Патенты с меткой «толщины»
Способ измерения толщины слоев
Номер патента: 929998
Опубликовано: 23.05.1982
Авторы: Брандорф, Власов, Кизилов
МПК: G01B 7/06
Метки: слоев, толщины
...в нем поршень 2, рабочую среду 3, реверсивный привод 4, преобразователи 5 и б, полые контуры 7 и 8, сообщаюциеся диэлектрическими цилиндрическими трубками 9-13, размещенными между слоями 14- 19 контролируемого многослойного материала, шарик 20, перемещаюцийся по трубкам 9-13, выполненный из магнитотвердого материала и намагниченный до заданного уровня, электроин. - дуктивный преобразователь 21, контактирующий с контролируемым материалом.Устройство работает следующим об" .разом.929998 Формула изобретения Составитель А.Духанинедактор Т.Кугрьзаева Техред Ж. Кастелевич КорректорВ.Синицка 3447/49 ВЕЕИИ и 1130614 комитета СССР и открытийаушская наб., д Тираж Государственново елам изобретений ЕЕосква, Ж, РПодписн лиал ППП "Патент", г....
Устройство для контроля толщины покрытий
Номер патента: 932206
Опубликовано: 30.05.1982
Авторы: Бакунов, Беликов, Герасимов, Карели, Клюев, Костров, Останин
МПК: G01B 7/06
Метки: покрытий, толщины
...рабочей частоты. В результате вычитания двух сигналов с соответствующими коэффициентами сумматором 15 при фиксированных значениях электромагнитных параметров покрытия, вводимых с помощью блока 18, выходное напряжение сумматора зависит от толщины ЗО покрытия, а его начальное значение не зависит от удельной электрической проводимости основания и зазора, поскольку условия работы преобразователей выбраны идентичными. При з конечных значениях толщины покрытия напряжение на выходе сумматора пропорционально значению толщины и разнице в свойствах покрытия и основания. Сигнал, подаваемый на вход де лителя блока. 16 деления, пропорционален перепаду свойств основания, величина которых определяется каналом 2 и установленным значением напряжения на...
Ультразвуковой способ контроля толщины
Номер патента: 932230
Опубликовано: 30.05.1982
Авторы: Денисова, Кузнецов, Саиткулов
МПК: G01B 17/02
Метки: толщины, ультразвуковой
...иэделие ультразвуковой импульс, принимают отраженный от донной поверхности импульс, измеря ют время между ними и по нему судят о толщине 23. ОСОБ КОНТРОЛЯ ТОЛЩИНЬ932230 15 25 где до о уп 1 п ФО 3номер 5, Кроме того содержит контролируемое изделие 6, контрольные образцы 7 и 8, толщины которых соответствуют верхнему и нижнему значениям диапазона толщин контролируемых изделий.Ультразвуковой способ контроля толщины осуществляется следующим образом.Преобразователем 1 излуцают в контролируемое изделие 6 ультразвуковой импульс, принимают отраженный от донной поверхности импульс, измеряют время между ними и определяют толщину с помощью коммутатора 4 и толщиномера 5, который фиксирует значение дд. Аналогичным образом измеряют толщины контрольных...
Преобразователь для активного контроля толщины электропроводящих покрытий в процессе нанесения
Номер патента: 934208
Опубликовано: 07.06.1982
МПК: G01B 7/06
Метки: активного, нанесения, покрытий, процессе, толщины, электропроводящих
...содержит токопроводящую основу 1, расположенный наней слой 2 диэлектрика, эта основас диэлектриком выполнена в видегофрированной мембраны, в центре которой и по периметру выполнены кон,такты 3 и 4, например, контакт 3 дискообразный, а контакт 4 - кольцеобразный, к последним подключен индикатор 5 импульсных сигналов, а коснове 1 подключен генератор 6 переменного тока.Преобразователь работает следую"щим образом.931208 Формула изобретения. Преобразователь для активного контроля толщины электропроводящих ,покрытий в процессе нанесения, содержащий токопроводящую основу и расположеннцй на ней слой Гдиэлектрика, о т л и ч а ю щ и й с я тем, .что, с целью повышения точности контроля Ферромагнитных покрытий,токопровои дящая основа со слоем...
