Способ определения оптической толщины осадков
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИН 9 П 51)5,С 0 0 Е ИЗОБРЕТЕНИЯСВИДЕТЕЛЬСТВУ П И АВТОРСНОМ трассы источЗи излуют в тмосферы н и Р.Ш.Цвык Ь Ь 0 0 Ь .0 0 0 0 Ь Ятиоар ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР.ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ(71) Институт ОптикиСО АН СССР(56) Авторское свидетельство СССР У 711837, кл. С 01 И 1/ОО, 1978Авторское свидетельство СССР Ф 780676, кл, С О 1 Ч 100, 1979.(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОПТИЧЕСКОЙ ТОЛЩИНЫ ОСАДКОВ(57) Изобретение касается метеорологического приборостроения и позволяет повысить точность определения оптической толщины осадков. Посылают в атмосферу вдоль исследуемойоптическое излучение лазерныхников 1 и 2 с помощью зеркаладелителя 4 пучка. Длину волнычения в одном из пучков выбирадва раза больщей, чем в другом, Всвми пучки формируют расходящимися,поскольку они наименее подверженывлиянию турбулентности. После прохождения исследуемой трассы излучение разделяется делителем 5 на двапучка, проходящие через точечные диафрагмы 7 и 8 и фильтры 9 и 10 на приемники 11 и 12, регистрирующие дисперсии флуктуаций интенсивности вкаждом пучке. 1 ил.1306344 Составитель Б.ДОсовРедактОР А.Бер Техред М.ХОдакич Корректср,лСычева Заказ 1955 Тираж ПодписноеБНИИПИ Государствнного комитета СССРпо делам изобретений к открытий113035 в Москва, Жв Раушская Баб д,45 Прок.";Бадствекна-полиграфическое предприятие, г,ужгород. Изобретение касается метеорологического приборостроения к может быть использовано для дистанционного апре" деления оптической толщины Осадков,Цель изобретения - повышение точности определения оптйческой толщины осадков,На чертеже схематически изображена устройство для осуществления предложенного способа.Оно содержит лазерные источникиизлучения 1 и 2, плоские зеркала 3к 4, делители 5 и 6 пучка, точечныедиафрагмы 1 и 8, Фильтры 9 и 10,приемники 11 и 12, блокОбработки 13,Способ реализуется следующим образом,Оптическое излучение ат лаэернато источника излучения 1 длиной волны Л, и лазерного источника излучения 2 длиной волныс помощью зеркала 3 и делителя 5 посылают в атмосферу вдоль исследуемой трассы. Прк этои излучение каждого пучка Формируют расходящимся. После прохождения исследуемой трассы излучение с помощью делителя 6 разделяется на два пучка и проходит через точечные диафрагмы 7 и 8 к Фкльтры 9 к 10 на приемники 11 и 12, Фильтрык 10 настроены на длины БОБИ 1 в к 1 в соответственное ПРи емнкками 11 и 2 регистрируются дисперсии Алуктуацкй интенсивностей7О-, Ъ, ) к а ( Ъ,) Б каждом пучке с Бязь которых с Оптической толщиной Осадков Г к структурной характеристыкай Флухтуацчй показателя прелом пения атмосферы С,;, имеет Бкп Гдек в коэффициенты праларцк ОНБЛЬНОСТКв ЭаБКСЯЩКЕ От ДЛИНЫ БОЛ- ны, геометрии к.лученкя к длины трассы Разность дисперсий флуктуацийинтенсивности Ос = ( , - ,) Спропорциональна С Зная С , поб (9,)кли 0 (3 ) можно определить С, Для, 5 того чтобы обеспечить высокую точвЯность определения С необходимо,чтобы значение с 6 быпо по воэможностимаксимальным. Поскольку 1 а = 100 48 (К- К )1, , где К 2 н/9 вввК2 ЯЬв нетрудна показать, чтаэта условие обеспечивается при ЪЪ 23 Кроме того, для повышенияточности изиерения оптической толщины осадков необходимо, чтобы, наприиер, С было как можно меньше посравнению с ь . Для этого пучки излучения Формируют расходящимися,поскольку турбулентность влияет наннх меньше всего.20 Таким образом, при выполнении условий % ь 2 , и формировании пучков расходящимися реализуются 25 максимальна благоприятные условия для определения ь и СФормула изобретения Способ определения оптическойтолщины осадков, включающий посылкудвух пучков оптического излучениявдоль исследуемой рассы и прием наее конце излучения через точечные35 диаФрагмы, измерение дисперсий Флуктаций интенсивности в каждом пучке,па величине которых определяют оптическую толщину осадков, а т л к ч аю щ к й с н тем что с целью павы10 шелия точности определения оптической толщины Осадков, пучки опткческо. а излучения формируют расходящимися, а длину волны излучения в одном кз пу .пав выбирают па крайней45 меРе Б Два Раза большейв чем в ДРУго; пучке,
СмотретьЗаявка
3682594, 30.12.1983
ИНСТИТУТ ОПТИКИ АТМОСФЕРЫ СО АН СССР
ЖУКОВ А. Ф, ЛУКИН И. П, ЦВЫК Р. Ш
МПК / Метки
МПК: G01W 1/00
Метки: оптической, осадков, толщины
Опубликовано: 07.03.1993
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1306344-sposob-opredeleniya-opticheskojj-tolshhiny-osadkov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения оптической толщины осадков</a>
Устройство для ввода задания в измеритель толщины с ионизирующим излучением
Номер патента: 1462101
Опубликовано: 28.02.1989
Авторы: Дашевский, Коломийский, Муханова
МПК: G01B 15/02
Метки: ввода, задания, излучением, измеритель, ионизирующим, толщины
...(например, напряжение постоянного тока) подаются на следящую систему перемещения эталонного клина 4; выходы задатчиков 8 и 9 1 О напряжения подаются на концы реохорда 5 и определяют диапазон перемещения эталонного клина 4, выход задатчика 7 подается на второй вход усилителя 2 и определяет необходимое поло жение эталонного клина 4. На первый вход усилителя 2 подается напряжение с токосъемника 6, соответствующее положению эталонного клина 4, выходной сигнал усилителя 2 (разбаланс следящей системы) подается на исполнительный механизм 3, который перемещает эталонный клин 4 в необходимое. положение по отношению к потоку излучения - до исчезновения на выходе усй лителя 2 сигнала разбаланса. При этом перемещение эталонного клина 4...
