Патенты с меткой «толщины»

Номер патента: 1377566

Опубликовано: 28.02.1988

Авторы: Дука, Иовенко, Карпенко

МПК: G01B 5/02

Метки: измерительный, мер, поверки, покрытий, стол, толщины

...покрытия устанавливают на сферические опоры и закрепляют раздвижными прижимами, усталивают в горизонтальное наружнои стор ны диска 2 надетыдве шайбы 11 и 12. Между диском 2 ишайбой 11 и между. шайбами 11 и 12расположены в одних плоскостях,проходящих через регулируемые опоры,четыре шаровые опоры 13, Первые двешаровые опоры 13 установлены междудиском 2 и шайбой 11 в одной плоскости, проходящей через ось дисков1 и 2, а две другие - между шайбами11 и 12 в одной плоскости, проходящей через ось дисков 1 и 2, перпендикулярной плоскости расположениядвух первых шаровых опор 13. На на-,ружной стороне диска 1 также установлены сферические опоры 14 для установки поверяемой меры толЩины покрытия 15,1377 566 Составитель Ю;ПетраковскийРедактор 1...

Номер патента: 1379621

Опубликовано: 07.03.1988

Авторы: Воль, Черняков

МПК: G01B 17/02

Метки: покрытий, полимерных, толщины, ультразвуковой

...поверхности полимерного покрытия 4, например, с помощью электромагнитного излучения, трансформируется в поперечную волну, которая, 30 многократно отражаясь от его поверхностей, принимается преобразователем 2. Принятые поперечные ультразвуковые волны регистрируют в виде серии импульсов. Интервал времени между любыми двумя соседними импульсами соответствует прохождению двойной толщины покрытия 4,Другая часть энергии поверхностной ультразвуковой волны принимается пре обраэователем 2 после прохождения ею фиксированного расстояния. По соотношению между этим расстоянием и временем распространения поверхностных волн определяют их скорость, ис ходя из чего по времени между импульсами отраженной поперечной волны судят о толщине полимерного...

Номер патента: 1381328

Опубликовано: 15.03.1988

Авторы: Гаврилюк, Ерошин, Купчик, Сацукевич

МПК: G01B 7/287

Метки: неплоскостности, пластин, толщины

...и толщины пластин за счет исключения по, ,решности деформации.На чертеже представлена схема устройст. а.Устройство для контроля неплоскостноститолщины пластин содержит основание 1, етыре датчика 2 и 3 перемещений, лектронный преобразователь 4, включаюий в себя блок 5 измерения толщины, 15 ходы которого соединены с выходами атчиков 2 и 3, блок 6 определения ба. овой плоскости, входы которого соедиены с выходами датчиков 3 и соответтвующими входами блока 5, блок 7 изерения неплоскостности, первый вход кото ого соединен с выходом блока 6, а второй -выходом датчика 2, щупы 8 трех ба. овых датчиков 3, расположенные равноерно по окружности, диаметр которой еньше контролируемой пластины 9, щуп 10 атчика 2 перемещений, расположенный в ентре...

Номер патента: 1382531

Опубликовано: 23.03.1988

Авторы: Волковой, Головня, Дружинская, Мильто

МПК: B21D 5/06

Метки: гнутых, двойной, кромки, несимметричных, проката, профилей, толщины, элементом

...на угол Ы, относительно точки 0, расположенной на пересечении линий, являющихся продолжением наружных поверхностей участка 5 и стенки 7, которую располагают в плоскости формовки 0-0 в направлении подгибки плоского краевого участка 5, при этом кромку замкового элемента 450 выдерживают на этом же уровне, а в процессе дальнейшей подшибки плоского краевого участка 5 осуществляют поворот стенки 7 в обратном направлении на уголс образованием эле 55 мента двойной толщины кромки, затем осуществляют подгибку полки 8 с элементом двойной толщины, при этом точку 0, расположенную на пересечении линий, являющихся продолжением наружных поверхностей стенки 7 и полки 8 с элементом двойной толщины располагают в плоскости формовки 0-0.Конкретный режим...

