Патенты с меткой «толщины»

Номер патента: 1245935

Опубликовано: 23.07.1986

Авторы: Желдубовский, Погребняк, Романюк, Ящук

МПК: G01N 3/42

Метки: металла, слоя, толщины, упрочненного

...Тираж 778 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д 4/5Производственно-полиграфическое предприятие, г, Ужгород, ул, Проектная, 4 Изобретение относится к испытательной технике.и может найти применение при определении толщины упрочненного слоя металла.,Цель изобретения - упрощение способа за счет исключения измеренийна эталонных образцах,Способ реализуется следующим образом. Измеряют микротвердость исходного состояния металла при различных нагрузках. Строят график масштабной зависимости микротвердости поверхности металла в исходном состоянии от нагрузки, На любом этапе обработки поверхности металла, приводящей к изменению ее механических свойств, проводят измерение...

Номер патента: 1249328

Опубликовано: 07.08.1986

Авторы: Козлов, Сидорченко, Трайдук, Филиппов

МПК: G01B 17/02, G01N 29/04

Метки: толщины, ультразвуковое

...поверхности контролируемого изделия с разных сторон, отражаются от него и вновь попадают на соответствующие совмещенные преобразователи 3 и 4, возбуждая в них электрический импульс. Эти импульсы усиливаются, формируются селективными усилителями 5 и 6 и подаются на первый и третий входы времяизмерительного блока 11, на четвертый вход которого также подается импульс с выхода первого генератора 12. Излученный совмещенным преобразователем 8 акустический импульс, распространяясь в среде, достигает поверхности рефлектора 9, отражается от него и вновь попадает на совмещенный преобразователь 8 компенсационного канала, возбуждая в нем электрический импульс, который усиливается и формируется селективным усилителем 10 и подается на второй...

Номер патента: 1249414

Опубликовано: 07.08.1986

Авторы: Дроздова, Евграфов, Назарьян, Полиэктов, Чирков

МПК: G01N 23/20

Метки: кристаллической, неразрушающий, подложке, покрытия, толщины

...РЕПЕ Е ,Ияиулт 011 ис 1СуЩИОств с 1 особ; :,;-" кл ед(7 ОЩе М,ЦРИ ДИЪРаКЦИ 11 РЕт ГГОС :.1 ей от какОЙ - либо се зии 1"кристалличсскоЙ под.ожки в т.ИИ ПОК 1 тт,. 01;( т тяжести диф 1 акцио;н,ИЗМЕ.Е.НИЕ .О, т ОВ 01 ЗВСЛЕДС т В 1 Е .0 О, :, та. - .-: т,.тДИФРаКЦИ ПЛОСтОС "7: РИ( ,:Г1;ОДЛОЖКИМЕЩННЫ . т( т 10(.т 1,т.-,;НОСТИ, тта ИЗМЕЕПИ( ВтИ , - , г .т.брЗГГВСКОГО тГЛНлибо сеоии Г.тогко"-:.Й 11( -1 РЫТИЕМ ОТ ИЗМЕНЕНтот 0Говского угл дт,ит;р,.-.(.;д.11 ЛОСКОСТСЙ "Пт( ТО;"т од( 11,"т,МЕтОдИКа ИЗМЕРЕН,я -.;:.1 - ,т.;,; т; - ; В предлагаемом -, тос;:е 1 ИЮ брЗГОБСК 01 " а т, 111 -цени 5 крист,-;.555,(усирукщей зкрт";10и ГОЛЩИНЕ ПОКРЫТ.Я П: - .(С.РИСтаЛЛИтЕ КУО ;,О-.-:ЧЕТНЫЕ СООТНОЕт 5,-;5ТОЛЩИНЫ ( .;10 КрЫТ;.я На т(0;КОЙ пОДлОжке разлитт"...

Номер патента: 1250840

Опубликовано: 15.08.1986

Авторы: Жеромскас, Пикунас

МПК: G01B 7/06

Метки: накипи, толщины

...технике и может быть использовано для контроля толщины отложений на стенках котлов, блоков цилиндров двигателей внутреннего сгорания и других емкостей, на стенках которых возможно образование накипи.Целью изобретения является повышение точности контроля толщины накипи путем проведения измерения в стационарном тепловом режиме.Способ оггределения толщины накипи на внутренней поверхности емкости осуществляют следующим образом.Измеряют начальную температуру емкости и ее внешний линейный размер, например высоту. В емкость помещают источник тепла, например, жидкость с постоянной температурой, в результате чего емкость нагревается. После установления стационарного теплового режима емкости, достижение которого определяют по неизменности...

