Патенты с меткой «структуры»
Ячейка интегрирующей структуры для решения уравнения лапласа
Номер патента: 1262521
Опубликовано: 07.10.1986
Авторы: Золотовский, Коробков
МПК: G06F 17/13
Метки: интегрирующей, лапласа, решения, структуры, уравнения, ячейка
...2, Интегрирование. При этом происходит интегрирование уравнений (4) в 25 интервале 0,1.1; Число шагов равно М = -- емкость счетчика, При дости 6 хжении границы 1 Ь-дх 1 состояние счетчика 14 равно (11110). Срабатываетз 0 дешифратор 12 и на его втором выходе появляется сигнал, который поступает на вход установки в единицу триггера 16. По сигналу с первого выхода дешифратора 15 триггер 16 переходит в единичное состояние, при этом разрешается работа умножителя 6, который формирует коррекцию начального значения. Одновременно разность с выхода вычитателя по сигналу с триггера 16 через элемент И 17 поступает на схему 19 сравнения, которая производит сравнение полученной разности с нулем. Если разность равна нулю, то на выходе схемы...
Устройство для отбора проб грунта ненарушенной структуры с различных горизонтов
Номер патента: 1264030
Опубликовано: 15.10.1986
Авторы: Евтерев, Кривошеев, Мареев, Тиханов
МПК: G01N 1/04
Метки: горизонтов, грунта, ненарушенной, отбора, проб, различных, структуры
...согласно рабочему положению,ограничитель 16 подъема грунта опускают по направляющим промежуточнойгильзы 4 в нижнее положение, а в 5 Оотверстие 10 заводят выступ 11 рычага 12. Далее, оттянув затвор 30по направляющим 31 до отказа, заводят собачку 38 за выступ 37 коромысла 36, Затвор находится во взведенном состоянии под действием пружин 32. Разместив упорный подшипник40 в корпусе внешнего конуса 2,устанавливают внутренний цилиндр,направляя шлицы кольца 23 в пазывнешнего цилиндра 1, Затяжку гайки26 производят до тех пор, пока необеспечится плавное и легкое проворачивание внутреннего цилиндра вподшипниках.Переходными втулками (не показаны) соединяют шлицевое кольцо схвостовиком ручного или машинногобурения, в зависимости от...
Ячейка однородной структуры
Номер патента: 1264162
Опубликовано: 15.10.1986
Автор: Шалыто
МПК: G06F 7/00
Метки: однородной, структуры, ячейка
...входы 3 и 4, элемент И 5, элемент ИЛИ б, элемент ЗАПРЕТ 7, мультиплексоры 8 и 9, выходы 10 и 11, элемент И 12, элемент ИЛИ 13.Структура ячейки описывается системой формул: Г,=о,7,2 чО 1,7. ча,а Х -Т ч(а,чо 12,1 формула Г реализуется на выходе 10, Формула Г 2 - на выходе 11.Ячейка путем настройки реализует следующие системы Формул;40 При г,=О, г 2=0 Е,=а,(Фиг.2,а)При г,=О, г 2=1 Г 2=2 функционирование ячейки рассмотрим первоначально для случая реализации одной формулы, 55 функциональная схема иэ двухвходовых элементов И и ИЛИ, соответствующая реализуемой формуле, покас кадно вкладывается в строки структуры.Расширение функциональной возможности ячейки эа счет реализации функции разветвления позволяет одновременно реализовать...
Способ пространственной маркировки жидкости для исследования скоростной структуры потоков
Номер патента: 1267260
Опубликовано: 30.10.1986
Автор: Беззаботнов
МПК: G01P 5/18
Метки: жидкости, исследования, маркировки, потоков, пространственной, скоростной, структуры
...марганца, и тщательно их перемешивают. Затем полученный растворсмешивают с компонентом, плотностькоторого больше плотности жидкости,беря последнюю в количестве 6 мас,ч. В результате получается раствор, имеющий суммарную отрицательную, плавучесть в жидкости, На дне бассейна либо на специальной неподвижной площадке, расположенной ниже исследуемого слоя течений в жидкости 1, иэ приготовленного таким образом раствора при помощи какого-либо эжектирующего устройства в жидкость вводят объем метящего вещества 2 необходимых размеров. Размер вводимого объема определяется временем существования трассы и при задании его равным, например 1 мин, составит около О, 1 см. При помощи наконечника зжектирующего устройства нарушают целостность...
