Патенты с меткой «толщины»

Номер патента: 1835043

Опубликовано: 15.08.1993

Автор: Лисицына

МПК: G01B 7/10

Метки: диэлектрической, подложке, покрытий, токопроводящих, толщины

...ЭДС различной величины ,и появляется выходной сигнал. Толщина проводящих пластин й должна превышать величину глубины проникновения д электромагнитных колебаний используемой частоты в материал пластин, которая рассчитывается по известной формуле где о - круговая частота тока возбукдения; ,иа - абсолютная магнитная проницаемость материала пластин; У- его удельная электропроводность, с целью достижения наибольшей концентрации (наибольшего выпучивания) электромагнитного поля за пределами щелевых прорезей 2 и 3, а следовательно - для обеспечения наибольшей чувствительности прибора, Электромагнитное поле в толще проводящего материала затухает по экспоненте, Расчеты показыва- ют, что, например, при частоте тока возбуждения 10 ЧГц на глубине...

Номер патента: 1836995

Опубликовано: 30.08.1993

Авторы: Абрамов, Андриенко, Кузнецов, Родякин

МПК: B22D 15/00

Метки: литейной, оптимальной, стенки, толщины, формы

...образом, по сравнению с прототи от:ь г;редлагаемае техническое решение содорх(ит вышеуказанные отличительные признаки и следовательно, соответствует требованию "новизны",По укаэанным отличительным существенным пр. знакам проведен поиск. Известных решений не найдено, Следовательно, заявляемое изобретение соответствует требованию "существенное отличие" по пункту 9.04 Инструкции Э 3-2-74,Поскольку заявляемое техническое решение позволяет уменьшить образование . орячих трещин при охлаждении расплава в интервале эффектной кристаллизации и применимо дпя любых конструкций оболочковых и керамических литейных форм, то оно соответствует требованию "положительный эффект",На фиг, 1 показана зависимость средней температуры по толщине...

Номер патента: 1838756

Опубликовано: 30.08.1993

Автор: Сороковиков

МПК: G01B 13/06

Метки: проката, толщины

...1,2 в зависимости от толщины проката. раздвигает нзконечнйк и, следовательно, поршни 4,5; находящиеся в первом контуре замкнутой гидросистемы, изменяя тем самым давление жидкости в нем, Измеритель 9 давления измеряет разность давлений между первым.и вторым контурами, Разность давлений пропорциональна перемещению поршней, а, следовательно, и толщине измеряемого проката. Выходной сигнал с измерителя давления поступает в блок 11 обработки сигналов измерителя давления, где происходит преобразование сигналов измерителя давления в показания толщины измеряемого проката на индикаторном приборе, Задатчик объема жидкости при изменении вида. проката осуществляет выравнивание давлений в первом и втором контурах замкнутой гидросистемы путем открытия...

Номер патента: 2003021

Опубликовано: 15.11.1993

Авторы: Гусев, Занцев

МПК: F27D 21/04

Метки: агрегата, теплового, толщины, футеровки

...фиг.1 приведена тепловая схема ус-.тройства для реализации .предложенногоспособа; на фиг.2 - графическая зависимость, поясняющая определение границы футеровки; на фиг.1 и 2 обозначено: 1 - начальное положение внутренней (тепло- воспринимающей) поверхности контролируемого участка футеровки; 2 - текущее положение границы футеровки; 3 - футеровка; 4 - теплоотьодящий элемент; 5 - термодатчики; 6 - кожух теплового агрегата; х - координата установки 1-го термодатчика.10 Способ поясняется конкретным примером его реализации на: КМК "Криворожсталь" при диагностировании состояния футеровки фурменных каналов доменной печи ДПс построением функции запаздывания тз 3 = 1(х) распространения экстремума температурного поля по длине...

Номер патента: 1839229

Опубликовано: 30.12.1993

Авторы: Белоног, Кукрус, Лаугис, Оорн, Рейвик

МПК: G01B 15/02

Метки: сварного, толщины, шва

...элемента И 17, счетчиков 18, 19 и тактового генератора 20. Работу уела описывает фиг.5, Сигнал направления вращения х 1 определяется при помощи узла полярности, состоящего из инвертора 21 и триггера 22 (фиг.6),Для записи параллельного кода местонахождения дефектов контролируемого шва применено оперативное запоминающее устройство (ОЗУ) 10, которое работает соответственно по команде зас 1 ись-позиционирование (з/и).Формирователь адреса ячейки ОЗУ, находящийся в устройстве 10, показан на фиг.7 При записи координат дефектов на .вход ОЗУ 36 запись/считывание подается логический уровень записи, на вход данных О-код позиции йс 1 - адресный вход А соединен с выходом счетчика 35, нэ вход С которого подается сигнал от одновибратора 39. Вход з/и...

