Устройство для исследования структуры пучка заряженных частиц

О П И С А Н И Е 339238ИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Соаа Советских Социалистических РеспталикЗависимое от авт. свидетельстваЗаявлено 08.Ч 1.1970 ( 1449056/26-25) с присоединением заявкил. Н ОЦ 39/02 Н 051 т 11/О Приоритет омитет ао деламрвтений и открытиСовете МинистровСССР У.384.6 (088.8) ликовано 21,1 Х,1972, Бюллетень2 ата опубликования описания 8.1.19 Авторыизобретени Я, И, Местечкин витель УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРЫ ПУЧКА ЗАРЯЖЕННЫХ ЧАСТИЦустроиство отличается тем ерения распределения плот Известны устройства для исследования структуры пучков заряженных частиц, содержащие диафрагму с отверстием, экран и коллектор.Ток электронного пучка, проходящий через отверстие диафрагмы, попадает на коллектор и фиксируется измерительным прибором. В зависимости от конструкции измерительного устройства дырочной диафрагмой можно измерять распределения плотности тока, продольных и поперечных скоростей. При измерении распределения плотности тока и продольных скоростей электронов требуется одна .диафрагма, а при измерении распределения поперечных скоростей электронов используются две диафрагмы, расположенные на фикоированном расстоянии и перемешающиеся независимо друг относительно друга. Ток, попадающий на коллектор за второй диафрагмой, пропорционален поперечной скорости электрона.Две независимо перемещающиеся в вакууме диафрагмы значительно усложняют конструкцию устройства. Еще больше усложняется она в случае измерения продольных и поперечных скоростей электронов, а также распределения плотности тока в одинаковых вакуумных условиях,ПредлагаемоеФ что, с целью изм ности тока, распределения продольных и поперечных скоростей электронов в одинаковыхвакуумных условиях и соответствующем положении измерительного устройства в электронном пучке, коллектор выполнен в виде цилиндра, дно которого представляет собой сетку, за каждой из ячеек которой расположенымикроколлекторы, изолированные от цилиндра,О Конструкция устройства представлена начертеже.Диафрагма с отверстием 1, изолированнаяот экрана 2 керамической шайбой 3, фиксируется на экране гайкой 4,5 В цилиндрический коллектор б вставленавтулка б с сеткой 7. За ячейками 8 сетки расположены микроколлекторы 9 с выводами 10,Микроколлекторы изолированы от цилиндра керамикой 11, Коллектор отделен от экО рана керамикой 12.Для измерения параметров электронногопучка (распределения плотности тока, распределений продольных и поперечных скоростей электронов) элементы устройства под 5 ключают определенным образом.Так, при измерении плотности тока экран,цилиндр коллектора и микроколлекторы имеют одинаковый потенциал. В этом случае ток,проходящий через отверстие в диафрагме иО попадающий на экран, цилиндр коллектора и339238 Предмет изобретения Составитель Е. ГромовТехред Т. Курилко Редактор Б. федотов Корректоры: С. Сатагулова и Н. НрокуратоваЗаказ 4181/9 Изд,1647 Тираж 406 Подписное ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Ж, Раушская наб д. 4/6Типография, пр. Сапунова, 2 микроколлекторы, имеет одинаковый потенциал. Ток, проходящий через отверстие в диафрагме и попадающий на коллектор, пропорционален скорости электронов в месте нахождения диафрагмы в пучке. 5Изменяя потенциал экрана и фиксируя ток, попадающий на коллектор, получают распределение продольных скоростей электронов.При измерении поперечных скоростей электронов экран и цилиндр коллектора имеют 10 одинаковый потенциал, Ток, попадающий через ячейки в микроколлекторы, пропорционален поперечной скорости электронов в месте нахождения диафрагмы в пучке. Вторичную эмиссию как с микроколлекторов, так и с ос новной диафрагмы уменьшают путем покрытия их антиэмиссионными материалами,1. Устройство для исследования структуры пучка заряженных частиц, содержащее диафрагму с отверстием, экран и коллектор, отличаюи 1 ееся тем, что, с целью измерения продольных и поперечных скоростей заряженных частиц в одинаковых вакуумных условиях, коллектор выполнен в виде полого цилиндра с дном в виде сетки, за каждой ячейкой которой расположены изолированные от цилиндра микроколлекторы с отдельными вакуумноплотными токовыводами.2. Устройство по п, 1, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерения и срока службы, на коллектор и диафрагму нанесено антиэмиссионное покрытие.