Патенты с меткой «толщины»
Способ измерения толщины слоев многослойных изделий
Номер патента: 1665221
Опубликовано: 23.07.1991
Авторы: Герасимов, Кузнецов, Маруняк, Мякинькова, Останин, Рапопорт
МПК: G01B 7/06
Метки: многослойных, слоев, толщины
...где приняты следующие обозначения: 1 - изделие, 2 - межслойные элементы, 3 - вихретоковый преобразователь, 4 - индикатор межслойные элементы 2 выполнены из проводящего материала в виде шайбы (кольца).Способ реализуется следующим обраизмерения. Способ реализуется следующим образом, При изготовлении изделия 1 между его слоями размещают межслойные элементы 2, выполненные в виде шайбы. Элементы 2 размещают согласно определенной схеме. После изготовления изделия 1 проводят разметку его наружной поверхности в соответствии с указанной схемой. Размещают на поверхности изделия 1 преобразователь 3 и перемещают его над межслойными элементами 2, регистрируя на индикаторе 4 экстремальное значение сигнала преобразователя 3, Экстремальное...
Мера толщины покрытий
Номер патента: 1665222
Опубликовано: 23.07.1991
Авторы: Гаспаров, Косовский, Ладягина, Шейнин
МПК: G01B 7/06
Метки: мера, покрытий, толщины
...в него преобразователя, С помощью прижимов 7 (фиг,2) осуществляется прижатие фольги 2, выполненной в виде узкой ленты, которая. натянута на опоры 5.На нижней поверхности пластины 3 выполнен выступ, противоположные стороны которого строго параллельны одна другой.Диаметр отверстий под винты креплений в опорах 5 несколько больше диаметра крепежных винтов. Это позволяет при креплении опор 5 прижать их вплотную к , противоположным сторонам выступа и тем обеспечить их строгую параллельность друг другу, Основание 1 плоской широкой сторо-ной прикреплено к диэлектрической пластине 4, Через основание 1 и пластину 4 проходят четыре винта, с помощью которых они соединяются в одно целое с пластиной 3, Кроме того, с помощью винтов осуществляетсяя...
Способ измерения толщины высокоомного слоя в полупроводниковой р -структуре
Номер патента: 1665223
Опубликовано: 23.07.1991
Авторы: Егоренков, Либерман, Лобанов
МПК: G01B 7/06
Метки: высокоомного, полупроводниковой, слоя, структуре, толщины
...дЧ/г 11) напряжение выброса не зависит от амплитуды импульсов.Реально существующие толщины 1- слоя, которые необходимо измерять, лежат -в пределах 5-200 мкм, Условно разобьем этот диапазон на 3 поддиапазона от 5 до 30, от 30 до 100 и от 100 до 200 мкм.При осуществлении способа верхнее значение крутизны Яц нарастания импульсов установлено равным 10 В/с(для поддиапазона толщин 1-слоя - равным 5-30 мкм). При больших значениях скорости нарастания напряжения, например, равных 10 В/с, напряжение выброса составит величину 300 В. Для надежного измерения таких сигналов, например, с помощью широкополосных осциллографов требуется не более десятков вольт. Кроме того, и это главное, для малых толщин 1-слоя напряжение выброса необходимо...
Устройство для автоматического контроля толщины и скорости осаждения покрытия на деталях в гальванической ванне
Номер патента: 1340248
Опубликовано: 30.07.1991
Авторы: Габодзе, Гогичаишвили, Пирцхалава, Рухая, Филиппович
МПК: C25D 21/12
Метки: ванне, гальванической, деталях, осаждения, покрытия, скорости, толщины
...15, 134 Э 2 ЯСуммдрный поток обратно рассеянного излучения от электрода-свидетеляи покрытия возрастает с увеличениемтолщины покрьггця. Полученная информация вводится в УВМ н вычисляетсязначение Л М М, - М , где 1 = 1,2,3, , и - порядковый номер измерения, которое произведено в моментвремени, 10Периодичность измерений и массивзначений д М определяются программойработы УИМ в соответствии с шифроми коэффициентом конфигурации покрываемых деталей, а также кодом матери- т 5ала покрытия, предварительно введен"ных в память машины.По найденному интервалу, содержащему 3 М определяется значение толщины покрьггия 1; и интервалы времени 20за которые достигнутаданная толщина Покрьггия.Если технические параметры ваццыне имеют отклонений от заданных,...