Номер патента: 1383195

Опубликовано: 23.03.1988

Автор: Лауринавичюс

МПК: G01N 27/90

Метки: многослойных, слоев, толщины

...слое изделия 2, и возбуждающим преобразователем 3 полем Ь , записывается как тензорное соотношениеЬ=4 Ь, (3)лгде 4, - тензор относительной магнитной проницаемости полупроводникового слоя;Ь - возбуждающее магнитное поле,усредненное по толщине Йслоя;Ь - поле в слое, усредненное потолщине Й. Это соотношение связывает возбуждающее и возбужденные поля через параметры полупроводникового материалаи параметры электромагнитной волны.Если приложено постоянное магнитноеполе, индукция В 1 К 1 Е, где К -,Й = ФМ РО (4)о оУстановлено, что компонентапропорциональна активному сопротивлению, вносимому в преобразователь 3полем стоячих геликонных волн в слое. 10Компонента р представляет собойряд резонансных максимумов, соответствующих...

Номер патента: 1384940

Опубликовано: 30.03.1988

Авторы: Зуев, Скрябин

МПК: G01B 11/06

Метки: азотосодержащих, покрытий, толщины

...газообразного азота из покрытия его необходимо не просто разрушить, но и разложить как химическое соединение.Нижняя граница интервала плотности мощности определяет условия, при которых температурные покрытия достигают температуры разложения покрытия (в данном случае нитрида).Экспериментально были установлены зависимости величины аналитического сигнала азота от плотности мощности для покрытий различной толщины.Источником азота является лишь область покрытия, непосредственно подвергнутая лазерному нагреву, т.е. лежащая в зоне фокального пятна лазерного излучения.Зона имеет форму цилиндра, т.е.2(=Н.С4 и,где Я - количество выделившегося азота; до - диаметр фокального пятна; Н - толщина покрытия; С - концентрация азота в покрытии,так...

Номер патента: 1384949

Опубликовано: 30.03.1988

Авторы: Максименко, Полещук

МПК: G01B 21/00

Метки: гетеродинное, напыляемых, слоев, стравливаемых, толщины

...на фазометр 12, который осуществляет измерение фазыизмерительного сигнала посредствомсравнения ее с фазой опорного сигнала. фаза опорного сигнала не меняется в процессе травления или напыления, а фаза измерительного сигнала пропорциональна глубине Ь 1 д=.Ь, -дд рельефа поверхности, следовательно, измерение фазы измерительного сигна 5 ла относительно фазы опорного сигнала позволяет получить информацию о глубине рельефа дди поверхности.Оптический излучатель 1 работает следующим образом. Когерентный свето" вой поток, выходящий из лазера 14, фокусируется первым объективом 15, подвергаясь разделению первым светоделительным поляризационным элементом 16 на два параллельных луча с взаимно ортогональнымн поляризациями на акустооптическом...

Номер патента: 1386125

Опубликовано: 07.04.1988

Авторы: Баленко, Муляр, Степанов, Тарасов, Тарасова

МПК: A01K 29/00

Метки: жира, свиней, спинного, толщины

...С, л,)ипи, К .1ехрТ- Ы;С, в 1,) Р;(1 - Р.1 1В рассматриваемом случае слой с номером 1. является слоем мьппечной ткани, а слой с номером.(1 - 1) слоем жира, с;, " амплитудный коэфФициент отражения ультразвука на границе жира и мьшщы, Е; - амплитудный коэффициент отражения на неоднородности в объеме мьппцы. Значение 1;, в среднем составляет .0,016. Действительно, по известной формуле7., Р 1 СТ - гс,с,+ рсгде р С,и )С " произведения плотностина скорость ультразвукадля мьппечной и жировойткани соответственно.В среднем для мьшечной ткани можно принять ,щ 1,07 г/см ; С=- 1,58 10 см/с, а для жира== 0,92 г/см , С = 1,43 .10 см/с. Подставляя эти данные в Формулу (2),юлучим с, = 0,016. В знаменателелравой части равенства (1) выражение1 - с;-...