Номер патента: 1252669

Опубликовано: 23.08.1986

Авторы: Крымский, Кумок, Флакс

МПК: G01B 21/08, G01B 7/06

Метки: диэлектрических, покрытий, толщины

...вибратора 9 укреплен индентор 10. Выход преобразователя 8 амплитуды колебаний соединен с входом включения преобразователя 3, а выход датчика 5 достижения основы изделия устройства соединен с входом остановки преобразователя 3 и схемой 11 возврата механизма перемещения в исходное положение.Устройство работает следующим образом.Изделие с покрытием устанавливают на изолирующую прокладку с датчиком 5 достижения индентором основы изделия так, что его проводящая основа касается датчика. Включается вибратор 7 и механизм 2 перемещения индентора. Подвижный элемент вибратора 7 при этом совершает колебания в плоскости, перпендикулярной направлению перемещения индентора 10, наличие которых фиксируется преобразователем 8 амплитуды колебаний. В...

Номер патента: 1254287

Опубликовано: 30.08.1986

Авторы: Гейн, Коровин, Харланов

МПК: G01B 7/06

Метки: диэлектрических, металлической, подложке, покрытий, толщины

...для измерения толщины диэлектрических защитных покрытий, нанесенных 5 на металлическую подложку.Цель изобретения - повышение точности измерений за счет исключения погрешностей, обусловленных изменениями внешних условий температуры, 10 влажности и т.д.),Способ реализуется следующим образом.При помощи накладного преобразователя, входящего в состав иэмери тельного контура, возбуждают в под". ложке вихревые токи, преобразуют наведенную в преобразователе ЭДС в постоянное напряжение, по величине которого судят о толщине контроли руемого покрытия, при этом при нахождении преобразователя на расстоянии от металлической подложки, равном пяти-семи диаметрам накладного преобразователя, стабилизируют ампли туду колебаний, возбуждаемых в...

Номер патента: 1259102

Опубликовано: 23.09.1986

Автор: Брандорф

МПК: G01B 7/06

Метки: времени, интервал, толщины

...2 и 11 соединены между собойи с третьим входом блока 9 управленияПреобразователь работает следующим образом,Обмотку 3 источника 1 и преобразователь 5 поля накладывают соосно наразные поверхности контролируемогоизделия (не показано) в заданной зоне, В моментключ 2 и ключ 11разомкнуты, ключ 6 замкнут и ключ 10разомкнут. Ток 1(С) источника спадает от стационарного значения донуля, импульс ЭДС е (С) отрицательной полярности интегрируется блоком7. Это состояние схемы остается неизменным на временном интервалей - =2 Величинавыбирается15 20 50 25 30 35 40 45 иэ двух условий: она должна бытьбольше времени существования возмущенного поля вихревых тоФов в электропроводящем неферромагнитном изделии и кратна периоду питающей се-,ти, что...

Номер патента: 1259109

Опубликовано: 23.09.1986

Авторы: Добротин, Паврос, Привольнев

МПК: G01B 17/02

Метки: движущихся, толщины

...генератор 5 высокой частоты, соединенный с одним преобразователем. (1 и 2) каждой пары, последовательно соединенные усилитель 6, первый временной селек" тор 7, первый измеритель 8 временных интервалов, блок 9 вычитания и регистратор 10, последовательно соединенные генератор 11 прямоугольных импульсов, второй вреиенной селектор 12 и второй измеритель 13 временных интервалов, причем вход генератора 11 прямоугольных импульсов подключен к выходу генератора 5 высокой частоты, а второй выход - к второму входу первого временного селектора 7, третий временной селектор 14 входом подключенный к гене" ратору 11 прямоугольных импульсов а выходами - к вторым входам первого и второго измерителей 8 и 13 временного интервала, схему 15 давления,...

