного магнита, кАм параметро:.ективно итно чесме яниягнитного магнита покрыт ичивание лем. Кр аняет отя, что обеспечива покрытия более од ме того, оболочка т намагородным редохизноса по эксплуат ы немагни овия отст тоянныиции. Нижной обол агнитий прев про дел толщи ран из ус шероховат чки вы влиян ти...
Устройство для регулирования толщины каландрируемого полимерного материала
Номер патента: 1209464
Опубликовано: 07.02.1986
Автор: Ленинг
МПК: B29C 43/24, B29C 70/68
Метки: каландрируемого, полимерного, толщины
...между в;(лками 16 и 20. Неремецение осуществляется исполнительным механизмом, вклк)чаюцими редуктор (не показан) и электродвигатель (не (н)казан).Вал 21 установлен также почвижРо с возможность(о перемещения в направлении стрелки Е от исполнительного механизма.Роликии 2 входят в состав отдельных электрических пеней. 11 ри этом электрическая 10 схема устройства включает катушки магнитных пускателей 1 КМ (пускатель Больше и 2 КМ (пускатель Меньше), контакты этих пускателей 1 КМ 1 и 2 КМ 1, кнопку 15 В (кнсцка Болыне) и кнопку 2 ЯЗ (кнопка 15Меньше) и соединительные провода.Эти элементы занитаны от источника пер( менного (напряжения 220 В.Указанные элементы предназ(Ячены дляу(равления работой двигателя регулирования величиной зазора при...
Устройство для автоматического поддержания заданной толщины изделия в процессе обработки немагнитных материалов
Номер патента: 1216636
Опубликовано: 07.03.1986
Авторы: Загидуллин, Караваев, Шауфлер, Ярин
МПК: G01B 7/06
Метки: заданной, изделия, немагнитных, поддержания, процессе, толщины
...код настроенного зазора,регистрируемый АЦП 8, заноситсяоператором в первый регистр 4 какзаданная величина толщины детали.Фреза 1 отводится в исхоцное положение.Режим активного слежения за толщиной обрабатываемой детали имеетдва подрежима; выработки коррекциии слеженияПереход из одного подрежима вдругой производится автоматическив зависимости от положения фреэы 1.В исходном положении фрезы 1 присрабатывании датчика 2 устройствопереводится в подрежим выработкикоррекции, а в рабочем положениипри срабатывании датчика 3 - в режим слежения. В подрежиме выработки коррекции определяется зависимость точностных характеристик устройства от действия внешних паразитных факто" ров, появляющихся в процессе пос" дедующей работы устройства после...
Магнитное устройство для измерения толщины покрытий
Номер патента: 1216638
Опубликовано: 07.03.1986
МПК: G01B 7/06
Метки: магнитное, покрытий, толщины
...электрических импульсовпредставляет собой анализатор амплитудь 1 импульсов.Магнитное устройство для измерения толщины покрытий работает следуницим образомУстройство приставляют торцом кповерхности контролируемого объектас измернемым покрытием (на чертежене показаны). Магнит 2 притягивается к объекту. Чем больше топцинапокрытия, тем меньше сила притяжениямагнита 2. Генератор 6 постоянноготока создает в первичной обмотке 7датчика 5 силы постоянную магнитодвижущую силу. Магнитная проницаемость сердечника датчика 5 силы вмомент контакта постоянного магнита2 с объектом не меняется, Вст:едствиеэтого показания индикатора (на чертеже не показан) блока 8 обработкиудут нулевыми,При движении механизма 4 отрьвапостоянного магнита 2 вдоль корпуса1...
Устройство для автоматического измерения толщины защитного покрытия
Номер патента: 1217923
Опубликовано: 15.03.1986
Авторы: Давыдов, Деревянко, Иванов, Москаленко, Паршин, Стрекалов, Чернышев
МПК: C23C 2/14
Метки: защитного, покрытия, толщины
...10 установлены в кулачковых пазах 11.Исполнительный орган снабжен кареткой 12 и приводным устройством, цепным транспортером 13. В основании 14 устройства выполнены направляющие 15, по которым происходит движение каретки 12 с исполнительным органом.Цепной транспоретр 13. снабжен пластинами-толкателями 16, а исполнительный орган имеет упор 17. В каретке 12 выполнены наклонные пазы18 для перемещения прижимного устройства в горизонтальной и вертикальной плоскостях.Устройство работает .в автоматическом режиме.Изделие 19, поступающее на измерение, попадает на приемный горизонтальный рольганг (не показан), затем располагается между скобами 2 и 3 прижимного устройства, Включают цепной транспортер 13. Подается команда на...