Номер патента: 1388703

Опубликовано: 15.04.1988

Авторы: Муромцев, Пудовкин, Самойлов, Чернышов, Чернышова

МПК: G01B 21/08, G01B 7/06

Метки: пленочных, покрытий, термозонд, толщины

...по своим тепло. физическим свойствам к контролируемому покрытию. В процессе измерений с покрытием 21 контактируют нагреватель 12 и микротермопары 16. Нагреватели 11 и 12 подключены параллельно к источнику 22 питания, Микротермопары 15 соединены между собой последовательно-согласно, Две микротермопары 16 соединены между собой последовательно-согласно. Пары микро- термопар 15 и 16 включены последовательно-встречно и подключены к изме-. рительному прибору 23, Для удобства пользования корпус 1 может быть выполнен в форме пистолета, В процессе измерений термозонд размещается на объекте 24 контроля с покрытием 25.Термозонд работает следующим образом.При измерениях термозонд прижимают к покрытию 25 объекта 24 контроля. При этом одинаковое...

Номер патента: 1388709

Опубликовано: 15.04.1988

Автор: Трунов

МПК: G01B 11/06

Метки: пленки, толщины

...Толщина пленки на этой части образца будет составлять р Й, где Й - толщина пленки на участке, напыленном немодулированным потоком;р - коэффициент модуляции потока вещества, определяемый при помощи импульсного лазерного излучения. В процессе напыления освещают образец мо нохроматическим светом и измеряют интенсивности пучков, полученных при отражении или пропускании света от участков с толщинами й и рй. При этом значения интенсивностей этих 40 пучков будут определяться коэффициентами отражения или пропускания участков образца, связанными с толщиной пленки. Коэффициенты являются пе- риодическими Функциями толщины слоев, 45 осажденных на этих участках. До .напыления пленки задают необходимую контрольную толщину, по заданной толщине...

Номер патента: 1388716

Опубликовано: 15.04.1988

Автор: Муляр

МПК: A01K 29/00, G01B 17/00

Метки: животных, многослойных, слоев, тканей, толщины

...амплитуд П; У, по формуле Формула (1) полученаедующих соображений,литуда П импульса, отраженнограницы а, на входе преобраля Р равна Амплитуда П импульса, отраженного от границы Г равна с 2) -Еф 1 ч - феы еч е (4) Разделив Бе на 0, получим 10 ц.(2 о 1Б 1 -1 се Поскольку 1 = С эС, то Следовательно, для слоя с номером получим20 Коэффициент Е отражения на границе мышечной и жировой тканей при прохождении через них ультразвуковых колебаний составляет небольшую величину и с достаточной степенью точности может быть принят равным 0,14.Подставив значение 1 с = 0,14 в формулу (6), -,получим формулу (1).Измеренную величину В сравниваютсо всеми вычисленными значениями С и выбирают такое значение ее значе ние, которое наиболее близко к измеренной...

Номер патента: 1388766

Опубликовано: 15.04.1988

Авторы: Бавин, Варюхно, Зорина, Мельник, Райко

МПК: G01N 19/02

Метки: слоя, смазочного, толщины

...цепь, состоящую из сопротивления 4, источника 5 электрического тока, осциллографа 6 и испытывают при заданных условиях,В процессе контактного взаимо действия происходит уменьшение высоты навала царапины до величины Нс - толщины смазочного слоя, в результате чего происходит резкое падение проводимости контакта, что регистрируется осциллографом 6. В этот момент испытание прекращают, образцы выводят из контакта и измеряют оста,точную высоту навала царапины, равную имевшей место при испытаниях толщины Н смазочного слоя.Точность способа может быть увеличена, если учесть изменения высоты навала царапины в результате ееРупругой деформации -- и теплового 40Ерасширения с ЬТ, где Р - напряжение сжатия навала царапины в контакте; Е -...

Номер патента: 1389755

Опубликовано: 23.04.1988

Авторы: Аратен, Буланов, Забелин, Кардаш, Матюшин, Савинов

МПК: A61B 8/00

Метки: желудочка, задней, левого, сердца, стенки, толщины

...триггера 27 поступает импульс синхрогенератора 18, устанавпает импульс, сформированный первым формирователем 25, и переводит его в нулевое состояние. На его выходе формируется импульс (фиг. 2 к), длительность которого пропорциональна расстоянию от ультразвукового зонда 2 до эндокардиальной границы ЗСЛЖ.Эхо-сигнал с выхода ключа 7 поступает также на вход второго нормирующего элемента 22, усиление которого устанавливается так, что амплитуда эпикардиального компонента эхо-сигнала на его выходе составляет 10 - 12 В, Усиленный и отфильтрованный вторым нормирующим элементом 22 эхо-сигнал ЗСЛЖ поступает на первый вход второго компаратора 24, на второй вход которого подано опорное напряжение У,.Порог срабатывания устанавливается на 0,8 уровня...