Способ определения структуры, величины и неоднородности внутреннего магнитного поля магнитоупорядоченных кристаллов и устройство для его осуществления
Номер патента: 1272205
Опубликовано: 23.11.1986
МПК: G01N 27/82
Метки: величины, внутреннего, кристаллов, магнитного, магнитоупорядоченных, неоднородности, поля, структуры
...точностью до ЛН. Изменение амплитуды прошедшего импульса А - А(НЦ. аН ь 2, где А, амплитуда вдали от резонанса, А(Н) амплитуда при данном значении поля. Если Р(2) - функция распределения внутреннего поля в направлении распространенна звука, то у(Н) 1 1 А, -А1 с 1 = 2(Н). Обратная функция 2 (Н) дает одномерное распределение внутреннего поля в направлении распространения звука. Таким образом, способ заключается в определении с помощью акустической волны и линейно меняющегося магнитного поля спектра магнитоакустического резонатора (зависимости амплитуды прошедшего импульса от внешнего поля А(Н), интегрировании этого спектра и определении обратной функции, представляющей собой распределение внутреннего поля на половине длины кристалла....
Формирователь структуры потока газа
Номер патента: 1273742
Опубликовано: 30.11.1986
Авторы: Афанасьев, Жестков, Ковыршин
МПК: G01F 15/00
Метки: газа, потока, структуры, формирователь
...расхода.Целью изобретения является снижение потерь давления при формирова 1 О нии равномерной эпюры скоростей в потоке газа.На фиг.1 изображен формирователь, продольный разрез; на фиг,2 - то же, вид со стороны выхода потока. 15Формирователь состоит из цилиндрического корпуса 1 с каналом постоянного сечения диаметромЭ, диска 2 со сквозными отверстиями 3, содержащими расширенные конечные участки 4, 20 Отверстия 3 равномерно распределены по плоскости диска и симметричны от,носительно оси канала. Диаметры д, и длины начальных участков всех отверстий 3 равны между собой,а диаметры д конечного участка 4 уменьша 2ются по мере приближения к периферии диска 2, причем каналы отверстий 3,равноудаленных ьт центра диска 2, идентичны.Рекомендуются...
Способ измерения структуры двухфазного потока по длине трубы
Номер патента: 957626
Опубликовано: 07.12.1986
МПК: G01N 25/02
Метки: двухфазного, длине, потока, структуры, трубы
...Использование этих методовпозволяет получить различные локальпаровым ядром, и т.п. Получение интегральных характеристик двухфазнощению. Кроме того, датчики для измерения локальных характеристик недостаточно надежны и вносят возмущение в измеряемый поток, что приводит к неконтролируемым погрешностям при измерении.Наиболее близким по технической сущности к изобретению является способ измерения структуры двухфазного потока камерой отбора, установленной 95762 б 2на выходе из трубы. Камера отборапредставляет собой либо кольцевующель, через которую отсасываетсядвухфазная проба, либо пористуювставку. Измерение, например, расхо 1 да жидкости в пристенной пленке осуществляется следующим образом. Отбирается двухфазная проба...
Многофункциональный элемент цифровой структуры
Номер патента: 1277381
Опубликовано: 15.12.1986
Авторы: Рогозов, Самойлов, Тяжкун
МПК: H03K 19/088
Метки: многофункциональный, структуры, цифровой, элемент
...12 напряжение высо" кого уровня - сигнал "1".При подаче на все управляющие входы 16 и 17 сигнала "1" состояние на выходе 12 зависит от изменения напряжения на сигнальном входе 15. При переходе этого напряжения от уровня "1" к уровню "0" током через резистор 14 и базоэмиттерные переходы транзисторов 10 и 11 отпирается транзистор 11 и формируется сигнал "0" на выходе 12. Отпирающий ток существенно возрастает за счет добавочного тока емкости нагрузки через транзистор 10 в базу транзистора 11.Данное увеличение базового тока и обуславливает возрастание нагрузочной способности элемента.Через некоторое время после отпирания транзистора 11 откроется и перейдет в режим насыщения транзистор 8, что вызовет запирание транзисторов 10 и 11, и на...