Устройство для ввода задания в измеритель толщины с ионизирующим излучением
Номер патента: 1589050
Опубликовано: 30.08.1990
Авторы: Бычков, Дашевский, Дятликов, Коломийский, Лившиц
МПК: G01B 15/02
Метки: ввода, задания, излучением, измеритель, ионизирующим, толщины
...в код, учитывающий фактические толщины пластиннабора 6, Одновременно из блока 4 вычисления задания, с его второго выхода, на второй вход кодового сумматора 11 поступает необходимое корректирующее число, соответствующее номинальному значению задания с учетомфактического зна-.ения толщины введенных из набора 6 пластин, При этоманалоговый сигнал с измерителя 1 толщины с иониэирующим излучением, являющийся входным для устройства ввода задания, поступает в аналоговыйсумматор 9, в котором он складываетсяс выходным сигналом блока 8 коррекции, За счет работы цепиобратнойсвязи, охватывающей аналоговый сум=интор 9 и блок 8 коррекции, работа. которого сигналом с выхода переклю,55чателя 7 режима работы разрешена вэтом режиме, сигнал на выходе...
Способ измерения толщины оптически прозрачных элементов
Номер патента: 1763884
Опубликовано: 23.09.1992
Авторы: Баранов, Крупицкий, Морозов, Родичев, Сергеенко
МПК: G01B 11/06
Метки: оптически, прозрачных, толщины, элементов
...точность измерения толщины тонких прозрачных пленок зависит от погрешности перемещения амплитудного растра и погрешности при наблюдении гашения дифракционного максимума и непревышает величины Х/40.Целью изобретения является повышение точности измерения и расширение класса контролируемых элементов по степени шероховатости.Для этого дифракционную структуру световой волны формируют с помощью аку.-, стооптического модулятора света, формируют интерференционную картину из нулевого и прошедшего элемент порядков дифракции светового излучения, преобразуют ее в электрический сигнал и измеряют изменение его фазы, а толщину ЬЛ элемента определяют по формуле" -гютРтгде АО - изменение, фазы одного из световых пучков на выходе прозрачного...
Устройство для контроля толщины оптических деталей
Номер патента: 894356
Опубликовано: 30.12.1981
Авторы: Витман, Гребенюк, Гребнев, Жуков, Захаров, Сазонов, Суминов
МПК: G01B 11/06
Метки: оптических, толщины
...световодов,объе-:4 диненных в единый жгут, расположеныпод углом к плоскости, перпендикулярной осям симметрии световодов жгута.Источники инФормации,принятые во внимание при экспертизеБО 1. Патент США М 3565531кл. 356-156, 23,02.71,2, Бэий"Сален. Волоконно-оптический датчик смещения для исследованияповерхности твердого образца, облу 55 ченного интенсивным импульсным электронным пучком. - "Приборы для научнык исследований", 1975, т, 16, У 7,с. 80-84 (прототип),Это обусловлено тем, что большаячасть светового потока выходящегоиз подающего световода, распространяется в пределах малого апертурногоугла, т,е. почти перпендикулярно кповерхности детали. Поскольку величина ложного сигнала будет зависетьот качества поверхности нижней грании...
Способ измерения толщины оптических деталей
Номер патента: 1442820
Опубликовано: 07.12.1988
Автор: Степин
МПК: G01B 11/02
Метки: оптических, толщины
...те с чувствительным элементом 2, устанавливают расстояние между чувствительными элементами 2 и 3, не превышающее сумму номинального значения размера детали 11 и длины шкалыустройства.Положение штыря 5 фиксируют хомутом 20 6, после чего устанавливают на основание 1 контролируемую деталь 11 и его подвижками при наблюдении в автоколлимационное устройство 1 не показано) производят совмещение оптической оси детали 11 с ли нией Оз 04, вдоль которой производится измерение.Затем перемещают ползун 4 до контакта чувствительного элемента 3 с поверхностью детали 11 и снимают отсчет Ау после чего перемещают ползун 4 до контакта чувстви тельного элемента 2 с второй поверхностью и снимают отсчет Ау . Разность отсчетов по шкале составляет Ав, А = 1....
Предыдущий патент: Измеритель мощности и плотности потока энергии свч излучения
Следующий патент: Способ измерения амплитудной и фазовой характеристик четырехполюсника
Случайный патент: 433487