Номер патента: 1392344

Опубликовано: 30.04.1988

Автор: Соколов

МПК: G01B 7/06

Метки: напыления, процессе, слоя, толщины

...3 и 4 диафрагмыосуществляется 351с помощью закрепленных на них штырей 9 и 10, входящих в соответствующие пазы 11 и 12 на периферии поворотной крышки 13 корпуса, которая имеет осевое отверстие 14 напротив вырезов 40 5 и 6 в лепестках диафрагмы, а также имеет внешнюю зубчатую поверхность 15, предназначенную для взаимодействия с механизмом управления процессом напыления (не показан). 45Способ осуществляют следующим образом.Направляют поток напьщяемого материала (показан на чертеже стрелками) на рабочие объекты (не показаны) 50 и на образец - свидетель, представляющий собой кварцевый резонатор. Напьщяемый материал попадает на резонатор 2 через отверстие 14 в крышке 13 корпуса и вырезы 5 и 6 в поворотных 55 лепестках 3 и 4, образующих...

Номер патента: 1392345

Опубликовано: 30.04.1988

Авторы: Брандорф, Котляров, Сергиенко

МПК: G01B 7/06

Метки: времени, интервал, толщины

...равныУ и М. В момент С,=ш 9, когда ЭДС 45е (С) достигла неизменного во времени стационарного значения е , и домомента времени Сд=С+ :(ш+1) = Я,./2ключ 13 размыкается и замыкается ключ5 и постоянная ЭДС - еинтегрируется блоком 7 интегрирования, При размыкании ключа 13 и замыкании ключа.5 ЗДС е не меняется и никакого переходного процесса не происходит, так.как нагрузка преобразователя 4 остается неизменной. Во время замкнутого состояния ключа 5 выходное напряжение Н (С) интегратора 7 увеличивается линейно во времени до момента Таким образом, интегрирование ЭДС е , осуществляется эа время, рав- ное периоду 7, питающей сети.В момент С г начинается линейный спад тока (С) и ЭДС е(С) и е,(С) вновь начинает изменяться от стационарных...

Номер патента: 1392530

Опубликовано: 30.04.1988

Автор: Глебов

МПК: G02B 5/28

Метки: изготовлении, интерференционных, покрытий, слоев, толщины

...р и м е р, Предлагаемый способ50 реализован при изготовлении многослойных интерференционных фазоизотропных зеркал на длину волны 632,8 нмодля угла падения света 45 . 3 еркала6 имели конструкцию вида П (ВН) В, где П - подложка из кварцевого стекла;55 ВН - четвертьволновые чередующиеся слои из материалов двуокиси циркония ЕгО с ВПП и двуокиси кремния Б.О с НПП, имеющие показатели преломления и= 1,95 и п о = 1,45. Зеркала наносили методом электронно-лучевого испарения в вакууме на установке типа ВУА, оснащенной системой фотометрического контроля толщин слоев в режиме измерения пропускания. Нанесение зеркал проводили на ненагретые подложки при времени нанесения четвертьволновых слоев 30-40 с для Б.О и 100-120 с для ХгО . КО, размещенные в...

Номер патента: 1394028

Опубликовано: 07.05.1988

Автор: Ильин

МПК: G01B 7/06

Метки: диэлектрической, пленки, толщины

...от измерительного устройства 4, которое позволяет изменять величину напряжения в требуемых пределах, регистрировать наличие частичных разрядов и измерять напряжение, подаваемое на электроды, Площадь прилегающего электрода выбирают таким образом, чтобы на его краях не возникали частичные разряды при напряжениях, меньших по величине напряжения возникновения начальных частичныхразрядов в воздушном зазоре. Регистрацию начальных частичных разрядов осуществляют известными способами. При контроле толщины покрытия на проводящей основе в качестве прилегающего электРода используют основу.Для использования способа при контроле толщины изоляции эмалированных проводов большой длины применяют дополнительный электрод, который устанавливают рядом с...