Устройство для автоматического регулирования толщины полосы на прокатном стане
Номер патента: 1667972
Опубликовано: 07.08.1991
Авторы: Браун, Кузнецов, Лаптев, Лаушкин, Левченко, Осокин, Петров, Плахотников, Слободской, Хен
МПК: B21B 37/24
Метки: полосы, прокатном, стане, толщины
...оптимального регулятора канала электро- гидравлического привода распора опорных валков формируются сигналами с выходов датчика 42 положения позиционного золотника. датчика 43 рабочего тела в гидроцилиндрах 23, интеграторов 49 и 51 на выходы сумматора 40,Рассмотрим укрупненную схему системы, показанную на фиг. 2, За счет введения взаимосвязей между каналами компенсация возмущающего воздействия. порождаемого продольной разнотолщинностью подката 58 осуществляется каналами злектропривода нажимных винтов, электропривода задней моталки и электрогидравлического привода распора опорных валков следующим образом, Первый основной силовой канал электропривода нажимных винтов отрабатыбает возмущающее воздействие независимо от работы других каналов....
Способ измерения толщины плоских мелкодисперсных кристаллов
Номер патента: 1668846
Опубликовано: 07.08.1991
Авторы: Гаврилов, Коварский, Новгородская, Твалчрелидзе
МПК: G01B 5/06
Метки: кристаллов, мелкодисперсных, плоских, толщины
...кристаллов, заключающийся в том, что осуществляют разделение кристаллов на фракции по размерам в восходящем потоке жидкости, после чего каждую фракцию помещают в раствор ацетон-толуола, содержащий 3 части ацетона и 1 часть толуола, перемешивают раствор и высушивают фракцию путем пропускания через нее воздуха, давление которого поддерживают ниже атмосферного, определяют удельную поверхность в каждой фракции и определяют толщину кристаллов в каждой фракции,. СОд 60000 СОЪ3 ьгде д - средняя толщина(фракции, мкм;Ч - плотность кристаллов, г/см;Яуд - удельная поверхность кристаллов-й фракции, см 2/г,Слипание мелкодисперсных плоскихкристаллов устраняется нейтрализациейэлектростатических сил сцепления междуповерхностными зарядами...
Способ измерения толщины изделий из немагнитных материалов
Номер патента: 1668854
Опубликовано: 07.08.1991
Авторы: Жарик, Клявлин, Колосов, Марголин, Мельничук
МПК: G01B 7/06
Метки: немагнитных, толщины
...ферромагнитное тело в виде упругого стержня 2 со сферическим наконечником 3.Упругий стержень 2 жестко закреплен в точке подвеса в корпусе 4. Измерительный , блок имеет также две задающие катушки 5, подключенные к генератору 6, Кроме того, на стержне 2 закреплен датчик 7. подсоединенный к осциллографу 8. К внутренней я вплотную подведен электзаземленным магнитопровоествляют следующим обра 3 1668854М - жесткость колебательной системы;в - масса колеблющегося тела.Далее измерительный блок подводитсяк внешней стенке изделия таким образом, чтобы между ними был некоторый воздуш ный зазор д позволяющий свободно коле -баться ферромагнитному сферическому наконечнику 3.С- противоположной стороны иэделия располагают электромагнит 9 и на...
