Патенты с меткой «толщины»

Номер патента: 1744437

Опубликовано: 30.06.1992

Авторы: Аксенович, Головкина, Романчук, Синкевич

МПК: G01B 7/06

Метки: оболочки, парогазовой, толщины

...напряжения, имеющего напряжение, например, 1,5;.;12 В; Конденсатор 16 одной из пластин подключен к электроду 9, расположенному на дне рабочей ванны 3; и к одному из по. люсов источника 10 напряжения постоянного тока, а второй пластиной - к входукоммутатора 17, первый выход которого соединен с вторым полюсом источника 10 напряжения постоянного тока. Второй выход коммутатора 17 подключен к расположенному над поверхностью электролита в рабочей ванне 3 электроду 12 и включенной между двумя электродами цепи.Устройство работает следующим образом,бак-термостат 1 заполняют термостатирующей жидкостью.2. например, водой, Производят тарирование дозаторов электролита 6 и 7, исходя из соотношенияс 81= где - расстояние между штрихами на шкале...

Номер патента: 1744438

Опубликовано: 30.06.1992

Авторы: Плотников, Чернов

МПК: G01B 7/06

Метки: покрытия, толщины

...первуючасть переходного процесса рассмотрим вупрощенной системе: полупространство изматериала покрытия. В этом случае время10 О), когда она настолько мала, что не вноситзаметных изменений в процесс распространения тепла, время максимума температуры км определяется величиной, аналогичной вы 20-) . к т м, определяемому температуропроб с К /4/А гдеА = ар с- теплопроводность материа лов основания и покрытия;К - коэффициент, зависящий от уровняминимальной чувствительности к толщине и конкретного материала. Длл медного покрытия эксперементально найденное зна чение К = 0,21 при минимальном уровне 1мс/мкм (фиг, 2),25 30 35 максимума т м в точке поверхности на расстоянии Е от мгновенного линейного источника определяется по формуле (3); г= Р/4...

Номер патента: 1746213

Опубликовано: 07.07.1992

Авторы: Антонюк, Пищаль

МПК: G01B 11/06

Метки: нанесения, пленки, процессе, толщины

...поляризованное излучение, так как разность фаз Р- и Я-компонент отражен. ного излучения не равна гг (или О), причем степень эллиптичности и направление боль шой оси эглипса определяется оптической толщиной слоя вещества.Параметры эллиптической поляризации отраженноо излучения могут быть определены из уравнения, описывающего 4 О коэффициент отражения рлинейно поляризованного излучения длиной волны 1, падающего под углом р на слой вещества из окружающей средыг + е 2 е 2 фг1 + е е Г 01 РГ 12 р- 21 О 11 + е Г 01.Г 12,- 2 Ж - 2)ГГ 015 + Е Е Г 12 Эгде г 01 р и Г 12 р - коэффициенты отражения Френеля для Р-компоненты излучения, относящиеся соответственно к границам раздела между окружающей с редой и сг оем вещества и слоем вещества и...

Номер патента: 1746214

Опубликовано: 07.07.1992

Авторы: Антонюк, Пищаль

МПК: G01B 11/06

Метки: нанесения, пленки, процессе, толщины

...преломления которого отличен от показателя преломления материала образца, а показатель поглощения близок к нулю, падающее линейно поляризованное монохроматическое излучение при отражении преобразуется в общем случае в эллиптически поляризованное излучение, так как разность фаз Р- и Б-компонент отраженного излучения не равна 2 г(или О), причем степень эллиптичности и направление большой оси эллипса определяется оптической толщиной слоя веществаПараметры эллиптической поляризации отраженного излучения могут быть определены из уравнения, описывающего относительный коэффициент отражения рлинейно поляризованного излучения длиной волныпадающего под углом о на слой вещества из окружающей средыГ 01 + Е Е Г 12 ТФ - 2 д 2 -1 + е с Г 01 Г 2 р...

