Патенты с меткой «структуры»
Способ исследования структуры электронногопучка
Номер патента: 265176
Опубликовано: 01.01.1970
Авторы: Заморозков, Малахов, Муравьев, Синицын, Юдзон
МПК: H01J 3/00
Метки: исследования, структуры, электронногопучка
...контрольного устройства. Такое совмещение позволяет оперативно менять параметры пучка, визуально подбирая форму пучка и распределение его плотности.Предлагаемый способ отличается тем, что оптическое изображение пучка подают на фотокатод передающей телевизионной трубки, преобразуют в электронно-оптическое изображение, создавая потенциальный рельеф на мишени передающей трубки, из которого сканированием получают на экране видеоконтрольного устройства изображение пучка, а на экране осциллографа, работающего в режимеЗаказ 1601/13 Тираж 480 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква К, Раушская наб., д. 4/5 Типография, пр. Сапунова, 2 выбора строки, - строчную развертку распределения...
Ультразвуковой прибор для контроля структуры металлов12
Номер патента: 270333
Опубликовано: 01.01.1970
Авторы: Владимирова, Вычеров, Едс, Есилевский, Институт, Конструкторский, Науч, Научно, Приборов, Приходько, Средств, Химченко, Чегоринский, Яковлев
МПК: G01N 29/00, G01N 29/08
Метки: металлов12, прибор, структуры, ультразвуковой
...для одновременного запуска генератора радиоимпульсов 2, генератора развертки 5 и измерителя интерва лов времени 6.Высокочастотные импульсы генератора 2,преобразованные излучающей головкой 9 в упругие колебания ультразвуковой частоты, пройдя через объект контроля, попадают на 10 приемную головку 10, которая преобразуетих в высокочастотные импульсы. Эти импульсы через аттенюатор 3 поступают на вход усилителя 4, откуда, усиленные и продетектированные, подаются на вертикальные откло няющие пластины индикатора 7, на горизонтальные отклоняющие пластины которого поступают пилообразное напряжение с генератора развертки 5, а на сетку - подсветный импульс.20 По величине вертикального выброса на экране индикатора 7 определяют степень...
Способ автоматического контроля начала образования неразрушаемой структуры бетонной смеси
Номер патента: 271868
Опубликовано: 01.01.1970
Авторы: Бакуров, Жуков, Караваева, Рудаков
МПК: G01N 33/38
Метки: бетонной, начала, неразрушаемой, образования, смеси, структуры
...виброформовании путем фиксации момента изменения свойств бетонной смеси.Настоящее изобретение ставит своей целью повышение точности измерения.Достигается это тем, что определяют момент совпадения величин амплитуд вибрации бетонной смеси и стола виброплощадки.Сущность способа заключается в следующем.Свежеприготовленную бетонную смесь подвергают виброформованию, и одновременно измеряют амплитуды вибрации бетонной смеси и стола виброплощадки с помощью датчиков вибрации.Датчики устанавливаются на столе виброплощадки на поверхности вибрируемой смеси,Сигналы от датчиков подаюгся на усилитель и преобразователь, где они усиливаются, преобразуются и сравниваются. Разностный сигнал подается на показывающий прибор, например 5 амперметр, по...
Реактив для выявления структуры
Номер патента: 272635
Опубликовано: 01.01.1970
Авторы: Гонсеровский, Соловьева, Хкан
МПК: C23F 1/16
Метки: выявления, реактив, структуры
...реактив для травления сварных соединений ванадия представляет собой расгвор азотной, соляной и плавиковой кислот, однако соотношение компонентов в нем такое, что не позволяет производить равномерное травление без окисления сварного соединения ванадия с нержавеющей сталью.Предложенный реактив отличается от известного другим соотношением компонентов(в об. %):Азотная кислота 23 - 25 Плавиковая кислота 5 - 10 Соляная кислота 23 - 25 Вода ОстальноеЭто позволяет производить равномерное, без окисления травление шлифов сварных соединений ванадия с нержавеющей сталью,Реактив обладает следующими свойствами.Позволяет производить мягкое травление шлифа. Выявляет структуру феррита, легированного ванадием. Выявляет зону переменного по ванадию...