Способ контроля пространственной коагуляционной структуры в дисперсной системе
Номер патента: 1278697
Опубликовано: 23.12.1986
Авторы: Алексеев, Бойко, Овчаренко, Чубирка
МПК: G01N 27/02
Метки: дисперсной, коагуляционной, пространственной, системе, структуры
...постоянный и переменный (1000+10 Гц) или переменный и постоянный электрический ток и измеряют удельную электропроводность ,на постоянном и переменном токе,25 При наличии в системе пространственной коагуляционной структуры значения электропроводности на постоянном токе превышают значения электропроводности на переменном, что под- ЗО тверждается результатами сравнительных исследований дисперсных систем ,методом электропроводности и методом ротационной вискозиметрии.Излом зависимости О -С (фиг. 1)при монотонном росте концентрациидисперсной фазы соответствует моменту образования пространственнойкоагуляционной структуры при даннойконцентрации дисперсной фазы, При ,цэтой же концентрации наблюдаетсяраздвоение зависимостей удельной...
Процессор матричной вычислительной структуры для решения дифференциальных уравнений в частных производных
Номер патента: 1280385
Опубликовано: 30.12.1986
Авторы: Золотовский, Коробков
МПК: G06F 17/13
Метки: вычислительной, дифференциальных, матричной, производных, процессор, решения, структуры, уравнений, частных
...устранения дополнительной пересылки иэ регистра с регистр и обеспечения возможности дополнительной проверки на работоспособность каждого решающего блока. После обмена информацией между процессорами описанные операции повторяются до тех пор, пока процесс не сойдется во всех процессорах. Проверка организуется программно. Формула изобретения 11. Процессор матричной вычислительной структуры для решения дифференциальных уравнений в частньм производных, содержащий первый и второй решающие блоки первый регистр, информационный вьход первого решающего блока подключен к первому информационному входу второго решающего блока, информационный выход которого подключен к первому информационному входу первого решающего блока, с т л и ч а ю щ и й с я...
Способ электромагнитного контроля качества структуры материала изделий и устройство для его осуществления
Номер патента: 1280509
Опубликовано: 30.12.1986
Автор: Киселев
МПК: G01N 27/80
Метки: качества, структуры, электромагнитного
...величины поля остаточной намагниченности, делитель 13,к входам которого подключены выходыобоих сумматоров 11 и 12, и последовательно соединенные блок 14 управления сортировкой и сортирующийузел 15. Вход блока 14 управлениясортировкой подключен к выходу делителя 13.Способ с помощью устройства осуществляется следующим образом. 50Контролируемое изделие (лопатка)2 перемещается механизмом 1 вначалечерез блок 3 намагничивания, на выходе иэ которого величина поля остаточной намагниченности, характеризующая степень окисления материалалопатки, способного образовывать магнитные окислы, а также характеризующая наличие посторонних ферромаггде В - величина поля остаточнойнамагниченности изделия при температуре Кюри, выявляемой б - фазы (фиксируется...
Способ формирования мультиплицированного изображения периодической структуры
Номер патента: 1287093
Опубликовано: 30.01.1987
МПК: G03H 1/22
Метки: изображения, мультиплицированного, периодической, структуры, формирования
...образом, предложенный способ позволяет получить мультиплицированные с нужн )м коэффициентом изображения в заданной плоскости регистрации. Формула и з о б р е т е н и я Способ формирования мультиплицированного изображения периодической структуры, включающий ее освещение пучком электромагнитного излучения и фиксирование изображения в плоскости наблюдения, расположенной в зоне Френеля, о т л и . а ю щ и й с я тем, что, с целью формирования изображения в заданной плоскости, между упомянутой структурой и плоскостью наблюдения располагают периодическую структуру, такую же, как и исходиая, а освещение производят немонохроматическим пучком света, при этом расстояние между двумя периодическими структурами Ь определяют из соот-...
Способ определения относительных знаков констант сверхтонкой структуры и начального расщепления парамагнитных центров
Номер патента: 1293597
Опубликовано: 28.02.1987
Авторы: Важенин, Горлов, Потапов
МПК: G01N 24/10
Метки: знаков, констант, начального, относительных, парамагнитных, расщепления, сверхтонкой, структуры, центров
...положенийи относительных интенсивностей двух верхних и двух нижних СТС-компонент, что позволяет уменьшить диапазон исследуемых частот. 0 знаках констант судят по аналогичной зависимости для указанных компонент (фиг.1 и 2).П р и м е р . Предлагаемый способ б ыл использован для определения относительных знаков констант СТС и начального расщепления иона Мп в кристалле РЬ Се Ов, который имеет следующие параметры спинового гамильтониана: д = 2,00 Ь 2- 8670 МГц, /А= 245 МГц.Измерения проведены на спектрометре РЭ 1301 при температуре 296 К на образцах, выращенных методом Чохральского с примесью Мп 0 -0,02 моль 2 3 ного 7. Резонансные магнитные поляН ) измеряли с помощью измерителя магнитной индукции 1-1,.частоту микроволнового генератора...