Номер патента: 1259110

Опубликовано: 23.09.1986

Авторы: Милославская, Собашко

МПК: G01B 17/02

Метки: толщины, ультразвуковое

...преобразователь 3, Последний излучает в сторону контролируемого изделия 12ультразвуковые волны, которые отражаются от его поверхности и вновь при 55 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 нимаются первым электроакустическим преобразователем 3. Сигналы с выхода последнего усиливаются стробируемым усилителем 4 и поступают на управляющий вход второго генератора 5 зондирующих импульсов., который возбуждает второй электроакустический преобразователь 6. Последний излучает к противоположной стороне контролируемого изделия ультразвуковую волну, которая, отражаясь от поверхности контролируемого изделия, принимается вторым электроакустическим преобразователем 6.Сигналы с его выхода усиливаются вторым стробируемым усилителем 7.По сигналам с выходом...

Номер патента: 1260419

Опубликовано: 30.09.1986

Авторы: Гайлюнас, Пяланис, Янкаускас

МПК: C25D 21/12

Метки: гальванического, покрытия, средней, толщины

...покрытия возможно только импульсным способом, так как требуется разделить гальнанически цели измерения и питания ванны, Измерение сопротивления пленки производится короткими (1 Лмкс) импульсами, которые на измекение толщинь покрытия не влияют, Эанисимость сопротивления от нарастающей толщины пля разных металлов различна и25 Эаранее в постоянную память ЭВМ вводятся следующие данные: удельный 50 вес металла с (г/см ); электрохимический эквивалент металла С (г/Ач); таблицы кривых зависимости сопротивления В (Ом) от покрываемой толщины 1 (мкм) датчика,цля каждого ме талла,Сопротивление В рассчитывается по величине амплитуды импульса поона заранее вводится в постояннуюпамять ЭВМ (например, зависимостьизменения сопротивления для цинка...

Номер патента: 1260671

Опубликовано: 30.09.1986

Авторы: Минина, Симеонов

МПК: G01B 7/06

Метки: покрытий, толщины

...Вертикальная 6 и наклонная 8оси лежат в главной вертикальной плоскости гониометрической головки(совпадающей с плоскостью чертежа),перпендикулярной горизонтальнойоси 7. Столик 2 микроскопа дает возможность перемещать гониометрическую головку 1 в горизонтальной плоскости в двух ортогональных направлениях,Оптическая система микроскопаможет перемещаться вдоль вертикальной оси 6,Измерение толщины покрытия заключается в следующем.Перед нанесением покрытия на поверхности детали в месте, где тре 5 бования к покрытию отсутствуют, закрепляют на уровне с поверхностьюконцентратор напряжения, выполнен ный из материала, коэффициент линейного расширения которого меньшекоэффициента линейного расширенияматериала детали.Покрытие наносится...

Номер патента: 1260683

Опубликовано: 30.09.1986

Авторы: Колесников, Хайдаров

МПК: G01B 21/00

Метки: дистанционного, расстояний, толщины

...на цилиндрический объект 6, отражение пучков происходит вдоль З 0 некоторой длины объекта. Контроль рассогласования отраженных пучков в двух крайних точках этой длины обеспечивает установку геометрической оси этого участка в плоскость 35 сканирования. Датчики 16 рассогласо" вания световых пучков, представляющие собой фоточувствительные линейки, могут быть выполнены, например, в виде линеек из шести фотоэлементов 40 с размерами фоточувствительной области,сравнимой с размерами отраженногосветового пятна. Расстояние между фотоприемниками выбирается таким,что при прохождении через любое место 45 линейки световой пучок вызывает электрический импульс. Линейка из фотоэлементов устанавливается перпендикулярно плоскости сканирования...

Номер патента: 1260697

Опубликовано: 30.09.1986

Авторы: Мардежов, Хасанов

МПК: G01J 4/04

Метки: образцов, оптических, поверхностных, свойств, слоев, толщины, эллипсометр

...изотропных и анизотропных однослойных и многослойных отражающих систем,Целью изобретения является расширение области применения на проведение иммерсионных измерений при больших углах падения света.На чертеже изображена принципиальная схема эллипсометра.Эллипсометр содержит тубуспадающего света и тубус 2 отраженного света, крышки 3 и 4, полые трубки 5 и 6, вставленные в направляющие втулки 7 и 8 каждого из тубусов, оптические окна 9 и 10 из плавленного кварца, прикрепленные к торцу каждого тубуса, мягко гофрированную кювету 11 с дном 12 для размещения образца 13. Кювета расположена на предметном столике 14 и жестко с ним соединена. На дне кюветы имеется отверстие со .дтуцером, который соединен с резиновым резервуаром 15 с помощью...