Номер патента: 1395939

Опубликовано: 15.05.1988

Авторы: Канариков, Кандыба, Науменко

МПК: G01B 7/06

Метки: листового, толщины

...материала 3 предварительно 4 Овводят в тепловой контакт с веществом 4, в качестве которого может бытьвыбран, например, теплоизолятор, Наружную поверхность материала 3 покоманде блока б импульсно нагревают 45тепловым потоком, испускаемым;источником 1 тепла.При этом происходит нагрев внешней поверхности листового материала3 и передача тепла в зоне облученияот нее вглубь исследуемого материала, С помощью термочувствительногоэлемента 2 производят измерение температуры поверхности листового материала и регистрация графика переход 55ного процесса изменения температурыповерхности в функции времени.При постоянстве теплофизическихсвойств исследуемого материала уменьшение температуры поверхности, нагретой импульсным воздействием, после...

Номер патента: 1395940

Опубликовано: 15.05.1988

Авторы: Лухвич, Саванович, Старшинов, Хилько

МПК: G01B 7/06, G01N 25/32

Метки: термоэлектрическое, толщины

...сигналов, арацию еУстройство для контроля толщиныработает следующим образом,Включают нагреватель 7, который 4нагревает горячий электрод 1 до рабочей температуры, При этом температура холодного электрода 2 остаетсяравной температуре основы контролируемого иэделия или температуре окру-жающей среды, Для предотвращения появления паразитных ЭДС которые могутиСказить результаты измерений, соединения электродов 1 и 2 с подводящими проводами также поддерживают принбрмальных условиях окружающей среды.Ври контроле толщин одинаковыхпокрытий, нанесенных на различные основы, электроды 1 и 2 выполняют изматериала покрытия 3 и с их помощьюпедварительно измеряют базовые зна 55чения термо-ЭДС для покрытия заданной одинаковой толщины, нанесенной на...

Номер патента: 1397487

Опубликовано: 23.05.1988

Авторы: Алпаев, Васильев, Васюченко, Галушкин, Левченко

МПК: C21B 7/24, G01B 17/02

Метки: доменной, печи, толщины, футеровки

...4 оптическим пирометром 10,В момент совпадения температуры контрольного волновода 4 с температуройрабочего волновода 3 измеряют длинуконтрольного волновода 4 ультразвуковым толщиномером 1. В процессе измерения изменяют длину контрольноговолновода 4, например, путем укорачи"вания одного из его концов до моментасовпадения показания ультразвуковоготолщиномера 1 с показанием, полученным при измерении рабочего волновода3. В момент совпадения показаний определяют фактическую длину контрольного волновода 4 и по ней судят отолщине футеровки 5, Изменение длины контролируемой части контрольноговолновода 4 может выполняться такжеступенчато. Для этого на его ненагреваемом конце выполнены контрольныеступени 11 для размещения ультразвукового...

Номер патента: 1397712

Опубликовано: 23.05.1988

Авторы: Макаров, Яковлев

МПК: G01B 7/06

Метки: толщины

...электрод 5,предназначенный для последовательно 5 Эго размещения на контролируемыхучастках 6,1 или 8 объек:а 2, В про"цессе измерений на участки 6-8 объекта 2 наносят электропроводные покры .; тия. 9-11 из низкоомного материала,обладающего малым удельным электрическим сопротивлением и высокими адгезионными свойствами по отношению кматериалу объекта. Для ре.зинотехнических объектов в качестве покрытияможет быть использована техническаясажа. Покрытие может быть выполненотакже, например, путем осаждения наповерхность объекта пленки влаги.Способ измерения толщины осущест 5 Овляют следующим образом.Контролируемый объект 2 устанавливают на базовую поверхность 4. Научастке 6,7 или 8 поверхности объекта наносят покрытие 9,10 или 11...