Номер патента: 1747863

Опубликовано: 15.07.1992

Автор: Левин

МПК: G01B 5/06

Метки: закладными, компенсатора, крышками, редуктора, сборке, толщины

...в редукторах с закладными крышками.Для определения толщины компенсаторов при сборке редуктора с закладными крышками существует ручной способ при помощи щупа, который используется на Ижевском ПО "Редуктор" при сборке редуктора 5 Ц 2-160,Цель изобретения - повышение производительности и точности измерения,Поставленная цель достигается тем, что устройство для определения толщины компенсаторов при сборке редукторов снабжено ложементом, закрепленным на корпусе и предназначенным для размещения в нем крышки, закрейленным на механизме осевого нагружения и установленным в корпусе с возможностью перемещения поршнем и связанным с поршнем и предназначенным для взаимодействия одним концом с крышкой упором, на другом конце которого закреплен...

Номер патента: 1747877

Опубликовано: 15.07.1992

Авторы: Торчинский, Федорцов, Чуркин

МПК: G01B 11/06

Метки: интерференционный, полупроводниковых, слоев, толщины

...всему спектру составляет от единиц до десятков минут. Это приводит к большой длительности процесса измерений и делает способ неприменимым при массовом контроле полупроводниковых слоев впроизводственных условиях.Цель изобретения - повышение производительности измерения.Поставленнаяцель достигается тем, чтона измеряемый слой направляют монохроматическое излучение, а затем регистрируют отраженное от слоя (или прошедшее через него) излучение и путем измерения угла падения излучения на измеряемый слой получают угловую зависимость интен. сивности отраженного слоем (или проведшего через него) излучения, а по угловому расстоянию между экстремумами полученной зависимости определяют толщину слоя,Согласно общей теории интерференциикоэффициент...

Номер патента: 1747890

Опубликовано: 15.07.1992

Авторы: Коноваленко, Окаминов, Панкратов, Панферов

МПК: G01B 15/02

Метки: толщины

...изобретения - повышение точности измерения,Поставленная цель достигается тем, что в устройстве для измерения толщины, содержащем располагаемые по одну сторону от объекта контроля источник излучения и компенсационный детектор, а по другую - рабочий дететор и последовательно соединенные блок обработки, входы которого подключены к выходам рабочего и компенсационного детекторов, и блок отображения, источник. излучения выполнен в виде герметичной емкости с двумя окнами, закрытыми фольгой, заполненной радиоактивным газом и ориентированной окнами в направлении двух детекторов,Это происходит за сцет использования данного источника иэлуцения, который позволяет исключить второй источник в компенсационной схеме измерения и создать идентичные...

Номер патента: 1747894

Опубликовано: 15.07.1992

Авторы: Водотовка, Здоренко, Клушин, Скрипник

МПК: G01B 17/02

Метки: импульсно-фазовое, толщины

...материал, имеющий толщину и.Устройство работает следующим образом,В исходном состоянии между излучающим 5 и приемным 6 пьезоэлектрическими преобразователями размещают контролируемое изделие известной или номинальной толщины и размыкают второй ключ 13.Пьезоэлектрические преобразователи 5 и 6 установлены один против другого соосно на фиксированном расстоянии. Между пьезопреобразователями 5 и 6 находится иммерсионная среда. Высокочастотные электрические колебания фиксированной частоты в с выхода генератора 1 поступают через первый фазовращатель 2 на вход ключа 3 (фиг.2 а)О = Оп, соз (ж 1+ ср )и через второй фазовращатель 16-на один из входов фазового детектора 8 (фиг.2 б).02 = О саз ( вс + р 2 ), (2)Одновременно электрические...

Номер патента: 1572170

Опубликовано: 30.07.1992

Автор: Туберовский

МПК: G01B 7/06

Метки: диэлектрической, пленки, подложке, толщины, электропроводящей

...разлагает электролит, и токв цепи резко падает, цто предотвращает разрушение пленки, По максимальному знацению силы тока и тарировочным зависимостям определяют толщинупленки. 1 ил. станем электрического тока, От истоцника б постоянного тока подаются напряжения на подложку 2 и на электрод 4, поэтому в процессе протек ния тока через электролит сопротивление электролита увеличивается за счет его разложения, цто регистрируют потенциометром 7. Максимальное знацение зарегистрированной силы тока сравнивают с тарировочной зависимостью, которую получают при измерении предложенным способом известных толщин диэлектрических пленок, а также при отсутствии диэлектрицескои плен" ки на электропроводной подложке,ф Составитель И эКОсоян Техред...