Способ измерения толщины изделий
Номер патента: 934221
Опубликовано: 07.06.1982
Авторы: Вайншток, Воробьев, Лернер
МПК: G01B 17/02
Метки: толщины
...толщины изделий, заключается в следующем.На поверхность контролируемого изделия 12 устанавливают излучающий преобразователь 5 для накпонного ввода ультразвуковых колебаний. Возбуждают излучающий преобразователь 5 генератором 4 зондирующих импульсов, запуском которого управляет синхронизатор 1, Прием прошедших через изделие колебаний осуществляют приемным преобразователем 6, который устанавливают на противоположной поверхности контролируемого изделия 12, Аналогичный приемный преобразователь 7 устанавливают на поверхности контроли-, руемого изделия 12, с которой производится излучение колебаний таким образом, чтобы он принимал донные сиг,налы.Воспринимаемые приемными преобразователями 6 и 7 сигналы усиливают соответствующими...
Устройство для автоматического регулирования толщины полосы на стане горячей прокатки
Номер патента: 933147
Опубликовано: 07.06.1982
Авторы: Кузнецов, Маканова, Парфенов, Пронякин, Свиденко
МПК: B21B 37/24
Метки: горячей, полосы, прокатки, стане, толщины
...входа первой полосы даннойпартии в клети измеряется датчиками1 давления металла на валки и запоминается в блоках 3 расчета отклонениядавления металла на валки среднеезначение давления р 1 металла навалки на головной части полосы длявсех клетей.При прокатке последующей части полосы в измерительной клети в блоке 3расчета отклонения металла на валкиопределяется среднее значение отклонения давления Лри, измеренногоза оборот опорного валка, и подаетсяна первый вход системы 6 регулирования положения нажимных винтов, напервый вход блока самонастройки и навторой вход блока корректировки коэффициентов в каждой из последующихклетей.На второй вход системы 6 регулирования положения нажимных винтов вкаждой клети с выхода датчика положения...
Устройство автоматического регулирования толщины проката
Номер патента: 937072
Опубликовано: 23.06.1982
Авторы: Залевский, Новиков, Оржель, Селезнева, Терешин, Тимошенко, Цветков
МПК: B21B 37/24
Метки: проката, толщины
...первыми входами мно.жительных устройств 24 и 26 соответственно, вторые входы множительных устройств 23 и 25 объединены в третий вход блока 15 формирования коэффициента передачи, четвертый и пятый .входы блока 15 Формирования коэффициента передачи являются первыми входами множительных устройств 23 и 25 соответственно, вторые вхо.ды множительных устройств 24 и 26 объединены в шестой вход,блока 5 Формирования коэффициента передачи, выходы множительных устройств 23 и 24 являются соответственно первым и вторым входом устройства 27 сравнения, а выходы множительных устройств 25 и 26 являются соответственно вторым и первым входами устройств 27 и 28 сравнения, выходы устройств 27 и 28 сравнения являются соответственно первым и вторым входами...
Способ фридмана измерения толщины стенок полых изделий из немагнитного материала
Номер патента: 937996
Опубликовано: 23.06.1982
Автор: Фридман
МПК: G01B 7/06
Метки: немагнитного, полых, стенок, толщины, фридмана
...расталкивания маг.нитопроводящих элементов под действием обычных, возникающих в сухих частицах порошка (при их пересыпании и взаимном55 трении), зарядов статического электричества, предлагаемый способ обеспечивает формирование наиболее стабильной 6 4по собственным параметрам мерительноймагнитной цепи, двухсторонне охватывающей подлежащие измерению участки стенки исследуемого полого объекта,После образования (под действиемвнешнего постоянного поля подмагничивания) внутреннего участка подготавливаемой для измерения магнитной цепивнутреннего участка 8, составленногоплотно осевшими на внутренней поверхности изделия сгустками магнитопроводяшихтвердых частиц, расположенных противмагнитопроводов 7 внешних электромагнитных датчиков 4, обмотка...
Устройство для контроля толщины покрытия
Номер патента: 937997
Опубликовано: 23.06.1982
МПК: G01B 7/06
Метки: покрытия, толщины
...управляемый делитель 5 частоты, Частота появления единицы переполнения делителя 5 частоты (фиг. 2 м ) прямо пропорциональна частоте следования импульсов на выходе преобразователя частоты и обратно пропорциональна величине кода поправки, записываемого в делитель 5 перед каждым циклом его заполнения.Каждое переполнение делителя 5 уменьшает содержимое вычитаюшего счетчика 8 на единицу.Если частота преобразователя 4 соответствует ее номинальному значению при заданном уровне калибровочного сигнала, то количество циклов деления частоты импульсов, поступающих с выхода преобразователя 4 за время интервала калибровки, равно значению кода, предваритель но записанному в вычитаюший счетчик 8, поэтому с последней единицей переполнения делителя 8...
