Способ исследования структуры электронногопучка

ОПИСАН И ЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 26 Я 76 Союз Советских Социалистических РеспубликЗависимое от авт. свидетельстваЗаявлено 18.1 Х.1967 ( 1183967/26-25 Кл, 21 ат, 32/34 исоединением заявкиН 041 риоритет Комитет ао делам изобретений и откры ори Совете Министр СССРУДК 621 397 3(088 11,1970, Бюллетень1 иков публикования описания 17,Л.197 К, Малахов, Б, М, Заморозков, О. М; Радн)к,Р. Синицын и О. И. Юдзон-- ;,:"й;" Заявител СПОСОБ ИССЛЕДО Я СТРУКТУРЫ ЭЛЕКТРОННОГПУЧКА Изобретение относится к области электроники, а именно - к оценке динамических качеств СВЧ-приборов в зависимости от формы и структуры их электронных пучков не только на специальных вакуумных установках, но и 5 в откачанных приборах.Оценка качества электронных пучков в динамических режимах работы приборов необходима потому, что выходные параметры приборов зависят от структуры и формы элек тронных пучков.В ряде случаев и форма электронных пучков отличается от расчетной вследствие несовершенства расчета и дефектов при изготовлении приборов. Из-за этого параметры дей ствующих образцов приборов отличаются от расчетных.Отсюда становится очевидной актуально контроля структуры и формы пучка в д ствующем макете прибора.Известен способ исследования структуры электронного пучка без возмущения его структуры, основанный на фоторегистрации свечения возбужденных частиц остаточных газов электронами пучка. По кривой распределения 25 плотности почернения, полученной в результате фотографирования и последующего фотометрирования пучка, можно найти распределение электронов в любом поперечнем сечении, 30 сть О еи 20Авторы зобретения А. А, Муравьев,Для этого микрофотограмму необходимо пересчитать сначала на интенсивность свечения пучка с учетом характеристической кривой фотопленки, а затем на плотность тока в пучке по методу диафрагмы со щелью,Основными недостатками фоторегистрации являются длительные и сложные процедуры фотографирования и последующего фотометрирования, значительно снижающие оперативность рассмотренного метода.Целью данного изобретения является создание такого способа исследования структуры электронных пучков, который позволял бы одновременно наблюдать форму пучка и распределение интенсивности его свечения в люоом контролируемом поперечном сечении пупа, изображенном на экране телевизионного контрольного устройства. Такое совмещение позволяет оперативно менять параметры пучка, визуально подбирая форму пучка и распределение его плотности.Предлагаемый способ отличается тем, что оптическое изображение пучка подают на фотокатод передающей телевизионной трубки, преобразуют в электронно-оптическое изображение, создавая потенциальный рельеф на мишени передающей трубки, из которого сканированием получают на экране видеоконтрольного устройства изображение пучка, а на экране осциллографа, работающего в режимеЗаказ 1601/13 Тираж 480 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква К, Раушская наб., д. 4/5 Типография, пр. Сапунова, 2 выбора строки, - строчную развертку распределения интенсивности свечения пучка по его поперечному сечению в любом произвольном сечении.Оптическое изображение пучка выводится через специальные окна в магнитной системе и проецируется фотообъективом на фотокатод передающей телевизионной трубки.В передающей трубке оптическое изображение пучка преобразуется в электронно-оптическое, которое на мишени трубки создает потенциальное рельефное изображение наблюдаемого участка пучка. Это рельефное изображение считывается коммутирующим лучом, который в результате считывания сам модулируется и усиливается фотоумножителем, неся в себе неискаженную информацию о свечении исследуемого пучка.Промодулированный сигнал после дополнительного усиления дает на экране видеоконтрольного устройства изображение проецируемого участка исследуемого пучка.Для снятия распределения интенсивности свечения исследуемого пучка сигнал с усилителя подается на осциллограф, работающий в режиме выделения строки.Осциллограмма выделенной строки пересчитывается на радиальные распределения способности тока пучка по методу диафрагмы со щелью,Способ позволяет исследовать структуру как слабых, так и интенсивных электронных пучков любых мощностей как в статических, так и в динамических режимах без возмущения их структуры. Этот способ позволяет со кратить срок разработки электронно-оптических систем приборов, оперативно контролировать качество серийно выпускаемых приборов и вести их отбор для продления срока службы.Предмет изобретенияСпособ исследования структуры электронно.го пучка без внесения в него возмущений, основанный на использовании свечения пучка, 15 отличающийся тем, что, с целью получениявозможности наблюдения за изменением формы пучка с изменением режима работы прибора, устранения плохо контролируемых фото- процессов и увеличения оперативности иссле сования, оптическое изображение пучка подают на фотокатод передающей телевизионной трубки, преобразуют в электронно-оптическое изображение, создавая потенциальный рельеф на мишени передающей телевизионной труб ки, из которого путем сканирования получаютна экране видеоконтрольного устройства изображение пучка, а на экране осциллографа, работающего в режиме выбора строки, - строчную развертку распределения интенсив ности свечения пучка по его поперечному сечению в любом произвольном сечении.