Устройство для измерения толщины покрытий
Номер патента: 1218292
Опубликовано: 15.03.1986
Авторы: Валюс, Денискин, Кеткович, Клюшин, Кравченко, Курганов, Латухин, Рябов, Ситников
МПК: G01B 11/06
Метки: покрытий, толщины
...работает следующим образом.Свет от источника 1 разделяется светоделителем 6 на два пучка, один из которых зеркалом 9 направляется3 12 на модулятор 7 оптической системы 2, другой - на модулятор 8 системы 3,Модулятор 8 также создает два ,пучка излучения, промодулированных в противофазе относительного друг друга, Первый пучок с помощью зеркал 12 и 16 через отверстие 23 направляется на трубу 5 с покрытием 4.Часть света зеркально отражается от внешней поверхности покрытия 4, другая проходит его, отражается с рассеянием шероховатой поверхностью трубы 5, а затем вновь проходит слой покрытия и выходит наружу.Световой пучок, отраженный покрытием 4, перекрывается экраном 17. Рассеянный свет минует экран 17 и попадает на сферическое зеркало 19,...
Способ ультразвукового контроля толщины и устройство для его осуществления
Номер патента: 1219919
Опубликовано: 23.03.1986
МПК: G01B 17/02
Метки: толщины, ультразвукового
...Эта величинатока усиливается во втором усилителе, С выхода второго усилителясигнал поступает на второй вход вычитающего блока, где происходит компенсация погрешности измерения толщины, обусловленная клиновидностьюизделия. 2 с.п.ф-лы, 1 ил. ультразвуковых колебаний, излучаемый ультразвуковым преобразователем 2, распространяется в материале конт. ролируемого изделия 12, многократно отражается от противоположных поверхностей контролируемого изделия 12 и, воздействуя на обратимый ультразвуковой преобразователь 2, отдает емучасть энергии.Принятые обратимым преобразова - телем 2 ультразвуковые импульсы усиливаются первым усилителем 3 и через пороговый элемент 4, который срабатывает по первому отраженному от дна контролируемого изделия 12...
Способ измерения толщины и удельной электрической проводимости листовых материалов
Номер патента: 1219966
Опубликовано: 23.03.1986
Автор: Сандовский
МПК: G01N 27/90
Метки: листовых, проводимости, толщины, удельной, электрической
...заданному значению напряжения Ор на измерительной катушке, еа - удельная электрическая проводимость материала листа, , - магнитная постоянная. 1 О 15 25 30 40 45 50 Заданное значение напряжения О, изображено в виде дуги окружности радиуса.На фиг.2 и 3 приведены соответственно зависимости параметровиот фазового угла Я напряжения измерительной катушки для различйых значений напряжения О,. Эти зависимости построены по годографам (фиг.1) или путем решения системы уравнений с использованием ЭВИ.Способ измерения толщины и удельной электрической проводимости листовых материалов осуществляется следующим образом.Частоту питающего преобразователь тока изменяют до тех пор, пока относительное напряжение на выходе преобразователя не...
Устройство для определения толщины слоя накипи на теплообменных элементах выпарных аппаратов свеклосахарного производства
Номер патента: 1221245
Опубликовано: 30.03.1986
Автор: Богорош
МПК: C13G 1/06
Метки: аппаратов, выпарных, накипи, производства, свеклосахарного, слоя, теплообменных, толщины, элементах
...на очистку накипи.Целью изобретения является повьппение точности.На фиг. 1 схематически изображено устройство, на фиг. 2 - график изменения амплитуды от частоты.Устройство состоит из двух герметичных сосудов 1 и 2, соединенных трубопроводами 3 и 4. Сосуд 1 заполнен воздухом и установлен внутри корпуса выпарного аппарата 5, вблизи стенки теплообменного элемента 6. Сосуд 2 заполнен жидкостью 7, в которую погружен гидрофон 8, соединенный с атмосферой резиновой трубкой 9. Гидрофон подключен к входу низкочастотного усилителя 10, выход которого соединен с входом осциллографа 11. Соединительные трубопроводы в месте выхода из корпуса выпарного аппарата герметизированы резиновым уплотнением 12. Устройство работает следующим образом.Свеклосахарный...