Номер патента: 1260833

Опубликовано: 30.09.1986

Авторы: Быховский, Шатерников

МПК: G01B 7/06, G01N 27/90

Метки: толщины, электропроводящих

...блок 10 компен сации предназначен длябалансировки измерительной катушки 7 и компенсационной катушки 9, включенных последовательно и встречно. Второй блок 11 компенсации предназначен 55 для балансировки измерительной ка - тушки 6 и компенсационной катушки 8, также включенных последовательно и 833 4встречно. Блок 15 определения направления вектора напряженности высокочастотного магнитного поля вихревых токов предназначен для определения пространственного угла1Блок 17 определения направления вектора напряженности низкочастотногомагнитного поля вихревых токов предназначен для определения пространственного угла ч, Блок 18 вычитания2предназначен для вычитания из сигнала, поступающего с выхода блока 15определения направления вектора...

Номер патента: 1262264

Опубликовано: 07.10.1986

Авторы: Ефремов, Кубарев, Осадчий, Свиридов, Торосян

МПК: G01B 5/06

Метки: легкодеформируемых, толщины

...наконечник 4 измерительногоэлемента 3 должен быть утоплен вкорпусе 1, После плотного прижатиякорпуса 1 устройства к контролируе мой детали 16 и подачи команды на.включение измерительный элемент 3,закрепленный жестко на толкателе 2,начинает перемещаться при помощиузла 8 перемещения толкателя. В начальный момент контакта заостренногонаконечника 4 с деталью усилие на шток5 О 5 не передается, так как торец штока .5 утоплен до середины заостренного наконечника 4. По мере вхождения заостренного наконечника 4 элемента 3 в деталь наступает момент, 5когда выступающая часть торца штока5 упирается в деталь. Шток 5 на некоторое время останавливается (время остановки штока 5 определяетсяв основном скоростью движения толкателя 2). Так как...

Номер патента: 1263412

Опубликовано: 15.10.1986

Авторы: Грудев, Лега, Размахнин, Щипанов

МПК: B21D 37/18, B21J 3/00

Метки: давлением, деформации, металлов, обработке, очаге, слоя, смазки, толщины

...в реакцию с одной из составляющих смазки, а именно 25 с жирной кислотой или ее производной, в результате чего кислотосодержащая составляющая многокомпонентной смазки изменяет свой цвет, При этом иод не вступает в реакцию с другой составляющей - минеральным маслом или другими веществами, не имеющими в своем составе жирных кислот. Это позволяет определить участки пятна, на которых адсорбировались молекулы жирно-кислотной составляющей компаунда. Расчет толщины слоя адсорбировавшихся молекул жирной кислоты производится по формуле где ж - толщина слоя жирно-кислотной составляющей, компаунда;Сж - объемная концентрация жирнокислотной присадки в смазке;Ч - объем наносимой смазки; 45Рж - площадь окрашенной иодом части смазочного пятна.О структуре...

Номер патента: 1265457

Опубликовано: 23.10.1986

Авторы: Булавин, Вардашкин, Воронин, Груздев, Рябушкин, Снимщиков, Харитонов

МПК: G01B 5/02

Метки: компенсатора, редуктора, сборке, стенд, толщины

...подшипника 26. При измерении сначала включают пневмоцилиндр 14 в положение измерения компенсатора, при котором через поршни 13 и 30 на нагружающем цилиндре 12 и нагружающем штоке 29 создаются нормированные осевые усилия, с которыми они воздействуют на подшипник 26 и через втулку 6 с фланцем 7 на распорную втулку 28, благодаря чему в измеряемом редукторе создаются условия, приближенные к идеальным. Плунжер 15 прижимает пластину 4 с измерительным усилием к торцу распорной втулки 28. Привод 24 задает вращение корпусу 25 измеряемого редуктора для самоустановки деталей подшипникового узла, а фиксирующийшток 20 включается в положение контакта 40 фрикционного наконечника 21 с кареткой 16 и фиксирует ее в том положении, при котором датчик 22...