Способ измерения толщины тонких пленок
Номер патента: 1668858
Опубликовано: 07.08.1991
Авторы: Батище, Кузьмук, Мостовников, Татур
МПК: G01B 11/06
Метки: пленок, толщины, тонких
...толщину пленки контролируемого объекта. 2 ил,ботающего в непрерывном режиме, например, Не-Ме лазер с длиной волны 632,8 нм, Отраженное излучение измерительного пучка с помощью линзы 1:регистрируется детектором Д, выходной сигнал которого пропорционален интенсивности отраженного излучения (фиг.2). Под действием импульсного излучения зондирующего пучка слой пленки проплавляется на некоторую глубину. При охлаждении расплавленный слой рекристаллизуется. По структуре рекристаллиэованный слой аналогичен слою до воздействия излучения зондирующего пучка за счет быстрого эпитаксиального роста от непроплавленного слоя пленки. По мере увеличения энергии зондирующего пучка глубина проплавления пленки всэрастает, и при некотором значении энергии,...
Способ измерения толщины покрытия
Номер патента: 1670333
Опубликовано: 15.08.1991
Автор: Дьячков
МПК: G01B 5/06
Метки: покрытия, толщины
...ее природой и концентрацией раствора ре. ак 5 ивд, д также температурой поверхности и этого растворд, и может изменяться в широких пределах, Достаточной является полунорелальная концентрация раствора рс актива - 0,5 Г 1 (0,5 грамм-эквивалентов веществд в литре), обусловливающая продолжительность обработки в пределах 5-15 с не более, Незначительный объем растворов применяемых реактивов 0,03-0,05 см3 при укдзднных концентрациях и длительности реакции определяют крайне еезначитечыну 5 о толщину (порядка нескольких ангстрем) слоя на гранях отпечатка, подвергдюицегося действию реактива, что не оказые 5 дег практически влияния на точность измерения толщины покрытия.На фиг.1 изображен контур алмазного иедентора на поверхности покрытия 1 и...
Способ измерения толщины окисной пленки жидких металлов
Номер патента: 1670367
Опубликовано: 15.08.1991
Авторы: Бабаян, Глушенко, Попов, Рущенко, Хэрник
МПК: G01B 7/06
Метки: жидких, металлов, окисной, пленки, толщины
...которого измеряется, погружают электрод 3, являющийся катодом. Второй электрод 4, выполненный в виде пластины и являющийся анодом, располагают над поверхностью окисной пленки. Подают напряжение Оа постоянного тока на электроды от источника питания (не псказан). Между электродом 4 и поверхностью расплавленного металла появляется электрическое поле, которое уменьшает работу выхода электронов с поверхности расплавленного металла. Вылету электронов с поверхности расплавленного металла способствует также и термоэлектронная эмиссия.1670367 Электроны, обладающие достаточнымзапасом энергии, пробивают окисную пленку и, пролетев через вакуум 5, попадают наэлектрод 4. Таким образом по цепи: электрод 3 расплавленный металл 1 - окисная...
Устройство для измерения толщины льда
Номер патента: 1670369
Опубликовано: 15.08.1991
Автор: Ерохин
МПК: G01B 7/06
Метки: льда, толщины
...между измерениями эгектвключены для того, чтобы удерОнечники в отжатом состоянии, в окружающее пространство от поступает тепло, которое разооду. Возникает конвективное стаьляющее тепло к гьдообразуке, В результате процесс образов зоне действия измерительного кэ искажается.изобретения является повышети измерений путем уменьшения пловых процессов в воде на Оро- бразования На чертеже приведена схема устройства.Устройство содержит скобу 1, которая крепится к стенке ледового бассейна 2. На скобе 1 крепится привод датчика 3 перемещения. втяжные элкетромагниты 4 (надводный и подводный), якоря 5 которых соединены с измерительными наконечниками 6 На нижнем торце подводного втяжного электромагнита 4 установлен электромагнитный захват 7. Обмотки...