Устройство для определения периода полосовой доменной структуры в магнитных пленках
Номер патента: 1295348
Опубликовано: 07.03.1987
Авторы: Бабенко, Горбаренко, Дмитриев, Евтихиев, Левинсон, Печко, Трубников
МПК: G01R 33/02, G11C 11/14
Метки: доменной, магнитных, периода, пленках, полосовой, структуры
...с помощьюпланарного переменного магнитногополя с убывающей амплитудой для достижения равновесного состояния доменов, На пути светового пучка устанавливается диафрагма (не показана)таким образом, чтобы на фотоприемник7 поступал световой сигнал толькоот одного домена, Амплитуда модуляции поляризации с помощью модулятора3 и генератора 9 выбирается близкой(но не превышающей) к величине Фарадеевского вращения плоскости поляризации, связанного с взаимодействи"ем светового пучка с доменами магнитной пленки, Сигнал с фотоприемника 7 поступает на вход фазовогодетектора 8, управляемого от генератора 9, а с выхода детектора 8 сигнал подается на вход 7 блока 1 визуализации Когда на пути световогопучка Заходится домен с положительной...
Способ оценки агрономической структуры почв
Номер патента: 1298193
Опубликовано: 23.03.1987
Автор: Сорочкин
МПК: G01N 33/24
Метки: агрономической, оценки, почв, структуры
...и охране.Целью изобретения является упрощение, повышениа точности и производительности определения агрономической структуры черноземов. ЫСпособ осуществляют следующим образом.Из образцов черноземной почвы, отобранных однократно и независимо от сезона и стандартно подготовлен ных к анализу (отбор корней и включений, высушивание, измельчение резиновым пластиком, просеивание через ситомм), готовят пасту текучей или пластичной консистенции: текучей - 20 для вискозиметра и пластичнбй - для исследований на сдвиговом приборе. Затем выполняют определение реологических констант (предельное напряже 2 г ние сдвига или вязкость) в два срока": в половине образцов измерение проводят сразу, а в другой половине - после недельной влажной...
Способ анализа доменной структуры магнитных материалов
Номер патента: 1176705
Опубликовано: 30.03.1987
Автор: Герник
МПК: G01N 27/72
Метки: анализа, доменной, магнитных, структуры
...частиц после поперечного размагничивания. При этом для получения количественного результата независимо от особенностей коэрцитивного спектра (КС) и состава ферромагнитных образцов были приняты следующие условия: 1) исследовалась остаточная намагниченность определенного вида, а именно идеальная Т как наиболее подходящая для этой цеди;2) исследовались лишь те участки КС образца, где ЙТ /йЬ = сопз 1, т.еучастки с однородным распределением приращений Тпо шкале Ь (шкале коэрцитивности"). С учетом этих условий заведомо многодоменный изотропный ферромагнетик помещали в соленоид, заключенный в кольца Гельмгольца (на черт. не показано), в которых создавали небольшое постоянное поле Но. Затем в обмотку соленоида с помощью безискрового...
Способ определения структуры поверхности объектов
Номер патента: 1308864
Опубликовано: 07.05.1987
Авторы: Бондарев, Герасимов, Журавский, Пытлев
МПК: G01N 1/28
Метки: объектов, поверхности, структуры
...реплик, та, % % Способ определенияструктурыповерхностиобъектов 46 Известный Предлагаемый 4,6 92 4,8 5,0 98 100 100 5,5 5,8 6,0 100 100 100 6,5 100 7,0 Составитель Г,ЦойРедактор С,Патрушева Техред И.Попович Корректор С. Черни Заказ 1789/33 Тираж 777ВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Подписное Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 1 130886Изобретение относится к аналитической химии, а именно к способаммикроскопического изучения поверхности твердых тел труднодоступныхдля непосредственного наблюдения. 5Цель изобретения - упрощение способа ( благодаря однократному нанесению пленочной композиции ) и повышение доли пригодных...