Номер патента: 1767959

Опубликовано: 15.07.1994

Автор: Дацко

МПК: G01B 15/02

Метки: переизлучающего, поверхности, световода-смесителя, слоя, спектра, толщины

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ПЕРЕИЗЛУЧАЮЩЕГО СЛОЯ НА ПОВЕРХНОСТИ СВЕТОВОДА-СМЕСИТЕЛЯ СПЕКТРА, заключающийся в том, что производят окраску поверхности полимера диффундирующим в нее мономером и определяют толщину слоя, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и удешевления способа, на объект контроля направляют поток электронов, производят фоторегистрацию переизлучающего слоя с торца световода-смесителя спектра, а толщину определяют по результатам измерения перепадов почернения штрихов, полученных при фоторегистрации.

Номер патента: 1727487

Опубликовано: 30.07.1994

Автор: Любашов

МПК: G01N 27/90

Метки: вихретоковых, градуировки, имитатор, металлических, покрытий, слоев, толщиномеров, толщины

ИМИТАТОР ТОЛЩИНЫ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ СЛОЕВ ДЛЯ ГРАДУИРОВКИ ВИХРЕТОКОВЫХ ТОЛЩИНОМЕРОВ ПОКРЫТИЙ, содержащий основание в виде прямоугольного параллелепипеда с отверстиями на рабочей поверхности и имитирующие элементы, размещенные в отверстиях заподлицо с рабочей поверхностью, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности при имитации электропроводных многослойных покрытий с верхним слоем, имеющим электропроводность, существенно большую, чем электропроводность нижних слоев, имитирующие элементы выполнены из различных электропроводных материалов с толщиной, большей глубины проникновения электромагнитного поля вихретокового толщиномера в данный материал, электропроводность материала каждого имитирующего элемента выбрана соответствующей...

Номер патента: 1408948

Опубликовано: 30.11.1994

Авторы: Гусев, Зацепин, Пушкин

МПК: G01B 7/06

Метки: арматуры, бетона, диаметра, защитного, конструкций, слоя, строительных, толщины

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ЗАЩИТНОГО СЛОЯ БЕТОНА И ДИАМЕТРА АРМАТУРЫ СТРОИТЕЛЬНЫХ КОНСТРУКЦИЙ, заключающийся в том, что по поверхности контролируемой конструкции перемещают источник постоянного магнитного поля, регистрируют распределение напряженности вторичного магнитного поля и по нему определяют контролируемые параметры, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, в намагничиваемой зоне контролируемой конструкции дополнительно создают импульсное магнитное поле, по распределению напряженности совпадающее с постоянным магнитным полем, длительность импульсов которого меньше времени переходных процессов в прутках арматуры, а в качестве информативного распределения напряженности вторичного магнитного поля используют...

Номер патента: 1243479

Опубликовано: 15.12.1994

Авторы: Гусев, Зацепин, Пушкин

МПК: G01B 7/06

Метки: арматуры, бетона, диаметра, защитного, конструкций, слоя, строительных, толщины

1. Способ измерения толщины защитного слоя бетона и диаметра арматуры строительных конструкций, заключающийся в том, что по контролируемому объекту перемещают источник магнитного поля и регистрируют распределение напряженности вторичного магнитного поля, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, распределение напряженности вторичного магнитного поля регистрируют со скоростью, отличной от скорости перемещения источника магнитного поля, измеряют расстояние между точками, в которых значения нормальной или тангенциальной составляющей напряженности вторичного магнитного поля максимальны, по расстоянию между этими точками определяют толщину h защитного слоя бетона, а по толщине защитного слоя бетона и по напряженности...