Номер патента: 1752460

Опубликовано: 07.08.1992

Авторы: Филатов, Филатова

МПК: B21B 37/00

Метки: полосы, прокатном, стане, толщины

...холодной прокатки, предназначенные для производства тонкои и тончайшей лент и полос из специальныхОтсюда Л 1 а 1ЛЬ ЛЯ.,ЛЬ 2 В этом случае будетсправедливо равен- ство ЛН-ЛЬ 1=0,а.1 ага 1ЛЬ - ЛЬ. 9) Способ реализуется следующим обрао 3 К 12зом,Перед началом прокатки в микропроПо заданному обжатию в первом прохо цессор вводят исходнь 1 е данные процесса,де Лп 1 определчется величина обжая марку стали, ее ширину Б, начальную НО иЛ 12 во втором проходе. Аналогично, конечную 1 толщины, коэффициентыа 1; аг аи; К 1 обжатие в первом проходесЗ, Л 15 й 11, являющееся оптимальным по заданиоЛ 12 =Я Кэ му критерию и по зависимостям (14), 9), (10)определяется число проходов и, рассчитыЛМ, ваются параметры настройки (уставки) регуКЬлятора толщины...

Номер патента: 1753252

Опубликовано: 07.08.1992

Авторы: Пудовкин, Чернышов, Чернышова

МПК: G01B 7/06

Метки: бесконтактного, неразрушающего, пленочных, покрытий, толщины

...нагрев исследуе мого участка изделияЧт - объем иэделия, подвергнутого тепловому воздействию,При нагреве исследуемого участка иэделия с покрытием от температуры Т 1 до Т 2, 55 аккумулированное в изделии тепло опреде- ляется соотношением02= п 2 цо=(С 1 ч+Спч)ЬТ, (2)где Спч - объемная теплоемкость пленочного покрытия на исследуемом участке изделия,Вычитая из выражения (2) выражение (1), получим соотношение (п 2 - п 1) цо=Спч или Ь цо=Сп рп Чл, (3) где Сл, р - соответственно удельная тепло- емкость и плотность материала покрытия;Чл - объем пленочного покрытия, подверженного тепловому воздействию,Поскольку Ч= 6, Я, где Яп - площадь покрытия, подверженная тепловому воздействию, то из (3) получим формулу для определения искомой толщины...

Номер патента: 1753265

Опубликовано: 07.08.1992

Авторы: Глушкин, Рябов, Стеценко, Филонов

МПК: G01B 15/02

Метки: измеритель, радиационный, толщины

...мерой (скажем в пределахот минус 10 до плюс 10 О номинальной толщины), может занимать весь диапазон изменения информационного .сигнала, установленный требованиями ГСП, независимо от диапазона измерений данного толщиномерэ. Например, если диапазонизмерений толщиномера находится в пределах от 10 мкм до 1000 мкм, а толщинаобразцовой меры равна 100 мкм, то информационный сигнал в диапазоне от минус 10до плюс 10 В может соответствовать отклонениям толщины от минус 10 мкм до плюс10 мкм, а не диапазону измерений толщиномера, равному 990 мкм. Кроме того, точность предлагаемого двухкайЗЯЪбго"радиоиэотопного измерителя толщины, егонадежность и быстродействие повышаютсяза счет отказа от электромеханических свя-,зей, характерных для...

Номер патента: 1753379

Опубликовано: 07.08.1992

Авторы: Любецкий, Михнев

МПК: G01N 22/00

Метки: диэлектрических, металлов, покрытий, толщины

...измерения позволяет учитывать влияние металлической подложки, исключить влияние непостоянства зазора и при этом повысить чувствительность за счет использования всей амплитуды поверхностной волны. При этом обеспечивается высокая локальность контроля,В устройстве для осуществления измерения поляризационного параметра - эллиптичности выходной волны используется только один канал, что позволяет исключить нелинейность второго СВЧ- детектора, а также значительно уменьшить габариты первичного преобразователя и упростить приемный СВЧ-канал, который состоит из второго согласующего перехода, оканчивающегося прямоугольным волноводом и СВЧ-детектором. Конец ДВ имеет плавный переход, как и в начале, с квадратного сечения на двугранный клин,...