Ультразвуковое устройство для контроля структуры материалов и изделий
Номер патента: 280031
Опубликовано: 01.01.1970
Авторы: Приходько, Ройтман, Химченко, Эйгин
МПК: G01N 29/00, G01N 29/10
Метки: структуры, ультразвуковое
...14 и осциллографический пдикатор 15.Синхронизатор 1 связан с индикатором 5 10 через генератор ждущей развертки 16.Работа устройства происходит следующим образом.Синхронизатор 1, управляющий работоивсех блоков устройства, запускает ждущие 15 мультивпбраторы 5 каналов генератора 2,вырабатывающие импульсы различной длительности для обеспечения временного сдвига работы каналов генератора. Задние фронты импульсов мучьтивибраторов 5, имеюцпе 20 сдвиг по времени относительно друг друга,после дифференцирования в цепочках 6 спользуются для запуска модуляторов 7, коорые управляют работой каналов генератора 2.Импульсы с выхода каналов генератора ю ступают на усилители мощности 8, а затемподаются на искатель д и далее - в контролируемую...
Прибор для определения структуры пористых строительных материалов
Номер патента: 284399
Опубликовано: 01.01.1970
Авторы: Бужевин, Железобетсиа, Кац, Московский, Научно, Синицын, Федоров, Шейкин
МПК: G01N 15/08
Метки: пористых, прибор, строительных, структуры
...оп 10 ределения пор радиу 1 сом менее 15 мк на этомприборе и приходится извлекать образцы издилатометра, что искажает результаты и усложняет определетгие.Цель изобретения - увеличить, диапазон15,измерения пор. Достигается это тем, что дилатометр вьтполнен с возможностью вращенияв вертикальной плоскостями,Кроме того, с целью осуществления вращения дилатометр закреплен на шлифпробке.20 На чертеже представлена схема норомерзнизкого давления с реконспруированным узлом.Поромер низкого, давления состоит из вращающейся,на шлифпробке 1 дилатоктетра 2,25 вакуумирующей системы 3, резервуара 4 дляртути, ттзмерительных устройств 5, угломера.Измерения на порознере,низкого давленияначинают при таком, положении,дилатомера2, когда его продольная ось...
Элемент однородной структуры
Номер патента: 287115
Опубликовано: 01.01.1970
Авторы: Гтрангишвили, Институт, Копейкин, Москов, Попова, Рудерман, Телемеханики, Ускач, Фетисова
МПК: H03K 19/177
Метки: однородной, структуры, элемент
...И и ИЛИ, схемы 14 и 1 б.Схема Сложение по модулю два реализована на схемах 12, 13 и 1 б.Логическая ячейка работает следующим образом,На входы 1 поступают сигналы с соседних ячеек или с шин, проходящих через всю структуру. Некоммутируемые сигналы подаются непосредственно на входы схемы И 10, а коммутируемые - на входы схем ИЛИ 11, На выходе схемы 10 реализуется конъюнкция переменных, поступающих с некоммутируемых входов непосредственно на входы схемы 10, и переменных, поступающих с коммутируемых входов через схемы ИЛИ 11, Если какой- либо из триггеров 7 находится в единичном состоянии, то на соответствующий вход схемы 10 подается через схему 11 единичный сигнал. Это означает, что выход схемы 10 не зависит от соответствующего...
Устройство для воспроизведения ст. лтистической структуры реального телеграфного сигнала
Номер патента: 289518
Опубликовано: 01.01.1971
Автор: Брусиловский
МПК: H04L 23/00
Метки: воспроизведения, лтистической, реального, сигнала, ст, структуры, телеграфного
...подтверждается анализом тех же данных, показывающих, что вероятность поступления любой из границ в комбинации лежит в пределах 13,6 - 19,4%, т. е. для моделирования появление этих границ вполне может быть принято равновероятным.С учетом изложенного алгоритм (1) записывается в следующем виде:Х = гХу г + зз+ гб Сбд ф (3) где как и в алгоритме (1), подразумевается скользящее суммирование во времени, а значения весовых коэффициентов равныюг = 0,20, аз= - О,бб, ав -- 0,14 (4)Блок-схема устройства, реализующего алгоритм (3) при весовых коэффициентах (4), показана на фиг. 2, Здесь б, 7, 8 - генераторы восьмиэлементных старт-стопных комбинаций (генераторы дискретных последовательностей) соответственно с одной, тремя и пятью рабочими...