Дистанционный способ обнаружения и оценки толщины пленок нефтепродуктов на морской поверхности
Номер патента: 1224680
Опубликовано: 15.04.1986
Автор: Погадаев
МПК: G01N 21/21
Метки: дистанционный, морской, нефтепродуктов, обнаружения, оценки, пленок, поверхности, толщины
...оптическими 40 плоскостями алализатора и отраженного излучения. На выходе фотоприемного устройства появляется периодический сигнал, период которого равен половине периода вращения анализато ра в случае кругового вращения последнего, или периоду цикла приокачании в пределах 0-90 , Для определения толщины пленок нефтепродуктов регистрируют частотный спектр сигнала.При отражении от гладкой водной поверхности зависимость интенсивности излучения .т угла выражается соотношением где 1 . - интенсивность падающего на поляризатор-анализатор излучения; 1 - интенсивность пропущен 1 о" го анализатором излучения, - уголмежду оптическими плоскостями анализатора и излучения при .пинейном характере поляризации.Степенной показатель лежит в пределах 1 и2...
Способ контроля эффективной толщины планарного оптического волновода
Номер патента: 1224766
Опубликовано: 15.04.1986
Авторы: Говорун, Клименко, Коротков, Фелинский
МПК: G01M 11/02, G02B 6/12
Метки: волновода, оптического, планарного, толщины, эффективной
...полностью (993) опреде ляется рассеянием в приповерхностном слое О, 1 Л ( Л - длина волны падающего излучения), поэтому интенсивность А-колебаний в регистрируемом спектре КР служит мерой интенсивности вводи 50 мого в волновод излучения и используется в способе как нормирующая величина, Скользящее падение позволяет Также устранить влияние КР подложки благодаря практическому устранению 55 преломлений волны.На фиг. 1 изображены спектры КР для Т-диффузных волноводов на подлож 766 2ке из кристалла ниобата литтия; на фиг. 2 - калибровочная зависимость для таких же волноводов, где К - отношение интенсивности К-колебаний к интенсивности А-колебаний в регистрируемом спектре КР. Калибровочную зависимость получают, например, путем...
Способ измерения толщины пленок на подложках
Номер патента: 1226042
Опубликовано: 23.04.1986
Авторы: Волкова, Лонский, Михалычева
МПК: G01B 11/06
Метки: пленок, подложках, толщины
...ей (У) должны бытьбольше диаметра пучка излучения, чтобы удовлетворять условию ХР/сову и УР, где Э - диа 30 метр используемого при измерениях пучка излучения;- угол падения излучения на плоскость тестовой ячейки, что означает, что пучок излучения не должен выходить за пределы измеряемого в данный момент участка тестовой ячейки. Структура элементов участка А должна быть такой, чтобы хотя бы один размер элементов этого участка не был больше десятков мик рон, от.е.удовлетворял условию а сс9ссЬ - сову, где 6 - угол (в радианах) расходимости используемого пучка излучения; Ь - расстояние от исследуемого участка до точки регистрации отраженного излучения в используемом приборе (эллипсометре) . Это условие способствует уверенному нахождению...
Способ бесконтактного измерения толщины металлических изделий из электропроводящих и ферромагнитных материалов
Номер патента: 1226058
Опубликовано: 23.04.1986
Авторы: Жуков, Каргапольцев, Ольшанский, Симанчук, Янисов
МПК: G01B 17/02
Метки: бесконтактного, металлических, толщины, ферромагнитных, электропроводящих
...электропроводящих и ферромагнитных материалов длительностидиффузионных тепловых эффектов,возникающих при облучении ускорителями электронов, не превышают нескольких микросекунд.Значительные величины амплитудгенерируемых и, соответственно,величины отраженных акустических импульсов позволяют существенно повысить значение сигнала с ЭМА-преобразователя,работающего только в режиме при -ема,снижают требования к величине истабильности зазора между преобразователем и контролируемым изделием 3 и обеспечивают надежную дистанционную регистрацию ультразвуковых колебаний при зазорах не менее1 О мм. Большая крутизна фронтов возбуждаемых акустических импульсов обеспечивает высокую точность измерения толщины изделий, Кроме того,ярко выраженный...