Способ измерения толщины диэлектрического слоя на поверхности полупроводника
Номер патента: 1670384
Опубликовано: 15.08.1991
Авторы: Адамян, Барсегян, Паносян, Чибухчян
МПК: G01B 11/06
Метки: диэлектрического, поверхности, полупроводника, слоя, толщины
...О =(1/2 а) п(ЙЙ 1 - 2 Й 1 1)Й 2/(Й - Й 1, где Й = (и - 1)/(п 11)2, Й 2 = (п 2 - п 1)/п 2п 1)1, определяют толщину б контролируемого диэлектрического слоя. 1 ил.С Облучают контролируемый образец пуч- О ком монохроматического света с длинойволны, для которой выполняется условие С) 1 а( 10 см,где а - коэффициент поглощения (р,) материала диэлектрического слоя, измеря- (ф ют интенсивность Й света, отраженного от ф поверхности диэлектрическо о слоя, коэффициент а поглощения, показатели п 1, п 2 преломления материалов диэлектрического слоя и полупроводника, соответственно, вычисляют коэффициенты Й 1 и Й 2 отражения от диэлектоического слоя и границы диэлектрик/полупроводник, соответственно с оомощью выражений1670384 и определяют...
Способ измерения толщины тонких пленок, нанесенных на подложку
Номер патента: 1670385
Опубликовано: 15.08.1991
Авторы: Рыков, Харионовский
МПК: G01B 11/06
Метки: нанесенных, пленок, подложку, толщины, тонких
...значенияющих соседнимэксционной картины втре,Из формулы (1) следует, что в спектрах прозрачности при длинах волнЯох = , пч = 2, 4, 6 (2) наблюдаются максимумы, а при длинах волн4 п 1 л =4 пб%=1,3,5гпнаблюдаются минимумы.Если показатель преломления пЯ) зависит от длины волны, то из интерференционных полос нельзя определить толщину пленки, однако, часто можно считать пЯ ) = сопзс, тогда на основании длин волн Ат, и А - 1, соответствующих соседним экстремумам в спектре прозрачности, может быть определено произведение пб из равенства 4 пб в Ьл = (гп - 1 Яг - 1, откуда Способ осуществляют следующим образом. На тонкую стеклянную подложку размерами 10"0,5"0,2 мм с одной стороны в качестве непрочного слоя наносят тонкую алюминиевую...
Устройство для измерения толщины металлического листа
Номер патента: 1670400
Опубликовано: 15.08.1991
МПК: G01B 15/00
Метки: листа, металлического, толщины
...генератора, Наличие двух резонансных импульсовопорного резонатора позволяет учесть изменения девиации частоты и изменения частоты модулирующего генератора, чтоотражается на крутизне перестройки частоты СБЧ-генератора, Вычислительный блокопределяег рассгояния по формулеХ 1,2 -К(1 п,2), (1)где 1 о - резонансная частота измерительного резонатора при Х 1,2=-0;К - коэффициент пропорциональности.При изменении температуры и составаокружающей среды резонансные частоты вформуле (1) смещаются на Л 1. Изменяетсятакже коэффициент К из-за нестабильностичастот СВЧ-генератора, девиации и частотымодулирующего генератора, Однако вычислительный блок измеряет Л 1 по смещениюотносительно начала периода модулирующего напряжения импульсов с опорного...
Вихретоковое устройство для контроля толщины покрытия и электромагнитных свойств основы изделия
Номер патента: 1670577
Опубликовано: 15.08.1991
МПК: G01B 7/06, G01N 27/90
Метки: вихретоковое, изделия, основы, покрытия, свойств, толщины, электромагнитных
...предварительно компенсируют с помощью компенсатора 3 на массивном образце из материала покрытия (алюминия), затем с помощью набора образцов из материала основы, имеющих разброс электромагнитных параметров в заданных пределах, получают зависимость Лр Я;) изменения фазы Лр выходного сигнала преобразователя от изменения напряжения ф, пропорционального электромагнитным свойствам основы образцов.Полученную таким образом зависимость.Лр (Чб) вводят во второй запоминающий блок 8. В первый запоминающий блок 5 вводят, например зависимость вида Чр =1 пА+К О, где А и 10 - соответственно напряжения, пропорциональные амплитуде и фазе выходного сигнала преобразователя. К=1,07 при материале покрытия с удельной электропроводимостью, близкой к алюминию,...