Устройство для программированного управления и контроля структуры моделирующей сетки
Номер патента: 292168
Опубликовано: 01.01.1971
Авторы: Нестеренко, Панчишин
МПК: G06G 7/48
Метки: моделирующей, программированного, сетки, структуры
...необходимые сопротивления в цепи питания источника света оптрона, изменяя его яркость, В зависимости от яркости источника света устанавливается определенная292168 Предмет изобретения Составитель Е. В. ТимохинаРедактор Л. А. Утехина Техред А. А. Камышникова Корректор О. С, Зайцев Заказ 329/5 Тираж 473 Подписноепо делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Ж-З 5, Раушская наб., д. 4/5 Изд,166ЦНИИПИ Коми потрафия, пр. Сапунова, 2 величина сопротивления фоторезистора оптрона.Блок коммутации выполнен двухступенчатым с целью получения достаточно плавного изменения величины сопротивления оптрона, причем весь диапазон изменения сопротивления фоторезистора блоком коммутации второй ступени соответствует диапазону изменения...
Способ улучшения структуры почвы
Номер патента: 298318
Опубликовано: 01.01.1971
Авторы: Будков, Гаврилов, Гриценко, Ильин, Кузнецова, Самофалов, Федорова
МПК: C09K 17/00
Метки: почвы, структуры, улучшения
...пропорциях.Бла одаря использованию указанных соединений и пх смесей, являющихся концентрированными удобрениями, улучшается структура почвы и условия жизнедеятельности растений,тносптся к способам улучш свойств почвы, при которь кные полимерные структур Изобретение ония физическихиспользуют сло:образователи,Известные тили, например лилигносульфат к(6 - 8), характедействия, т. е.вами структуроо структурообразо ат аммония (А АК), сополим ой специфично дают только св елей. пичныегносульфльциярны узкни облабразоват К), р 8 тью йсттруктурообразовасодержат мало ппвеществ и имеот15 ется применение в ателсй удобрений питательных веестных, что онастений Недостаток изв телей состоит в тов тательных для р высокую стоимость Целью изобрете качестве...
Установка для исследования пористой структуры образца строительного материала
Номер патента: 300816
Опубликовано: 01.01.1971
Автор: Московский
МПК: G01N 21/47
Метки: исследования, образца, пористой, строительного, структуры
...и повышения т втоматического с Достигается это тем, что выход сканирующего устройства соединен через согласующее устройство и устройство запуска, связанное с генератором эталонных импульсов, с блоком сортировки импульсов и электроимпульсными счетчиками.Предложенная установка изображена на чертеже,Она состоит из сканирующего устройства 1, выход которого соединен через согласующее устройство 2 с устройством запуска 3, причем последнее связано с генератором эталонных импульсов 4. Устройство запуска 3 соединено с блоком сортировки импульсов 5 и электро. импульсными счетчиками б,Установка работает следующим образом, Исследуемый шлиф образца помещают на предметном столике сканирующего устройства 1 и освещают, при этом встречные косые пучки...