Устройство для контроля толщины проводящих покрытий на проводящей основе
Номер патента: 1226238
Опубликовано: 23.04.1986
Авторы: Лухвич, Саванович, Шарандо
МПК: G01N 25/32
Метки: основе, покрытий, проводящей, проводящих, толщины
...прибором 8.Геометрия рабочих окончаний электродов 1 и 2 такая, что обеспечиваетразную площадь контактных площадокэлектродов при контакте с контролируемым покрытием 5.Устройство работает следующимобразом.Включают нагреватель 6, которыйпроводит температуру электродов 1и 2 до величины 1 . При этом холодный электрод сохраняет температуру 35комнаты и контролируемого изделияСоединения электродов 1 - 3 спроводами для предотвращения появления паразитных ЭДС, искажающих результаты измерения, поддерживаются 40при одинаковой температуре 1 ( какчастный случай 1 может быть равнаС). Электроды 1 - 3 приводят в соприкосновение с покрытием 5. Возлеточек касания электродов 1 и 2 с 45покрытием 5 в поверхностном слоеконтролируемого изделия устанавливаются...
Способ контроля толщины покрытия в процессе напыления преимущественно селена на цилиндрическую подложку
Номер патента: 1228062
Опубликовано: 30.04.1986
Авторы: Зайцев, Котов, Лупарев, Селимханов
МПК: G03G 5/08
Метки: напыления, подложку, покрытия, преимущественно, процессе, селена, толщины, цилиндрическую
...материала на подложку, например селена, теплопроводность которого очень мала (0,123 Вт/м град), замедляется теплопередача через систему: слой селена - подложка, что при стабильной температуре напылителя приводит к понижению скорости нагрева подложки. Так как толщина подложки остается постоянной величиной в про цессе напыления, а температура напыли-, теля, также стабильна, то понижение скорости нагрева может быть вызвано лишь увеличением толщины слоя селена.Тогда толщина слоя фотополупроводникового материала определяется по зависимости: Ь=й(Ъо - Г ),где Й - коэффициент, определяемый конструкцией установки;Ро - скорость нагрева подложки без слояфотополупроводникового материала35Р. - текущее значение скорости нагреваподложки.Причем...
Способ определения толщины тонких покрытий
Номер патента: 1229687
Опубликовано: 07.05.1986
Авторы: Лукьянов, Мамин, Милешкин, Музыка, Налетов, Палатник, Савченко
МПК: G01B 17/02, G01N 29/04
Метки: покрытий, толщины, тонких
...квадрату входного сигнала АЭ. Ключ 8 управляется выходным сигналом компаратора 9, задающего интервал нагрузок, в котором производится измерение. При внедрении индентора 1 нагрузка на деталь 2 возрастает. Датчик 10 нагрузки вы-, 29687 Э 5 11 Ц 26 25 ЗО дает соответственно возрастающий сигнал на первый вход компаратора 9, На второй и третий входы компаратора поступают сигналы от задатчика 11, соответствующие величинам нагрузки 0,1 и 0,9 соответственно от макси- мальной нагрузки на индентор 1, а следовательно, и деталь 2. Величина максимальной нагрузки Р, до которой происходит нагружение, выбирается не менее 500 Н. При достижении нагрузки на индентор величины, равной 0,1 Рвключается компаратор 9 и открывает ключ 8. Счетчик 12...
Устройство для регулирования толщины асбестоцементной пленки
Номер патента: 1230855
Опубликовано: 15.05.1986
МПК: B28B 21/00
Метки: асбестоцементной, пленки, толщины
...датчиком 16, в качестве которого при- цесс.ряетсяме ифференциально-тран- Если же датчик 19 уровня массы в ковшоменяется, например, диффер нот неисп авен по каким-либо приф рмато ный датчик, и при отклонении ее от вой мешалке неисправенсформаторнист ключом управления раззаданнои велич ины поступающей от задатчи- чинам, машинию связи датчика овня 19 с ре 17 РЗД-К регулятор типа РБА-П мыкает линию с д ур 19ка типаа- г лято ом 18 и замыкает линию связи лоля компенсации отклонения пленки от за- гулятором 18дПИ- меняет гического элемента И 13 с регуляторомд анного значения по -закону изна при этом устройство работает следующимподачу массы в ванны путем воздеиствия нисполнительный" механизм 9, связанный с ре. образом.П и гл боком...