Номер патента: 1265463

Опубликовано: 23.10.1986

Авторы: Борисов, Логачев, Усольцев, Чижма, Чистяков

МПК: G01B 7/04

Метки: движущихся, толщины, упруго-вязкого

...схема предлагаемого устройства,Устройство содержит измерительные наконечники 1 и 2, взаимодействующие с преобразователем 8 перемещения, выход которого соединенс регистрирующим прибором 4 и черезпороговый элемент 5 с разрешающимвходом генератора 6 импульсов, механизмы 7 и 8 отвода, входы которыхсоединены со схемой ИЛИ 9 входы которой соединены с генератором б импульсов и реле 10 движения изделия,а также подпружиненные тяги 11 и 12,Устройство работает следующимобразом.В нормальном режиме изделие движется с постоянной скоростью и толщина его находится в допустимых пределах. При этом реле 10 движения изделия в зоне измерения контактируетс изделием и на выходе его имеетсясигнал, соответствующий движению изделия, Измерительные...

Номер патента: 1265475

Опубликовано: 23.10.1986

Авторы: Вакорин, Сас, Фомичев, Шулаков

МПК: G01B 15/02

Метки: покрытий, толщины

...при которой появляется спектр излучения подложки.На фиг. 1 показан пример реализа.ции предлагаемого способа; на фиг.2 Х.и,А;Е;Аур у у(2) 45 50 1 126Изобретение относится к контролГ- но-измерительной технике и может быть использовано при контроле и измерении толщин покрытий без разрушения материалов с помощью проникающего излучения, в частности с помощью потоков электронов. и рентгеновских лучей.Известен способ контроля толщины изделий и покрытий, основанный на измерении отраженных и дискриминированных по энергии электронов при облучении покрытия моноэнергетическим пучком электронов . И .Способ обладает невысокой чувствительностью, так как энергетический интервал выбирают в зависимости от соотношения эффективных атомных номеров подложки...

Номер патента: 1265583

Опубликовано: 23.10.1986

Автор: Клевцов

МПК: G01N 27/90

Метки: неразрушающего, покрытия, толщины

...использовано для толщинометрии трехслойных изделий в различных отраслях народного хозяйства.5Цель изобретения - расширениефункциональных возможностей за счетодновременного контроля толщин неферромагнитного покрытия и ферромагнитного подслоя на ферромагнитном основании.На. фиг. 1 представлены годографывыходного сигнала преобразователяв зависимости от толщины покрытия;на фиг. 2 - блок-схема устройства неразрушающего покрытия толщины покрытий.1Устройство неразрушающего контролятолщины покрытий содержит последова-тельно соединенные генератор 1, элект ромагнитный преобразователь 2 с компенсатором, усилитель 3, амплитудныйдетектор 4, регулятор 5 амплитуды ивторой индикатор 6, подключенные квторому входу генератора 1, последовательно...

Номер патента: 1266751

Опубликовано: 30.10.1986

Автор: Ткаченко

МПК: B41K 3/04

Метки: различной, толщины, штемпелевания

...положения ванны 12и валика 13 относительно печатнойпластины 19 штемпельной головки 11осуществляется винтом 20 и пружиной21.Для получения четкого отпечаткана поверхности платформы 2 размещенэластичный элемент 22.Устройство работает следующим образом.При подаче рабочей среды в верхнюю полость силового цилиндра 8 шток,9 перемещается вниз на величину зазора Б между роликом 10 и стенкой криволинейного участка 6 паза 5 до упора в эту стенку. При этом печатная пластина 19 упирается в валик 13 и перемещает его вниз на величину8 гВалик 13 через ванну 12 и винт 20 отжимает пружину 21, которая обеспечивает контакт валика 13 с печатной пластиной 19.Так как шарнир цилиндра 8 установлен с эксцентриситетом е относительно оси цилиндра, то воздух...

Номер патента: 1267371

Опубликовано: 30.10.1986

Автор: Красников

МПК: G05D 9/00

Метки: жидкости, слоя, толщины

...возможность перемещения относительно корпуса 9 задртчика. Лимб 13 микрометрического Зо винта 1 О через шестеренчатую передачу 14 соединен с валом 15, на котором закреплен блок 16 трособлочной передачи 17, трос 18 которой закреплен на станине 6 и соединен с упомя З нутым блоком 16, который связан также с пружиной 19, закрепленной относительно корпуса 9 эадатчика, Пластина микровыключателей 12 через рычаг20 соединена с датчиком толщиныслоя 2.Устройство для регулирования толщины слоя жидкости работает следующим образом,Жидкость, толщину слоя которой необходимо регулировать, поступает налоток 4 и воздействует на датчиктолщины слоя 2, в результате измененияпараметров жидкости, например вязкости, изменяется толщина слоя жидкости,протекающей по...