Номер патента: 1755037

Опубликовано: 15.08.1992

Автор: Фридман

МПК: G01B 7/10

Метки: полых, стенок, толщины, фридмана, электроконтактный, электропроводящих

...торцам парой магнитомягких полюсных на- мер, неорганическими маслами (кремниеконечников 2, выполненных в форме полых,вым и другими), а также магнитомягким цилиндров со свободным полусферическимпорошком-пудрой.. окончанием 3.;::,:.,:,г. Профильный контроль стенок изделийПолюсные наконечники 2 содержат в 40 по данному способу осуществляется следу- своих внутренних осевых каналах 4 посе-ющим образом.ребренные электроды - стержневые щупы 5" У входного отверстия в полость подлес упорным пояском 6 у окончания..::. : жащего контролю изделия 19 устанавливаВо внутренние каналы обоих магнитныхется с наружной стороны подвижная часть наконечников 2 вставлены изолирующие 45 измерительного устрбйства, составленнаяцилиндрические патроны 7 из...

Номер патента: 1755040

Опубликовано: 15.08.1992

Авторы: Глебов, Кабакова, Шендерович

МПК: G01B 11/06

Метки: интерференционного, многослойного, нанесении, неравнотолщинного, оптического, покрытия, толщины

...волны, вычисленной для 35 "йоследнего слоя по формуле, отличается отнуля или 180(вспедствйе некратноСти тол щин слоев); и это отличйе впйяет на реальную топщийу последнего слоя. Ошибка этаможет быть как угодно велика, 40В предложенном способе повышение- то асти контроля происходит за сет того,что при расчете контрольной длины волны всоответствии с соотношением аатоматически учитываются измейения фазы коэффициента отражения, вызванныенекратностью топщин слоев, Кроме того,повышению точностй контроля способствует автокомпенсация ошибок -на сбседнихслоях, которая отсутствует при контроле по 50" . способу, принятому за прототип.П р и м е р, Требуется получить интерференционный фильтр, имеющий полосупропускания 2,1-4,0 мм и полосу...

Номер патента: 1755111

Опубликовано: 15.08.1992

Авторы: Абрамович, Мольков

МПК: G01N 3/58

Метки: минимальной, слоя, срезаемого, толщины

...микротвердости по глубине образца 2 до резания в системе Н, Осг).Распределение микротвердости по глубине образца 2 от первого прохода обозначено графиком 4 в системе Н/ О Ь.Второй проход выполняют с наклоном. режущей кромки резца 1 подострым углома относительно образующей поверхностиМО, полученной в первом проходе, и образованием поверхности с образующей АР.Затем производят измерение поверхностной микротвердости по ширине срезаАР, образованного вторым проходом, например с помощью микроскопа ПМТ-З.Строят график 5 распределения микротвердости по ширине среза АР, ордината которого проходит через точку пересеченияобразующих поверхностей (точка А), полученных в обоих проходах в системе НО 1.На графике 5 распределения...

Номер патента: 1756075

Опубликовано: 23.08.1992

Авторы: Котляров, Сорокин, Царук

МПК: B23K 26/00

Метки: заготовок, лазерной, различной, режима, резки, толщины

...толщины.Заготовка 3 переменной толщины из заданного материала располагается на столе 1 лазерной установки, имеющем.управляемый привод 2 перемещения вдоль направления резки. При использовании в качествесигнала иэ зоны обработки направления истечения газовой струи иэ реза под столом за отверстием в нем располагаются пневматические датчики 4 соосно с лазерным излучением с опережением и отставанием по направлению резки. Датчики подключены к анализатору 5 сигналов, исполнительному механизму 6 привода стола и записывающе му прибору 7, Подается излучение постоянной мощности,достаточной для разрезания заготовки наибольшей толщйны; и включается подача стола "1 с заготовкой 3. Независимо от изменения толщины заготовки скорость резки...