Устройство для контроля толщины цилиндрических токопроводящих оболочек
Номер патента: 1231391
Опубликовано: 15.05.1986
Авторы: Лобанов, Нестеров, Панов
МПК: G01B 7/06
Метки: оболочек, токопроводящих, толщины, цилиндрических
...тени Устройство для контроля толщиныцилиндрических токопроводящих оболочек, содержащее источник тока, подключенный к нему электроконтактный датчик с первой группой подпружиненных ножевых контактных электродов и подключенный к ним измерительный блок, о т л ич а ю щ е ес я тем, что, с целью повыпения точности и производительности контроля, оно снабжено второй, идентичной первой, группой электродов, электроды обеих групп расположеныпопарно под одинаковыми углами один к другому в параллельных плоскостях, а вершины 55углов, образуемых пересечениями заостренных кромок ножевых контактных электродов, расположены на одной прямой, перпендикулярной параллельным плоскостям. Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для...
Способ измерения толщины протяженных изделий
Номер патента: 1231393
Опубликовано: 15.05.1986
Авторы: Горбов, Конев, Федотов, Якоб
Метки: протяженных, толщины
...от середины, как показано на чертеже, или 40 предусмотрен делитель напряжения,Способ осуществляют следующим образом.При укаэанном размещении участка контролируемого изделия 6 между элек 45 тродами плоскопараллельного измерительного конденсатора 3 измеряют ток, протекающий через измерительный прибор 5, который определяется геометрическими размерами (толщиной) изделия при обеспечении постоянства напряжения питания измерительной схемы. Благодаря размещению контролируемого изделия в центре измерительного конденсатора и удерживанию его там, например, с помощью роликов, на нем наводится потенциал, равный половине разности потенциалов, приложенной к электродам конденсатора 3, даже при отключенных токосъемниках 7, При этом погрешность...
Способ измерения толщины полупроводникового слоя
Номер патента: 1231404
Опубликовано: 15.05.1986
Авторы: Воронцов, Светличный, Тимофеев
МПК: G01B 15/02
Метки: полупроводникового, слоя, толщины
...технике, в частности, к способам измерения толщины полупроводниковых слоев в производстве полупроводниковых приборов,Цель изобретения - расширение диапазона типов контролируемых полупроводниковых слоев путем исключения влияния толщины слоя и качества р - и-перехода на результаты измерения.На чертеже изображена схема устройства для реализации предлагаемого способа.На схеме обозначены электронная пушка 1, фокусирующая система 2, металлический зонд 3, полупроводниковая пластина 5 с измеряемым слоем 4, металлическое основание 6, устройство 7 запуска, измеритель 8 тока через р -и-переход и устройство 9 смещения.Способ осуществляют следующим образом.Импульсами запуска из устройства 7 одновременно запускаются поток электронов из электронной...
Рентгеновский измеритель толщины
Номер патента: 1231405
Опубликовано: 15.05.1986
МПК: G01B 15/02
Метки: измеритель, рентгеновский, толщины
...образец 5 толщины в поток излучения так, что толщина образца 5 в потоке излучения равна заданному номиналу толщины, и через исполнительный механизм 8 приводит в движение компенсирующий образец 6. Перемещение образца 6 производится до уравнивания сигналов навходах дифференциального усилителя 13,после чего образец 6 фиксируется 5 О исполнительным механизмом 8. При этомстановятся равными толщины образцов5 и 6, а также потоки излучения, попавшие на детекторы 2 и 3.Влияние нестабильности источника 55 излучения и его питания, а также других элементов следящей системы уменьшается одновременным управлениемкоэффициентами усиления усилителей10 и 11, Усилители 10 и 11, а такжеблок 12 управления и логический блок16 образуют систему...