Установка для исследования структуры металлов
Номер патента: 303568
Опубликовано: 01.01.1971
Авторы: Болховитик, Зобретеии, Лисов, Мар, Поль, Черепашенец
МПК: G01J 1/42
Метки: исследования, металлов, структуры
...одновременно соединено с усилителемпостоянного тока блока 11 сортировки импульсов, который, в свою очередь, связан с электроимпульсными счетчиками 12 на счетно-индикаторной панели,20 Установка работает следующим образом,Микрошлиф металла помещают на предметный столик 1, Исследуемая плоскость шлифаустанавливается в положение. перпендикулярное оптической оси микроскопного тубуса 3, с25 помощью микрометрических винтов предметного столика. Устройство 2 с помощью электродвигателя и редуктора со шкивом на выходном валялке, соединенным с предметнь 1 мстоликом капроновой нитью, равномерно нереЗ 0 мещает столик по направляющим станины.ии и открыт;и( иридд)гискдд идб., Рг 4( 00 дс(ид (ии(рдф:(и ос(ромс(.,г( сиодиг(оии 5:О И ОСВСЩСЦИИ ИССЛСДС)(ОЙ...
Ультразвуковой способ контроля структуры материала изделий
Номер патента: 305404
Опубликовано: 01.01.1971
Авторы: Всесоюзный, Кеслер, Средств, Токарев, Эйчина
МПК: G01N 29/00, G01N 29/12
Метки: структуры, ультразвуковой
...возбуждают в стенке контролируемого изделия основную пли одну из гармонических составляющих колебаний по ее толщине.Отраженный от передней грани сшнал, со 20 держащий информацию о коэффициенте затухания ультразвуковых колебаний в контролируемом изделии, поступает на приемнуюпьезопластину 10, преобразовывается в электрический сигнал, поступающий на вход атте 25 нюатора 11 приемника.В приемной части устройства, содержащейсмесители 12, дифференциальный мост 13,детектор 14, усилители 15, 1 б и гетеродин 17,сигнал претерпевает двойное преобразование,ч 0 усиление и детектирование,Та часть принятого сигнала, которая соот305404 Составитель Л, ТрищиТехрсд Л. Я, Левин Корректор Г. С, Мухина едактор СГ. Юркое Изд. М 844 Тираж 4Гитета по делам...
Способ спектрального исследовапия структуры электронных пучков
Номер патента: 306432
Опубликовано: 01.01.1971
Авторы: Заморозков, Муравьев, Радюк, Ставский
МПК: G01J 3/28, G01N 21/31
Метки: исследовапия, пучков, спектрального, структуры, электронных
...в объеме пучка ионов является причиной того, что оптическое интегральное излучение пучка состоит из только из излучения возбуждения нейтральных атомов, но и из свечения возбуждения ионов. Поэтому распределение интенсивности интегрального излучения по сеченшо пучка зависит не только от распределения плотности тока первичны.; электронов пучка по его поперечному сеченшо, 5 но и от распределения ионов, что искажаетпнформацшо о структуре первичного электронного пучка.Чтобы устранить искажающее влияние излучения ионов, предлагается способ исследо вания структуры электронных пучкоь, основанный на регистрации не интегрального излучения электронного пучка, а излучения отдельной спектральной линии или полосы спектра возбуждения...
Устройство для анализа электронной структуры
Номер патента: 308344
Опубликовано: 01.01.1971
Авторы: Евстафьев, Трапезников
МПК: G01N 23/207
Метки: анализа, структуры, электронной
...поясняется чертежом, на котором изображены бета-спектрометр (тонкие линии) и схема хода электронов (жирная линия) и рентгеновских лучей (волнистые линии). На чертеже показаны рентгеновская трубка в положениях 1, 2 с направлением испускаемого излучения по осям Х и У, изогнутый по Иоганну кристалл-монохроматор 3 для возбуждения излучения (он же используется как кристалл-анализатор для получения рентгеновского спектра поглощения с образца; лучи, отраженные от этого кристалла,имеют постоянное направление по оси 2); торовая вакуумная камера 4, в которой движутся электроны; напылитель 5 образцов, образец б; изогнутый по Иоганну кристалл-ана лизатор 7 для разложения в спектр вторичного излучения, испускаемого образцом (можно...