Номер патента: 1756759

Опубликовано: 23.08.1992

Авторы: Белов, Запускалов

МПК: G01B 21/00

Метки: зазора, объекта, толщины

...22, проходимое световым потоком (Фиг.5),Размерц зеркала 4 модулятора выбирают соизмеримые с размерами светового пятна, необходимого для облучения объекта 22, учитывая угол расхождения источника 3. Размер зеркала 10 формирующий рабочий световой поток определяется из подобияй+Ы треугольников фиг,4 и равно р = - у- -, где 1 - длина неподвижного контролируемого объекта 22, 1 - расстояние от оси модулятора 4 до контролируемого объекта 22, п 1 - расстояние от контролируемого объекта 22 до точки пересечения линии, проходящей через оси зеркал 10 и 11 узла формирования 7 с осью устройства, р - размер зеркала формирующий рабочий световой поток, Расположение фотоприемника 6 определяет величину поворота зеркала 10, формирующего рабочий световой...

Номер патента: 1628657

Опубликовано: 23.08.1992

Автор: Соболевский

МПК: G01B 15/02

Метки: радиоизотопный, радиоизотопным, толщиномером, толщины

...ДУ и вчислеиия ХХкД х= --5(Р)Од -Ук)Предельное значение Ь (ДУ) 11;релеляется как двухсторонняя интегральнаоценка при заданной доверительнойвероятности Д (И) йЯЯй,где- квантиль распределения случайной величины, соответствующая доверительной верояностя Р и числу степенейсвободы (и)3Я - среднее квадратическое Откпонение разностей значенивыходного сигнала детектирующего устройстваи - количество Определений разкостей эиачекий выходногосигнала детектирующего устройстваРезультаты .промежуточиых рясчетотакже заносятся в таблицу. Из таблииых данных определяютЬУ.-Й)8= -- - -- =О, 349,и По известному 8 и доверительнойвероятности 0,90, которой соответствует квантиль со 183, определяетД (Й,гО 2и затем40Д Х= - - - -ф 0,202 ф 1,6 мм.5,994-0,816Т.о....

Номер патента: 1758397

Опубликовано: 30.08.1992

Авторы: Аксененко, Ткачев, Яцук

МПК: E21B 47/08, G01B 3/28

Метки: горной, полостью, породе, потолочины, толщины

...25 30 35 40 45 50 55 особенно использования (монтаж и демонтаж става досылочных штанг) при значи- .тельной толщине потолочины (десятки исотни метров), а также потребность в переносной электропроводке и источникетока.Целью изобретения является упрощение конструкции. устройства и снижение. трудоемкости измерений при обеспечениидостаточной надежности фиксации моментавыхода измерительного наконечника изскважины в пустоту (полость).Указанная цель достигается тем, что акачестве мерного элемента использовангибкий подвес в виде мерной ленты или троса, а измерительный наконечник выполненв виде цилиндра, один торец которого, прикрепленный к подвесу, выполнен в аиде полусферы, а другой торец имеет коническуюформу с острым углом а при вершине,...

Номер патента: 1758398

Опубликовано: 30.08.1992

Автор: Косовский

МПК: G01B 3/30

Метки: мера, толщины

...случае рабочей стороной является верхняя поверхность пластины 1 на фиг, 1, Длина 30 ребер пар 2 и 3 равна соответственно длине И и ширине Ь меры, толщина ребер Т 1 и Т 2 не менее 1/20 соответственно расстояний 1 и (2 между ними, высота ребер 11 и п 2- не менее 1/10 расстояний 61 и 6 между 35 ними;Наличие пар 2 и 3 ребер жесткости и правильный выбор их поперечного сечения исключают прогиб или деформирование пластины 1 в процессе ее изготовления и 40 эксплуатации. Расположение пар 2 и 3 ребер жесткости попарно параллельно и взаимно йерпендикулярно по краям пластины 1 исключает прогиб ее при приложении нагрузок как в продольном, так и в попереч ном направлениях к пластине 1. Параллельное расположение пар 2 и 3 ребер жесткости между...