Способ определения дефектности структуры полимерного материала
Номер патента: 1310693
Опубликовано: 15.05.1987
Авторы: Кривошей, Чалых, Шредер
МПК: G01N 15/08
Метки: дефектности, полимерного, структуры
...из градиентной колонки окрашенные образцы разделяют по степени дефектности, исходя из интенсивности окраски, определяемой по их светопоглощению на фотокалориметре. Более дефектные образцы имеют более интенсивную окраску,менее дефектные образцы слабее окрашены.П р и м е р 2. Исследуют два образца полиметилметакрилата (органического стекла) марки СОЛ толщиной 1,0 мм. Один исходный образец не подвеграют дополнительной обработке, 3. 13106 а другой был искусственно состарен в ацетоне с образованием визуально наблюдаемых трещин серебра", представляющих собой микротрещины, образующиеся в процессе эксплуатации.В качестве дефектоскопических жидкостей используют систему вода-карбонат калия, имеющую граничные интервалы плотностей 1,00 -...
Способ определения пространственной структуры пучка ионизирующего излучения
Номер патента: 1310763
Опубликовано: 15.05.1987
Авторы: Ананьин, Каширин, Тарасов
МПК: G01T 1/29
Метки: излучения, ионизирующего, пространственной, пучка, структуры
...распределению интенсивности в пучке. Со временем пространственные заряды,циффундируются и рекомбинируются, что приводит к изменению соответствия распределения пространственной плот- ности зарядов и распределения интенсивности излучения в пучке. Для уменьшения этого несоответствия на высоковольтный электрод 4 подают отрицательный высоковольтный импульс, амплитуда и длительность которого соответствуют времени, дрейфа электронов от высоковольтного электрода 4 до сигнальных проволочек 5, в момент окончания прохождения пучка излучения. Потенциальные проволочки 6, соединенные делителем 7 напряжения, создают в дрейфовом промежутке однородное электрическое поле. Электроны электрических зарядов дрейфуют в сторону сигнальных проволочек 5 с...
Устройство для диагностики беременности и измерения многослойной структуры жировых и мышечных тканей сельскохозяйственных животных
Номер патента: 1316610
Опубликовано: 15.06.1987
Авторы: Борисенко, Бугаев, Микеленас, Позняковский
МПК: A01K 29/00
Метки: беременности, диагностики, животных, жировых, многослойной, мышечных, сельскохозяйственных, структуры, тканей
...через кюч 20 и поступают на счетный регистр 10, Если отраженных сигналовнет, то вся пачка тактаньгх импульсов троходит через регистр О и информация не зелиынается. Если же отраженье имп уль сы е сть то счетный ре гистр; О. тросичьтает тактовые имт;. чьсы к мамету прихода отраженного сит,ага и информация параллельным кодом переносится н регистр 11 памяпри этом на индикаторе 2 зажигается соответствующий этому разряцусветодиод.Все атракеннье;ипульсь, поступающие на счетный регистр 10 н последовательном кОдР,. агисынаются Б ретистр 11 памяти и остаотся там приснятии искательной голонки 18 ссбъекта измерения. Стирание памятитраисходит первым отраженньтм сигналомслецующего измерения с ега же послецующей заг.иськ в регистр 11 памяти,При...
Способ определения химического состава и структуры веществ
Номер патента: 1318900
Опубликовано: 23.06.1987
Авторы: Баранов, Годин, Димаков
МПК: G01N 27/46
Метки: веществ, состава, структуры, химического
...состава и структуры веществЦелью изобретения является повышение точности измерений и экспрессности,На чертеже представлена темпера-турная зависимость термо-ЭДС от температуры для пары образцов молибденас примесью вольфрама и алюминия.Использование в качестве материала одного из электродов материала,образующего с образцом пару, у которой на температурной зависимоститермо-ЭДС или производных этой зависимости по температуре имеется экстремум или перегиб, позволяет устранить операцию измерения температуры,а следовательно, и погрешности, связанные с определением температуры.В способе отсутствуют погрешности,связанные с разной температурой горячих электродов, так как изменяюттемпературу только одного электрода,Кроме того, не требуется...