Установка для исследования однородности зернистой структуры металлов
Номер патента: 311239
Опубликовано: 01.01.1971
Авторы: Бахти, Винникова, Лисов, Овчаренко, Полуэктова, Черепашенец
МПК: G01B 11/30
Метки: зернистой, исследования, металлов, однородности, структуры
...имеет металлопрафический микроскоп 1 (МИМ), трансфокатор 2, призму 3, мальтийский механизм 4, фотоэлектронный умножитель (ФЭУ) 5, вторичный црибор 6 (вольтметр эффективных значений В) вт электродвигатель 7. Световой поток, отражясь от поверхности ЗО микрошлцфа металла (шлцф установлен на предметном столовке металлографическо;о микроскопа 1), создает на выходе мсцкроскопа увеличенное изображение шлифа. Это изображение попадает на трансфокатор 2, с помощью которого изменяют масштаб цзображенсия и обеспечивают поступление сзетового сигнала от малого (точечного) участка поверхности микрошлцфа. С помощью, призмы 3, прцьодимой в движение электродвигателе.7 и вращающейся в подшипнике скольжения, осуществляют вр ащение...
Устройство для оценки качества структуры строительных материаловплейно-ихииибиблиотекаicki
Номер патента: 318030
Опубликовано: 01.01.1971
Авторы: Бахти, Виннккова, Григорьев, Лисов, Логгинов, Самотаев
МПК: G01N 21/47
Метки: качества, материаловплейно-ихииибиблиотекаicki, оценки, строительных, структуры
...качества ительных материалов, вклютный столик с приводом, освеизкого и высокого напряжеые приборы.етения является создание вози качества материала по отцу в заводских условиях, тся тем, что устройство выполроводами, установленными пеми фотоумнокителей, а выхоерез блоки интегральных диссоединены со входами псрев.оясняется чертежом. ство состоит из предметного столиазцом 2. 1-1 а предметном столике усосветители 8, а над образцом раслинза 4 и матовое стекло б, закрепсветонепроницаемом кожухе б. Наразмещены светопроводы 7, связантокатодами фотоумножителей 8, пиорых стабилизировано от блоков 9.1 отоумножителей 8 связаны со вхоесчетных приборов 10 и, кроме того, льным дискриминатором 11, питатоннзковольтного блока 12. При помоедмет...
Устройство для ультразвукового контроля структуры материалов
Номер патента: 319895
Опубликовано: 01.01.1971
Авторы: Вычеров, Химченко, Чегоринский
МПК: G01N 29/00, G01N 29/10
Метки: структуры, ультразвукового
...устройства расширяет диапазон и повышает точность контроля.На чертеже изображена блок-схема предложенного устройства,Оно содержит синхронизатор 1, коммутатор 2, генераторы 3 - 5 разночастотных импульсов, генераторы 6 - 8 стробирующих им. пульсов, фильтры 9 - 11, временные селекторы 12 - 14, пиковые детекторы 15 - 17, искатель 18, соединенный через логарифмический усилитель 19 с временными селекторами 12 - 14, и регистрирующий блок, состоящий из блоков 20 и 21 вычитания уровней принятых сигналов и стрелочных приборов 22 и 23 с логарифмической шкалой.5 Синхронизатор через коммутатор управляетработой генераторов 3 - 5 разночастотных радиоимпульсов и генераторов 6 - 7 стробирующих импульсов таким образом, что сначала срабатывают генераторы...
Способ получения а окиси железа игольчатой структуры
Номер патента: 323368
Опубликовано: 01.01.1972
Авторы: Бромберг, Рохленко, Сокол
МПК: C01G 49/02
Метки: железа, игольчатой, окиси, структуры
...жесм нрокалнваоиггггсч теми повьиненив качествеего сол тер оед остав всяатуре отлггчпюгц прн темпе м, что00 С. Изооретение касается способа полученияигольчатой сс-окиси железа, применяемой преимущественно для ферритов.Известны способы получения игольчатойа-Г 20 з путем прокаливания соединений железа, например игольчатой я-ГеООН, получаемой окислением Ге(ОН), воздухом в раствореХаОН, или игольчатого -ГеООН, образующегося при гидролизе ГеСз. Полученная по известным способам игольчатая окись железапри нагревании меняет форму (рек 1 тисталлизуется), поэтому для стабилизации се применяют специальные добавки в виде силикатовХа, К, А 1, Т 1 и др,С целью упрощения процесса и повьнпениятермостабильностп продукта в качестве соединения...