Устройство динамического контроля толщины и несущей способности смазочного слоя узлов трения
Номер патента: 1672199
Опубликовано: 23.08.1991
Метки: динамического, несущей, слоя, смазочного, способности, толщины, трения, узлов
...соответствует времени непосредственного контакта в паре 15 трения, на оегистраторе 14 результат соответствует средней толщине смазочного слоя в паре 15 трения,Устройство работает следующим образом,Импульсы генератора б пос 1 упают на счетчик 7 и вход ключевого элемеа 8. При наличии разрывов смазочного слоя, т,е. при непосредственном контакта деталей пар трения, напряжение на выходе формирователя 1 становится меньше порогового, срабатывает компаратор 5 и разрешает 15 20 25 30 35 40 45 прохождение импульса генератора на счетчик 9, При отсутствии непосредственного контакта импульс генератора поступает на второй выход ключевого элемента 8, под воздействием которого ключевой элемент 4 отключает пару 15 трения от цепи формирооателя 1 и на...
Способ измерения толщины прозрачных пластин с рассеивающей поверхностью
Номер патента: 1672209
Опубликовано: 23.08.1991
Автор: Кизеветтер
МПК: G01B 15/00
Метки: пластин, поверхностью, прозрачных, рассеивающей, толщины
...Р подложки образца с темным (неосвещен1672209 иг. ным) кругом вокруг лазерного луча, Из фиг,1 видно, что диаметр темной области Ог связан с толщиной образца как Н -0,25 О со ус . Для того, чтобы поверхность Р являлась рассеивающей, высота шероховатости поверхности Вдолжна быть больше половины длины волны лазерного излучения, Рассмотренный эффект будет иметь место и в том случае, если ВвА/2, но контраст изображения будет ниже, и при Ва -+ 0 иэображение вообще исчезнет вследствие отсутствия диффузного рассеяния, Наилучшим условием наблюдения, соответственно, и условием измерения толщины пластины является размещение исследуемого образца на хорошо отражающей поверхности, например на листе белой бумаги, Угол падения лазерного луча...
Рентгеновский измеритель толщины
Номер патента: 1672212
Опубликовано: 23.08.1991
Авторы: Бычков, Дятликов, Лившиц
МПК: G01B 15/02
Метки: измеритель, рентгеновский, толщины
...на выходе детектора 4 излучения за счет работы первого источника 2 излучения; в - аналогичные импульсы на выходе детектора 4 за счет работы источника 3 излучения, подключенного к трансформатору 1 в противофазе по отношению к источнику 2.Рентгеновский излучатель толщины работает следующим образом,Благодаря вентильным свойствам рентгеновских трубок, входящих в состав источников излучения, ток через каждую из них идет только одну половину периода, создавая поток излучения. Для первого источника 2 этот поток проходит через контролируемое изделие 12, ослабляется и попадает на детектор 4 излучения, для второго источника 3 этот поток проходит через узел 13 ком 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 пенсации, ослабляется в нем и поступает на детектор...
Устройство для контроля оптимальной толщины слоя льда охладителя холодильной установки
Номер патента: 1677462
Опубликовано: 15.09.1991
Авторы: Бордо, Головин, Дегтярев
МПК: F25C 1/00
Метки: льда, оптимальной, охладителя, слоя, толщины, установки, холодильной
...очередь, соединен с концевым выключателем 9 холодильной установки, Охлаждаемая диафрагма 5 подсоединена трубопроводом 10 к линии 11 подачи хладагента в охлаждающие элементы 2 и содержит внутренние каналы 12.Устройство работает следующим образом,После заполнения бака 1 водой или любой другой вымораживаемой жидкостью включаются одновременно холодильная установка и циркуляционный насос 3, Регулируемым сужающим приспособлением 4 устанавливается заданный перепад давлений, который соответствует определенной, экспериментально установленной толщине льда, нарастающего на охлаждающих элементах 2. Хладагент по трубопроводу 10 и линии 11 поступает в охлаждаемую диафрагму 5 и в охлаждающие элементы 2.По мере работы холодильной установки на...