Номер патента: 1202461

Опубликовано: 25.07.1995

Авторы: Биленко, Ципоруха

МПК: H01L 21/66

Метки: осаждения, процессе, слоев, толщины

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ СЛОЕВ В ПРОЦЕССЕ ИХ ОСАЖДЕНИЯ, включающий регистрацию временной зависимости интенсивности собственного теплового монохроматического излучения образующейся структуры I(t) и определение толщины слоя по числу полупериодов этой зависимости и значению показателя преломления осаждаемого слоя, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и расширения класса контролируемых слоев, перед осаждением измеряют излучательную способность и интенсивность собственного теплового излучения нагретой до температуры процесса осаждения исходной структуры на длине волны монохроматического излучения и искомую величину определяют, используя вычисленный по следующей форме показатель преломления h:

Номер патента: 1402022

Опубликовано: 10.11.1995

Автор: Барановский

МПК: G01B 7/06

Метки: вихретокового, покрытий, толщины, электропроводящих

1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ ВИХРЕТОКОВОГО КОНТРОЛЯ ТОЛЩИНЫ ЭЛЕКТРОПРОВОДЯЩИХ ПОКРЫТИЙ, содержащее первый вихретоковый преобразователь автогенератор, последовательно соединенные первый амплитудный детектор и индикатор, отличающееся тем, что, с целью повышения точности контроля за счет уменьшения влияния зазора, оно снабжено вторым вихретоковым преобразователем, размещенным соосно с первым и выполненным с большим, чем у первого эквивалентным радиусом и расстоянием обмотки до рабочего торца, коммутатором, подключенным первым и вторым сигнальными входами к первому и второму вихретоковым преобразователям соответственно и выходом к автогенератору, генератором тактовых импульсов, соединенным с управляющим входом коммутатора, последовательно соединенными...

Номер патента: 1831121

Опубликовано: 20.02.1996

Авторы: Авдеев, Панченко, Писарев, Скрипаль, Тупикин, Усанов

МПК: G01R 27/26

Метки: пленки, толщины

...измерения толщины пленки содержит источник 1 питания, СВЧ- генератор, включающий активный элемент 2, размещенный в волноводе 5, отрезок коаксиальной линии 4, открытый конец 5 кото рой является излучателем, магнитный сердечник б, слой диэлектрика 7, катушка индуктивности 8, металлический экран 9, коммутирующий элемент 10, индикатор 11, высокочастотный (ВЧ) генератор 12.Устройство для измерения толщины пленки работает следующим образом;Начальный уровень сигнала с активного элемента 2 СВЧ-генератора подается через коммутирующий элемент 10 на вход индикатора 11 и при помощи компенсирующего резистора 13 на шкале индикатора 11 устанавливается нулевое положение. При проФормула изобретения 1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ПЛЕНКИ,...

Номер патента: 1832730

Опубликовано: 20.02.1996

Авторы: Гурьев, Гурьева, Кондратьева, Тескер

МПК: C21D 1/09

Метки: лазерной, металлических, обработке, слоя, термической, толщины, упрочненного

СПОСОБ КОНТРОЛЯ ТОЛЩИНЫ УПРОЧНЕННОГО СЛОЯ ПРИ ЛАЗЕРНОЙ ТЕРМИЧЕСКОЙ ОБРАБОТКЕ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ИЗДЕЛИЙ, включающий предварительное определение графической зависимости толщины упрочненного слоя при закалке лазером от заданного параметра на опытных образцах из стали изделия, измерение заданного параметра на изделии и определение толщины упрочненного слоя на изделии по значению заданного параметра из графической зависимости, полученной на опытных образцах, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, толщину упрочненного слоя опытных образцах определяют в зависимости от концентрации углерода в мартенсите стали, а в качестве параметра измеряют концентрацию углерода в мартенсите стали на поверхности изделия в зоне, ограниченной по...

Номер патента: 1805590

Опубликовано: 10.03.1996

Авторы: Бахтияров, Голов, Калинин, Кудрявцев, Меньщиков, Миронов

МПК: B21B 37/18

Метки: стенки, толщины, трубы

...и заданной двойной толщины стенки трубы Ь 23 Ц, где- порядковый номер трубы;- порядковый номер измерений по длине трубы, поступает в блок 17 опера-. тивной памяти и в блок 15 коррекции (через элементы 16 И) по командам блока 14 измерения циклов прокатки,В блок 15 коррекции указанные выше разности для данной трубы при ее прокатке 55 с выходами соответственно элемента 8ИЛИ, функционального блока 9, задатчиказазора между ребордами валков, функционального блока 10 и усилителя 11 с перемен 25 ным коэффициентом усиления, входкоторого соединен с выходом блока 12 сравнения, входы которого соединены с выходами измерителя 13 и задатчика температурыгильзы.30 Выход блока 14 измерения циклов прокатки соединен с входами функциональногоблока 10;...