Устройство для исследования структуры расплавов
Номер патента: 1323931
Опубликовано: 15.07.1987
Авторы: Лавров, Попель, Спиридонов
МПК: G01N 23/20
Метки: исследования, расплавов, структуры
...направляют сфокусированный пучок электроновот источника 3 вдоль оси ячейки.2 ил.Формула изобретения Составитель Е,СидохинТехред А.Кравчук Редактор А.Лежнинао Корректор С.Черни Заказ 2957/47 Тираж 7/6ВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Подписное Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул, Проектная, 413239Изобретение относится к технике изучения структуры металлических, оксидных и солевых расплавов с помощью сфокусированного пучка электронов и может быть использовано для исследования структуры их приповерхностных слоев.Цель изобретения - определение структуры поверхностных слоев расплава. 10На фиг. 1 изображено предлагаемое устройство, общий вид; на...
Способ получения изображения внутренней структуры объекта с помощью ядерного магнитного резонанса
Номер патента: 1326971
Опубликовано: 30.07.1987
Авторы: Данилов, Майоров, Фролов
МПК: G01N 24/08
Метки: внутренней, изображения, магнитного, объекта, помощью, резонанса, структуры, ядерного
...сигналом вклад в усредненныйсигнал ЯМР в случае, когда неоднородности распределены в объекте такимобразом, что в месте расположения побочного максимума плотность спицовзначительно выше плотности в чувствительной области.Однако,цля каждого вида функциипространственной чувствительностиФПЧ можно подобрать такую гармоникуполного сигнала ЯМР, пространственное распределение амплитуды которой 5 10 20 25 30 35 40 45 50 55 в сумме с корректируемой ФПЧ дастблагоприятное распределение выделяемого сигнала ЯМР по объему объекта,т,е, сильно выраженные максимумы(кроме основного максимума в нулевойточке) в результирующей ФПЧ будутскомпенсированы.П р и м е р, Экспериментальнаяпроверка прецлагаемого способа былапроведена на установке, созданной наоснове...
Ячейка однородной структуры
Номер патента: 1335975
Опубликовано: 07.09.1987
Авторы: Волченская, Егоров, Князьков, Раевский
МПК: G06F 7/00
Метки: однородной, структуры, ячейка
...запись соответствующих,с 5 50 55 На фиг. 3 приведена графическая интерпретация коммутации информационных каналов в однородной структуре, организовднной из предлагаемых ячеек, которые работают в описанных режимах. При такой организации работы ячеек однородной структуры и-разрядный двоичный вектор, поступающип на первые информационные входы 1 ячеек крайнего левого столбца структуры, без изменения передается на первые информационные входы 1 ячеек 3.-го столбца, в который требуется выполнить его запись и хранение, В ячейках з.-го столбца выполняется режим записи информации с информационных35 входов 1 в соответс.вующие триггеры 13 и одновременная передача информации, поступившей на первый 1 и второй 2 информационные входы ячейки,...
Устройство для ультразвукового контроля структуры вещества
Номер патента: 1337759
Опубликовано: 15.09.1987
Автор: Шмаков
МПК: G01N 29/04
Метки: вещества, структуры, ультразвукового
...соответствующие фокусировке ультразвукового луча, при прохождении блока 3 линий задержки. Затем и имцульсон Возбуждения подаются ца первые и нходон и симметричным образом на вторые и входов передающего мультиплексора 4. Передающий мультиплексор под действием первого импульса синхронизатора 1 осуществляет необходимую коммутацию и подает 2 и возбуждающих импульсов ца первые 2 и из Х преобразовательных элементов многоэлементного ультразвукового цреобраэонате 1 О15 20 5 30 35 4045 50 55 Изобретение позволяет повыситьфронтальную разрешающую способностьэа счет подавления ложных эхосигналон, вызванных конечной шириной диаграммы направленности многоэлементного ультразвукового преобразователя,ля 5, Каждый из 2 и возбужденных...
Устройство для моделирования резистивной тестовой структуры
Номер патента: 1339593
Опубликовано: 23.09.1987
Авторы: Крюков, Лопухин, Семенова, Шелест, Шумилин, Явнов
МПК: G06G 7/44
Метки: моделирования, резистивной, структуры, тестовой
..."Ввод дефекта".Поскольку длительность сигнала "Ввод дефекта" носит случайный характер, количество импульсов, выработанных каждым генератором координат Х и У дефекта, также будет случайно. Импульсы генераторов координат Х и У дефекта поступают на два счетчика координат Х и У дефекта, состояние которых огределяет координаты положе" ния дефекта по вертикали и горизонтали на экранах блока 11 и телевизи" онного проектора 3. Информация с выходов разрядов счетчиков случайных координат Х и У дефекта, являкицихся выходом блока определения координат дефекта, поступает на информационный вход регистра 19 хранения координат дефекта. Одновременно сигнал "Ввод дефекта" подается на вход элемента 23 задержки, где задержитсяна 1 мкс и по заднему...