Номер патента: 1397722

Опубликовано: 23.05.1988

Авторы: Гвардионов, Трунов

МПК: G01B 11/16

Метки: пленки, показателя, преломления, толщины

...10 травления с регулируемымуровнем травителя, лазер 11, светоделитель 12, опорное зеркало 13 исистему 14 регистрации интерференционной картины. Элементы 11-14 раз" 25мещены по схеме интерферометра Майкельсона, в котором вместо зеркала,размещенного в измерительном плече,использован свободный край подложки2, которая консольно закреплена в камере 10 травления так, что лучи света, падающие на подложку под разнымиуглами, сходятся на ней вблизи точки закрепления,Устройство работает следующимобразом, ционной картины, где они интерферируют,При стравливании пленки с подложки 2 получают информацию о толщине,показателе преломления и распределе"нии напряжений по толщине пленки, Дляраспределения напряжений по толщинепленки справедлива...

Номер патента: 1401084

Опубликовано: 07.06.1988

Автор: Мальцев

МПК: B65H 63/06, D01H 13/22

Метки: движущегося, длинномерного, изоляционного, толщины

...сигнал, создавая в этихцепях ток ь При этом на входах усилителей-преобразователей 10 и 11, обладаюцы оольшими входными сопротивлениямсоздается падение напряжения Ъп.При выполнении усилителей-преобразователей 10 и 11 на основе полевых транзисторов на затворах транзисторов создается падение напряжения, запирающее их каналы, На выходах усилителей-преобразователей 10 и 11 при этом появляются элек.трические сигналы лог, 1.Эти сигналы воздействуют на входы первой схемы И 12 и на ее выходе появляется сигнал лог. 1. Вследствие того, что дар( (Рпр макс, контролируемый материал касается одного из электродов 5 или 6 блока 2.На выходе этого блока сигнал равен лог. 0.В связи с этим на выходе схемы И 13 сигнал также равен лог. 0. На входе...

Номер патента: 1401266

Опубликовано: 07.06.1988

Авторы: Бандура, Пашкуденко, Стринадко

МПК: G01B 11/02

Метки: интерференционный, пленок, толщины

...4/5Производственно.полиграфицеское предприятие, г. Ужгород, ул. Проектвая, 4 Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины пленок,Цель изобретения - повышение точности и расширение диапазона измерений путем использования рассеянного когерентного света для облучения измеряемой пленки. Способ осуществляется следующим образом.Измеряемую пленку облучают когерентным рассеяным светом перпендикулярно ее поверхности, с помощью микроинтерферометра регистрируют интерференционную картину, образованную светом, падающим перпендикулярно поверхности пленки и отраженным от ее наружной и внутренней поверхностей по перемещению интерференционной головки микроинтерферометра в направлении, перпендикулярном...

Номер патента: 1404788

Опубликовано: 23.06.1988

Авторы: Бородуля, Дикаленко, Завьялов, Мельцер

МПК: G01B 5/02

Метки: нанесенного, покрытия, твердые, толщины, частицы

...частиц до и после нанесения на них покрытия, а толщину покрытия определяют по формуле Ч ния покрытия ферическую кол астиц до нанес т равным объем олбы,Кроме то у, а объем партии ния покрытия выби сферической част 2 где Ч, и Ч ер тем л скрытия. по п.1, оч а ю Спй с естве ко тем, что в к пользуют сфе ие частиц до ия осуществл еской части об по п. 1, о ическую кол нанесения н ют до заполнен олбы.т л и ч а юейнер термопо акон м аИзобретение относится к техническим измерениям, а именно к измерениютолщины покрытия округлых твердых частиц без их разрушения, и может быть использовано в химической, медицинской,пищевой и других отраслях промышленности,Цель изобретения - повышение точности измерения. 10 На чертеже представлено устройство,...

Номер патента: 1404803

Опубликовано: 23.06.1988

Авторы: Архипов, Кязимов, Петров, Петухов

МПК: G01B 7/06

Метки: датчик, емкостный, изоляции, проводов, толщины

...причем кольца могут быть выполнены также и разрезными, что облегчает их монтаж на основании. Кольца 3 электрода емкостного датчика одновременно контактируют не только с поверхностью контролируемого провода, но также с проводящими участками 4 (ламелями) токосъемного приспособления 5, надежный контакт с которыми обеспечивается поступательным движением контролируемого провода 2 в процессе измерения (в направлении, показанном стрелкой А) вследствие упругой деформации тороидального основания 1. Между проводящими участками 4 токосъемного приспособления и токовой жилой 6 контролируемого провода 2 включен вторичный 40 измерительный преобразователь 7, с помощью которого осуществляются измерения емкости между каждым кольцом 3 и токовой жилой 6...

