H01J 23/28 — взаимодействующие звенья замедляющих структур с формированием неравномерного разряда; их регулировка

Устройство для исследования структуры встречных электронных нотоков

Загрузка...

Номер патента: 383113

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Карнаух, Местечкин, Петров

МПК: H01J 23/28

Метки: встречных, исследования, нотоков, структуры, электронных

...и механизм перемещения пластин, отличающееся тем, что, с целью, измерения структуры прямого и обратного потоков, пластины имеют по одному отверстию, любой размер которого 0 не менее соответствующего размера потоков,а в обеих внешних пластинах вокруг этих отверстий расположено несколько отверстий, любой размер которых значительно меньше любого из поперечных размеров потоков. На чертеж ройство,Оно содер ронную пуш клистрона 3 механизм пеено предлагаемое усте изо ю камеру 1, электтор отражательного, пластины 5, 6 и 7 жит вакуумн ку 2, резона отражатель 4 емещения 8. относится к устроиствам для ектронных потоков в приборах ти в отражательных клистроИзвестные устройства электронных потоков, вып диафрагмы с отверстием, зовать для анализа встр...