Способ исследования структуры твердых тел методом ямр интроскопии
Номер патента: 1341560
Опубликовано: 30.09.1987
Автор: Самойленко
МПК: G01N 24/08
Метки: интроскопии, исследования, методом, структуры, твердых, тел, ямр
...1345диента поля в области, доступной дляразмещения датчика ЯМР.Получение информации от образцапо предлагаемому способу (фактически5построение одномерной функции распределения спиновой плотности (гзаключается в продвижении образца через указанный в формуле изобретенияобъем и регистрации интенсивностисигналов ЯМР от спинов, находящихсяв этом объеме. Это эквивалентно замене значений указанной функции (к)вдоль координаты к на ее интегралы наинтервалах , Функция г) может быть 15построена по точкам, причем интервалы 3 могут прилегать друг к другу,перекрываться, или находиться на некотором расстоянии друг от друга 6 г.Данное рассмотрение имеет ряд простых 20следствий. Так, перекрывание интервалов приводит к фактическому накоплению сигналов,...
Способ выявления макроскопической структуры растянутой резины
Номер патента: 1341588
Опубликовано: 30.09.1987
Авторы: Кондратов, Патрикеев, Фам-Нгок
МПК: G01N 33/44
Метки: выявления, макроскопической, растянутой, резины, структуры
...или хлороформом в течение 50;100;200; 300 с таким образом, чтобы внешний слой образца отслоился по толщине на 0,1-0,5 толщины образца, поверхностный слой разрушился и обнажились внутренние слои резины. Под микроскопом измеряют толщину волокнообразных макроструктур табл,1),П р и м е р ы 10-17. Образцы вулканизованной пленки из латекса натурального каучука толщиной 2 мм изучают известным и предложенным способом. Для этого образцы растя 41588 2гивают на 300 и 370 , обрабатывают четыреххлористым углеродом различное время бт 10 до 350 с и изучают в оптический микроскоп поверхность образца или поверхность разрушения.Формула изобретения10 Способ выявления макроскопическойструктуры растянутой резины на основе натурального каучука или...
Трехкомпонентный первичный преобразователь для исследования вертикальной структуры электрических полей в море
Номер патента: 1343376
Опубликовано: 07.10.1987
Авторы: Астахов, Мисеюк, Плаксин, Собисевич
МПК: G01V 3/06
Метки: вертикальной, исследования, море, первичный, полей, структуры, трехкомпонентный, электрических
...предложенного технического решения до долей мкВ/м вследствие отсутствия помех электромагнитного происхождения, Кроме того, происходит уменьшение энергопотребления, что особенно важно для автономных устройств. В неподвижной части конструкции гидроключа в непосредственной близости от мест, где диэлектрические трубы соединяются с корпусом гидроключа помещаются три неконтактных магнитных реле на герконах, срабатывающих при вращении подвижной частигидроключа, в которой размещен постоянный магнит с большой коэрцитивной силой.Получаемые сигналы являются синхронизирующими в трактах измерительных каналов, построенных по типу модулятора-демодулятора. Таким образом гидроключ выполняет одновременно две функции: модулятора и...
Способ определения структуры агломерационного спека
Номер патента: 1344799
Опубликовано: 15.10.1987
Авторы: Васильев, Гладков, Перфильев, Смирнов, Ханжина
МПК: C22B 1/16
Метки: агломерационного, спека, структуры
...регистрируется только средняя величина отражательной способности спека, который при данной локальности считается однородным (фиг.1 и 2), Только в интервале 15- 30 средних диаметров мономинеральных зерен магнетита и/или вюстита возможно определение макроструктурных составляющих агломерационных спеков в количестве 3-4 минеральных агрегата (фиг.16 и 2). Для определения количества макро- структурных составляющих агломерата проводятся измерения отражательной способности спеченного материала с указанной локальностью, строятся кривые распределения отражательной способности агломерационных спеков (фиг,З) . Вычисляются интервалы от вероятности попадания измеренных величин отражательной способности в заданный интервал, Затем кривая...