Номер патента: 1404804

Опубликовано: 23.06.1988

Авторы: Архипов, Петров, Петухов, Терещенко

МПК: G01B 7/06

Метки: датчик, емкостный, изоляции, контактный, проводов, толщины

...соответствовать диаметру контролируемого провода 2, который должен входить в это отверстие с некоторым натягом для обеспечения надежного контактирования между поверхностью контролируемого провода и витками пружинного электрода 1. Витки этого электрода находятся также в контакте с токопроводящей поверхностью 3 токосъемного приспособления 4, между которой и токоведущей жилой 5 контролируемого провода 2 подключен вторичный измерительный преобразователь 6, обеспечивающий измерение емкости между ними, зависящей от толщины изоляции на контролируемом участке провода 2. Контактный емкостный датчик работает следующим образом.При протягивании контролируемого провода 2 через электродемкостного датчика витки винтовой пружины катятся по...

Номер патента: 1404879

Опубликовано: 23.06.1988

Авторы: Асеев, Дудкина, Федоров

МПК: G01N 3/00

Метки: наклепом, поверхностного, слоя, толщины, упрочненного

...М.Дидык Корректор О,Кравцов аказ 3094/45В 47 Подписрственного комитета СССРзобретений и открытийЖ, Раушская наб., д, 4/5 ТиражПИ Госудо деламМосква 13 роизводственно-полиграфическое предприятие, г, Ужгород, ул. Проект Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для определения толщины наклепанного поверхностного слоя деталей машин и конструкций.Целью изобретения является повышение точности определения толщины наклепанного поверхностного слоя путем использования составного о ца, одна часть которого имеет пе И териала исследуемой детали изготавливают образец, состоящий из двух частей (фиг; 1); кольца 1 и вкладыша 2, имеющих гладкие поверхности контакта, причем кольцо 1 выполняют переменной толщины путем...

Номер патента: 1406445

Опубликовано: 30.06.1988

Авторы: Балюк, Драчук, Клугерман, Поносов, Шпунгин

МПК: F27D 21/04

Метки: агрегата, плавильного, толщины, футеровки

...футеровки скорости изменения ЭДС всех точек увеличиваются (см,фиг,2), При определенной степени общей изношенности футеровки целесообразна остановка агрегата для полной смены рабочего слоя футеровки, Первоначально необ" ходимость смены футеровки определяется технологом. После такой остановки справляются о скоростях изме 10 нения ЭДС по всем контролируемым точкам в предыдущей (или предыдущих) плавке и устанавливают критерий: число точек (в рассматриваемом случае 15 порядка И = 6-8) и предельная норма 1Е 4 скорости изменения ЭДС, Установленный критерий может незначительно корректироваться по результатам последующей эксплуатации. После уста новления критериев остановки на. горячий ремонт (Г) и на смену футеровки (Б и Е) способ может...

Номер патента: 1408209

Опубликовано: 07.07.1988

Авторы: Виноградова, Иванов

МПК: G01B 11/06

Метки: двулучепреломляющих, кристаллических, пластин, толщины

...регистрация спектра при ццорос О,сц(о из поляризаторов ца 90" отцосГель(ю первоначального положения. Те и. хицхх хОВ, соторые це изменили своего с ектрдльцсго юложения, принадлежат функциям1/.) Х ;)с,Ь(,)Их не уцитывают в расчетах. Тдхим образом по оставшимся мицимумдч мож(о судить о истинном пропуска:(ии с)испи.Используемая в способе форчу,д пГу- ча опытным путем. В основе ес.сжит известная формула с(=К/., где К црядк интерференции. Приравняв К= - 1,2, хдя изменение толщины пластиць ( Нри изхСцснии порядка интерференции цд 0,5:- -. Это есть требуемое изменение толццНЫ ПЛаетниы ПРИ СМЕЩСЦИИ Мси(СИ(ХХД СПСКГ Р с 1/1 1 Н 0 й Х Д Р с К Т С Р И ( Т И К1( 1 ВС,1 И Ч И 1 У, Р 3 В цую/2 щрядка интерференции. Определяя положение мини ума...