Устройство для определения структуры пористых тел
Номер патента: 326491
Опубликовано: 01.01.1972
МПК: G01N 15/08
Метки: пористых, структуры, тел
...материалов оказываются заниженными.В предлагаемое устройство введено отсчетно-компенсационное устройство, позволяющее поддерживать уровень ртути постоянным относительно выбранной отметки, чем устраняется влияние дополнительного давления при изменении уровня ртути.На чертеже показано предлагаемое устройство для определения структуры пористых тельную труоку 5, которая жестко соединена с гайкой б, микровпнт 7 с лимбом с ценой деления 0,01 лотт и индикатор 8 уровня ртути.Перед началом измерений отсчетно-ком пенсационное устройство устанавливают вположение, при котором уровень ртути находится ниже камеры ца отметке О,. Высушенный образец 9 помещают в камеру, и посредством распределительного устройства давления при открытом...
Элемент однородной структуры, „г; n51if«ltfift• уид suiilriei
Номер патента: 327464
Опубликовано: 01.01.1972
Авторы: Васильева, Малютин, Ордена, Телемеханики
МПК: G06F 1/00
Метки: n51if«ltfift•, suiilriei, однородной, структуры, уид, элемент, —г
...Х,=О, Х 2=1. В этом случае вклочецы элементы ЗАПРЕТ 4 н 6. Для разрыва цепи устройства должны быть включены все элементы ЗАПРЕТ в плечах моста, т. е. Х =1, Х 2=1.В диагональ моста, в которой осуществляется однонаправлеНое движение информации, Вклочен настраиваемый логический элемент на двух схемах ЗАПРЕТ 5 н 12, реализующий функцкчо Г =Х и, Хз-СХ Хз, которьй В завГ 1 симости От настройки ВыОляст фуцкциО повторения (Хз -- 0) или инверсии (Хз=1) ВходноГО сиГала Л ю.Однонаправленность двнжсцця иформации в диагонали моста обеспечивается совокупностью шиц 23 - 25, которые воздействуют только на диагональный канал. Одновременно с этим шины обеспе иваОт задержку передаваемой устройством информации на один такт.Пусть в наиболее общем случае...
Сырьевая смесь для приготовления поризованного бетона плотной структуры
Номер патента: 330125
Опубликовано: 01.01.1972
Авторы: Государственный, Зайончковский, Изделий, Нациевский
МПК: C04B 14/18, C04B 28/02, C04B 38/10 ...
Метки: бетона, плотной, поризованного, приготовления, смесь, структуры, сырьевая
...распространенному и технологическому одцостадийцому способу перемешивания только прц наличии песка в смеси заполнителейй. 15При отсутствии песка воздухововлечеццг (поризацця) смеси известными добавками недостаточно для получения ца существующем бетоносмесительцом оборудовании смеси для поризовацного легкого бетона плотной струк ту ры.Пористый илц плотный песок вводят в количестве около 2/3 от потребного количества песка для получения обычного цепоризованного легкого бетона плотной структуры. 25Так, например, для поризованцого керамзптобетона требуется 140 в 2 кг дробленого керамзитового песка ца 1 яа бетона, Присутствие песка увеличивает объемный вес бетона и стоимость, поскольку объемный вес зе- Зэ спосооа заклнтчается в том, что...
Устройство для исследования структуры пучка заряженных частиц
Номер патента: 339238
Опубликовано: 01.01.1972
Авторы: Егоров, Иблио, Местечкин, Патентно
МПК: H01J 47/00, H05H 11/00
Метки: заряженных, исследования, пучка, структуры, частиц
...пучке, коллектор выполнен в виде цилиндра, дно которого представляет собой сетку, за каждой из ячеек которой расположенымикроколлекторы, изолированные от цилиндра,О Конструкция устройства представлена начертеже.Диафрагма с отверстием 1, изолированнаяот экрана 2 керамической шайбой 3, фиксируется на экране гайкой 4,5 В цилиндрический коллектор б вставленавтулка б с сеткой 7. За ячейками 8 сетки расположены микроколлекторы 9 с выводами 10,Микроколлекторы изолированы от цилиндра керамикой 11, Коллектор отделен от экО рана керамикой 12.Для измерения параметров электронногопучка (распределения плотности тока, распределений продольных и поперечных скоростей электронов) элементы устройства под 5 ключают определенным образом.Так, при...