Номер патента: 1834488

Опубликовано: 27.04.1996

Авторы: Арламенков, Бобовников, Лебедев, Петров

МПК: G01B 5/06

Метки: стенки, толщины, трубы

...кольцах 3, кронштейнами8, В кронштейнах 9, закрепленных на соот,ветствующих пластинах 4 установлены датчики 10, и взаимодействующие с датчиками 35дополнительные контактные ролики 11. Осиконтактных роликов 11, перпендикулярныеосям роликов узла центрирования 7, предназначены для взаимодействия с внешнейповерхностью трубы в одной плоскости с 40основными контактными роликами 2. 50 нами, дополнительным узлом центриро- .вания, выполненным в виде закрепленных на соответствующих кольцах 55 угловых рычагов, одни концы которыхсоединены между собой с помощью пружин, четырех роликов , два из которых закреплены на других плечах соответствующих рычагов, а два других закреплены в диаметральной плоскости Основной узел базирования...

Номер патента: 1373084

Опубликовано: 10.06.1996

Авторы: Игнатьев, Ильина, Насыров, Шишенин

МПК: G01B 15/02

Метки: детектора, кремниевого, области, полупроводникового, толщины, чувствительной

...то более удобным являетсяопределение суммарного числа отсчетов впике а,2:и за один отсчет монитораисточникд, что дополнительно у.прощаетизмерения и не треоует проведения специальной-градуировки нейтронного источникапо флюенсу. По полученным значениям Хи известным для каждого детектора значению% строится градуировочный график Х%) (фиг. 3), который используется вдальнейшем для всех измеряемых детекторов. Измеряемый кремниевый детектороолу.чается флюенсом нейтрон в с той жеэнергией. Регистрируется число отсчетовимпульсов а, Определяют значение хс;,15 . 5характерное реакции81(п,а.) М., и поЕаоХ =формуле определяют величину Х,Значение Б берут из паспортных данных наППД 1. По известному Х и градуировочномуграфику определяют толщину %...

Номер патента: 1826697

Опубликовано: 10.06.1996

Автор: Комиссаров

МПК: G01B 11/06

Метки: бесконтактного, объекта, толщины

...фотоприемника можно рассчитать расстояние от точки проекции центра оптической системы на пучок до поверхности объекта по направлению данного пучка,Расстояние до поверхности объекта по направлению опорного пучка 1, и расстояние по направлению дополнительного пучка 1, можно вычислить из известных геометрических соотношений, равно как расстояния 1 и 14 определяются по координатам изображения точек на фотоприемниках 9 и 11.На фиг, 2 видно, что определение толщины по опорному пучку как (1, - 12) справедливо только для случая, когда поверхность кожи 1 нормальна опорному пучку, В реальности имеется наклон поверхности под углом Р к нормали в плоскости верхнего фотоприемника 9 и под углом у к нормали в плоскости нижнего фотоприемника 12....

Номер патента: 1826698

Опубликовано: 10.06.1996

Автор: Комиссаров

МПК: G01B 11/06

Метки: бесконтактного, толщины

...а,Подобным образом расположен нижний линейный фогеприемник 11 с оптической системой 12, Расстояние между опорным пучком от зеркала 5 и дополнительным пучком от зеркала 4 равно д, Плоскость, в которой лежат направления 11, и фотоприемник 9, ориентирована параллельно направлению смещения материала 1 валками 2.Способ бесконтактного измерения толщины объектов реализуется следующим образом,Зондирующие пучки, направляемые зеркалами 5, 7, образуют световые пятна на поверхности объекта 1, С помощью оптических систем 10, 12 изображения этих пятен строятся на поверхностях линейных позиционно-чувствительных фотоприемников 9 и 11. По положению этих пятен на поверхности фотоприемника рассчитывают расстояние от точки проекции центра оптической...