Номер патента: 1270544

Опубликовано: 15.11.1986

Авторы: Алексенко, Брандорф

МПК: G01B 7/06

Метки: времени, интервал, толщины

...1 ощнм .выводам катушек 5 и 6 25и соеднненнь 1 е лоследователь 110Олок9 интегрирования, подключенный кключам 7 и 8, нуль-орган 10 и схему11 упранления., управля 1 ощие выходыкоторой подкл 1 очены к ключам 7 и 8 и з 11источ;.нку 1 треугольного тока, аинформац 11 я 11 нь 1 е в 1;коды предназначеныДПЯ ПОДККЮНЕНПЯ К ИНДИКатОРУ (НЕ ПО"казан)ЯЬндукционный;преобразователь содержит каркас 12 со средней щекой13 Образу 1 ощей Два 1 центичных Окна1 ч и 15 в которых расположены ка-тушки 3 -6 причем в окне 14 расположены катушки 3 и 4, а в окне 15катушки 5 и 6. Намотка катушек 3-6произведена одновременно четырьмяпроводами (не показано) для обеспечения их идентичности,Предлагаемый преобразователь ра"ботает следующим образомИсточник 2 поля и...

Номер патента: 1271602

Опубликовано: 23.11.1986

Авторы: Горелик, Дунаевский, Криклий, Поваляев

МПК: B21B 37/30

Метки: полосы, профиля, толщины

...разности давлений Р = Рв - Рв траверса 7, поворачиваясь вокруг оси подушки, создаетна тяге 11 усилие противоизгиба, апри отрицательной - усилие дополни- .тельного изгиба. Эти силы через тягу11 передаются на подушку 5 установленную на удлиненной шейке рабочеговалка 2.В случае отклонения режима про- О катки от номинального и необходимости снижения силы противоиэгиба (дополнительного изгиба) новое соотношение сил в гидроцилиндрах 8 и 9 вычисляется по уравнениям (1) и (2)блоком 16 управления и передается нарегуляторы 14 и 15 давления, которыев этом случае работают в двух режимах.При первом режиме усилие проти- ЗО воизгиба (дополнительного изгиба) необходимо снизить, т.е. уменьшитьперепад давлений в гидроцилиндрах8 и 9, В этом...

Номер патента: 1272103

Опубликовано: 23.11.1986

Авторы: Госьков, Старостенко

МПК: G01B 11/06

Метки: пленок, толщины

...для установки контролируемого объекта.На чертеже представлена схема предлагаемого устройства.Устройство для измерения толщины пленок содержит источник 1 монохроматического света, две плоскости 2 и 3, расположенные одна относительно другой так, что они образуют щель в направлении, перпендикулярном направлению распространения света, и сдвинутые друг относительно друга в направлении распространения света от источника, линзу 4, фотоприемник 5 и блок 6 регистрации дифракционной картины в плоскости 7.Между плоскостями 2 и 3 под углом с/2 к каждой из плоскостей, расположенных под углом ос одна относительно другой, установлено зеркало 8, предназначенное для крепления контролируемого объекта 9. Вторая плоскость 3 по ходу распространения...

Номер патента: 1272104

Опубликовано: 23.11.1986

Авторы: Билинец, Головач, Кондратьева, Сызранов

МПК: G01B 11/06

Метки: жидкости, поверхности, слоя, твердого, тела, толщины

...инфракрасной радесяцееи атисточника 1 излучения, пагеязая наисследуемую поверхность тзерцсга те -ла 5, проходит слои жидко:те 1 Отражается в точке С, вторична праха,гетслой жидкости и зятем няправлясгся(луч с) на регистрирующий ;вел 3.При этом пластина 2 выдвинута и непопадает в ход луча. В этом случаеимеет место ход луча па рабочему каналу, причем мощность излу гения, попадающего на регистрирующий узел 3,пропорциональна прапусканию слоежидкости на поверхности тверцагс тела 5, прапусканию паров жидкости надисследуемой поверхностью и коэффициенту отражения этой поверхности,Для создания Опарнога каняля впоследующий момент времени в ход луча от источникаизлучения при помо.щи виброприводя вводится пластина 2,При этом геаток...