Устройство для автоматического регулирования толщины полосы на стане холодной прокатки
Номер патента: 1678478
Опубликовано: 23.09.1991
Автор: Кузнецов
МПК: B21B 37/24
Метки: полосы, прокатки, стане, толщины, холодной
...по сигналам с толщиномеров 17 и 18 на входе ивыходе клетей и датчиков 21 и 22 импульсов, механически соединенных с измерительными роликами 21 и 22, установленными на входе и выходе клети.Сигнал, пропорциональный отклонению толщины полосы в очаге деформации, с выхода измерителя 16 толщины полосы одновременно подается на входы первого и второго фильтров 23 и 24.Управляющее воздействие на электро- механическое нажимное устройство 1 подается на вход первого сумматора 2 с выхода первого фильтра 23. Управляющий сигнал с выхода первого сумматора 2 поступает через нелинейное звено 3 и усилитель 4 мощности на исполнительный двигатель 5, который воздействует на нажимной механизм 6 таким образом, чтобы уменьшить разнотолщинность полосы,Для придания...
Способ измерения толщины непроводящих слоев многослойных изделий
Номер патента: 1679178
Опубликовано: 23.09.1991
Авторы: Белаш, Волоконская, Коваль, Фроликов
МПК: G01B 7/06
Метки: многослойных, непроводящих, слоев, толщины
...Цель изобретения - повышение точности измерений. Для этого непосредственно через стенку право;ящего иэделия, имеющего наружный ди )метр О, на которое нанесено диэлектрическое покрытие 2, толщину которого Ь необходимо измерить. пропускают электрический ток силой от источника 6, измеряют напряженность Н магнитного поля измерительным приемником 4. преобразователь которого 5 расположен в зоне контроля. Толщину покрытия определяют по формуле и =/2 л НО/2, 1 ил,известным значениям наружного диаметра О изделия, силе проходящего тока и значению напряженности магнитного поля Н, определяют толщину покрытия по формулеО2,)т Н 2Применение предлагаемого способа позволяет повысить точность измерения, так как результат измерения не зависит от...
Способ измерения толщины металлического листа и датчик для его осуществления
Номер патента: 1679185
Опубликовано: 23.09.1991
Автор: Совлуков
МПК: G01B 15/00
Метки: датчик, листа, металлического, толщины
...стоячую волну в резонаторе, взаимодействуют с поверхностью листа при падении на нее и отражении от этой поверхности, в частности зондирования могут быть произведены по нормали к поверхности листа.Из соотношения (1) следуетСи у+(2)Число и соответствует номеру возбуждаемого типа колебаний.Чувствительность Яп = бЬйх к измеряемому расстоянию х, как следует иэ выражения (2) естьСпМ СпМ2( +М х) 2 1.где х .По сравнению с известными способами измерений толщины металлического листа чувствительность возрастает в К раз, так как изменение расстояния х в предлагаемом способе приводит к большему в К раз изменению собственной частоты. Предлагаемый способ может быть реализован с помощью устройств, в которых организовано многократное взаимодействие...