Номер патента: 1440144

Опубликовано: 10.12.1996

Авторы: Захаров, Сидоров

МПК: G01B 7/06

Метки: вихретоковое, стенок, толщины, труб

1. Вихретоковое устройство для контроля толщины стенок труб, содержащее генератор, измерительный и компенсационный проходные параметрические вихретоковые преобразователи, обмотки которых выполнены в виде идентичных катушек индуктивности и через резисторы подключены к выходу генератора, первый блок амплитудно-фазовой обработки сигнала, первый вход которого подключен к выходу генератора, и первый блок информации, вход которого подключен к выходу первого блока обработки сигнала, отличающееся тем, что, с целью повышения достоверности и информативности контроля, оно снабжено первым блоком повторителей, два входа которого соединены с выходами обмоток преобразователей, а выходы соответственно с вторым и третьим входами блока обработки сигнала,...

Номер патента: 1598600

Опубликовано: 20.08.1999

Авторы: Баландин, Бережко, Голубев, Мокрушин, Ярошенко

МПК: G01B 7/06

Метки: покрытия, порошкообразных, толщины, частицах

Способ определения толщины покрытия на частицах порошкообразных материалов, заключающийся в том, что пробу материала сжимают, измеряют ее удельное электросопротивление и с учетом полученного значения определяют толщину покрытия, отличающийся тем, что, с целью повышения точности определения, в процессе сжатия фиксируют момент разрушения покрытия между частицами, определяют соответствующую ему критическую плотность пробы, продолжают сжатие, определяют удельное электросопротивление образующейся беспористой пробы, относительную площадь проекции неэкранированной покрытием контактной поверхности частиц в беспористой пробе, а толщину покрытия определяют из соотношений

Номер патента: 648834

Опубликовано: 10.10.1999

Авторы: Криничный, Сериков, Чистяков

МПК: G01B 17/02

Метки: значений, изделия, толщины, экстремальных

1. Устройство для измерения экстремальных значений толщины изделия, содержащее толщиномер, дешифратор максимальных значений толщины с индикатором, дешифратор минимальных значений толщины с индикатором и генератор тактовых импульсов, отличающееся тем, что, с целью повышения производительности измерений, оно снабжено преобразователем "амплитуда-код", вход которого подключен к выходу толщиномера, n триггерами, первые входы которых подключены к выходам преобразователя "амплитуда-код", вторые входы - к выходу генератора тактовых импульсов, двумя сериями n-1 каскадов совпадений, выходы одной из которых подключены к входам дешифраторов максимальных значений толщины, выходы другой - к входам...

Номер патента: 793085

Опубликовано: 10.10.1999

Авторы: Баган, Гриценко, Ревин

МПК: G01B 17/02

Метки: толщины, ультразвуковой

1. Ультразвуковой способ контроля толщины изделий, заключающийся в том, что в изделии возбуждают сдвиговые и поверхностные колебания, принимают эти колебания, измеряют интервал времени распространения этих колебаний, и по его результатам судят о толщине изделий, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и производительности контроля, интервал времени измерения заполняют импульсами, частоту следования которых устанавливают пропорционально скорости ультразвуковых колебаний.2. Устройство для контроля толщины изделий, содержащее последовательно соединенные синхронизатор, генератор зондирующих импульсов, электромагнитоакустический преобразователь сдвиговых колебаний, основной...

Номер патента: 1471900

Опубликовано: 10.11.1999

Авторы: Гершинский, Миронова

МПК: H01L 21/66

Метки: окисных, пленок, толщины, тонких

Способ измерения толщины тонких окисных пленок, включающий приведение исследуемой пленки в контакт с электролитом и пропусканием через образовавшуюся систему тока, отличающийся тем, что, с целью расширения класса исследуемых материалов, исследуемую пленку используют в качестве анода, подают на нее линейно изменяющийся во времени потенциал, измеряют вольт-амперную характеристику исследуемой пленки, определяют напряжение Uо, соответствующее началу скачкообразного возрастания тока, и рассчитывают толщину d исследуемой окисной пленки по формуле d = Uо/Еd, где Еd - дифференциальный напряженность электрического поля исследуемой окисной пленки.

Номер патента: 1199165

Опубликовано: 27.12.1999

Авторы: Касумов, Копецкий

МПК: H01L 39/22

Метки: микромостик, переменной, толщины

Микромостик переменной толщины, выполненный в виде двух электродов, соединенных перешейком, отличающийся тем, что, с целью расширения области применения с одновременным увеличением срока службы за счет увеличения максимальной силы тока, протекающего по микромостику, микромостик выполнен из металлического монокристалла с длиной свободного пробега электронов при гелиевых температурах 0,1 - 10 мм, причем длина перешейка составляет 0,02 - 1 от длины свободного пробега электронов.

