Способ спектрального исследовапия структуры электронных пучков
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 306432
Авторы: Заморозков, Муравьев, Радюк, Ставский
Текст
О ПИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических РеспубликЗависимое от авт. свидетельстваЗаявлено 18. ъ 111.1969 ( 1356496/26-25)с присоединением заявкиПриоритетОпубликовано 11.Ъ 1,1971, Бюллетень19Дата опубликования описания 21 Х 11.1971 МПК 6 011 5/00 Комитет по делам изобретений и открытий при Совете тРинистров СССРУДК 621.384.6(088.8) Авторыизобретения Б. М, Заморозков, А. А. Муравьев, О. М, Радюк и Ю. В. Ставский Заявитель СПОСОБ СПЕКТРАЛЬНОГО ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРЫ ЭЛЕКТРОННЫХ ПУЧКОВ Изобретение относится к способам экспериментального исследования электронных пучков.Известны невозмущающие способы, основанные на исследовании информации, которая содержится в оптическом излучении пучка при его прохождении через разряженные газы (остаточные газы в разрядном промежутке). Применение этих способов для исследования распределения плотности электронного тока или плотности электронов в поперечном сечении пучка основывается на предположении, что интенсивность интегрального оптического излучения в каком-либо месте пучка пропорциональна плотности электронного тока в этом месте. Однако это предположение справедливо только в том случае, когда прич ной излучения является возбуждение нейтральпьх атомов остаточных газов ударами электронов пучка с последующим высвечиванием при переходе атомов в невозбужденное состояние. Однако столкновения электронов пучка с нейтральными атомами приводят не только к возбуждению, но и к ионизации, в результате которой в объеме пучка появляются положительные ионы и вторичные электроны.Наличие в объеме пучка ионов является причиной того, что оптическое интегральное излучение пучка состоит из только из излучения возбуждения нейтральных атомов, но и из свечения возбуждения ионов. Поэтому распределение интенсивности интегрального излучения по сеченшо пучка зависит не только от распределения плотности тока первичны.; электронов пучка по его поперечному сеченшо, 5 но и от распределения ионов, что искажаетпнформацшо о структуре первичного электронного пучка.Чтобы устранить искажающее влияние излучения ионов, предлагается способ исследо вания структуры электронных пучкоь, основанный на регистрации не интегрального излучения электронного пучка, а излучения отдельной спектральной линии или полосы спектра возбуждения нейтральных атомов илп 15 молекул остаточных газов (например, водорода), 1 ак как нейтралы распределены по сеченшо пучка равномерно, то распределение интенсивности такого монохроматического излучения по сечению пучка будет повторять 20 искомое распределение плотности тока первичных электронов пучка.Методика нахождения радиального распределения электронов (плотности тока) в любом поперечном сечении пучка предлагае мым спектральным способом сводится к получению изображения соответствующего участка пучка в монохроматическом свете выбранной спектральной линии спектра возбуждения нейтронов остаточных газов, к последующему 30 определению р аспределения интенсивностисвечения в выбранном сечении полученного306432 Составитель И. ПетровРедактор Т. 3, Орловская Тсхрсд Л. Я. Левина Корректор О. С. Зайцева Заказ 2030(5 Изд. Уо 858 Тираж 473 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Ж, Раушская наб., д. 45 Типография, пр. Сапунова, 2 изображения и в пересчете найденного распределения свечения на радиальное распределение плотности электронов в пучке по методу щелевой диафрагмы,Предмет изобретенияСпособ спектрального исследования структуры электронных пучков, основанный на излучепии собственного оптического излучения пучка, отличающийся тем, что, с целью уменьшения погрешности измерений, излучение распределения плотности электронов и плотности 5 тока в поперечном сечении пучка осуществляют в монохроматическом свете излучения одной из линий спектра возбуждения нейтральных атомов остаточных газов,
СмотретьЗаявка
1356496
Б. М. Заморозков, А. А. Муравьев, О. М. Радюк, Ю. В. Ставский
МПК / Метки
МПК: G01J 3/28, G01N 21/31
Метки: исследовапия, пучков, спектрального, структуры, электронных
Опубликовано: 01.01.1971
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-306432-sposob-spektralnogo-issledovapiya-struktury-ehlektronnykh-puchkov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ спектрального исследовапия структуры электронных пучков</a>