Установка для непрерывной пропитки материалов пористой структуры
Номер патента: 339430
Опубликовано: 01.01.1972
Авторы: Изотов, Матвеев, Савосин
МПК: C14B 3/00
Метки: непрерывной, пористой, пропитки, структуры
...8 имеет 5 окружное перемещение для заправки материала под пронитку и регулировация усилия уплотнения материала за счет имеющихся в муфте б пружин сжатия 9.Корпус муфты б жестко связан с валом б 30 и червячным колесом 7, подвески 4 мягко свя 339430заны с корпусом муфты посредством пружин сжатия 9.Для удобства обслуживания и регулирования времени пребывания основы в растворе ванна для раствора 10 имеет вертикальное перемещение при помощи механизма подъема, состоящего из редуктора 11 и винтовой передачи 12.Для удобного прохода материала предусмотрены заправочные ролики 13, дуговые ширители 14, которые препятствуют сборению материала перед отжимной парой 15 и устройством для нанесения адгезионного слоя 1 б.На остове установлено устройство...
Устройство формирования чересстрочной структуры
Номер патента: 341181
Опубликовано: 01.01.1972
Авторы: Всесоюзяый, Королев, Телевидени, Технологии
МПК: H04N 5/18
Метки: структуры, формирования, чересстрочной
...формирование сипналов четных полукадров из сигналов нечетных задержкой,последних на время, соответствующее половине строки телевизионной развертки и, наоборот, получение сигналов нечетных полукадров из сигналов четных задержкой последних также на время, соответствующее половине строки телевизионной развертки, при многократном воспроизведении сигналов одного и того же полукадра с любой степенью замедления) осуществляется коммутацией каналов воспроизведения и линии задержки двумя переключателями: переключателем б, коммутируемым с частотой импульсов управления, подаваемых к нему с выхода 7 импульсов управления блошка управления 8, и вторым переключателем 11, коммутируемым с частотой импульсов полукадров, подаваемых:к,нейму с выхода...
Установка для количественного контроля качества структуры строительных и конструкционныхматериалов
Номер патента: 346647
Опубликовано: 01.01.1972
Авторы: Бахти, Болдырев, Ильин, Легонькова, Лисов, Московский, Рева, Тепленков
МПК: G01N 21/59
Метки: качества, количественного, конструкционныхматериалов, строительных, структуры
...систему 2 сканирования. Далее пучок света фиксируется фотодатчцком 3, который преобразует световой сигнал в электрический, Аналоговый электрический сигнал поступает с фотодатчика ца блок 4, который преобразует аналоговый сигнал в дискретную форму, Дцскретцыц электрический сигнал кодируется в преобразователе 5, соединенном с регцстрирующцм устройстгом б, которым в данном случае явля гтс 51 перфоратор. Перфоратор и преобразователь сигналов связаны между собой устройством 8 управления.Предметный столик 1 перемещается с помощью эл;:ктродьц 1 гатсля 10 с червячной персдацей 11. Червячная передача вращает диск 12, по диаметру которого просверлены на равном расстоянии калиброванные отверстия. Прц враще 1 ц 1 ц диска с источника 13 света на...