Номер патента: 1276047

Опубликовано: 27.05.2000

Автор: Скориков

МПК: G01B 15/02

Метки: корпусных, радиометрический, стенок, толщины

Радиометрический способ измерения толщины стенок корпусных изделий, заключающийся в том, что изделие в контролируемых точках последовательно облучают пучком ионизирующего излучения и регистрируют интенсивность прошедшего через стенку излучения, по величине которого определяют толщину стенок, отличающийся тем, что, с целью расширения номенклатуры контролируемых изделий, замкнутый объем внутри изделия заполняют газовой смесью, помещают внутрь изделия электрод и создают разность потенциалов между электродом и корпусом изделия.

Номер патента: 1172135

Опубликовано: 27.07.2000

Автор: Дурнев

МПК: B21B 37/16

Метки: полосы, прокатки, стане, толщины, холодной

Способ автоматического регулирования толщины полосы на стане холодной прокатки, включающий измерение толщины полосы и скорости прокатки на входе и выходе клети, определение требуемого перемещения валков, отличающийся тем, что, с целью повышения точности регулирования толщины полосы, дополнительно измеряют перемещение валков в процессе регулирования толщины полосы на каждом шаге регулирования и определяют требуемое перемещение валков по формулеSi - перемещение валков на предшествующем шаге регулирования, обеспечивающее приращение...

Номер патента: 1487619

Опубликовано: 10.06.2001

Авторы: Милешко, Никитенко, Сорокин

МПК: G01B 7/04

Метки: диэлектрических, осаждения, подложках, покрытий, процессе, толщины

Способ измерения толщины диэлектрических покрытий на подложках в процессе осаждения, заключающийся в том, что строят анодную поляризационную кривую контролируемой структуры в электролите при заданной скорости увеличения потенциала подложки, находят пороговое напряжение, соответствующее началу линейного участка на указанной кривой, по которому определяют толщину слоя, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, построение анодной поляризационной кривой проводят при скорости увеличения потенциала подложки от 0,2 до 12 В/с в электролите с электропроводностью от 50 до 400 мкСм/см.

Номер патента: 957512

Опубликовано: 27.11.2004

Авторы: Ивашкин, Крысин, Седов, Филантьев, Яруллин

МПК: B23Q 15/00

Метки: детали, процессе, толщины, фрезерования

Устройство для контроля и регулирования толщины детали в процессе фрезерования по авт. св. № 642136, отличающееся тем, что, с целью повышения надежности контроля, датчик подпружинен и снабжен регулятором его положения относительно торцового зуба фрезы, причем в датчике выполнен канал для отвода воздуха из зоны акустической связи.

Номер патента: 1797302

Опубликовано: 27.04.2005

Авторы: Климов, Чертов

МПК: G01B 5/06

Метки: листового, толщины

Устройство для измерения толщины листового материала, содержащее корпус с неподвижной губкой и рукояткой, штангу с подвижной губкой, шкалу, нанесенную на поверхность штанги, и размещенную с возможностью перемещения вдоль шкалы рамку с нониусом, отличающееся тем, что, с целью повышения производительности измерения и удобства эксплуатации, в неподвижной губке и рукоятке выполнены глухие параллельные каналы, устройство снабжено размещенными в соответствующих каналах с возможностью перемещения стержнями, один из которых связан с подвижной губкой, второй - со штангой, размещенной в корпусе под острым углом к оси первого стержня направляющей, и установленным на направляющей подпружиненным...

Номер патента: 1736245

Опубликовано: 27.06.2005

Авторы: Воронин, Гиниятуллин, Надыров, Хасанов

МПК: G01B 11/08

Метки: диаметра, процессе, стенки, толщины

Способ измерения диаметра и толщины стенки прозрачных трубок в процессе ее изготовления, заключающийся в том, что формируют первый коллимированный световой пучок, направляют его на измеряемый объект под углом =45-75° к его оси, регистрируют пучки, отраженные от наружной и внутренней поверхностей измеряемого объекта, измеряют расстояние между отраженными пучками и определяют диаметр и толщину стенки объекта, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, формируют второй коллимированный световой пучок, направляют его на измеряемый объект симметрично относительно оси объекта со смещением S вдоль этой оси,...