Способ измерения толщины слоя в многослойном изделии
Номер патента: 938014
Опубликовано: 23.06.1982
Авторы: Войтенко, Гордиенко, Корицкий
МПК: G01B 17/02
Метки: изделии, многослойном, слоя, толщины
...соединенные генератор 13 задающих импульсов и компара- отор 14, синхронизатор 15, соединенный со входом генератора 1 пилообразного напряжения и со входами генераторов И и 13 задающих импульсов, последовательно соединенные компара.тор 16, усилитель 17 постоянного тока и регистратор 18, а входы компаратора 16 соединены с выходами компараторов 12 и 14, генератор 19 образцовой частоты, выходы которого соединены с генератором 2 качающейся частоты и усилителем 17 постоянного тока,генераторы 20 и 21 стробирующих импульсов и сумматор 22, выход которогосоединен с вторым вяодом электроннолучевой трубки 9., причем вторые входь35компараторов 12 и 14 соединены с выходом генератора 1 пилообразного напряжения, выход генератора 11 со:динен с входом...
Инструмент для измерения толщины заращения хоан
Номер патента: 938934
Опубликовано: 30.06.1982
МПК: A61B 5/10
Метки: заращения, инструмент, толщины, хоан
...рабочего элемента 3443, шарнирно закрепленного на дистальном конце корпуса 1.Инструмент работает следующим образом. В одну руку берут рукоятку 2 и пальцы размещают на дополнительномрычаге 15, В этом положении подпружи ненный элемент 9 упирается в проксимальный конец корпуса 1, а рабочий измерительный элемент 3 находится в горизонтальном положении, параллельно оси корпуса 1. Затем другой рукой шпателем надавливают на язык обследуемого и под визуальным контролем вводят в зев дистальный конец корпуса 1 с элементом 3. При введе" нии инструмента в зев постепенно на жимают пальцами на дополнительный рычаг 15 и перемещают подпружиненный элемент 9, рейку 7 и шарнирно установленный на корпусе 1 рабочий измерительный элемент 3 в вертикальное...
Способ регулирования толщины стенки трубчатого изделия из термопласта
Номер патента: 939248
Опубликовано: 30.06.1982
Авторы: Куляба, Ложечко, Островская, Цыганенко
МПК: B29D 23/04
Метки: изделия, стенки, термопласта, толщины, трубчатого
...электропривода.Для изменения задания вакуума используется задатчик 18. Данная система представляет собой регулятор, вкотором предусмотрены два режима управления: ручной дистанционный, обеспечивающий ведение процесса при отказах регулирующего блока, а такжев период настройки и профилактики,и основной автоматический режим. Длявыбора режима применен блок 19 управления, работающий совместно с датчиком 20 положения исполнительного механизма,Система автоматического регулирования числа оборотов шнека экструдера (фиг,2) работает следующим образом.При отклонении толщины стенки изделия 1 от заданной величины 5 на 0,05 мм изменяется величина остаточного давления в вакуум-калибраторе, которая измеряется вакуумметром 12 и преобразуется...
Устройство для измерения толщины черенков
Номер патента: 940695
Опубликовано: 07.07.1982
Авторы: Бирюков, Жуган, Лопатинский, Нагиев, Павленко, Смелянский
МПК: A01G 1/06
Метки: толщины, черенков
...14, воздействующими на кулак 15, жестко связанный с опорной плитой 3. Пружины 14 связаны с валом 13 двуплечим рычагом 16, закрепленным на валу,На валу 13 установлена также звездочка 17, связанная цепью со звездочкой 18, закрепленной на валу барабана 1 1 могут быть использованы и другие решения кинематической связи, например шестеренная передача) .Устройство работает следующим образом.Черенок, поданный оператором в зажим 2, при вращении барабана 1 входит в зев, образованный губками 4 и 5 измерительного механизма, отодвигая подвижную губку 5, которая посредством двуплечего поводка 7 перемещает храповый сектор 8 относительно собачки 9.В процессе совместного вращательного движения барабана и измерительного механизма обмеривающие...