Номер патента: 1758403

Опубликовано: 30.08.1992

Авторы: Павленко, Черепенко

МПК: G01B 5/00, G01N 33/36

Метки: непрерывного, текстильного, толщины

...малого рычага, и служит для преобразования элекаваЪ трических сигналов,Недостатками известного устройства являются малая чувствительность при небольшихизменениях толщины перемещающихся обьектов и необходимость больших размеров рычажной системы,Цель изобретения - повышение чувствител ьности устройства.Указанная цель достигается тем, что вал совмещен с осью преобразователя угловых перемещений в электрический сигнал, а рабочий элемент выполнен в виде диска, закрепленного жестко и эксцентрично на торце вала.Кроме того, величина эксцентриситета составляет 1,1-1,2 максимальной величины изменения толщины исследуемого материала,На чертеже представлена схема устройства для непрерывного измерения толщины перемещающегося...

Номер патента: 1758413

Опубликовано: 30.08.1992

Авторы: Зубко, Кулеш, Лугаков, Сакович, Франюк

МПК: G01B 7/00, G01N 27/90

Метки: металлических, поверхностных, слоев, толщины

...согласно способу частотывыбирают по глубине проникновения так,что один раз вихревые токи в изделии возбуждают в слое, заведомо меньшем, чемначало переходного слоя, а другой раз - взаведомо большем, чем глубина переходного слоя.Повышение точности контроля толщины металлического поверхностного слоядостигается эа счет выбора месторасположения катушек для измерения тангенциальной и нормальной составляющейпеременного магнитного поля, а также засчет выбора частот подмагничивания одной с глубиной, заведомо меньшей глубины проникновения переходного слоя. а другой - заведомо большей глубины переходного слоя, что позволяет отстроиться от влияния самого переходного слоя на показания толщины металлического поверхностного слоя.На чертеже...

Номер патента: 1759492

Опубликовано: 07.09.1992

Авторы: Гагарин, Кушнир, Переходченко, Рудковский

МПК: B21B 37/00, B21B 37/02

Метки: коррекции, полосы, системы, толщины

...жесткости клети определяют каксреднее значение отношения отклонениятолщины к отклонению усилия, измеренныхв момент окончания перемещения нажимного устройства, и корректируют модуль жесткости клети при прокатке последующей полосы,Сравнение заявляемого технического решения с прототипом позволило установить соответствие их критерию "новизна". При изучении других известных технических решений в данной области техники признаки, отличающие заявляемое изобретение от прототипа, не были выявлены и поэтому они обеспечивают заявляемому техническому решению соответствие критерию "существенные отличия".На фиг, 3 представлено устройство для конкретного применения предлагаемого способа; на фиг, 4 - зависимости отклонения толщины и...

Номер патента: 1760347

Опубликовано: 07.09.1992

Авторы: Дмитриенко, Нейгебауэр, Падалко

МПК: C21C 5/52, G01F 23/00

Метки: жидкости, слоя, толщины, электропроводной

...3 перемещения механизма электрододержателя, источник 4 питания измерительной цепи, нагрузочный резистор 5, масштабный усилитель 6, источник 7 опорных напряжений, первый 8 и второй 9 пороговые элементы, элемент НЕ 10, элемент И 11, пусковую кнопку 12, ВЯ-триггер 13, усилитель 14 мощности, датчик 15 перемещения силового электрода, второй элемент И 16, счетчик 17 импульсов и блок 18 индикации.Датчик (фиг.2) 15 представляет собой зубчатую пару (рейка-колесо), устанавливаемую на подвижной и неподвижной частях электрододержателя, Датчик 15 содержит зубчатую рейку 19, установленную на подвижной стойке 20 электрододержателя, и зубчатый диск 21, крепящийся посредством консоли 22 к неподвижной стойке 23 электрододержателя, подпружиненной с...

Номер патента: 1761351

Опубликовано: 15.09.1992

Авторы: Железнов, Каневский, Павлов, Прудковский, Стасюк, Такки, Тихонов

МПК: B21D 39/03

Метки: двух, заготовок, листовых, различной, соединения, толщины

...толщины 8, он соответствует диаметру отверстия матрицы Й, Выдавливание осуществляют до тех пор, пока высота выступа Ь не достигает 210 толщин заготовки меньшей толщины Бр.Затем, осуществляя подпор пакета со стороны заготовки большей толщины б путем ввода дополнительного пуансона 4 в полученную ранее выемкупроизводят осадку цилиндрического выступас раздачей его верхней части воздействуя дополнительным пуансоном 3 меньшего диаметра 0 на его торец. Процесс раздачи, сопровождающийся течением металла в поперечном направлении, прекращают после узрения верхней части выступа 6 до диаметра д, состав 1 тяющего 1,52,5 диаметра отверстия матрицы д. Поскольку по поверхности цилиндрического выступа 7 размещен металл заготовки меньшей толщины 5, а по...