Способ измерения толщины многослойной полимерной пленки
Номер патента: 1233208
Опубликовано: 23.05.1986
Авторы: Березовчук, Кабыш, Кокун, Кузнецов, Остапчук, Погорелов, Скворцов, Тарасевич
МПК: G01B 11/06
Метки: многослойной, пленки, полимерной, толщины
...апертурупучка излучения. Сформированный пространст.венно пучок излучения направляют на спектральнык светоделитель4 делящий излучение на два пучка.,Один яз каторьГх проходит светоделитель 4., а. другой отражается от него.Прошедшее светоделитель 4 излучениепопадает Йа ачтчческии цьиль Гр 5, выделяющий излучение с длиной волнылежащей в области поглощенияконтролируемого слоя полимера. а отраженный пучок направляют на опти -ческий Фильтр 6. выделяющий излучение с длиной волны ьь , лежащей вобласти. независимой ат собственнога поглощения пленки 2. Спектральновыделенное излучение, прошедшее через оптический фильтр 5, перехватывается Фотоприемником 7, а излучениена другой длине волны прошедшее Фильтр б, перехватывается фотоприемником...
Гидравлическое устройство для автоматического регулирования толщины полосы при прокатке
Номер патента: 1233973
Опубликовано: 30.05.1986
Авторы: Алюшин, Кудряшов, Меденков, Сейдак, Тишков
МПК: B21B 37/16
Метки: гидравлическое, полосы, прокатке, толщины
...при прокатке.хсройство содержит Гп,1 роци,Инлрыпо, душек ляцной Ксн лля и;.)Пивоизгибя рабочих валков эОй кгси, соелинснныс с гилростццией 2, лдтчик 3 и зялатчик 4 лавлеия в гилроцплипдрх, поле(лицснпыс к ги;- росяппи 1 2, и сх(.м ,Г 5 Мвеичсц 51в,ения в гилроцилннлрах перел входом полсы 13 КГЕГЬ, 13 КГосс 1011 УО,Я 13)К 5 Цс 31 ИЧИ 51 МЕ- Гс Гс 1 В,н пой К 1 ГИяТИК 6 Н1 ИП 1 я ХСс,.1, с В П РЕЛЫЛУ П и К СГц И ПОС 1 СЛО Вс 1- гелпн соединенные тахогсцсратор 7 нрсдыдуп(й клсги, игсгратор 8, суммируОций уси,итсль 9 н пороговый эл(мент О, ьпхол котОРОГО подсос,инеи к зс);с 3 тикУ 4 Дсв,(.- ния 13илроц 15 ин;рях, ВьхО,ятсикс 6 наличия .мсгялла в предыдущей клсги соединен с цепью запуска интегратора 8, )в- ход датчик 5 н 3.ичи 51;Ст,1 ля в...
Устройство для определения толщины слоя электропроводной жидкости
Номер патента: 1234726
Опубликовано: 30.05.1986
Авторы: Музалев, Нейгебауэр, Падалко, Студенов
МПК: C21C 5/52, G01F 23/00
Метки: жидкости, слоя, толщины, электропроводной
...является наличке двух электродов в единой 40 электрической цепи и контакт электродов с одной из электропроводных жидкостей. В качестве косвенного показателя толщины слоя электропроводной жидкости с сопротивлением К, может слу жить время между двумя замыканиями в электрической цепи: электрод - шлак второй электрод, электрод - металл- второй электрод. При использованииустройства в электродуговых печах в 50качестве электродов могут быть использованы силовые электроды дуговой электропечи, при их перемещении силовойэлектрод, проходящий первым границураздела газ-шлак, является проводя- %5щим электродом, второй силовой электрод выполняет роль измерительногоэлектрода. 26 2Так как силовые электроды опускаются под действием веса собственной...
Устройство для измерения толщины металлической ленты
Номер патента: 1237900
Опубликовано: 15.06.1986
Авторы: Аликин, Балдин, Барменков, Гринберг, Потанин, Халамез
МПК: G01B 7/06
Метки: ленты, металлической, толщины
...последовательно-встречно включенные компенсационные обмотки 7 и 8. Между уста - новленными неподвижно и отделенными рабочим зазором 8 магнитопроводами 1 и 2 размещается контролируемая металлическая лента 9. Обмотки 3 и ч воз 35 буждения подключены к источнику 10 питания переменного тока, а измерительные обмотки 5 и б свободными концами подключены к выпрямителю 11. Компенсационные обмотки 7 и 8 подключены к блоку 12 возведения в степень, выход которого включен последовательно-встречно с выходом выпрямителя 11 и подключен к индикатору (не показан).Устройство работает следующим образом.При размещении ленты 9 точно в середине рабочего зазора 8/ напряжение Опостоянно по величине, которая однозначно связана с толщиной ленты 9. При поперечном...