Устройство для регулирования толщины стенки трубчатых изделий
Номер патента: 941856
Опубликовано: 07.07.1982
Авторы: Бражников, Дубинский, Кудров, Чернышев, Юров
МПК: G01B 17/02
Метки: стенки, толщины, трубчатых
...устройства являетсянизкая точность регулирования, а также 20наличие сложного в изготовлении и обсттуживании электромеханического узла сканирования измерительного датчика толщины стенки. 2Наиболее близким к изобретению по технической сухости является устройство дпя регулирования тяпцины стенки трубчатых изделий, содержашее источник излучения с детекторами излучения, блок согласования и исполнительный механизм 2 .Недостатком устройства является инэкая точность за счет субъективной визуальной оценки величины и места приложения регулируюшего воздействия.Ъль изобретения - повышение точ-. ности регулирования.Поставленная пель достигается тем, чго "в устройство дпя регулирования топшины стенки трубчатых изделий введены первый...
Устройство для регулирования толщины изоляции кабеля
Номер патента: 941944
Опубликовано: 07.07.1982
МПК: G05D 5/02
Метки: изоляции, кабеля, толщины
...и элементом 9сравнения - второй канал.Обратная связь, образованная иэвнутреннего контура регулированияпутем добавления к нему элемента 14 сравнения и соединенных последователь но блока 11 запаздывания и фильтра12, является общей для обоих каналов. Измеритель 1, потенцнометр 10,элементы 8,9 и 14 сравнения, регу"ляторы б и 7, а также толкающий иэкструзионный механизмы с приводами3 и 4 образуют внутренний контур регулирования. Сигнал измерителя 1, попадая на входы регуляторов б н 7, стабилизирует толщину изоляции перед охлаждающей ванной. В наружный контур регулирования входят измеритель 2, фильтр 13, элементы сравнения 8 и 9, регуляторы б и 7, толкающий и экструзионный механизмы с приводами 3 и 4. Наружный контур стабилизирует толщину...
Устройство для регулирования толщины стеклонити
Номер патента: 943210
Опубликовано: 15.07.1982
Авторы: Братухин, Ястремский
МПК: C03B 37/07
Метки: стеклонити, толщины
...6 связан с датчиком толщины 2,а вход через элемент задержки 7и блок коррекции 8 подключен к сумматору 1, Входы регуляторов 3 и 6также соединены с задатчиком 9,гУстройст во работает следующим образом,Стеклонить Формируется на выходеэлектропечи 1 и перематывается с помощью механизма перемотки на приемную бобину. Датциком толщины нити2, установленым на выхода зле ктропечи 1 после нитесборника, осуществляют непрерывный контроль текущегознацения толщины, а величина номинального значения толщины устанавливается с помощью задатчика 9, Выходной сигнал регулятора 3, пройдясумматор ч, поступает на вход исполитепьного органа 5На другой вход-ум:,."-,ора . поступает корректирующийси- галблока коррекции 8 в зависимос" от вида сигнала на...
Устройство автоматического регулирования толщины стравливаемого металла
Номер патента: 943323
Опубликовано: 15.07.1982
Авторы: Гуркин, Костенков, Садыков
МПК: C23F 1/00
Метки: металла, стравливаемого, толщины
...11 является входом блока сравнения 8.Устройство автоматического регулирования толщины стравливаемого металла работает следующим образом. Сигнал с электрохимического датчика 9 и датчика 5 скорости вращения двигателя 3 поступает на вход блока сравнения 8 и через систему 2 управления предварительно устанавливают скорость вращения двигателя 3 пропорциональной величине сигнала электрохимического датчика 9 соответственно6 9 Г+1 где Х - величина сигнала датчика 55скорости вращения двигателя;Х 9 - величина сигнала электрохимического датчика 9;К - коэффициент передачи; система 2 управления, двигатель3, датчик 5 скорости.Сигнал датчика 13 пропорционален толщине травленой полосы. Сигнал датчика 13 в сумматоре 10 сравнивается с сигналом...