Номер патента: 1273732

Опубликовано: 30.11.1986

Авторы: Бабушкин, Кувшинов, Нимаев, Пахтин

МПК: G01B 5/02

Метки: крупногабаритных, толщины

...5 и цифропечатающим устройством 6. С кареткой 1 соединены датчики 7 - 9 ограничения линейных перемещений.Устройство снабжено механизмомподъема каретки над контролируемойдеталью 10 (фиг.З), выполненным ввиде основания 11, установленного накаретке 1 с возможностью поворотаотносительно оси 12, с выдвижнымиопорами 13. Устройство также снабжено механизмом 14 поворота каретки,фиксатором 15 взаимного положениякаретки 1 и основания 11 механизмаподъема, неподвижным упором 16, подвижным упором 17, установленнымсвозможностью перемещения вдоль каретки 1 от привода 3 через предохранительную муфту 18 и винтовой передаточный механизм 19.Расстояние а между направлениемперемещения подвижного упора 17 иосью 12 поворота каретки 1 выбирается из условияа...

Номер патента: 1280311

Опубликовано: 30.12.1986

Автор: Альперович

МПК: G01B 11/06

Метки: нанесенных, пленок, подложку, толщины, тонких

...Результатвзаимодействия лучей, отраженных отформула из обр ет енияверхней и нижней поверхностей пленки 4 О1, регистрируется устройством 6. При;измерении изменяют длину волны интерферирующих лучей и фиксируют зна,чения длин волн, соответствующиедвум соседним максимумам или минимуВыполнение пластинки клиновидной 35 дает возможность исключиь ияниена результат измерений засветки, вызываемой отражением от верхней поверхности. Способ измерения толщины тонкихпленок, нанесенных на подложку, за"ключающийся в том, что освещаютконтролируемую пленку пучком инфра 45 красного излучения, наблюдают интер" Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины пленок,прозрачных в инфракрасной...

Номер патента: 1280511

Опубликовано: 30.12.1986

Авторы: Виноградов, Москвин, Фрадкин

МПК: G01N 27/83

Метки: основе, покрытий, толщины, ферромагнитной

...ного пзапмодеззстния с покрытием 1 б, Онп носирипимаются измеригельной обмоткой 5 преобразователя 4 и усиливаются устгиителем б, Для исключения влияния величины зазора, образован- . ного покрьш ием, и поддержания постоянной ззеличины шумов Баркгауэена н изделии величина тока иеремагнйчинатия изменяется управляющим сигналом низкочастотной составляощейспектра ЗДС умов Баркгаузена, которая ныде;тяется фзцьтром 10 нижнихчастот, усилинается усилителем 11 и 2поступает на блок 2 управления. В блоке 2 происходит сравнение поступающих на его входы сигналов: постоянной амплитуды с генератора 1 и изменяющегося, в зависимости от зазора между преобразователем 3 и изделием 13, с усилителя 11, при этом ток перемагничинания будет...

Номер патента: 1280519

Опубликовано: 30.12.1986

Автор: Муляр

МПК: G01B 17/02, G01N 29/00

Метки: слоя, толщины

...следующим образом.На поверхности слоя 3 устанавли вают совмещенный и приемный преобразователи 1 и 2 таким образом чтоА А 41Г -Е =-й 41иакс а а 2 С 1 где Й, - частота излучения;- толщина слоя 3;С - скорость распространенияУЗ колебаний в материалеслоя 3,Так как Т=2/С, толщину ( слоя 3определяют по времени Т с учетомчастоты Йиз выражения АТ К о 3 Т+ и 3 Г 2 2,) Тслоя 3 С рас- материатолщиноии скоростьолебаний в Одновременно можно определить пространения УЗ ле слоя 3 из выр ния 9 2преобразователем 1 излучают непрерывные УЗ колебания и осуществляют поворот УЗ пучка с фиксированной угловойскоростью 44 так, чтобы отраженный донной поверхностью слоя 3 сигнал скользил по другой поверхности слоя 3,перемещаясь в сторону приемного преобразователя 2,...