Способ измерения толщины радиоизотопным толщиномером
Номер патента: 1679186
Опубликовано: 23.09.1991
Автор: Соболевский
МПК: G01B 15/02
Метки: радиоизотопным, толщиномером, толщины
...при различных интенсивностях первичного потока излучения.Способ осуществляется следующим образом,Направляют поток излучения на контролируемый материал (например, стальной лист толщиной Хк = 5 мм) и регистрируют значение выходного сигнала У детектирующего устройства (равное, например, 4700), Дополнительно регистрируют значение выходного сигнала Ун при нулевом значении измеряемой величины (например, 5994) и измерения путем многократного определения разности значений выходного сигнала толщиномера при введенном контролируемом материале и его отсутствии в измерительном зазоре при различных интенсивностях первичного потока излучения. Производятраэ при различных интенсивностях первичного потока регистрацию прошедшего излучения через объект...
Раствор для кулонометрического определения толщины хромового покрытия
Номер патента: 1679349
Опубликовано: 23.09.1991
Автор: Вягис
МПК: G01N 27/42
Метки: кулонометрического, покрытия, раствор, толщины, хромового
...толщиной 4 мкм, При этой толщине от(54) РАСТВОР ДЛЯ КУЛОНОМЕТРИЧЕСКОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ХРОМОВОГО ПОКРЫТИЯ(57) Изобретение касается контроля качества металлических покрытий, Целью изобретения является повышение скорости и точности измерения, Для этой цели в водный раствор, содержащий серную кислоту, дополнительно вводят хромовый ангидрид при следующем содержании компонентов, г/л:серная кислота 170-180, хромовый ангидрид 23-27,меченная суммарная погрешность составляет 8,5 ОПри такой малой толщине приобретает значительный удельный вес погрешность, обусловленная дискретностью счетчика толщины; отсчет с точностью 0,1 мкм при толщине покрытия 4 мкм может вызвать погрешность в размере 2,5;6 и эта доля погрешности не должна быть...
Способ соединения встык листов разной толщины
Номер патента: 1682097
Опубликовано: 07.10.1991
Авторы: Богданов, Куклин, Легостаев, Попов
МПК: B23K 31/02
Метки: встык, листов, разной, соединения, толщины
...на скошенной поверхности. 2 ил., 2 табл,Затем производят подгибку скошеннои кромки в сторону выполненного скоса 2, прилагая усилие Р со стороны скоса так, чтобы величина прогиба была равна глубине а скоса. После этого толстый лист 1 совмещают с листом 4 меньшей толщины, При этом выровненную после подгибки скошенной кромки поверхность 5 толстого листа 1 располагают в одной плоскости с поверхностью 6 тонкого листа 4,После этого производят сварку листов 1 и 4.П р и м е р. Проводили сварку листа стали марки АБ толщиной от 40 до 46 мм, плакированного слоем стали 08 Х 18 Н 10 Т толщиной 5 мм, с листом высокопрочной стали марки АК толщиной от 20 до 26 мм,Длина скоса в соответствии с ОСТ 5.9526 - 87= (Я 1 - Я)/зп а = (40 - 20)/0,208 = = 96,2 мм...
Трещиностойкая обделка напорного туннеля постоянной толщины
Номер патента: 1682460
Опубликовано: 07.10.1991
Авторы: Амиридзе, Сафарова, Чумбуридзе
МПК: E02B 9/06
Метки: напорного, обделка, постоянной, толщины, трещиностойкая, туннеля
...при применении в отдельных частях обделки разнопрочных участков 10 - из.бетона повышенной марки и 11 - из бетона обычной марки.Обделка работает следующим образом, При достижении внутреннего давления в туннеле 2 эксплуатационного значения Р в обделке 1 возникают растягивающие напряжения в тангенциальных направлениях, которые определяют предельное состояние обделки по трещинообразованию. Благодаря устройству обделки переменной жесткости равные расчетные растягивающие напряжения возникаю почти одновременно во всех сечениях обделки, несмотря на слоистость породы. Направление пластов породы может быть любым по отношению к оси туннеля, поэтому порода характеризуется неравномерным о 1 пором по наружной поверхности:обделки. По направлению,...