Устройство для контроля толщины неэлектропроводного покрытия на ферромагнитной основе
Номер патента: 945632
Опубликовано: 23.07.1982
МПК: G01B 7/06
Метки: неэлектропроводного, основе, покрытия, толщины, ферромагнитной
...междублоком перемагничивэния и возбуждающей обмоткой преобразователя.На чертеже представлена блок-схема устройства.Устройство содержит блок 1 пере вмагничивания, подключенный черезрегистратор 2 тока перемагничиванияк обмотке 3 возбуждения преобразователя 4 шумов Баркгаузена. Измерительная обмотка 5 преобразователя 4 соединена с блоком 6 обработки сигналашумов Баркгаузена, выход которогосоединен с одним из входов блока 7сравнения, второй вход которого сое;динен с выходом блока 8 опорного сиг Онала, а выход - с блоком 1 перемагничивания,Устройство работает следующим образом,С блока 1 перемагничивания черезрегистратор 2 тока перемагничивания,на обмотку 3 возбуждения преобразователя 4 шумов Баркгаузена подают напряжение...
Интерферометрический способ измерения толщины смазочной пленки
Номер патента: 945647
Опубликовано: 23.07.1982
Авторы: Бакашвили, Карсанидзе, Шварцман, Шойхет
МПК: G01B 11/06
Метки: интерферометрический, пленки, смазочной, толщины
...и по мере увеличения толщины смазочной пленки регистрируют смену интерференционных полос, Допустим, что при некото 50 рой скорости Ч, в центре контакта зарегистрирована интерференционная полоса с номером ИТогда тбпшину пленки, со ответствующую данной скорости, определяют по формуле55 7 4жение, постулируюшее возможность однозначной интерпретации статистической интерферограммы. При высоких давлениях,характерных дня рабочих условий шарикоподшипников и при наличии смазки в контакте, истинная интерферограмма можетоказаться значительно отличающейся оттеоретической, в которой фактор высокого давления и наличия смазки не учитывается, Проявлением этого недостаткаявляется то, что статистическая тарировка приводит к различным значениям...
Способ измерения толщины пленки на подложке
Номер патента: 947640
Опубликовано: 30.07.1982
МПК: G01B 11/06
Метки: пленки, подложке, толщины
...падения излучения на,60 образец, близкого к нормальному, эти величины вычисляют по Формулам)3/оЛЬ4 вЬаИнтервал толщин Ь, измеряемыхданным способом, составляет от0,001 мкм до Л /2 (граничение, обусловленное теоретической модельюрасчета 1), т.е. при использованииНе-Ме лазера с длиной волны Л:0,63 мкм верхний предел Ь равенн0,3 мкм. Точность измерений величины Ь при использовании лазера состабилизированной мощностью излучения не хуже 10.Технологический процесс формирования отражательной Фазовой дифракционной решетки на подложке 3(фиг.2-6) сводится к нанесениюотражающего покрытия 7 из того жематериала, что и пленка, на подложку 3 (фиг.2); нанесению слоя 8 материала, обладающего свойствомселективного травления по отношению к материалу...
Эллипсометр для измерения толщины и оптических свойств образцов
Номер патента: 947641
Опубликовано: 30.07.1982
МПК: G01B 11/06
Метки: образцов, оптических, свойств, толщины, эллипсометр
...содержащем тубус падающегосвета и тубус отраженного света,установленные под углом друг к другу, кювету для размещения образцаи оптические окна, оптические окнарасположены на торцах тубусов, обращенных к кювете.На чертеже изображена принципиаль.ная схема эллипсометра для измерения толщины и оптических свойствобразцов.Эллипсометр содержит тубус 1 падающего света и тубус 2 отрЙженногосвета, декоративные крышки 3 и 4,полые трубки 5 и 6, вставленные внаправляющие втулки 7 и 3 каждогоиз тубусов, оптические окна 9 и 10,из плавленного кварца, приклеенныек торцу каждого тубуса, кювету 11для размещения образца, выполненнуюв виде стакана и расположенную напредметном столике 12. В стакане(кювете) 11 имеется отверстие соштуцером, который...
Устройство для измерения толщины пленок на металлических подложках
Номер патента: 947644
Опубликовано: 30.07.1982
Авторы: Бажин, Белик, Каменцев, Коржавый, Кулаков, Ступак, Файфер, Шестов
МПК: G01B 15/02
Метки: металлических, пленок, подложках, толщины
...нов, прошедших через гнализатор б, и представляет собой цилиндрический стакан с отношением длины к диаметру 5/2.Далее устройство содержит блок 7 питания, генератор 8 напряжения задержки, электрометрический усилитель 9, дифференциальный усилитель 10, двухкоординатный самописец 11, мишень 12 цил.ндрической Формы с измеряемой пленкой на внутренней поверхности, неподвижную штангу 13 корпуса измерительного преобразователя 1 и шток 14 держателя цилиндрической мишени 12.Лнализатор выполнен в виде трех- сетчатых диафрагм, внешние сетки соединены между собой и находятся под нулевым потенциалом относительно измеряемого образцг, что исключает влияние напряжения задержки на первичный пучок. Нг среднюю сетку от генератора 8 напряжения задержки...