Номер патента: 1762109

Опубликовано: 15.09.1992

Автор: Фридман

МПК: G01B 7/06

Метки: листовых, немагнитных, толщины, электропроводящих

...выводами симметрирующего потенциометра 25, подвижный контакт которого связан с выходом генератора 26 переменного тока.Выход усилителя 22 переменного тока через амплитудный детектор 27 соединен с параллельно включенными входами стрелочного индикатора 28 (вольтметра) и самописца 29.При проведении измерений листовых и рулонных изделий, требующих повышенной степени дискретности и информативности профильного контроля на исследуемых участках площади изделия, излучатель переменного магнитного поля, составленный катушкой 7 индуктивности и элементами 5, 6 бронированного магнитопровода, может быть заменен узлом, выполненным в виде магнитной головки с П-образным или С-образным магнитным сердечником 30 и посаженной на него обмоткой 31 (фиг.2),...

Номер патента: 1763874

Опубликовано: 23.09.1992

Авторы: Зиядуллаев, Кензин, Маслий, Медведев

МПК: G01B 7/06

Метки: кулонометрического, металлических, объектов, покрытий, толщины

...что произвольную часть контролируемого объекта погружают в раствор электролита, определяют площадь поверхности погруженного участка и одновременно проводят анодное растворение покрытия на нем, измеряют количество электричества, пропущенного от начала до конца растворения и с учетом измеренного значения и величины площади поверхности погруженного участка определяют толщину покрытия по закону Фарадея. Отличие способа состоит в том, что в состав электролита для кулонометрического измерения толщины данного покрытия дополнительно вводят комплексообразователь, образующий растворимые комплексы с ионами металла покрытия, и для определения площади поверхности погруженного участка измеряют предельное значение анодного тока, обусловленное...

Номер патента: 1763875

Опубликовано: 23.09.1992

Авторы: Печерский, Шмагин

МПК: G01B 7/06

Метки: аэродромных, дорожных, жидких, непрерывного, осадков, покрытиях, регистрации, слоя, толщины

...устройств для измерения указанного параметра не должна превышать 0,25 - 0,5 мм, При 10повышении скорости транспортного средства погрешность измерений увеличивается,Цель изобретения - повышение точности и производительности контроля. 15Для достижения поставленной цели визвестном устройстве для непрерывного измерения и регистрации толщины слоя жидких осадков на аэродромных и дорожныхпокрытиях, содержащем транспортное 20средство и установленный на нем преобразователь толщины слоя жидких осадков, последний выполнен в виде плоскойпластины, установленной на транспортном .средстве для восприятия потока брызг от 25его колес и связанной с датчиком давления.На фиг.1 представлен один из вариантов устройства в рабочем положении; нафиг.2 - то же,...

Номер патента: 1763884

Опубликовано: 23.09.1992

Авторы: Баранов, Крупицкий, Морозов, Родичев, Сергеенко

МПК: G01B 11/06

Метки: оптически, прозрачных, толщины, элементов

...точность измерения толщины тонких прозрачных пленок зависит от погрешности перемещения амплитудного растра и погрешности при наблюдении гашения дифракционного максимума и непревышает величины Х/40.Целью изобретения является повышение точности измерения и расширение класса контролируемых элементов по степени шероховатости.Для этого дифракционную структуру световой волны формируют с помощью аку.-, стооптического модулятора света, формируют интерференционную картину из нулевого и прошедшего элемент порядков дифракции светового излучения, преобразуют ее в электрический сигнал и измеряют изменение его фазы, а толщину ЬЛ элемента определяют по формуле" -гютРтгде АО - изменение, фазы одного из световых пучков на выходе прозрачного...