Устройство для измерения толщины деталей из легкодеформируемых материалов
Номер патента: 1241054
Опубликовано: 30.06.1986
Авторы: Гладкий, Ефремов, Разинков, Рожков, Свиридов
МПК: G01B 5/06
Метки: легкодеформируемых, толщины
...вдоль него и жестко соединен- кой толкателя 2. В толкателе 2 также ный с измерительным элементом 3, пру закреплен элемент 7 управления в тажину 6, установленную между штоком 5 ком положении, при котором его чуви толкателем 2, элемент 7 управления, 5 ствительная часть касается торца на-, жестко установленный в толкателе 2 правляющего стержня штока 5 и связанный с другим концом штока 5, После плотного прижатия упорной узел 8 перемещения толкателя 2, . части корпуса 1 устройства к контроблок 9 управления узлом 8 перемеще- лируемой деталии 12 (напримерк носку сапога валяного) включается ния, связанный с узлом 8 и элеменблок 9 управления, который при помотом 7 управления узла 8 перемещениящн узла 8 перемещения толкателя толкателя 2,...
Устройство для автоматического контроля толщины рукавных полимерных пленок
Номер патента: 1243954
Опубликовано: 15.07.1986
Авторы: Гольдгиссер, Юров
МПК: B29C 47/92, B29C 55/28, B29D 23/00 ...
Метки: пленок, полимерных, рукавных, толщины
...1 и 40 приемник 7 установлены так, что их можностью вращения и осевого перемещения, а кольцо, на котором закреп-.лен приемник, связано с валом зубчатой передачей для соединения с общимприводом, при этом телескопическийстержень связан с налом шарнирнымсоединением, а вал снабжен фиксатором осевого его положерабочие плоскости, параллельные междусобой, параллельны также и участкуповерхности рукава пленки,а их геометрические оси совпадают и перпендикулярны к прилегающему участкуповерхности рукава пленки.Ультразвуковые колебания к излучателю 1 подаются от генератора,размещенного в измерительном электронном блоке 17, по кабелю 18, а сигналы с приемника 7 попадают в измерительный электронный блок 17 покабелю 19.Для перемещения по вертикали...
Устройство для контроля толщины защитных покрытий
Номер патента: 1244478
Опубликовано: 15.07.1986
МПК: G01B 7/06
Метки: защитных, покрытий, толщины
...измеряется.Устройство работает следующим образом. руемому покрытию 17. Инденторы 2 прокалывают покрытие и упираются в поверхность 16. При этом контактная плата 1 О прижимается пружинами 9 к контролируемому покрытию 17. Рукоятку 7 поворачивают до тех пор, пока буртик 5 не коснется платы 10, что вызывает замыкание электрической цепи питания обмотки 13 электромагнита, Электромагнит притягивает якорь 15, который, входя в зазор между зубьями зубчатого колеса 12, Фиксирует положение барабана 4 в положении отсчета. Отсчет толщины покрытия 17 производится по заранее отградуированной шкале, нанесенной на поверхность кулачкового барабана 4. Указателем шкалы служит выступ якоря 15 электромагнита. После снятия устройства с контролируемого объекта...
Способ измерения толщины покрытия
Номер патента: 1245881
Опубликовано: 23.07.1986
Автор: Забродский
МПК: G01B 15/02
Метки: покрытия, толщины
...6 от прямого излучения источника 2 и одинаковые условия измерения интенсивностей рассеянного излучения детекторами 5 и 6. Определяют логарифм отношения интенсивности рассеянного излучения 1 , регистрируемой детектором 5, и интенсивности рассеянного излучения 1 регистрируемой детектором 6, с помощью блока 9 и индицируют выходным прибором О1 а 1 ь 1 п - = 1 п(- -- -) = Р ш о где р - коэффициент ослабления материала покрытия для первойэнергии облучения Е;ш - толщина покрытия1Величина ).и -з завгсит от состава покрытия (, и от толщины покрытия (и.Указанное измерение проводят последовательно в нескольких точках контролируемого изделия и фиксируютКУ 25 где р, - коэффициент ослабления материалом покрытия излучения энергии ЕК - функция...