Способ формирования структуры слитка легкого сплава
Номер патента: 353790
Опубликовано: 01.01.1972
Авторы: Авхукова, Боровикова, Данилкин, Добаткин, Эскин
МПК: B22D 21/04, B22D 27/00
Метки: легкого, слитка, сплава, структуры, формирования
...втодят цс менее 0,1% модификатора.В качестве кОдцф 1 катора прц непрерывном литье алюминиевых сплавов вводят один цз элементов группы, содержащей титан, цирконий, ниобий и бор. К сплаву добавляют одновременно це менее двух модификаторов. Г 1 редложенцый способ позволяет в два - трираза повысить технологическую пластичность слитка сплава при деформации ц в два раза увеличить пластичность штампованных цзде лий из этого сплава.В миксере обычным способом готовят сплавмарки В 96 ц, содержащий алюминий, цинк, медь и магний, В состав этого сплава в качестве модификатора вводят 0,1 - 0,2% цирко ния, ц сплав сливают методом непрерывноголитья в водоохлаждаемый кристаллцзатор.В процессе литья расплав в кристаллпзатореобрабатывают ультразвуком...
Способ изменения состава и структуры поверхностного слоя металлических сплавов
Номер патента: 354007
Опубликовано: 01.01.1972
Авторы: Белый, Егоренков, Институт, Лин, Плескачевский
МПК: C23C 26/00
Метки: изменения, металлических, поверхностного, слоя, состава, сплавов, структуры
...плавления при совместном нагреве сплава и полимерного покрытия в термошкафах, индукционным нагревом металла, диэлектрическим нагревом полимера и т, д. При этом поверхность металла искусственно обогащается нерастворимыми в полимере компонентами сплава. По окончании процесса полимерное по 1 рь 1 тиепри необходимости удаляют путем отслаивания, растворения в органических растворителях и т,д.5 Процесс растворения металлов расплавамиполимерных покрытий сопровождается такжевосстановлением окислов металлов, находящихся ва поверхности сплава, ликвидациеймикродефектов и т, д.10 Например, для обогащения поверхности латунной пластины медью на обрабатываемуюповерхность, предварительно шлифованную,насыпают слой порошкообразного пентапласта толщиной...
Устройство для ликвидации кольцевой структуры при формовании изделий на ленточных прессах
Номер патента: 359153
Опубликовано: 01.01.1972
Авторы: Государственный, Изделий, Материалов, Патектн, Хохель
МПК: B28B 3/22
Метки: кольцевой, ленточных, ликвидации, прессах, структуры, формовании
...что ца каждой лопасти двухзаходцой шцековой головки шнека главного прессования смонтированы плугообразные башмаки.1-1 а фиг, 1 показаны плугообразцые башмаки, вид сбоку; ца фиг. 2 - то же, вид спереди (со стороны муцдштука).lСтальце литые или сварные башмаки 1 прикрепляют болтами или приваривают к каждой из лопастей 2 двухзаходцой выпорцой шцековой головки в непосредственной близости к вцутреццей поверхцостп цилиндра с таким расчетом, чтоб)ь пр) Вращец)и шпека плугообразцые башмаки подрезали массу с внутреццей поверхности цилиндра 3 пресса. Во время работы ленточного пресса, масса продвигаясь по одцозаходцому пшеку, приобретает слоистое строение. Поступая ца шцековую головку, слоистая масса попадает ца плугообразцые башмаки, и,...
Устройство для исследования структуры встречных электронных нотоков
Номер патента: 383113
Опубликовано: 01.01.1973
Авторы: Карнаух, Местечкин, Петров
МПК: H01J 23/28
Метки: встречных, исследования, нотоков, структуры, электронных
...и механизм перемещения пластин, отличающееся тем, что, с целью, измерения структуры прямого и обратного потоков, пластины имеют по одному отверстию, любой размер которого 0 не менее соответствующего размера потоков,а в обеих внешних пластинах вокруг этих отверстий расположено несколько отверстий, любой размер которых значительно меньше любого из поперечных размеров потоков. На чертеж ройство,Оно содер ронную пуш клистрона 3 механизм пеено предлагаемое усте изо ю камеру 1, электтор отражательного, пластины 5, 6 и 7 жит вакуумн ку 2, резона отражатель 4 емещения 8. относится к устроиствам для ектронных потоков в приборах ти в отражательных клистроИзвестные устройства электронных потоков, вып диафрагмы с отверстием, зовать для анализа встр...