Патенты с меткой «толщины»

Номер патента: 989938

Опубликовано: 10.05.2006

Авторы: Белавенцев, Данилов, Морозов, Покидышев, Поляков, Силицкий, Соколов

МПК: G01B 11/06

Метки: покрытия, толщины

Способ определения толщины покрытия, преимущественно, в процессе ионного азотирования путем измерения лучистой энергии в процессе получения покрытия, отличающийся тем, что, с целью упрощения процесса, определяют толщину покрытия путем измерения изменения интенсивности инфракрасного излучения детали при постоянной температуре насыщения.

Номер патента: 1840189

Опубликовано: 10.08.2006

Авторы: Бекешко, Ковалев

МПК: G01J 5/00

Метки: остаточной, тепловой, толщины

1. Тепловой способ контроля изделий, заключающийся в нагреве и последующем анализе теплового излучения, отличающийся тем, что, с целью расширения возможностей способа путем обеспечения измерения остаточной толщины каналов в изделиях неизвестной толщины при одностороннем доступе, в течение заданного времени с помощью сфокусированного лазерного луча нагревают торцевую поверхность канала, после прекращения нагрева измеряют зависимость интенсивности теплового излучения торца канала от времени и по значению интенсивности по калибровочным графикам определяют остаточную толщину. 2. Тепловой способ контроля изделий, отличающийся тем, что определяют время установившейся температуры поверхности торца, по которому из калибровочных графиков...

Номер патента: 1598597

Опубликовано: 10.10.2006

Авторы: Аксенов, Баймасов, Журавлев, Лесина, Морозов, Ушакова, Шашкин

МПК: G01B 5/20

Метки: детали, криволинейными, ограниченной, поверхностями, толщины

Устройство для измерения толщины детали, ограниченной криволинейными поверхностями, содержащее основание, каретку с приводом ее перемещения, узел базирования детали, установленный на каретке, измерительный механизм и узел его выставки относительно детали, закрепленный на основании, отличающееся тем, что, с целью расширения номенклатуры контролируемых деталей, узел базирования детали и узел выставки измерительного механизма выполнены каждый в виде базового элемента, установленного с возможностью вращения вокруг своей оси, причем их оси перпендикулярны одна другой, а каретка установлена с возможностью перемещения по двум взаимно перпендикулярным направлениям в плоскости основания.

Номер патента: 1628658

Опубликовано: 10.06.2007

Авторы: Васильев, Здоренко, Матющенко, Скрипник

МПК: G01B 17/02

Метки: акустического, плоских, толщины

1. Устройство для акустического контроля толщины плоских изделий, содержащее последовательно соединенные первый генератор импульсов и усилитель мощности, к выходу которого подключены два параллельно соединенных акустических излучателя, два акустических приемника, установленных соосно с акустическим излучателем и на одинаковом расстоянии от него, последовательно соединенные регулируемый избирательный усилитель, пиковый детектор и индикатор, отличающееся тем, что, с целью повышения точности контроля, оно снабжено двумя усилителями напряжения, двумя фазочувствительными выпрямителями, интегратором, источником опорного напряжения, вторым генератором импульсов, четырьмя ключами и фильтром...

Номер патента: 1461126

Опубликовано: 10.06.2007

Авторы: Галкин, Здоренко, Марченко, Скрипник

МПК: G01B 17/02

Метки: бесконтактного, толщины

Способ бесконтактного измерения толщины, заключающийся в том, что электроакустические преобразователи располагают соосно на расстоянии l между собой, излучают акустические колебания частотой f1, принимают акустические колебания, измеряют фазовый сдвиг между излучаемыми и принимаемыми колебаниями, изменяют частоту f1 и определяют толщину контролируемого изделия с учетом разности частот, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения толщины изделия из неоднородных материалов путем исключения влияния физико-механических характеристик материала изделия, дополнительно измеряют фазовые сдвиги ...

Номер патента: 1422798

Опубликовано: 10.06.2007

Авторы: Здоренко, Скрипник

МПК: G01B 17/02

Метки: бесконтактного, толщины

Способ бесконтактного измерения толщины изделий заключается в том, что размещают контролируемое изделие между излучателем и приемником акустических колебаний, излучают и принимают ультразвуковые колебания, измеряют разность фаз между принимаемыми и излучаемыми колебаниями и с учетом измеренной разности фаз определяют толщину контролируемого изделия, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, принимают отраженные от поверхности контролируемого изделия акустические колебания, определяют соотношение амплитуд отраженных и излучаемых акустических колебаний, а толщину контролируемого изделия определяют по формуле

Номер патента: 1824014

Опубликовано: 20.01.2008

Авторы: Домбровский, Сарычев, Турцевич, Чигирь

МПК: H01L 21/66

Метки: осажденных, помощью, проводящих, профилометра, селективно, слоев, толщины

Способ измерения толщины селективно осажденных проводящих слоев с помощью профилометра, включающий формирование на кремниевой подложке диэлектрического покрытия, вскрытие в нем окон, определение высоты рельефа в окнах с помощью иглы профилометра, определение толщины проводящего слоя после его осаждения как разницы высоты рельефа в окнах до и после осаждения проводящего слоя, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля, диэлектрическое покрытие на подложке формируют толщиной, удовлетворяющей соотношению: 0,1 h/H 0,8,где h -...