Устройство для измерения толщины полупроводниковых пленок
Номер патента: 947645
Опубликовано: 30.07.1982
Авторы: Бахтин, Гибадулин, Кузнецов, Пантуев
МПК: G01B 21/08
Метки: пленок, полупроводниковых, толщины
...и 11 и нычитающего блока 12. Выходы первой половины разрядов регистра 9 сдвига соединены с сумматором 10, выходы второй половины разрядон регистра 9 сдвига - с сумматором 11. Выходы сумматоров 10 и 11 соединены с вычитающим блоком 12Устройство работает следующим образом.При сканировании спектра излучения с помощью блока 3 сканирования, приводящего в движение диспергирующий элемент монохроматора 1, излучение,отраженное от измеряемой пленки, помещенной на приставку 2,модулируется по интенсивности н соот. ветствии с условиями интерференцииизлучения н тонких пленках, Модулированное излучение поступает в приемник 4 лучистой энергии, где преобразуется в электрический сигналинтерференции. Сигнал интерференциипоступает на гход преобразователя5...
Способ определения толщины поликристаллической пленки, возникающей при обработке монокристалла
Номер патента: 949439
Опубликовано: 07.08.1982
МПК: G01N 23/20
Метки: возникающей, монокристалла, обработке, пленки, поликристаллической, толщины
...рентгеновских лучей Йотмонокристаллов МаС с различйойплотностью дислокаций р , где кри-,вые.1,2 и 3 относятся к излучениямМоК и рефлексу (600), СцКи рефлексу (400) и РеК, рефлексу(200) соответственно. П р и м е р. Из различных монокристаллов МаС 1 выращенных методомКиропулоса на воздухе, выкалывают поспайности (100 образцы размером 20 х 20 х 10 мм. С помощью травления на дислокации подбирают образцы с различной плотностью дислокаций Я Изменение величины Р от образца к образцу выбирают в диапазоне от 10 см до 10 см . На этих.монокристаллах измеряют значения интегрального коэффициента отражения рентгеновских лучей Й, Такие зависимости получают для излучений МоК 11, рефлекс (500) 1 СцКЯ 1 рефлекс (400). и РеК,урефлекс (200) .Из...
Устройство для контроля толщины слоя, удаляемого в процессе размерного травления
Номер патента: 951066
Опубликовано: 15.08.1982
Автор: Бабушкин
МПК: G01B 5/06
Метки: процессе, размерного, слоя, толщины, травления, удаляемого
...40Устройство для контроля толщиныслоя, удаляемого в процессе размерного травления, работает следующимобразом,Устройство с помощью скобы 1 закрепляют на объекте, подвергаемом 45размерному травлению, после чего выполняют настройку устройства, Сначалас помощью гайки 11 механизм последовательного включения преобразователей индукционный преобразователь 2 50устанавливают над поверхностью травления так, чтобы образовался зазор, достаточный для прохождения электролита, после чего настраивают механизмпринудительнаго перемещения индукцион 5ного преобразователя. Опорную гайку 5сначала подводят до касания со скобой,а затем отвинчивают на величину лрипуска, подлежащего удалению травлени,ем за вычетом толщины слоя, удаляемо-щгов...
Устройство для измерения толщины покрытий
Номер патента: 953443
Опубликовано: 23.08.1982
Авторы: Власов, Меледин, Титаев
МПК: G01B 7/06
Метки: покрытий, толщины
...7 временных интер 3 95344 валов, цифровой преобразователь 8, второй ключ 9, регистр 10 нуля, сумматор 11 и индикатор 12, последовательно соединенные генератор 13 запускающих импульсов и схему 14 ИЕ, подключенные ко второму входу первого ключа 4 второй вход формирователя 7 временных интервалов соединен с выходом генератора 13 запускающих импульсов, и второй детектор 1, вклю ценный между вторым выходом дифференциального преобразователя 2 и вторым входом каскада 6 сравнения, а второй вход сумматора 11 соединен с выходом цифрового преобоазователя 8. 5Устройство работает следующим образом.При измерении толщины покрытия сигнал источника 1 возбуждения посту" пает на дифференциальный преобразова тель 2, на обмотках которого возни кает...