Прибор для контроля толщины легкодеформируемых изделий
Номер патента: 1682751
Опубликовано: 07.10.1991
Авторы: Захарченко, Печерий
МПК: G01B 5/06
Метки: легкодеформируемых, прибор, толщины
...8 полой цилиндрической части 7, навинченной на индентор 6. Между фланцем 10 и индентором 6 расположена пружина 11 сжатия. При превышении измерительного усилия, создаваемого весом индентора 6 и пружиной 11, шарики 9 заклинивают и надежно фиксируют индентор б. По отсчетному механизму 4 определяется толщина иэделий 12, 1 ил. индентором б через механизм ограничения измерительного усилия, который состоит из конической поверхности измерительного наконечника 5 и шариков 9, установленных в окнах 8. Измерительный наконечник 5 имеет на рабочем конце фланец 10, препятствующий выпадению шариков 9. В полый цилиндрической части 7 между индентором б и фланцем 10 установлена цилиндрическая пружина 11 сжатия.Прибор работает следующим образом.Перед...
Способ контроля толщины электропроводных покрытий в процессе их напыления и устройство для его осуществления
Номер патента: 1682762
Опубликовано: 07.10.1991
Автор: Можаев
МПК: G01B 7/06
Метки: напыления, покрытий, процессе, толщины, электропроводных
...электрических методов контроля толщины покрытий.Цель изобретения - расширение диапазона контролируемых толщин и повышение точности измерения толщины электропроводного покрытия в процессе напыления за счет дискретизации процесса контроля,На чертеже приведена блок-схема устройства, реализующего способ.Устройство содержит датчик 1, измеритель 2 сопротивления, пороговый спок 3, блок 4 формирования высоковольтного импульса и счетчик 5. С помощью этого устройства способ был реализован на установке магнетронного распыления ВЭУ - 120, Распыляясь медная мишень, установленная на плоском магнетроне. Напыление проводилось на изделие и датчик, находящиеся на расстоянии 200 мм от мишени.Устройство работает следующим образом.Датчик 1...
Способ определения толщины пленок на подложке
Номер патента: 1682767
Опубликовано: 07.10.1991
Авторы: Арнаутова, Ивонина, Ишутин
МПК: G01B 11/06
Метки: пленок, подложке, толщины
...в него люмогеном светло-желтым 564 К в концентрации 3 к сухому остатку. Для этого образцы из сплава Д 16 Т размером 50 х 50 х 2 мм, покрытые грунтовкой АК, взвешивают на весах и с помощью краскораспылителя покрывают составом ИВВСМ с введенным в него люмогеном. Причем покрытие составом осуществляют так, чтобы на каждом последующем нным данным строят калиброик (см. чертеж), из которого, иент яркости, можно опредепленки на микровосковой осной на грунтовку,о получей графкозффицолщинунанесен вочн зная лить ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛПЛЕНОК НА ПОДЛОЖКЕ(57) Изобретение относиной технике, а именно к Изобретение относится ной технике, а именно к защи от внешних воздействий факЦелью...
Способ измерения толщины слоя на подложке
Номер патента: 1682774
Опубликовано: 07.10.1991
Авторы: Алексеев, Афонин, Гапочка, Костиенко, Круткова
МПК: G01B 15/00
Метки: подложке, слоя, толщины
...максимальный сдвиг сферического зеркала,где ц - число полуволн между зеркалами пустого ОР;Г- резонансная частота;г 1,1 гз - модули коэффициентов отражения от диагностируемой структуры и сферического зеркала соответственно,Ошибка измерений б,еи диэлектрика или магнетика на слабопоглощающей подложке зависит от параметров исследуемого слоя и подложки, характеристик используемого резонатора и применяемой радиотехнической аппаратуры и может достигать 1 ф, и менее.Таким образом, предложенный способ измерения толщины слоя на подложке отличается от известных повышенной точностью измерения, а также возможностью одновременного измерения толщины слоя и его магнитной или диэлектрической проницаемости, Способ прост в исполнении, не требует дефицитной...