Накладной емкостный датчик для контроля толщины полимерных пленок
Номер патента: 953445
Опубликовано: 23.08.1982
Авторы: Иванов, Свиридов, Скрипник
МПК: G01B 7/06
Метки: датчик, емкостный, накладной, пленок, полимерных, толщины
...или цилиндрическими) с одииаковым радиусом кривизны.Низко- и высокопотенциальныеэлектроды 3-6 конденсаторов 1 и 2 с,целью исключения влияния на результат измерения анизотропных свойств контролируемой пленки могут быть выполнены в виде концентрических компланарных колец (фиг, 2). Количество электродов, геометрические размеры и расстояние между ними определяются предполагаемой толщиной контролируемой пленки.Радиус кривизны рабочей поверхности емкостного датчика выбирается в соответствии с прочиостными характеристиками контролируемого мате-, риала, а также с учетом геометрических размеров конденсаторов. С достаточной степенью достоверности он может быть определен из соотноЯшения =О,где Й - радиус кривизны рабочих поверхностей; д -...
Способ определения толщины покрытия
Номер патента: 953453
Опубликовано: 23.08.1982
Авторы: Агеев, Банников, Бартенев, Градюшко, Егоров, Неделько
МПК: G01B 11/06
Метки: покрытия, толщины
...тепловой диффузии 0 зависит от частоты и) модуляции источника светового пото- ка где 3=Кфс - коэффициент теплопроводности образца,20К - коэффициент температуро"проводности;у - удельная плотность,с - удельная теплоемкость.Дпя твердого тела, представляющего собой двуслойную разнородную структуру, например тонкую пленку, при достаточно высоких частотах модуляции светового потока в энергетическом балансе процессов, сопровождающихся поглощением света и возникновением волны давления в окружающей газовой среде, основную. роль играет пленка, а именно ее оптические и теплофизические характеристики. С понижением частоты модуляции растет длина те35 пловой диффузии в пленке и при некоторой частоте в перераспределение поглощенной энергии...
Устройство автоматического регулирования толщины полосы на реверсивном стане прокатки-волочения
Номер патента: 954130
Опубликовано: 30.08.1982
Авторы: Жабреев, Попов, Эргард
МПК: B21B 37/24
Метки: полосы, прокатки-волочения, реверсивном, стане, толщины
...представлена блок-схема устройства,Ведущий валок 1 и ведомый валок 2приводятся во вращение электрическими двигателями 3 и 4, Управлениедвигателями осуществляется блоком5 скоростей рабочих валков через системы 6 и 7 управления приводнымидвигателями. В данном устройстве предусмотрен канал регулирования по принципу компенсации возмущения в виде отклонения толщины подката ЬЬ в от установленного перед клетью измерителя и обратной связи по величине действительного значения вытяжки Л , Канал компенсации возмущения от измерителя 8, установленного перед клетью, включает в себя усилитель 9 сигнала отклонения входной толщины, блок 10 временного сопровождения, измеритель 11 скоростиполосы на входе в клеть, логический блок 12. Выход канала...
Устройство для регулирования толщины слоя смазки на полосе
Номер патента: 954132
Опубликовано: 30.08.1982
Авторы: Бубякин, Нетесов, Ошеверов, Смирнов, Тихоновский, Шичкин
МПК: B21B 45/02
Метки: полосе, слоя, смазки, толщины
...с источниками сжатого воздуха, упомянутые коллекторы выполнены симчетрично иэогну"тыми по параболе в плоскости щелево-,го сопла с выпуклостью, обращеннойв его сторону. На фиг. 1 изображено устройство,вид саерху; на фиг. 2 - сечение А-Ана фиг. 1..Устройство состоит иэ верхнегои нижнего коллектора 1 с плоскими щелевыми соплами 2. На фиг. 1 показансимметричный изгиб коллектора 1 по 2 о параболе с выпуклостью, обращеннойи соплу (плоскость изгиба по параболе проходит через ось коллектораи щель сопла). С полосы 3 производится удаление смазки. Направление воэ951132 3душных струй показано стрелками (Фиг. 1)Устройство работает следующим образом.Воздух под давлением подается в коллектор 1, симметрично изогнутый по параболе в, плоскости...